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Articles de revues sur le sujet « Caractérisation des couches minces »

Auteur : Grafiati
Publié le 19 avril 2025

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1

Azzoug, Asma. « Elaboration et caractérisation des couches minces d'oxyde de cuivre : Application à la photo-dégradation de Méthyle Orange ». Journal of Physical & ; Chemical Research 1, no 1 (1 juin 2022) : 57–71. http://dx.doi.org/10.58452/jpcr.v1i1.32.

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Résumé :
Dans ce travail nous avons étudié l’effet du temps de déposition sur lesdifférentes propriétés des couches minces d’oxyde de cuivre. En premierlieu nous avons élaboré des films minces de Cu 2O par électrodéposition surun substrat ITO dans un milieu sulfate à température fixé de T=60° et unpotentiel imposé de - 0.5V/ECS. En second lieu les couches minces del’oxyde de cuivre (Cu 2O/ITO) ont subi un traitement thermique àtempérature de 500 °C pendant 1h pour obtenir des films mince nomméCuO/ITO. Les couches minces déposées ont été caractérisées par ladiffraction du rayon X (DRX), la microscopie à force atomique (AFM), lemicroscope électronique à balayage (MEB) et la spectroscopie UV-Vis.L’activité photocatalytique des films Cu 2O et CuO a été étudiée au moyende la dégradation du méthyl orange (MO) sous irradiation directe de rayonsUV. Les propriétés photocalytique montrent des meilleures vitesses dedégradation avec une constante de vitesse de l’ordre 0,00087 min -1 pourCu2O et 0.0025 min-1 pour CuO.
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2

Bernede, J. C., N. Manai, M. Kettaf, M. Spiesser et G. Goureaux. « Réalisation et caractérisation de couches minces de dichalcogénure de molybdène ». Revue de Physique Appliquée 25, no 4 (1990) : 339–46. http://dx.doi.org/10.1051/rphysap:01990002504033900.

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3

Khéfacha, Zoubeida, Mohamed Mnari et Mohamed Dachraoui. « Caractérisation des couches minces de Cd1–xZnxS préparées par dépôt chimique ». Comptes Rendus Chimie 5, no 3 (mars 2002) : 149–55. http://dx.doi.org/10.1016/s1631-0748(02)01355-3.

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4

Athouël, L., MT Riou, G. Froyer, G. Louarn, S. Lefrant, A. Siove et C. Chevrot. « Caractérisation de couches minces de parasexiphényle déposé par évaporation sous vide ». Journal de Chimie Physique 89 (1992) : 1271–77. http://dx.doi.org/10.1051/jcp/1992891271.

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5

CROS, B., H. CAMON, Y. BROCHETON, J. P. GONCHOND, A. TISSIER, J. L. BALLADORE et M. RIBES. « CARACTÉRISATION DE COUCHES MINCES DE VERRES DE CHALCOGENURE PRÉPARÉES PAR PECVD ». Le Journal de Physique Colloques 50, no C5 (mai 1989) : C5–343—C5–351. http://dx.doi.org/10.1051/jphyscol:1989541.

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6

Robino, M., A. Chergui, J. L. Deiss, J. L. Loison et J. P. Vola. « Caractérisation structurale et morphologique de couches minces épitaxiées de ZnSe déposées sur GaAs ». Le Journal de Physique IV 06, no C4 (juillet 1996) : C4–441—C4–449. http://dx.doi.org/10.1051/jp4:1996440.

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7

Hbib, H., O. Bonnaud, A. Quemerais, M. Gauneau, J. L. Adam et R. Marchand. « Préparation et caractérisation de couches minces d'oxynitrure de phosphore destinées à la passivation d'InP ». Journal de Physique III 6, no 11 (novembre 1996) : 1489–506. http://dx.doi.org/10.1051/jp3:1996198.

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8

Addou, M., A. Kadiri, M. Ouazzani, A. Hakam et J. Salardenne. « Caractérisation - Etude électrique et optique de ln2O3 en couches minces préparées par évaporation thermique réactive ». Journal de Chimie Physique 88 (1991) : 343–50. http://dx.doi.org/10.1051/jcp/1991880343.

