Littérature scientifique sur le sujet « ANALYSIS OF CMOS »
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Articles de revues sur le sujet "ANALYSIS OF CMOS"
LIAO, HAIFANG, WAYNE WEI-MING DAI et RUI WANG. « A NEW CMOS DRIVER MODEL FOR TRANSIENT ANALYSIS AND POWER DISSIPATION ANALYSIS ». International Journal of High Speed Electronics and Systems 07, no 02 (juin 1996) : 269–85. http://dx.doi.org/10.1142/s0129156496000116.
Texte intégralCheyette, Oren. « OAS Analysis for CMOs ». Journal of Portfolio Management 20, no 4 (31 juillet 1994) : 53–66. http://dx.doi.org/10.3905/jpm.1994.409485.
Texte intégralJomaah, Jalal, Majida Fadlallah et Gerard Ghibaudo. « Low Frequency Noise Analysis in Advanced CMOS Devices ». Advanced Materials Research 324 (août 2011) : 441–44. http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/amr.324.441.
Texte intégralSheikh, Shireen T. « Comparative Analysis of CMOS OTA ». IOSR journal of VLSI and Signal Processing 1, no 3 (2012) : 01–05. http://dx.doi.org/10.9790/4200-0130105.
Texte intégralSchmitt-Landsiedel, D. « Yield Analysis of CMOS Ics ». Solid State Phenomena 57-58 (juillet 1997) : 327–36. http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/ssp.57-58.327.
Texte intégralDimitrijev, S., et N. Stojadinović. « Analysis of CMOS transistor instabilities ». Solid-State Electronics 30, no 10 (octobre 1987) : 991–1003. http://dx.doi.org/10.1016/0038-1101(87)90090-6.
Texte intégralGajare, Milind, et Shedge D.K. « CMOS Trans Conductance based Instrumentation Amplifier for Various Biomedical Signal Analysis ». NeuroQuantology 20, no 5 (30 avril 2022) : 53–60. http://dx.doi.org/10.14704/nq.2022.20.5.nq22148.
Texte intégralYao, Hong Tao, Zi Qiang Wang, Yuan Bao Gu et Zhen Gang Jiang. « Analysis of Black Level Calibration Algorithm for CIS ». Applied Mechanics and Materials 599-601 (août 2014) : 1397–402. http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/amm.599-601.1397.
Texte intégralPrajapati, Pankaj P., Anilkumar J. Kshatriya, Sureshbhai L. Bharvad et Abhay B. Upadhyay. « Performance analysis of CMOS based analog circuit design with PVR variation ». Bulletin of Electrical Engineering and Informatics 12, no 1 (1 février 2023) : 141–48. http://dx.doi.org/10.11591/eei.v12i1.4357.
Texte intégralCho, Won-ho, et Ki-sang Hong. « Affine Motion Based CMOS Distortion Analysis and CMOS Digital Image Stabilization ». IEEE Transactions on Consumer Electronics 53, no 3 (août 2007) : 833–41. http://dx.doi.org/10.1109/tce.2007.4341553.
Texte intégralThèses sur le sujet "ANALYSIS OF CMOS"
Rabe, Dirk. « Accurate power analysis of integrated CMOS circuits on gate level ». [S.l.] : [s.n.], 2001. http://deposit.ddb.de/cgi-bin/dokserv?idn=962733520.
Texte intégralChan, Na-Han. « Rapid current analysis for CMOS digital circuits ». Thesis, McGill University, 1994. http://digitool.Library.McGill.CA:80/R/?func=dbin-jump-full&object_id=26380.
Texte intégralExtension tests on benchmark circuits containing up to 555 gates, which were analysed with CUREST using thousands of primary input patterns, demonstrate that the current analysis time is in the range of 1ms per gate per input pattern, using a SUN4/490 workstation with 32 Mb of main memory, running the SUN OS 4.103 operating system. The peak value of the total supply current, the current rise-time, and the time at which the peak occurs are usually computed to within 10% of HSPICE. However, appreciable errors often occur in the average current. This is because at the moment we do not have a good model for dealing with incomplete transitions associated with glitches in a CMOS gate.
