Littérature scientifique sur le sujet « Field emission gun (FEG) »
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Articles de revues sur le sujet "Field emission gun (FEG)"
Joy, David C. « Microanalysis with a 200keV FEG TEM ». Proceedings, annual meeting, Electron Microscopy Society of America 49 (août 1991) : 700–701. http://dx.doi.org/10.1017/s0424820100087811.
Texte intégralBrock, Judith M., Max T. Otten et Marc J. C. de Jong. « Performance and applications of a field-emission gun TEM/STEM ». Proceedings, annual meeting, Electron Microscopy Society of America 50, no 2 (août 1992) : 942–43. http://dx.doi.org/10.1017/s0424820100129346.
Texte intégralTomita, T., S. Katoh, H. Kitajima, Y. Kokubo et Y. Ishida. « Development of Field-Emission Gun for High-Voltage Electron Microscope ». Proceedings, annual meeting, Electron Microscopy Society of America 48, no 2 (12 août 1990) : 94–95. http://dx.doi.org/10.1017/s0424820100134065.
Texte intégralMul, P. M., B. J. M. Bormans et L. Schaap. « Design of a Field-Emission Gun for the Phillips CM20/STEM microscope ». Proceedings, annual meeting, Electron Microscopy Society of America 48, no 2 (12 août 1990) : 100–101. http://dx.doi.org/10.1017/s0424820100134090.
Texte intégralMurakoshi, H., M. Ichihashi, T. Komoda, S. Isakozawa et T. Kubo. « Field-emission gun and illuminating lens system for 200kV FE-TEM ». Proceedings, annual meeting, Electron Microscopy Society of America 47 (6 août 1989) : 110–11. http://dx.doi.org/10.1017/s0424820100152525.
Texte intégralOlson, N. H., U. Lücken, S. B. Walker, M. T. Otten et T. S. Baker. « Cryoelectron microscopy and image reconstruction of spherical viruses with spot scan and FEG technologies ». Proceedings, annual meeting, Electron Microscopy Society of America 53 (13 août 1995) : 1086–87. http://dx.doi.org/10.1017/s0424820100141809.
Texte intégralOhi, M., K. Harasawa, T. Niikura, H. Okazaki, Y. Ishimori, T. Miyokawa et S. Nakagawa. « Development of a New Digital Fe SEM ». Proceedings, annual meeting, Electron Microscopy Society of America 48, no 1 (12 août 1990) : 432–33. http://dx.doi.org/10.1017/s0424820100180914.
Texte intégralTroyon, Michel, et He Ning Lei. « Electron Trajectories Calculations of an Energy - Filtering Field-Emission Gun ». Proceedings, annual meeting, Electron Microscopy Society of America 48, no 1 (12 août 1990) : 192–93. http://dx.doi.org/10.1017/s0424820100179713.
Texte intégralKaneyama, T., M. Kawasaki, T. Tomita, T. Honda et M. Kersker. « The information limit of a 200kv field emission TEM ». Proceedings, annual meeting, Electron Microscopy Society of America 53 (13 août 1995) : 586–87. http://dx.doi.org/10.1017/s0424820100139305.
Texte intégralCoened, W. M. J., A. J. E. M. Janssend, M. Op de Beeck, D. Van Dyck, E. J. Van Zwet et H. W. Zandbergen. « Focus-variation image reconstruction in field-emission TEM ». Proceedings, annual meeting, Electron Microscopy Society of America 51 (1 août 1993) : 1070–71. http://dx.doi.org/10.1017/s0424820100151180.
Texte intégralThèses sur le sujet "Field emission gun (FEG)"
Dylewski, Benoît. « Caractérisation expérimentale multi-échelles et multi-techniques du rail prélevé en service : de la déformation plastique sévère et des évolutions de microstructure à l'amorçage de fissures par Fatigue de Contact de Roulement ». Electronic Thesis or Diss., Compiègne, 2016. http://www.theses.fr/2016COMP2324.
Texte intégralThis work is dedicated to the characterization of severe plastic deformation and microstructure evolution induced in rails in service, leading to cracks initiation by Rolling Contact Fatigue. Initiation of these surface cracks and in-depth propagation involve several phenomena at the microstructure scale which can lead to surface spalling at the macroscopic scale or even to brutal failure of the rail during its service. To improve understanding of these various phenomena beneath the rail surface, an experimental, multi-scales and multi-techniques methodology has been followed on rails removed from service. In the first part of results, the presence of a three-dimensional gradient of microstructure, of crystallography and of mechanical properties induced by the repeated contacts with wheels has been highlighted in a rail head during its service. Then, by means of a field analysis campaign of rails removed from service at several accumulated loads, the different stages of in-depth gradients development and plastic deformation accumulated in the rail head have been estimated in relation with total accumulated tonnage and cracks initiation. This study contributes to improve the understanding of the damage mechanisms in rolling contact fatigue of rails in service and the modeling of rail plasticity and crack propagation by including anisotropy of the running band and effect of in-depth microstructure evolution
Liška, Ivo. « Coulomb Interactions in Electron Beams in the Vicinity of a Schottky and Cold Field Emission Sources ». Doctoral thesis, Vysoké učení technické v Brně. Fakulta strojního inženýrství, 2010. http://www.nusl.cz/ntk/nusl-233896.
