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Littérature scientifique sur le sujet « Elaboration des couches minces »

Auteur : Grafiati

Publié le 19 avril 2025

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Articles de revues sur le sujet "Elaboration des couches minces"

Azzoug, Asma. « Elaboration et caractérisation des couches minces d'oxyde de cuivre : Application à la photo-dégradation de Méthyle Orange ». Journal of Physical & ; Chemical Research 1, n^o 1 (1 juin 2022) : 57–71. http://dx.doi.org/10.58452/jpcr.v1i1.32.

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Résumé :

Dans ce travail nous avons étudié l’effet du temps de déposition sur lesdifférentes propriétés des couches minces d’oxyde de cuivre. En premierlieu nous avons élaboré des films minces de Cu 2O par électrodéposition surun substrat ITO dans un milieu sulfate à température fixé de T=60° et unpotentiel imposé de - 0.5V/ECS. En second lieu les couches minces del’oxyde de cuivre (Cu 2O/ITO) ont subi un traitement thermique àtempérature de 500 °C pendant 1h pour obtenir des films mince nomméCuO/ITO. Les couches minces déposées ont été caractérisées par ladiffraction du rayon X (DRX), la microscopie à force atomique (AFM), lemicroscope électronique à balayage (MEB) et la spectroscopie UV-Vis.L’activité photocatalytique des films Cu 2O et CuO a été étudiée au moyende la dégradation du méthyl orange (MO) sous irradiation directe de rayonsUV. Les propriétés photocalytique montrent des meilleures vitesses dedégradation avec une constante de vitesse de l’ordre 0,00087 min -1 pourCu2O et 0.0025 min-1 pour CuO.

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Garry, G. « Elaboration de couches minces supraconductrices Y1Ba2CU3O7 par pulverisation magnetron r.f. » Journal de Physique III 1, n^o 2 (février 1991) : 305–12. http://dx.doi.org/10.1051/jp3:1991110.

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Rouhabi, C., T. Besombes, R. P. Tan, F. Guerin, C. Capello, F. Gessinn, G. Benassayag, A. Claverie, X. Hebras et M. Respaud. « Elaboration de couches minces de Silicium sur isolant (SOI) par le procédé Smart-CutTM ». J3eA 16 (2017) : 1011. http://dx.doi.org/10.1051/j3ea/20171011.

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Deschanvres, J. L., B. Bochu et J. C. Joubert. « Elaboration par le procédé pyrosol de couches minces texturées de ZnO pour la réalisation de microcapteurs ». Journal de Physique III 4, n^o 7 (juillet 1994) : 1243–51. http://dx.doi.org/10.1051/jp3:1994199.

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Mennad, Abdelkader. « Les techniques de dépôt de couches minces et leurs applications ». Journal of Renewable Energies 18, n^o 4 (18 octobre 2023) : 713–19. http://dx.doi.org/10.54966/jreen.v18i4.541.

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Résumé :

Plusieurs techniques de dépôt de couches minces sont développées, mais leurs applications peuvent être conditionnées par des conditions opératoires ou restreintes à une surface réduite de substrat. La technique ALD ‘Atomic Layer Deposition’ est une option idéale pour effectuer des dépôts de couches minces dans des conditions de température plus douce et de contrôle d’épaisseur de couches sur des substrats de grande surface. Elle peut être utilisée pour des applications variées en comparaison aux autres techniques.

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Abderrahmane, Abdelkader, Messaoud Kermiche, Samah Adjmi et Chewki Zegadi. « Réalisation d’un appareil de SILAR pour la déposition des nano couches des matériaux chalcogénures pour les cellules solaires ». Journal of Renewable Energies 19, n^o 4 (17 octobre 2023) : 567–74. http://dx.doi.org/10.54966/jreen.v19i4.595.

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Résumé :

Cet article représente la réalisation d’un appareillage fonctionnant automatiquement pour l'élaboration des nano couches par la technique 'Successive Ionic Layer Adsorption and Reaction', SILAR–Successive Adsorption Ionique des Couches et Réaction–. La technique SILAR est une technique innovante et économique. Elle consiste à l’immersion successive d’un substrat dans des solutions de composés hydrolysables. Dans ce contexte, nous avons réussi à l’élaboration de plusieurs composés qui sont utilisés dans la construction des cellules solaires. Nos résultats montrent que les couches minces obtenues sont homogènes et uniformes, leurs épaisseurs peuvent être contrôlés avec précision de quelques nanomètres. L’appareil fabriqué est prometteur et fiable pour l’application dans le domaine des couches minces pour cellules solaires.