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9

Ben Aissa, Chokri, et Kaouther Khlifi. « Caractérisation nano-mécanique et tribologique des revêtements TiO2 et TiN déposés sur acier inoxydable 316L pour applications biomédicales ». Matériaux & ; Techniques 109, no 1 (2021) : 104. http://dx.doi.org/10.1051/mattech/2021016.

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Résumé :
Dans ce travail, nous avons développé des couches nanométriques biocompatibles à base de titane (TiN et TiO2) sur acier inoxydable 316L, par CAE-PVD (Cathodic Arc Evaporation), qui est un procédé efficace pour la synthèse de revêtements de haute qualité. Nous avons axé notre étude sur une caractérisation mécanique et tribologique des revêtements par des tests d’indentation et des rayures. Les résultats obtenus montrent une morphologie dense et uniforme couplée à des propriétés mécaniques et interfaciales importantes. Les revêtements TiN et TiO2 ont montré une dureté comprise entre 5,9 GPa et 8,23 GPa. La mesure de l’adhérence par des tests de rayure a montré que les deux revêtements ont une qualité d’adhérence légèrement différente. Les couches développées en TiN et TiO2 ont montré des charges de cohésion critiques comprises entre 1,8 N et 3,3 N avec une charge d’adhérence critique de 13,1 N. Les propriétés tribologiques ont été étudiées, en utilisant un test de Scratch multi-passes à charge constante, ce qui a permis de déterminer le coefficient de frottement et le taux d’usure énergétique. Les coefficients de frottement des deux couches étudiées sont du même ordre de grandeur (0,1), mais on peut dire que la résistance au frottement varie d’une couche à l’autre. L’énergie spécifique d’usure était comprise entre 3,09 × 10−5 J/μm3 et 8,36 × 10−5 J/μm3, et elle n’a pas changé après immersion de la couche de TiN pendant 48 h dans une solution de NaCl à 3 %. Le film mince de TiN, connu pour sa biocompatibilité et ses performances biologiques, a montré des propriétés mécaniques et tribologiques qui lui permettent d’être utilisé dans les implants de hanche et de genou.
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Abbas, Soumaia, Atman Haoua, Boubaker Haoua et Achour Rahal. « Caractérisation Spectroscopique des Couches Minces du SnO2 non Dopées et Dopées Fluore Elaborées Par Spray Ultrasonique ». حوليات العلوم و التكنولوجيا 6, no 1 (mai 2014) : 25–32. http://dx.doi.org/10.12816/0010623.

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11

Regragui, M., et A. Donnadieu. « Caractérisation électrique et optique de couches minces de WO3 et MoO3 préparées par décomposition en phase vapeur (CVD) ». Journal de Physique III 2, no 3 (mars 1992) : 383–94. http://dx.doi.org/10.1051/jp3:1992136.

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Deiss, J. L., J. L. Loison, D. Ohlmann, M. Robino, C. Ulhaq-Bouillet et G. Versini. « Caractérisation structurale et morphologique de couches minces épitaxiées de Cd1-xZnxTe déposées sur GaAs(001) par ablation laser ». Le Journal de Physique IV 08, PR5 (octobre 1998) : Pr5–257—Pr5–262. http://dx.doi.org/10.1051/jp4:1998532.

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13

Ohlmann, D., J. L. Deiss, J. L. Loison, M. Robino et G. Versini. « Caractérisation structurale par XRD et RHEED de couches minces épitaxiées de GaN déposées sur Al2O3(0001) par ablation laser réactive ». Le Journal de Physique IV 10, PR10 (septembre 2000) : Pr10–275—Pr10–280. http://dx.doi.org/10.1051/jp4:20001030.

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14

Kamoun, N., S. Belgacem, M. Amlouk, R. Bennaceur, K. Abdelmoula et A. Belhadj Amara. « Caractérisations structurale et morphologique des couches minces de CuInS2 et d'In-S "airless spray" ». Journal de Physique III 4, no 3 (mars 1994) : 473–91. http://dx.doi.org/10.1051/jp3:1994140.