Texte intégralBrenac, Ariel. « Développements instrumentaux pour la photoémission inverse ». Grenoble 1, 1987. http://www.theses.fr/1987GRE10010.
Texte intégralLiao, Po-Hsinag, et 廖柏翔. « Development of Field Emission Electron Gun for Desktop Electron Microscope ». Thesis, 2018. http://ndltd.ncl.edu.tw/handle/3d5ybg.
Texte intégral國立清華大學
工程與系統科學系
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With the development of technology, electron microscope has become an important observational tool in different major such as physics, chemistry, biology, and materials engineering. The source of electron microscope, it usually divide into two types, thermionic type and field emission type. Field emission type electron source usually have smaller tip radius than thermal type, so it can produce smaller electron source. Then, electron beam pass by condenser lens, a small spot size source is formed. Therefore, the brightness of the electron gun is much brighter than thermal type source. In addition, field emission source spectral energy distribution is close to monochromatic, and has smaller energy spread. So field emission source has better coherence that lead it obtain higher resolution. Although field-emission type electron gun have above advantages, but it need to maintain in high vacuum condition. Because the tip of the field emission electron gun can easily react with impurities in the air, and lead the needle tip blunt. When the needle tip is blunt, it will cause the field emission gun poor efficiency. So the field emission type electron gun needs lots of high vacuum equipment to maintain it stay in high vacuum condition and high efficiency. The purpose of this research is using cheaper and more convenient ways to produce a field emission electron gun tip. And then set it up on our lab’s group made Desktop Electron Microscope to improve the resolution. In this paper, we successfully fabricated a field electron gun tip using electrolytic machining. The radius of curvature of the electron gun tip is about 100 nm or less, and its reproduction rate is also high. Finally, we also tried to deposit ZrO on the tip to make thermionic (Schottky) type field electron gun. After that, we also design some components installed on our Desktop Electron Microscope to finish field emission microscope.
YIN, k. M., et 殷開明. « Field emission gun TEM research for Cu-Bi alloys in grain boundary segregation ». Thesis, 1996. http://ndltd.ncl.edu.tw/handle/21098675102269389780.
Texte intégralChang, Holin, et 張豪麟. « Failure Analysis of Diffusion Barrier Layer in VLSI Deviceby Field Emission Gun Energy Filter TEM ». Thesis, 1996. http://ndltd.ncl.edu.tw/handle/75194869367329745607.
Texte intégralChapitres de livres sur le sujet "Field emission gun (FEG)"
Lich, Ben, Faysal Boughorbel, Pavel Potocek et Emine Korkmaz. « FEG-SEM for Large Volume 3D Structural Analysis in Life Sciences ». Dans Biological Field Emission Scanning Electron Microscopy, 103–15. Chichester, UK : John Wiley & Sons, Ltd, 2019. http://dx.doi.org/10.1002/9781118663233.ch6.
Texte intégralBrodusch, Nicolas, Hendrix Demers et Raynald Gauvin. « Developments in Field Emission Gun Technologies and Advanced Detection Systems ». Dans Field Emission Scanning Electron Microscopy, 5–12. Singapore : Springer Singapore, 2017. http://dx.doi.org/10.1007/978-981-10-4433-5_2.
Texte intégralMook, H. W., et P. Kruit. « Electrostatic in-line monochromator for Schottky Field Emission Gun ». Dans Electron Microscopy and Analysis 1997, 81–84. Boca Raton : CRC Press, 2022. http://dx.doi.org/10.1201/9781003063056-19.
Texte intégralActes de conférences sur le sujet "Field emission gun (FEG)"
Chen, Tao, Chen Xue-dong, Xiao-ming Lian et Zhi-chao Fan. « Effect of Ti Additions on Microstructure and Mechanical Properties of Centrifugally Cast 25Cr-35Ni-Nb Alloy ». Dans ASME 2016 Pressure Vessels and Piping Conference. American Society of Mechanical Engineers, 2016. http://dx.doi.org/10.1115/pvp2016-63411.