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Daviéro, S., C. Avinens, A. Ibanez, J. C. Giuntini et E. Philippot. « Couches minces diélectriques de phosphate d'aluminium ». Journal de Physique III 3, n^o 4 (avril 1993) : 745–56. http://dx.doi.org/10.1051/jp3:1993160.

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Broll, N., V. Dontenwill et E. Zeh. « Analyse de couches minces. Rendement d'excitation ». Le Journal de Physique IV 06, n^o C4 (juillet 1996) : C4–659—C4–665. http://dx.doi.org/10.1051/jp4:1996463.

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Marty, A., et S. Andrieu. « Croissance et structure des couches minces ». Le Journal de Physique IV 06, n^o C7 (novembre 1996) : C7–3—C7–11. http://dx.doi.org/10.1051/jp4:1996701.

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Catherinot, A., B. Angleraud, J. Aubreton, C. Champeaux, C. Germain et C. Girault. « Dépôt de couches minces par photoablation ». Annales de Physique 19 (octobre 1994) : C1–237—C1–244. http://dx.doi.org/10.1051/anphys/1994055.

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Thèses sur le sujet "Elaboration des couches minces"

Oueldna, Nouredine. « Elaboration des couches minces thermoélectriques : expérience et modélisation ». Electronic Thesis or Diss., Aix-Marseille, 2021. http://www.theses.fr/2021AIXM0628.

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Résumé :

L’objectif de cette étude est de participer au développement de nouveaux nanomatériaux thermoélectriques (TE) compatibles avec la technologie CMOS, afin de développer des composants intégrés permettant de récupérer l’énergie perdue dans les dispositifs de la microélectronique. Le but est de réaliser un film mince de α, car ce composé n’est pas toxique et ses éléments ne sont pas rares contrairement aux matériaux à base de Bi et de Te. Les propriétés TE de α à l’état massif, notamment au voisinage de la température ambiante, font de ce matériau un matériau très prometteur pour les applications TE. Ce travail de thèse porte sur l’influence de la méthode d’élaboration par pulvérisation cathodique sur les températures de transition des phases Mg-Ag-Sb en film mince, ainsi que sur la microstructure des films, en lien avec leurs propriétés TE. Nos résultats montrent que l’utilisation d’une cible alliée (Mg1/3Ag1/3Sb1/3) ne permet pas d’obtenir un film homogène de α. La formation de α est accompagnée des phases secondaires Ag3Sb et Sb qui détériorent les propriétés TE du film. Cependant, il est possible de supprimer la formation de Ag3Sb grâce à la co-pulvérisation de trois cibles pures Mg, Ag et Sb, dans des conditions d’élaboration optimisées. Ces études montrent que les proportions des phases présentes dans les films affectent fortement le coefficient de Seebeck effectif (S) des films. Cependant, le rôle des interfaces entre les phases sur le S du film est négligeable. Nos observations in situ montrent que les transitions de phases ne sont pas allotropique comme généralement admis. Ces trois phases possèdent des compositions différentes et ne sont pas stœchiométriques
The goal of the present study is to participate to the development of new thermoelectric nanomaterials (TE) compatible with the CMOS technology, allowing integrated components able to use lost thermal energy in integrated circuits to power microelectronic devices to be developed. Unlike bismuth and tellurium based materials, the compound α MgAgSb is made of nontoxic and abundant elements. The TE properties of bulk α MgAgSb, especially at room temperature, were shown to be very promising for TE applications. The goal of this PhD work is to investigate the possibility of producing α thin films using magnetron sputtering deposition technique. The influence of the elaboration method on the Mg-Ag-Sb phase transitions in thin films as well as on the film microstructure is investigated in relation with the film TE properties. The results show that the use of an alloyed target (Mg1/3Ag1/3Sb1/3) does not allow a homogeneous α film to be produced. The formation of the phase α is always accompanied with the formation of the secondary phases Ag3Sb and Sb that deteriorate the film TE properties. However, it is possible to suppress the formation of Ag3Sb by co sputtering three pure targets Mg, Ag, and Sb, using optimized sputtering conditions. This study shows that the proportion of the different phases in the films strongly affects the effective Seebeck coefficient (S) of the films. However, the contribution of the interfaces between the nanometric grains of these phases on S is negligible. Contrasting with the general assumption, our in situ observations indicate that the phase transitions are not allotropic. These three phases have different compositions and are non stoichiometric