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Béïque, Geneviève, Mario Caron, John F. Currie et Michel Meunier. « Caractérisation structurale de couches minces de silicium polycristallin fabriquées par dépôt chimique en phase vapeur sous basse pression du SiH4 et dopées en phosphore in situ ». Canadian Journal of Physics 73, no 7-8 (1 juillet 1995) : 526–29. http://dx.doi.org/10.1139/p95-076.

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Ben Haoua, Atmane, Achour Rahal et Boubak er Ben Haoua. « Caractérisations Structurale, Optique et Electrique des Couches Minces du SnO2, Non Dopé et Dopé au Lithium, Elaborées par Spray Ultrasonique ». حوليات العلوم و التكنولوجيا 7, no 1 (mai 2015) : 6–11. http://dx.doi.org/10.12816/0040254.

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Mennad, Abdelkader. « Les techniques de dépôt de couches minces et leurs applications ». Journal of Renewable Energies 18, no 4 (18 octobre 2023) : 713–19. http://dx.doi.org/10.54966/jreen.v18i4.541.

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Résumé :
Plusieurs techniques de dépôt de couches minces sont développées, mais leurs applications peuvent être conditionnées par des conditions opératoires ou restreintes à une surface réduite de substrat. La technique ALD ‘Atomic Layer Deposition’ est une option idéale pour effectuer des dépôts de couches minces dans des conditions de température plus douce et de contrôle d’épaisseur de couches sur des substrats de grande surface. Elle peut être utilisée pour des applications variées en comparaison aux autres techniques.
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Azéma, Alain, Jean Botineau, Thierry Brossat, Constantin Paparoditis et Jean Saulnier. « Caractérisation de HgCdTe en couche mince à 10,6 μm ». Annales des Télécommunications 41, no 1-2 (janvier 1986) : 39–43. http://dx.doi.org/10.1007/bf02998268.

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Abderrahmane, Abdelkader, Messaoud Kermiche, Samah Adjmi et Chewki Zegadi. « Réalisation d’un appareil de SILAR pour la déposition des nano couches des matériaux chalcogénures pour les cellules solaires ». Journal of Renewable Energies 19, no 4 (17 octobre 2023) : 567–74. http://dx.doi.org/10.54966/jreen.v19i4.595.

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Résumé :
Cet article représente la réalisation d’un appareillage fonctionnant automatiquement pour l'élaboration des nano couches par la technique 'Successive Ionic Layer Adsorption and Reaction', SILAR–Successive Adsorption Ionique des Couches et Réaction–. La technique SILAR est une technique innovante et économique. Elle consiste à l’immersion successive d’un substrat dans des solutions de composés hydrolysables. Dans ce contexte, nous avons réussi à l’élaboration de plusieurs composés qui sont utilisés dans la construction des cellules solaires. Nos résultats montrent que les couches minces obtenues sont homogènes et uniformes, leurs épaisseurs peuvent être contrôlés avec précision de quelques nanomètres. L’appareil fabriqué est prometteur et fiable pour l’application dans le domaine des couches minces pour cellules solaires.
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20

Angélélis, Céline, et Eric Felder. « Caractérisation mécanique des films minces ». Matériaux & ; Techniques 84, no 9-10 (1996) : 33–37. http://dx.doi.org/10.1051/mattech/199684090033.

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Angélélis, Céline, et Eric Felder. « Caractérisation mécanique des films minces ». Matériaux & ; Techniques 84, no 11-12 (1996) : 23–28. http://dx.doi.org/10.1051/mattech/199684110023.

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Daviéro, S., C. Avinens, A. Ibanez, J. C. Giuntini et E. Philippot. « Couches minces diélectriques de phosphate d'aluminium ». Journal de Physique III 3, no 4 (avril 1993) : 745–56. http://dx.doi.org/10.1051/jp3:1993160.

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Broll, N., V. Dontenwill et E. Zeh. « Analyse de couches minces. Rendement d'excitation ». Le Journal de Physique IV 06, no C4 (juillet 1996) : C4–659—C4–665. http://dx.doi.org/10.1051/jp4:1996463.

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Marty, A., et S. Andrieu. « Croissance et structure des couches minces ». Le Journal de Physique IV 06, no C7 (novembre 1996) : C7–3—C7–11. http://dx.doi.org/10.1051/jp4:1996701.