Ruiz, Amador Dolly Natalia. « Multilevel aging phenomena analysis in complex ultimate CMOS designs ». Thesis, Grenoble, 2012. http://www.theses.fr/2012GRENT002/document.
Texte intégralIntegrated circuits evolution is driven by the trend of increasing operating frequencies and downscaling of the device size, while embedding more and more complex functionalities in a single chip. However, the continuation of the device-scaling race generates a number of technology challenges. For instance, the downscaling of transistor channel lengths induce short-channel effects (drain-induced barrier lowering and punch-through phenomena); high electric field in the devices tend to increase Hot electron effect (or Hot Carrier) and Oxide Dielectric Breakdown; higher temperatures in IC products generates an increase of the Negative Bias Temperature Instability (NBTI) effect on pMOS devices. Today, it is considered that the above reliability mechanisms are ones of the main causes of circuit degradation performance in the field. This dissertation will address the Hot Carrier (HC) and NBTI impacts on CMOS product electrical performances. A CAD bottom-up approach will be proposed and analyzed, based on the Design–in Reliability (DiR) methodology. With this purpose, a detailed analysis of the NBTI and the HC behaviours and their impact at different abstraction level is provided throughout this thesis. First, a physical framework presenting the NBTI and the HC mechanisms is given, focusing on electrical parameters weakening of nMOS and pMOS transistors. Moreover, the main analytical HC and NBTI degradation models are treated in details. In the second part, the delay degradation of digital standard cells due to NBTI, HCI is shown; an in-depth electrical CAD analysis illustrates the combined effects of design parameters and HCI/NBTI on the timing performance of standard cells. Additionally, a gate level approach is developed, in which HC and NBTI mechanisms are individually addressed. The consequences of the degradation at system level are presented in the third part of the thesis. With this objective, data extracted from silicon measures are compared against CAD estimations on two complexes IPs fabricated on STCMOS 45nm technologies. It is expected that the findings of this thesis highly contribute to the understanding of the NBTI and HC reliability wearout mechanisms at the system level.STAR
Ranjan, Mahim. « Analysis and design of CMOS ultra wideband receivers ». Connect to a 24 p. preview or request complete full text in PDF format. Access restricted to UC campuses, 2006. http://wwwlib.umi.com/cr/ucsd/fullcit?p3220380.
Texte intégralTitle from first page of PDF file (viewed September 8, 2006). Available via ProQuest Digital Dissertations. Vita. Includes bibliographical references (p. 121-123).
Rodnunsky, Nelson Lawrence. « Analysis of power dissipations in CMOS circuit designs ». Thesis, National Library of Canada = Bibliothèque nationale du Canada, 1998. http://www.collectionscanada.ca/obj/s4/f2/dsk2/tape17/PQDD_0005/MQ34409.pdf.
Texte intégralPhang, Khoman S. « CMOS optical preamplifier design using graphical circuit analysis ». Thesis, National Library of Canada = Bibliothèque nationale du Canada, 2001. http://www.collectionscanada.ca/obj/s4/f2/dsk3/ftp04/NQ58961.pdf.
Texte intégralYee, Gaylin Mildred. « An integrated micromachined CMOS spectrometer for biochemical analysis / ». May be available electronically:, 2007. http://proquest.umi.com/login?COPT=REJTPTU1MTUmSU5UPTAmVkVSPTI=&clientId=12498.
Texte intégralSullivan, Patrick J. « Analysis and experimental results of RF CMOS mixers / ». Diss., Connect to a 24 p. preview or request complete full text in PDF format. Access restricted to UC campuses, 1998. http://wwwlib.umi.com/cr/ucsd/fullcit?p9835390.
