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Tesis sobre el tema "Grazing incidence X-ray diffraction (GIXD)"

Autor: Grafiati
Publicado: 25 de mayo de 2024

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Baudot, Sophie. "MOSFETs contraints sur SOI : analyse des déformations par diffraction des rayons X et étude des propriétés électriques." Phd thesis, Grenoble, 2010. http://tel.archives-ouvertes.fr/tel-00557963.

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Resumen
L'introduction d'une contrainte mécanique dans le canal de MOSFETs sur SOI est indispensable pour les noeuds technologiques sub-22 nm. Son efficacité dépend de la géométrie et des règles de dessin du dispositif. L'impact des étapes du procédé de fabrication des transistors (gravure des zones actives, formation de la grille métallique, implantation des Source/Drain (S/D)) sur la contrainte du silicium contraint sur isolant (sSOI) a été mesuré par diffraction des rayons X en incidence rasante (GIXRD). Parallèlement, le gain en performances de MOSFETs sur sSOI a été quantifié par rapport au SOI (
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Baudot, Sophie. "MOSFETs contraints sur SOI : analyse des déformations par diffraction des rayons X et étude des propriétés électriques." Phd thesis, Grenoble, 2010. http://www.theses.fr/2010GRENY064.

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Resumen
L'introduction d'une contrainte mécanique dans le canal de MOSFETs sur SOI est indispensable pour les noeuds technologiques sub-22 nm. Son efficacité dépend de la géométrie et des règles de dessin du dispositif. L'impact des étapes du procédé de fabrication des transistors (gravure des zones actives, formation de la grille métallique, implantation des Source/Drain (S/D)) sur la contrainte du silicium contraint sur isolant (sSOI) a été mesuré par diffraction des rayons X en incidence rasante (GIXRD). Parallèlement, le gain en performances de MOSFETs sur sSOI a été quantifié par rapport au SOI (
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Jukes, Paul Christian. "Grazing incidence x-ray diffraction and neutron reflection studies of semi-crystalline polymer surfaces and interfaces." Thesis, University of Sheffield, 2002. http://ethos.bl.uk/OrderDetails.do?uin=uk.bl.ethos.251303.

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Satapathy, Dillip Kumar. "Molecular-beam epitaxy growth and structural characterization of semiconductor-ferromagnet heterostructures by grazing incidence x-ray diffraction." [S.l.] : [s.n.], 2005. http://deposit.ddb.de/cgi-bin/dokserv?idn=982680724.

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Satapathy, Dillip Kumar. "Molecular-beam epitaxy growth and structural characterization of semiconductor-ferromagnet heterostructures by grazing incidence x-ray diffraction." Doctoral thesis, Humboldt-Universität zu Berlin, Mathematisch-Naturwissenschaftliche Fakultät I, 2006. http://dx.doi.org/10.18452/15563.

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Resumen
Diese Arbeit behandelt das Wachstum des ferromagnetischen Metalls MnAs auf halbleitendem GaAs. Die MnAs-Filme werden auf GaAs mittels der Molekularstrahlepitaxie (MBE) abgeschieden. Nukleation, Entwicklung von Gitterverzerrungen, Morphologie und Grenzflächenstruktur werden in-situ während des MBE Wachstums mit Hilfe von Beugung unter streifendem Einfall (GID) und der Beugung hochenergetischer Elektronen (RHEED) untersucht. Mit azimuthalen RHEED Messungen wurden vier Abschnitte des Nukleationsprozesses von MnAs auf GaAs(001) bestimmt. GID Messungen zeigen, dass das weitere Wachstum de
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Scherzer, Michael [Verfasser], Robert [Akademischer Betreuer] Schlögl, Ullrich [Akademischer Betreuer] Pietsch, Robert [Gutachter] Schlögl, Ullrich [Gutachter] Pietsch, and Thorsten [Gutachter] Ressler. "Grazing incidence X-ray diffraction : application on catalyst surfaces / Michael Scherzer ; Gutachter: Robert Schlögl, Ullrich Pietsch, Thorsten Ressler ; Robert Schlögl, Ullrich Pietsch." Berlin : Technische Universität Berlin, 2018. http://d-nb.info/1163661481/34.

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Joshi, Gaurav Ravindra. "Elucidating sweet corrosion scales." Thesis, University of Manchester, 2015. https://www.research.manchester.ac.uk/portal/en/theses/elucidating-sweet-corrosion-scales(12a5be22-14fc-4add-b48b-a372652f3471).html.

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Resumen
The objective of this thesis is to improve understanding of the development of corrosion products (scales) that form on the inner walls of carbon steel pipelines in CO2-rich (sweet) oilfield environments. If well adherent to the carbon steel surface, such scales can significantly reduce the metal’s rate of corrosion. Typically, the open literature labels sweet corrosion scale as ferrous (II) carbonate (FeCO3) or siderite, although this may not always be the case. For example, Fe2(OH)2CO3 (chukanovite) and Fe3O4 (magnetite) are known to modify the protective character of a sweet corrosion produ
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Gasperini, Antonio Augusto Malfatti 1982. "Estudo do processo de formação de nanopartículas de GeSi em matriz de sílica por técnicas de luz síncrotron." [s.n.], 2011. http://repositorio.unicamp.br/jspui/handle/REPOSIP/277863.