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Catherinot, A., B. Angleraud, J. Aubreton, C. Champeaux, C. Germain et C. Girault. « Dépôt de couches minces par photoablation ». Annales de Physique 19 (octobre 1994) : C1–237—C1–244. http://dx.doi.org/10.1051/anphys/1994055.

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Chicot, D., et J. Lesage. « Dureté des matériaux déposés en couches minces ». Matériaux & ; Techniques 82, no 10 (1994) : 19–23. http://dx.doi.org/10.1051/mattech/199482100019.

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Manzerolles, P., F. Gregoire, R. Morancho, A. Reynes et N. Sefiani. « Precurseurs organometalliques de couches minces amorphes semiconductrices ». Journal of Organometallic Chemistry 328, no 1-2 (juillet 1987) : 49–59. http://dx.doi.org/10.1016/s0022-328x(00)99766-3.

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Mouchart, Jacques. « Isoréflectance des dépôts optiques en couches minces ». Comptes Rendus de l'Académie des Sciences - Series IIB - Mechanics-Physics-Chemistry-Astronomy 326, no 6 (juin 1998) : 385–92. http://dx.doi.org/10.1016/s1251-8069(98)80417-x.

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Khelifi, M., M. Mejatty, J. Berrehar et H. Bouchriha. « Effet photovoltaïque dans des couches minces de phtalocyanines ». Revue de Physique Appliquée 20, no 7 (1985) : 511–21. http://dx.doi.org/10.1051/rphysap:01985002007051100.

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Bourezg, R., G. Couturier et J. Salardenne. « Élaboration par CVD de WSe2 en couches minces ». Journal de Chimie Physique 88 (1991) : 2021–30. http://dx.doi.org/10.1051/jcp/1991882021.

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Mouchart, J., J. Begel et S. Chalot. « Stabilisation Spectrale Des Dépôts Optiques en Couches Minces ». Journal of Modern Optics 34, no 10 (octobre 1987) : 1297–325. http://dx.doi.org/10.1080/09500348714551181.

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Thériault, Jean-Marc, et Germain Boivin. « Modèle quantitatif pour l'étude des couches minces diffusantes ». Canadian Journal of Physics 66, no 5 (1 mai 1988) : 390–95. http://dx.doi.org/10.1139/p88-064.

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Résumé :
The phenomenon of light scattering by dielectric thin films is studied by a photometric analysis method. This method is based on an empirical model of the diffusing film and has been validated using lead iodide. The model is presented here together with the analysis results that made it possible (i) to establish a precise microstructure for the films and (ii) to study the evolution of the microstructure via the thickness of the films. [Translated by the journal]
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33

Augie, D., M. Belhadji et P. Vigier. « Contraintes internes de couches minces Ni-Ag amorphes ». physica status solidi (a) 96, no 1 (16 juillet 1986) : K5—K8. http://dx.doi.org/10.1002/pssa.2210960146.

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NDIAYE, O., M. CHARLES, D. ALLAL et B. BOCQUET. « Caractérisation électromagnétique large bande de couche mince en PZT aux fréquences micro-ondes ». Revue française de métrologie, no 40 (15 décembre 2015) : 33–39. http://dx.doi.org/10.1051/rfm/2015017.

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35

Cros, B., E. Gat, J. Durand et L. Cot. « Matériaux céramiques déposés en couches minces par plasma CVD ». Journal de Physique III 3, no 4 (avril 1993) : 729–44. http://dx.doi.org/10.1051/jp3:1993159.

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Lincot, Daniel, et Jean-François Guillemoles. « Cellules solaires en couches minces à base de CuInSe2 ». Reflets de la physique, no 5 (juillet 2007) : 16–19. http://dx.doi.org/10.1051/refdp/2007060.

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Bourée, Jean-Éric, et Pere Roca i Cabarrocas. « Cellules solaires en couches minces à base de silicium ». Reflets de la physique, no 6 (octobre 2007) : 12–15. http://dx.doi.org/10.1051/refdp/2007062.

