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Bibliografías temáticas / Diffraction électronique 3D

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Tesis

Literatura académica sobre el tema "Diffraction électronique 3D"

Autor: Grafiati

Publicado: 11 de enero de 2025

Última modificación: 31 de julio de 2025

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Tesis sobre el tema "Diffraction électronique 3D"

1

Cordero, Oyonarte Erica. "Electrοn crystallοgraphy οf nanοparticles". Electronic Thesis or Diss., Normandie, 2024. http://www.theses.fr/2024NORMC235.

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Resumen

Les nanoparticules (NPs) suscitent un grand intérêt en raison de leurs propriétés uniques, ce qui les rend utiles dans différents domaines scientifiques. Comprendre la structure cristallographique des NPs est crucial pour découvrir leurs caractéristiques distinctes et concevoir de nouveaux matériaux. La diffraction des rayons X sur monocristal est utilisée pour la détermination précise de la structure cristalline ; cependant, elle est limitée par la petite taille des NPs. La diffraction des rayons X sur poudre (PXRD) constitue une alternative pour l'identification de phases et la taille moyenn

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2

Yuan, Hui. "3D morphological and crystallographic analysis of materials with a Focused Ion Beam (FIB)." Thesis, Lyon, INSA, 2014. http://www.theses.fr/2014ISAL0134/document.

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Resumen

L’objectif principal de ce travail est d’optimise la tomographie par coupe sériée dans un microscope ‘FIB’, en utilisant soit l’imagerie électronique du microscope à balayage (tomographie FIB-MEB), soit la diffraction des électrons rétrodiffusés (tomographie dite EBSD 3D). Dans les 2 cas, des couches successives de l’objet d’étude sont abrasées à l’aide du faisceau ionique, et les images MEB ou EBSD ainsi acquises séquentiellement sont utilisées pour reconstruire le volume du matériau. A cause de différentes sources de perturbation incontrôlées, des dérives sont généralement présentes durant l

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3

Abdesselam, Kouider. "Exploring In-process lasering to alter microstructure and mechanical response of additive manufactured Ti-6Al-4V." Electronic Thesis or Diss., Institut polytechnique de Paris, 2024. http://www.theses.fr/2024IPPAX140.

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Resumen

Cette thèse vise à (i) étudier l’impact des traitements thermiques laser (LHTs) sur l’évolution microstructurale pendant le dépôt d’énergie dirigée par laser (LDED) du Ti-6Al-4V, et (ii) corréler ces connaissances avec une analyse microstructurale pour comprendre l’impact des LHTs sur la réponse mécanique. Trois échantillons ont été fabriqués avec une stratégie bidirectionelle à passe unique avecun laser opérant à 300 W : (i) un échantillon de référence (NHT) sans LHTs, et deux soumis à des LHTs à (ii) 100 W (LHT100) et 300 W (LHT300), respectivement, après le dépôt de chaque couche sans ajout

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4

Menou, Nicolas. "Technologie FeRAM : fiabilité et mécanismes de défaillance de condensateurs ferroélectriques et intégrés." Phd thesis, Toulon, 2004. http://tel.archives-ouvertes.fr/tel-00008576.

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Resumen

Le développement industriel de la technologie FeRAM (assurant non volatilité, accès rapide et faible consommation) est aujourd'hui limité par la fiabilité du condensateur ferroélectrique intégré. Le travail de thèse, axé sur la compréhension de ses modes de défaillance, a consisté à associer des analyses électriques et microstructurales sur des condensateurs élémentaires, des véhicules de test et des composants. La dégradation des propriétés ferroélectriques de condensateurs élémentaires, sous stresses électriques, a été corrélée à leurs évolutions microstructurales. L'irradiation X s'est égal

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5

Passuti, Sara. "Electrοn crystallοgrathy οf nanοdοmains in functiοnal materials". Electronic Thesis or Diss., Normandie, 2024. http://www.theses.fr/2024NORMC230.

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Resumen

L’étude des matériaux fonctionnels se concentre de plus en plus sur des échantillonscaractérisés par des nano-domaines (allant de tailles submicroniques à des dizaines denanomètres) en raison de leurs propriétés physiques intéressantes, telles que celles observéesdans les films minces ou les matériaux céramiques. Lorsqu’il faut déterminer des phases inconnuesou obtenir des informations détaillées sur la structure cristalline de ces matériaux, ladiffraction des rayons X et la microscopie électronique à transmission (MET) se heurtent à desdifficultés. Pour résoudre ce problème, une nouvelle tech

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