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Bourdet, Perrine. « Elaboration et caractérisation de couches minces d'oxyde de titane ». Aix-Marseille 1, 2006. http://www.theses.fr/2006AIX11052.

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Résumé :

L'anodisation à bas potentiels de films de titane obtenus par pulvérisation cathodique présente un comportement original par rapport à celle du titane massif. Elle est caractérisée par quatre étapes, dans lesquelles la relaxation des contraintes associée à une cristallisation partielle sous la phase anatase jouent un rôle primordial. Des traitements thermiques ont été effectués sur ces films. Leurs propriétés semi-conductrices ont été étudiées par spectroscopie d'impédances et photo-électrochimie. Différents modèles ont été discutés et utilisés afin d'appréhender la complexité des couches étudiées, tant les couches partiellement amorphes que cristallisées. Nos résultats ont montré sans ambiguïté l'inadéquation du modèle classique de Mott-Schottky pour les mesures d'impédances à une fréquence, méthode la plus utilisée dans la littérature. Le choix du modèle du semi-conducteur amorphe s'est avéré le plus pertinent dans la détermination des paramètres de semi-conduction.

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Callard, Anne-Ségolène. « Elaboration et caractérisation de couches diélectriques pour l'optique ». Ecully, Ecole centrale de Lyon, 1996. http://bibli.ec-lyon.fr/exl-doc/TH_T1653_ascallard.pdf.

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Résumé :

Ce travail porte sur la fabrication et la caractérisation des couches minces diélectriques pour l'optique. Les matériaux utilisés sont la silice, le nitrure de silicium et les oxynitrures de silicium. Les couches sont élaborées par dépôt chimique en phase vapeur active par plasma micro-onde (pecvd-ecr). Les dépôts sont contrôlés pendant leur croissance par ellipsométrie. Trois points ont été principalement développés: le premier d'entre eux est consacré à la fabrication de miroirs de bragg constitués de couches alternées de silice et de nitrure de silicium. Une méthode originale et simple de contrôle des épaisseurs de films par ellipsométrie in situ est présentée. Les mesures de réflectométrie sur les miroirs montrent que la méthode de contrôle in situ permet d'obtenir une grande précision sur les épaisseurs et les indices des différentes couches. Le deuxième est consacré à l'étude de la fabrication de films d'oxynitrure dont l'indice optique varie continûment avec l'épaisseur. Après l'examen de la variation de l'indice des couches en fonction des paramètres de dépôt, la méthode d'élaboration est présentée. Des films présentant des profils d'indice linéaire et parabolique ont été déposés sur du silicium et sur du verre. Le dernier point porte sur la caractérisation des films à gradient d'indice. On montre que la mesure d'un seul spectre ellipsométrique sur la couche permet d'obtenir la forme du profil. Une analyse en profondeur par gravure chimique permet de valider ces résultats

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Caune, Sylvie. « Elaboration et caractérisation de films minces de tri et pentatellurures de zirconium ». Aix-Marseille 2, 1989. http://www.theses.fr/1989AIX22009.

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Résumé :

Elaboration de couches minces zrte#3 et zrte#5 par pulverisation cathodique. Etude de la morphologie par microscopie electronique a balayage et de l'etat cristallin par diffraction rx. Etude systematique de la composition des couches par microanalyse de fluorescence x. D'autres analyses ont ete effectuees par spectroscopies d'electrons auger, de photoelectrons et exafs. Tous les resultats montrent la faisabilite d'elaboration des materiaux quasi-monodimensionnels zrtz#3 et zrte#5 en couches minces. Des mesures de reflectivite et de conduction, des etudes du comportement lors d'une reduction chimique ont ete effectuees egalement

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Soares-Carvalho, Fernanda. « Elaboration de couches minces ferroélectriques de titanate de bismuth Bi4Ti3O12 ». Limoges, 1996. http://www.theses.fr/1996LIMOA001.