Texte intégralMuir, Keith Ross. « Mixed-mode microsystems for biological cell actuation and analysis ». Thesis, University of Edinburgh, 2017. http://hdl.handle.net/1842/28879.
Texte intégralBasedau, Philipp Michael. « Analysis and design of CMOS LC and crystal oscillators / ». Zürich, 1999. http://e-collection.ethbib.ethz.ch/show?type=diss&nr=13216.
Texte intégralLivres sur le sujet "ANALYSIS OF CMOS"
Yusuf, Leblebici, dir. CMOS digital integrated circuits : Analysis and design. 2e éd. Boston, MA : McGraw-Hill, 1998.
Trouver le texte intégralYusuf, Leblebici, dir. CMOS digital integrated circuits : Analysis and design. 3e éd. Boston : McGraw-Hill, 2003.
Trouver le texte intégralKang, Sung-Mo. CMOS digital integrated circuits : Analysis and design. New York : McGraw-Hill, 1996.
Trouver le texte intégralKang, Sung-Mo. CMOS digital integrated circuits : Analysis and design. 2e éd. Boston, Mass : McGraw-Hill, 1999.
Trouver le texte intégralLi, Xiaopeng. Multi-standard CMOS wireless receivers : Analysis and design. Boston : Kluwer Academic Publishers, 2002.
Trouver le texte intégralLi, Xiaopeng. Multi-standard CMOS wireless receivers : Analysis and design. Boston : Kluwer Academic Publishers, 2002.
Trouver le texte intégralBasedau, Philipp Michael. Analysis and design of CMOS, LC, and crystal oscillators / Philipp Michael Basedau. Konstanz : Hartung-Gorre Verlag, 1999.
Trouver le texte intégralCMOS voltage reference : An analytical and practical perspective. Hoboken : IEEE ; Wiley, 2013.
Trouver le texte intégralMadrid, Philip E. Device design and process window analysis of a deep submicron CMOS VLSI technology. Reading, Mass : Addison-Wesley, 1992.
Trouver le texte intégralNance, James Milton. Cmas tutorial workbook. Galveston, TX : National Oceanic and Atmospheric Administration, National Marine Fisheries Service, Southeast Fisheries Center, Galveston Laboratory, 1990.
Trouver le texte intégralChapitres de livres sur le sujet "ANALYSIS OF CMOS"
Veendrick, Harry J. M. « Testing, Yield, Packaging, Debug and Failure Analysis ». Dans Nanometer CMOS ICs, 495–571. Cham : Springer International Publishing, 2017. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-319-47597-4_10.
Texte intégralVeendrick, H. J. M. « Testing, yield, packaging, debug and failure analysis ». Dans Nanometer CMOS ICs, 589–686. Dordrecht : Springer Netherlands, 2008. http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4020-8333-4_10.
Texte intégralGharavi, Sam, et Babak Heydari. « mm-Wave CMOS Noise Analysis ». Dans Ultra High-Speed CMOS Circuits, 35–45. New York, NY : Springer New York, 2011. http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4614-0305-0_4.
Texte intégralBhushan, Manjul, et Mark B. Ketchen. « Data Analysis ». Dans Microelectronic Test Structures for CMOS Technology, 317–58. New York, NY : Springer New York, 2011. http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4419-9377-9_10.
Texte intégralHehn, Thorsten, et Yiannos Manoli. « Analysis of Different Interface Circuits ». Dans CMOS Circuits for Piezoelectric Energy Harvesters, 41–56. Dordrecht : Springer Netherlands, 2014. http://dx.doi.org/10.1007/978-94-017-9288-2_3.
Texte intégralHehn, Thorsten, et Yiannos Manoli. « Performance Analysis of the PSCE Chip ». Dans CMOS Circuits for Piezoelectric Energy Harvesters, 129–85. Dordrecht : Springer Netherlands, 2014. http://dx.doi.org/10.1007/978-94-017-9288-2_6.