Texte intégralSpathis, V., et M. C. Price. « Experiments using a light gas gun to investigate the impact melting of gunshot residue analogues ». Dans 2019 15th Hypervelocity Impact Symposium. American Society of Mechanical Engineers, 2019. http://dx.doi.org/10.1115/hvis2019-030.
Texte intégralWang, L., R. J. K. Wood, H. E. G. Powrie, E. Streit et I. Care. « Performance Evaluation of Hybrid (Ceramic on Steel) Bearings With Advanced Aircraft Engine Oils for Lubrication ». Dans ASME Turbo Expo 2004 : Power for Land, Sea, and Air. ASMEDC, 2004. http://dx.doi.org/10.1115/gt2004-53418.
Texte intégralLin, Kun-Lin, Jian-Shing Luo, Hsiu-Ting Lee et Jeremy D. Russell. « Localized Epoxy Layer Formation on Surface Defect Using a Micro-Brush in a Plucking System ». Dans ISTFA 2009. ASM International, 2009. http://dx.doi.org/10.31399/asm.cp.istfa2009p0126.
Texte intégralHawco, Jessica, Elliott Burden, Edison Sripal et Lesley James. « Evaluating the Prospect of Oil Production in Tight Winterhouse Formation Rocks in Western Newfoundland ». Dans SPE Canadian Energy Technology Conference. SPE, 2022. http://dx.doi.org/10.2118/208908-ms.
Texte intégralLuan, B. F., R. S. Qiu, Z. Zhou, K. L. Murty, J. Zhou et Q. Liu. « Characterization of Hot Deformation Behavior of Zr-1.0Sn-0.3Nb-0.3Fe-0.1Cr Using Processing Map ». Dans 2013 21st International Conference on Nuclear Engineering. American Society of Mechanical Engineers, 2013. http://dx.doi.org/10.1115/icone21-15186.
Texte intégralLewis, Samantha M., Julian Merrick, Mohamed A. K. Othman, Andrew Haase, Sami Tantawi et Emilio A. Nanni. « A THz-Driven Field Emission Electron Gun ». Dans 2020 45th International Conference on Infrared, Millimeter and Terahertz Waves (IRMMW-THz). IEEE, 2020. http://dx.doi.org/10.1109/irmmw-thz46771.2020.9370485.
Texte intégralShao, J. H., S. Antipov, S. V. Baryshev, H. B. Chen, M. E. Conde, D. S. Doran, W. Gai et al. « Field emission study using an L-band photocathode gun ». Dans ADVANCED ACCELERATOR CONCEPTS 2016 : 16th Advanced Accelerator Concepts Workshop. Author(s), 2016. http://dx.doi.org/10.1063/1.4965637.
Texte intégralGetty, Stephanie A., Todd T. King, Rachael A. Bis, Hollis H. Jones, Federico Herrero, Bernard A. Lynch, Patrick Roman et Paul Mahaffy. « Performance of a carbon nanotube field emission electron gun ». Dans Defense and Security Symposium, sous la direction de Thomas George et Zhongyang Cheng. SPIE, 2007. http://dx.doi.org/10.1117/12.720995.
Texte intégralEroshkin, Pavel A., et Evgeny P. Sheshin. « Electron gun with field emission cathode for x-ray tube ». Dans 2014 Tenth International Vacuum Electron Sources Conference (IVESC). IEEE, 2014. http://dx.doi.org/10.1109/ivesc.2014.6891972.
Texte intégralRapports d'organisations sur le sujet "Field emission gun (FEG)"
Thangaraj, Charles. Gated Field-Emission Cathode Radio-Frequency (RF) Gun. Office of Scientific and Technical Information (OSTI), novembre 2016. http://dx.doi.org/10.2172/1433861.
Texte intégralJay L. Hirshfield. Rf Gun with High-Current Density Field Emission Cathode. Office of Scientific and Technical Information (OSTI), décembre 2005. http://dx.doi.org/10.2172/861455.
Texte intégralMcGuire, Gary, Allen Martin et John Noonan. Final Technical Report- Back-gate Field Emission-based Cathode RF Electron Gun. Office of Scientific and Technical Information (OSTI), octobre 2010. http://dx.doi.org/10.2172/991655.
Texte intégralZhai, Tongguang, Chi-Sing Man et James Morris. Field Emission Gun Scanning Electron Microscopy with Electron Back Scatter Diffraction for Texture, Formability and Fatigue Studies of Advanced Materials. Fort Belvoir, VA : Defense Technical Information Center, mai 2007. http://dx.doi.org/10.21236/ada484492.
Texte intégral