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KARMED, HOCINE. « Elaboration et caracterisation de couches minces de siliciures de tungstene ». Nantes, 1989. http://www.theses.fr/1989NANT2023.

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Résumé :

Les siliciures de tungstene en couches minces sont utilises comme materiau de grille et d'interconnexion dans les circuits integres. Des couches minces elaborees par pulverisation cathodique d'une cible wsi#2 ont un rapport atomique si: w egal a 1,1. Pour tenter d'atteindre la stchiometrie wsi#2, nous avons elabore des couches minces de differentes facons: par pulverisation de la cible wsi#2 en presence d'un gaz reactif: le silane, par pulverisation simple d'une cible wsi#2#,#7, par pulverisation alternee de 2 cibles elementaires de w et de si. Le plus grand rapport atomique si: w est obtenu pour des couches minces elaborees a partir de la cible wsi#2#,#7. Ce rapport vaut 1,7. Ces memes couches minces presentent la plus faible resistivite (50 micro-ohm-cm), apres recuit. Des couches minces elaborees a partir de la cible wsi#2#,#7, mais sur des substrats chauds (100 a 500 degres-celsius) ont une resistivite elevee (500-600 micro-ohm-cm), avant recuit. Dans une deuxieme partie, nous avons etudie les impuretes dans les couches minces par differentes methodes d'analyse (aes, xps, sims). L'etude de la repartition de l'oxygene dans les couches minces deposees sur des substrats chauds permet de conclure a l'existence d'un processus de diffusion de l'oxygene dans ces couches dependant de la temperature de chauffage des substrats

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Benayoun, Stéphane. « Elaboration de couches minces supraconductrices de ybacuo par pulverisation ionique ». Poitiers, 1992. http://www.theses.fr/1992POIT2307.

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Résumé :

L'objet de cette etude est l'elaboration de films minces supraconducteurs du compose ybacuo a partir de depots realises par pulverisation ionique. La voie choisie est: l'emploi d'une cible stchiometrique de y#1ba#2cu#3o#6#+#x, un faisceau d'argon produit par une source kaufman pour pulveriser la cible, des depots a la temperature ambiante sur substrats de si, mgo, lagao#3, srtio#3, zro#2, des recuits de recristallisation ex situ sous pression partielle d'oxygene. La configuration de l'installation a ete optimisee de maniere a eliminer la pollution des films minces par des elements chimiques comme le fer et le tantale. Les phenomenes physiques responsables des ecarts de composition par rapport aux stchiometries ideales 1-2-3 ont ete analyses et quantifies. Il s'agit principalement: 1) de la pulverisation preferentielle et la diffusion des composants de la cible pendant le depot; 2) de la pulverisation selective de la couche pendant sa croissance par une partie des ions incidents reflechies par la cible, phenomenes particulierement importants pour le cuivre et l'oxygene; 3) de l'anisotropie d'emission des particules pulverisees de la couche qui fait varier, pour les configurations experimentales utilisees, la stchiometrie en baryum des depots. Un suivi detaille de la formation des differentes phases cristallographiques pendant les recuits en fonction de la temperature et des pressions partielles d'oxygene a ete etudie par diffraction des rayons-x. Il resulte de ces traitements thermiques que la formation de y#1ba#2cu#3o#7##x necessite, au prealable, la cristallisation des composes precurseurs bacuo#2 et y#2cu#2o#5. La temperature critique de transition supraconductrice, tc= 92k, a ete mesuree sur ces films minces par la methode des courants de foucault specialement construite a cet effet. Au cours de ce travail, une etude preliminaire de pulverisation assistee par implantation ionique des ions o, ne, ar, cu, kr, xe et ba sous une energie de 150 kev a ete entreprise

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Mallouky, Aly. « Elaboration et caractérisation de couches minces de MoSe2 semi-conducteur ». Grenoble 2 : ANRT, 1987. http://catalogue.bnf.fr/ark:/12148/cb37607661x.

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Bibes, Manuel. « Elaboration et étude de couches minces de manganites à valence mixte ». Phd thesis, INSA de Toulouse, 2001. http://tel.archives-ouvertes.fr/tel-00005931.