Texte intégralVillar Piqué, Gerard, et Eduard Alarcón. « 3-Level Buck Converter Analysis and Specific Components Models ». Dans CMOS Integrated Switching Power Converters, 133–70. New York, NY : Springer New York, 2011. http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4419-8843-0_5.
Texte intégralRishab Mehra, Sarita Kumari et Aminul Islam. « Cross-Coupled Dynamic CMOS Latches : Scalability Analysis ». Dans Advances in Intelligent Systems and Computing, 307–15. Singapore : Springer Singapore, 2016. http://dx.doi.org/10.1007/978-981-10-2035-3_31.
Texte intégralAlioto, Massimo, Elio Consoli et Gaetano Palumbo. « Analysis and Comparison in the Energy-Delay-Area Domain ». Dans Flip-Flop Design in Nanometer CMOS, 119–73. Cham : Springer International Publishing, 2014. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-319-01997-0_5.
Texte intégralBoukhayma, Assim. « Detailed Noise Analysis in Low-Noise CMOS Image Sensors ». Dans Ultra Low Noise CMOS Image Sensors, 61–83. Cham : Springer International Publishing, 2017. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-319-68774-2_4.
Texte intégralActes de conférences sur le sujet "ANALYSIS OF CMOS"
Abbas, Haider Muhi, Mark Zwolinski et Basel Halak. « An application-specific NBTI ageing analysis method ». Dans 2015 International Workshop on CMOS Variability (VARI). IEEE, 2015. http://dx.doi.org/10.1109/vari.2015.7456553.
Texte intégralAbuayob, Eli, Evgeny Nisenboim, Amir Raveh, Baohua Niu et Tom Tong. « Complex Waveform Analysis for Advanced CMOS ICs ». Dans ISTFA 2016. ASM International, 2016. http://dx.doi.org/10.31399/asm.cp.istfa2016p0068.
Texte intégralKentaro Doi, Koichi Nakamura et Akitomo Tachibana. « Local-property analysis for modeling of gate insulator materials ». Dans 2006 International Workshop on Nano CMOS (IWNC). IEEE, 2006. http://dx.doi.org/10.1109/iwnc.2006.4570993.
Texte intégralNobuo Tanaka, Jun Yamasaki, Shin Inamoto et Koh Saitoh. « High-resolution TEM/STEM analysis of SiO2/Si(100) and La2O3/Si(100) interfaces ». Dans 2006 International Workshop on Nano CMOS (IWNC). IEEE, 2006. http://dx.doi.org/10.1109/iwnc.2006.4570981.
Texte intégralAlioto, Massimo, Elio Consoli et Gaetano Palumbo. « Analysis and comparison of variations in double edge triggered flip-flops ». Dans 2014 5th European Workshop on CMOS Variability (VARI). IEEE, 2014. http://dx.doi.org/10.1109/vari.2014.6957076.
Texte intégralGarcia-Redondo, Fernando, Marisa Lopez-Vallejo, Pablo Royer et Javier Agustin. « A tool for the automatic analysis of single events effects on electronic circuits ». Dans 2014 5th European Workshop on CMOS Variability (VARI). IEEE, 2014. http://dx.doi.org/10.1109/vari.2014.6957082.
Texte intégralRoger, Frederic, Anderson Singulani, Sara Carniello, Lado Filipovic et Siegfried Selberherr. « Global statistical methodology for the analysis of equipment parameter effects on TSV formation ». Dans 2015 6th International Workshop on CMOS Variability (VARI). IEEE, 2015. http://dx.doi.org/10.1109/vari.2015.7456561.
Texte intégralHatakeyama, Tomoyuki, Kazuyoshi Fushinobu et Ken Okazaki. « Effect of the Device Structure in Electro-Thermal Analysis of Si CMOS ». Dans ASME 2005 Pacific Rim Technical Conference and Exhibition on Integration and Packaging of MEMS, NEMS, and Electronic Systems collocated with the ASME 2005 Heat Transfer Summer Conference. ASMEDC, 2005. http://dx.doi.org/10.1115/ipack2005-73151.