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Resumen
Orientadores: Gustavo de Medeiros Azevedo, Ângelo Malachias de Souza, Eduardo Granado Monteiro da Silva<br>Tese (doutorado) - Universidade Estadual de Campinas, Instituto de Fisica Gleb Wataghin<br>Made available in DSpace on 2018-08-19T08:06:03Z (GMT). No. of bitstreams: 1 Gasperini_AntonioAugustoMalfatti_D.pdf: 9911404 bytes, checksum: e5b4150f5a1f5f42c4d0e24b92e46c65 (MD5) Previous issue date: 2011<br>Resumo: Neste trabalho estudamos a formação e estrutura de nanopartículas (NPs) de GeSi encapsuladas em sílica, utilizando técnicas baseadas em luz síncrotron, complementadas com imagens de
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Gilles, Bruno. "Etude par rayons X rasants des effets de l'implantation de silicium dans le silicium et de fer dans un grenat." Grenoble 2 : ANRT, 1986. http://catalogue.bnf.fr/ark:/12148/cb37597890r.

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Robach, Odile. "Étude in situ de la croissance de Ag sur MgO(001) et de Ni/Ag(001), et étude de la nitruration du GaAs par diffusion de rayons X en incidence rasante." Université Joseph Fourier (Grenoble ; 1971-2015), 1997. http://www.theses.fr/1997GRE10226.

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Resumen
Un nouvel instrument est presente, qui permet l'elaboration d'interfaces dans une chambre ultra-vide et l'etude in situ de leur structure et de leur morphologie par diffusion des rayons x en incidence rasante (dxir). Il est installe sur la ligne de lumiere crg/if d32 de l'esrf. Une nouvelle description du mode de croissance de l'ag sur le mgo est proposee, dans laquelle, des 0. 2 monocouches (mc) d'ag deposees, le depot est sous forme d'ilots et la majorite de l'ag est relaxee. La signification physique de la fraction en site de l'ag est discutee, ainsi que les possibilites de calcul des posit
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Gao, Haifei. "Chemical biology approaches to study toxin clustering and lipids reorganization in Shiga toxin endocytosis." Thesis, Sorbonne Paris Cité, 2015. http://www.theses.fr/2015USPCB147.

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Resumen
La toxine bactérienne de Shiga se lie au glycosphingolipide (GSL) globotriaosylcéramide (Gb3) afin d’entrer par endocytose dans les cellules en utilisant une voie dépendante et indépendante de la clathrine. Dans la voie indépendante de la clathrine, la toxine de Shiga réorganise les lipides de la membrane de façon à imposer une contrainte mécanique sur la bicouche, conduisant ainsi à la formation de pic d’invagination d'endocytose profonds et étroits. Mécaniquement ce phénomène n’est pas encore compris, notamment il reste énigmatique, comment se traduisent les propriétés géométriques de l’agré
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Turco, Françoise. "Applications de techniques d'analyse in situ à l'épitaxie par jets moléculaires du système (Al, Ga, In) As." Grenoble INPG, 1988. http://www.theses.fr/1988INPG0016.

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Resumen
L'etude des oscillations d'intensite de diffraction rheed en incidence rasante dursant la croissance de (al,ga,in)as conduit a un controle en temps reel en fonction des parametres (temperature, composition de la phase solide, pressions incidentes). Le couplage in situ avec la spectroscopie xps a permis de mettre en evidence, au cours de la croissance de algaas, gainas et alinas, la segregation en surface de l'element iii le moins lie a as. Par la technique des oscillations de rheed, determination des variations du coefficient d'incorporation de in dans alinas en fonction de la contrainte de la
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Chin, Chia Hong, and 秦嘉鴻. "Multi-wave Resonance Grazing Incidence X-ray Diffraction in GeSi/Ge Thin Film." Thesis, 2000. http://ndltd.ncl.edu.tw/handle/84597112384827847068.

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Tersigni, Andrew. "Structural Characterization of Tetracene Films by Lateral Force Microscopy and Grazing-Incidence X-Ray Diffraction." Thesis, 2012. http://hdl.handle.net/10214/3496.

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Resumen
Organic semiconductors show promise to yield a novel class of bendable electronic devices, and much research efforts have focused on the optimization of these films for device performance. It is well known that the structure of organic films has a large influence over the electronic properties. In particular, the carrier mobility is often highly anisotropic, and domain boundaries have a detrimental effect on charge transport. Therefore the domain structure and lattice orientation are of particular interest. However, little is known about the domain structure of organic films, and techniques to
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CHIEN, HUNG-CHUN, and 錢鴻鈞. "MOLECULAR BEAM EXPITAXIAL FePt MAGNETO-OPTICAL THIN-FILM STRUCTURE CHARACTERIZAITON : GRAZING INCIDENCE X-RAY DIFFRACTION ANALYSIS." Thesis, 1997. http://ndltd.ncl.edu.tw/handle/96376715623562068051.

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Satapathy, Dillip Kumar [Verfasser]. "Molecular-beam epitaxy growth and structural characterization of semiconductor-ferromagnet heterostructures by grazing incidence x-ray diffraction / von Dillip Kumar Satapathy." 2005. http://d-nb.info/982680724/34.

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