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Résumé :

Cette thèse est dédiée à l'étude d'oxydes de Mn du type L1-xAxMnO3 (L=La, A=CA, Sr) pour x=1/3. Ces composés présentent une transition paramagnétique-ferromagnétique avec une Tc proche de 300K. Dans le régime paramagnétique, la résistance électrique présente un comportemtent semiconducteur et un caractère métallique pour des températures inférieures à Tc : la transition magnétique s'accompagne donc d'une transition métal-isolant. L'application d'un champ magnétique externe favorise l'ordre ferromagnétique entre les moments des ions Mn, conduisant à un déplacement de Tc vers les hautes températures, ce qui produit une variation importante de la résistivité près de la transition. C'est cet effet que l'on appelle "magnétorésistance colossale". Dans les manganites, plusieurs interactions sont en compétition pour déterminer l'état électronique fondamental, ce qui confère à ces matériaux un grand intérêt comme système à électrons fortement corrélés. Les manganites possèdent également certaines fonctionnalités exploitables pour l'électronique de spin, comme leur forte polarisation de spin. Dans ce cadre, cette thèse est articulée autour des points suivants :
1. Le plus gros effort experimental a consisté à mettre au point et automatiser un bâti de croissance de couches minces par pulvérisation cathodique. Ce système comprend une chambre à vide dont l'atmosphère est contrôlée par deux pompes, des électrovannes et des fluxomètres. Les différentes éléments (chaufferettes porte-substrats, magnétrons, etc) sont pilotés par un ordinateur de sorte que la croissance de couches et d'hétérostructures est entièrement automatisée.
2. La seconde partie du travail a concerné l'étude et l'optimisation des conditions de croissance de couches minces nanométriques de La2/3Ca1/3MnO3. L'influence des différents paramètres de croissance (température, vitesse de dépôt, etc) sur les propriétés du matériau ont été étudiées de façon exhaustive afin de maîtriser la croissance de couches de haute qualité avec une bonne reproductibilité.
3. La majeure partie du travail a consisté à étudier l'influence des interfaces sur les propriétés physiques de couches minces de manganite. L'interaction responsable du ferromagnétisme de ces matériaux est très sensible aux distorsions structurales ce qui, combiné à la forte polarisation de spin des porteurs, donne lieu à une forte magnétorésistance à champ faible dans des poudres nanométriques (contenant une grande densité de joints de grains). Cette forte polarisation de spin conduit aussi à l'observation de forts effets magnétorésistifs dans des jonctions tunnel à base de manganites. Dans ce cadre, notre contribution consiste à étudier plusieurs types d'interfaces (joints de grains d'orientation contrôlée dans des couches texturées, défauts générés par irradiation laser, jonctions bicristallines) et a corréler les propriétés magnétiques et de magnétotransport avec les caractéristiques structurales. L'influence de l'interface avec le substrat isolant (SrTiO3, LaAlO3, NdGaO3) a également été étudiée via la dépendence en épaisseur (2.4 - 180 nm) des propriétés de couches minces totalement contraintes. Parmi les effets les plus marquants, on observe une forte diminution de la Tc et une aumgentation de la résistivité lorsque l'épaisseur diminue. Nous avons montré que cela résulte d'une séparation de phase entre des régions nanométriques ferromagnétiques-métalliques, ferromagnétiques-isolantes et non-ferromagnétiques-isolantes présentes à l'interface couche-substrat. Par ailleurs, nous avons également effectué des mesures de magnétorésistane anisotrope et d'effet Hall extraordinaire. L'amplitude de ces deux effects a été comparée et interprétée en fonction du couplage spin-orbite et des propriétés électroniques près de Tc.

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Cardin, Julien. « Elaboration et caractérisation de couches minces ferroélectriques pour des applications optiques ». Phd thesis, Université de Nantes, 2004. http://tel.archives-ouvertes.fr/tel-00090784.