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Ammari, Habib, et Chiraz Latiri-Grouz. « Conditions aux limites approchées pour les couches minces périodiques ». ESAIM : Mathematical Modelling and Numerical Analysis 33, no 4 (juillet 1999) : 673–92. http://dx.doi.org/10.1051/m2an:1999157.

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Mouchart, Jacques, Jacqueline Begel et Claudy Clement. « Réflectance Spectrale Minimale des Dépôts Optiques en Couches Minces ». Journal of Modern Optics 38, no 12 (décembre 1991) : 2371–92. http://dx.doi.org/10.1080/09500349114552531.

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Guilloux-Viry, M., et A. Perrin. « Couches minces supraconductrices à haute température critique pour l'électronique ». European Physical Journal Applied Physics 3, no 2 (août 1998) : 141–47. http://dx.doi.org/10.1051/epjap:1998216.

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Orain, S., Y. Scudeller et T. Brousse. « Mesure de la conductivité thermique des couches minces d’oxyde ». Revue de Métallurgie 96, no 5 (mai 1999) : 667–76. http://dx.doi.org/10.1051/metal/199996050667.

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Courjal, Nadège, Florent Behague, Vincent Pêcheur, Mathieu Chauvet, Maria-Pilar Bernal et Jérôme Hauden. « Microsystèmes intégrés en niobate de lithium ». Photoniques, no 98 (septembre 2019) : 34–38. http://dx.doi.org/10.1051/photon/20199834.

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Résumé :
Le niobate de lithium (LiNbO3) suscite un vif intérêt en photonique depuis des décennies en raison de ses fortes propriétés électro-optiques et non-linéaires. L’opportunité récente de l’usiner en couches minces a élargi le spectre des applications déjà nombreuses du matériau. Les enjeux actuels concernent la miniaturisation des composants tout en préservant de faibles pertes optiques.
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Garry, G. « Elaboration de couches minces supraconductrices Y1Ba2CU3O7 par pulverisation magnetron r.f. » Journal de Physique III 1, no 2 (février 1991) : 305–12. http://dx.doi.org/10.1051/jp3:1991110.

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Schmutz, C., E. Basset et P. Barboux. « Couches minces de phosphates de titane par voie sol-gel ». Journal de Physique III 3, no 4 (avril 1993) : 757–66. http://dx.doi.org/10.1051/jp3:1993161.

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Athouël, L., Y. Pelous, G. Froyer, G. Louarn et S. Lefrant. « Étude de l’oxydation par AsF5 de couches minces de parasexiphényle ». Journal de Chimie Physique 89 (1992) : 1285–90. http://dx.doi.org/10.1051/jcp/1992891285.

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De Backer, M. G., F. X. Sauvage, B. Van Vlierberge, M. Z. Yang et A. Chapput. « Étude spectroélectrochimique de couches minces de colorants déposés sur électrodes ». Journal de Chimie Physique 84 (1987) : 915–19. http://dx.doi.org/10.1051/jcp/1987840915.

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Carchano, H., F. Lalande et R. Loussier. « Dépôt de couches minces d'AsGa polycrystallin par pulvérisation cathodique r.f. » Thin Solid Films 135, no 1 (janvier 1986) : 107–13. http://dx.doi.org/10.1016/0040-6090(86)90093-3.

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Nissim, Y. I., J. Flicstein, Y. Vitel, O. Dulac, C. Debauche et C. Licoppe. « Source VUV pour les dépots photochimiques de couches minces diélectriques ». Annales de Physique 19 (octobre 1994) : C1–229—C1–236. http://dx.doi.org/10.1051/anphys/1994054.

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49

Bernègde, J. C., A. Mallouky et J. Pouzet. « Etude de la résistivité de couches minces polycristallines de MoSe2 ». Physica Status Solidi (a) 111, no 1 (16 janvier 1989) : 181–91. http://dx.doi.org/10.1002/pssa.2211110119.

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50

Kerrien, G., T. Sarnet, D. Débarre, M. Hernandez, D. Zahorski, J. Venturini, C. Laviron, M. N. Semeria et J. Boulmer. « Caractérisation de jonctions ultra-minces réalisées par dopage laser ». Journal de Physique IV (Proceedings) 108 (juin 2003) : 71–74. http://dx.doi.org/10.1051/jp4:20030599.

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