Texte intégralLee, Ji Soo. « Improved analysis of CMOS photodiode ». Dans Opto-Canada : SPIE Regional Meeting on Optoelectronics, Photonics, and Imaging, sous la direction de John C. Armitage. SPIE, 2017. http://dx.doi.org/10.1117/12.2283941.
Texte intégralKupreyev, Dmitriy. « Noise analysis of CMOS-memristive and CMOS-resistive current mirrors ». Dans 2018 International Conference on Computing and Network Communications (CoCoNet). IEEE, 2018. http://dx.doi.org/10.1109/coconet.2018.8476814.
Texte intégralRapports d'organisations sur le sujet "ANALYSIS OF CMOS"
Nguyen, Du Van. An ASIC Power Analysis System for Digital CMOS Design. Portland State University Library, janvier 2000. http://dx.doi.org/10.15760/etd.7249.
Texte intégralBalaban, Harold S., Paul M. Kodzwa, Andrew S. Rehwinkel, Gregory A. Davis et Patricia F. Bronson. Root Cause Analysis for the ATIRCM/CMWS Program. Fort Belvoir, VA : Defense Technical Information Center, juin 2010. http://dx.doi.org/10.21236/ada555310.
Texte intégralBenmerrouche, Mo. 11-BM CMS Beamline Radiation Shielding Analysis. Office of Scientific and Technical Information (OSTI), août 2016. http://dx.doi.org/10.2172/1493166.
Texte intégralEchevarria-Doyle, Waleska, S. McKay et Susan Bailey. Sensitivity of sediment transport analyses in dam removal applications. Engineer Research and Development Center (U.S.), septembre 2023. http://dx.doi.org/10.21079/11681/47595.
Texte intégralAbercrombie, Daniel Robert, Hamed Bakhshiansohi, Sharad Agarwal, Jennifer Adelman-McCarthy, Andres Vargas Hernandez, Weinan Si, Lukas Layer et Jean-Roch Vlimant. Automatic log analysis with NLP for the CMS workflow handling. Office of Scientific and Technical Information (OSTI), novembre 2019. http://dx.doi.org/10.2172/1637601.
Texte intégralGu, Xinyu, Chongbo Zhao et Jianying Xi. The clinical manifestations and treatment strategies of congenital myasthenic syndrome associated with endplate development and maintenance deficiency : a systematic review and meta-analysis of case reports and case series. INPLASY - International Platform of Registered Systematic Review and Meta-analysis Protocols, mars 2023. http://dx.doi.org/10.37766/inplasy2023.3.0085.
Texte intégralPeters, Valerie A., Alistair Ogilvie et Paul S. Veers. Wind energy Computerized Maintenance Management System (CMMS) : data collection recommendations for reliability analysis. Office of Scientific and Technical Information (OSTI), septembre 2009. http://dx.doi.org/10.2172/985499.
Texte intégralPeters, Valerie A., et Alistair B. Ogilvie. Wind energy Computerized Maintenance Management System (CMMS) : data collection recommendations for reliability analysis. Office of Scientific and Technical Information (OSTI), janvier 2012. http://dx.doi.org/10.2172/1035328.
Texte intégralArhin, Stephen, Babin Manandhar et Adam Gatiba. Influence of Pavement Conditions on Commercial Motor Vehicle Crashes. Mineta Transportation Institute, décembre 2023. http://dx.doi.org/10.31979/mti.2023.2343.
Texte intégralSvynarenko, Radion, Theresa L. Profant et Lisa C. Lindley. Effectiveness of concurrent care to improve pediatric and family outcomes at the end of life : An analytic codebook. Pediatric End-of-Life (PedEOL) Care Research Group, College of Nursing, University of Tennessee, Knoxville, 2022. http://dx.doi.org/10.7290/m5fbbq.
Texte intégral