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Résumé :

Dans l'objectif de réaliser des guides d'onde intégrés, des couches minces ferroélectriques de zirconate-titanate de plomb (PZT) ont été élaborées sur substrat de verre par dépôt chimique en solution. Un dispositif M-lines a été mis en place afin de déterminer l'indice de réfraction et l'épaisseur de ces films. Une attention particulière a été portée à l'analyse des résultats et des sources d'erreurs. Cela a conduit à la mise au point d'un critère d'indexation des modes de propagation dont l'efficacité a été prouvée par des simulations numériques. Une méthode d'optimisation a été développée permettant d'obtenir l'indice et l'épaisseur des films avec une précision relative de 10-3. La caractérisation M-lines a été utilisée pour étudier l'influence sur l'indice de réfraction de l'élaboration du PZT. Des guides d'onde linéaires et Mach-Zehnder ont été réalisés par photolithographie et gravure chimique, leur capacité à guider la lumière sur plusieurs dizaines de millimètres a été démontrée.

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Plus de sources

Livres sur le sujet "Elaboration des couches minces"

Benalloul, Paul. Dispositifs électroluminescents en couches minces et polychromie. Grenoble : A.N.R.T, Université Pierre Mendes France (Grenoble II), 1986.

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1960-, Ayral André, et Rouessac Vincent, dir. Techniques innovantes pour la caractérisation optique microstructurale de couches minces. Paris : CNRS, 2006.

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Mathieu, Hans Jo rg. Traite des mate riaux : Analyse et technologie des surfaces : couches minces et tribologie. Lausanne : Presses polytechniques et universitaires romandes, 2003.

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Symposium on Thin Film Transistor Technologies (1st 1992 Toronto, Ont.). Proceedings of the First Symposium on Thin Film Transistor Technologies. Pennington, NJ : Electrochemical Society, 1992.

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1945-, Mittal K. L., dir. Adhesion aspects of thin films. Utrecht : VSP, 2005.

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1945-, Mittal K. L., et International Symposium on Adhesion Aspects of Thin Films (1st : 1999 : Newark, N.J.), dir. Adhesion aspects of thin films. Utrecht : VSP, 2001.

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Xiangshan Science Conference on Supramolecular Systems (1998 Beijing, China). Xiangshan Science Conference on Supramolecular Systems : Beijing, China, October 16-21, 1998. Sous la direction de Zhang Xi, Salesse Christian et Xiangshan Science Conference (106th : 1998 : Beijing, China). Amsterdam : Elsevier, 1999.

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L, Vossen John, et Kern Werner 1925-, dir. Thin film processes II. Boston : Academic Press, 1991.

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C, Advincula Rigoberto, dir. Polymer brushes : Synthesis, characterization, applications. Weinheim : Wiley-VCH, 2004.

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1945-, Mittal K. L., dir. Adhesion measurement of films & coatings. Utrecht, The Netherlands : VSP, 2001.

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Plus de sources

Chapitres de livres sur le sujet "Elaboration des couches minces"

« CHAPITRE 20 COUCHES MINCES ET MULTICOUCHES MAGNÉTIQUES ». Dans Magnétisme (Tome II), 255–300. EDP Sciences, 1999. https://doi.org/10.1051/978-2-86883-464-5.c010.

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« CHAPITRE 20 COUCHES MINCES ET MULTICOUCHES MAGNÉTIQUES ». Dans Magnétisme (Tome II), 255–300. EDP Sciences, 1999. http://dx.doi.org/10.1051/978-2-7598-0132-9.c010.

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Fick, J., A. Martucci et M. Guglielmi. « Couches minces fabriquées par sol-gel pour des applications en optique non linéaire ». Dans L'optique non linéaire et ses matériaux, 391–96. EDP Sciences, 2001. http://dx.doi.org/10.1051/978-2-7598-0194-7.c011.

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Bernède, J. C., A. Mallouky et J. Pouzet. « Etude de la résistivité de couches minces polycristallines de MoSe₂ ». Dans 16 January, 181–92. De Gruyter, 1989. http://dx.doi.org/10.1515/9783112472866-021.

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« 6. Bonne absorptivité, mauvais transport, faible coût : les cellules en couches minces, organiques, amorphes, pérovskites ». Dans L'énergie solaire photovoltaïque, 83–92. EDP Sciences, 2023. http://dx.doi.org/10.1051/978-2-7598-2924-8.c010.

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Bernède, J. C., A. Mallouky et J. Pouzet. « Etude de la résistivité de couches minces poly cristalline s de MoSe₂ ». Dans January 16, 181–92. De Gruyter, 1989. http://dx.doi.org/10.1515/9783112495100-022.

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Lincot, Daniel. « Chapitre 7 : Les fi lières photovoltaïques en couches minces et leurs perspectives d’application à l’habitat ». Dans La chimie et l'habitat, 127–50. EDP Sciences, 2020. http://dx.doi.org/10.1051/978-2-7598-1221-9-012.

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Actes de conférences sur le sujet "Elaboration des couches minces"

Flory, F., et S. Monneret. « Mesures de propriétés non linéaires thermiques de couches minces diélectriques ». Dans Optique instrumentale. Les Ulis, France : EDP Sciences, 1997. http://dx.doi.org/10.1051/sfo/1997010.

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Fick, J., A. Martucci et M. Guglielmi. « Couches minces fabriquées par sol-gel pour des applications en optique non linéaire ». Dans L'optique non linéaire et ses matériaux. Les Ulis, France : EDP Sciences, 1998. http://dx.doi.org/10.1051/sfo/1998007.

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Michau, Alexandre, Fernando Lomello, Wilfried Pacquentin et Pascal Aubry. « Traitement de surface par laser, nouveaux procédés de dépôt des couches minces, fabrication additive ». Dans Etats de surface dans les réacteurs nucléaires : enjeux, avancées et perspectives. Les Ulis, France : EDP Sciences, 2017. http://dx.doi.org/10.1051/jtsfen/2017eta09.

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Richier, R., et E. Pelletier. « Single mode couplers through end-coatings on optical fibers ». Dans Optical Interference Coatings. Washington, D.C. : Optica Publishing Group, 1992. http://dx.doi.org/10.1364/oic.1992.otud3.

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Résumé :

For some years, the society "Alliance Technique Industrielle" and the "Laboratoire d'Optique des Surfaces et des Couches Minces" have developed jointly passive components for optoelectronics. It mainly concerns multi-demultiplexers and couplers. The original feature and the interest of the developed systems result from the fact that: - the coatings used to obtain selective optical properties (transmission versus wavelength) are deposited directly on the ends of the fibers. - after coating, the fibers are directly fitted together without any additional optical part.

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Abel, François. « Microanalyse nucléaire ». Dans Élaboration et caractérisation des cristaux massifs et en couches minces pour l'optique. Les Ulis, France : EDP Sciences, 2003. http://dx.doi.org/10.1051/bib-sfo:2002801.

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Abel, François. « Phénomènes de canalisation. Applications à la caractérisation des échantillons cristallins ». Dans Élaboration et caractérisation des cristaux massifs et en couches minces pour l'optique. Les Ulis, France : EDP Sciences, 2003. http://dx.doi.org/10.1051/bib-sfo:2002802.

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Amra, Claude. « Thermique photo-induite, déflexion photothermique et endommagement laser dans les composants optiques interférentiels. Mesures d'absorption optique et tenue au flux ». Dans Élaboration et caractérisation des cristaux massifs et en couches minces pour l'optique. Les Ulis, France : EDP Sciences, 2003. http://dx.doi.org/10.1051/bib-sfo:20028031.

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Amra, Claude. « Diffusion de la lumière par les rugosités d'interface et les hétérogénéités de volume. Application à la caractérisation de microstructure dans les composants interférentiels ». Dans Élaboration et caractérisation des cristaux massifs et en couches minces pour l'optique. Les Ulis, France : EDP Sciences, 2003. http://dx.doi.org/10.1051/bib-sfo:20028032.

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Collombet, A., Y. Guyot, E. Descroix et M. F. Joubert. « Spectroscopie optique dans l'ultraviolet de cristaux dopés par l'ion Nd3+ ». Dans Élaboration et caractérisation des cristaux massifs et en couches minces pour l'optique. Les Ulis, France : EDP Sciences, 2003. http://dx.doi.org/10.1051/bib-sfo:2002806.

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Ferrand, Bernard. « Méthodes d'élaboration de cristaux massifs pour l'optique ». Dans Élaboration et caractérisation des cristaux massifs et en couches minces pour l'optique. Les Ulis, France : EDP Sciences, 2003. http://dx.doi.org/10.1051/bib-sfo:2002807.

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