Sommaire
Littérature scientifique sur le sujet « Open de-embedding structure »
Créez une référence correcte selon les styles APA, MLA, Chicago, Harvard et plusieurs autres
Consultez les listes thématiques d’articles de revues, de livres, de thèses, de rapports de conférences et d’autres sources académiques sur le sujet « Open de-embedding structure ».
À côté de chaque source dans la liste de références il y a un bouton « Ajouter à la bibliographie ». Cliquez sur ce bouton, et nous générerons automatiquement la référence bibliographique pour la source choisie selon votre style de citation préféré : APA, MLA, Harvard, Vancouver, Chicago, etc.
Vous pouvez aussi télécharger le texte intégral de la publication scolaire au format pdf et consulter son résumé en ligne lorsque ces informations sont inclues dans les métadonnées.
Articles de revues sur le sujet "Open de-embedding structure"
Xie, Anze, Anders Carlsson, Jason Mohoney, et al. "Demo of marius." Proceedings of the VLDB Endowment 14, no. 12 (2021): 2759–62. http://dx.doi.org/10.14778/3476311.3476338.
Texte intégralManeux, Cristell, Chhandak Mukherjee, Marina Deng, et al. "(Invited) Strategies for Characterization and Parameter Extraction of Vertical Junction-Less Nanowire FETs Dedicated to Design Technology Co-Optimization." ECS Meeting Abstracts MA2023-01, no. 33 (2023): 1863. http://dx.doi.org/10.1149/ma2023-01331863mtgabs.
Texte intégralStefanski, Tomasz, Wieslaw J. Kordalski, and Hans Hauer. "AN EXPERIMENTAL VERIFICATION OF NEW NON-QUASI-STATIC SMALL-SIGNAL MOSFET MODEL." SYNCHROINFO JOURNAL 7, no. 4 (2021): 2–6. http://dx.doi.org/10.36724/2664-066x-2021-7-4-2-6.
Texte intégralIssakov, Vadim, Maciej Wojnowski, Andreas Thiede, and Robert Weigel. "Considerations on the de-embedding of differential devices using two-port techniques." International Journal of Microwave and Wireless Technologies 2, no. 3-4 (2010): 349–57. http://dx.doi.org/10.1017/s1759078710000498.
Texte intégralTiemeijer, L. F., R. M. T. Pijper, J. A. van Steenwijk, and E. van der Heijden. "A New 12-Term Open–Short–Load De-Embedding Method for Accurate On-Wafer Characterization of RF MOSFET Structures." IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques 58, no. 2 (2010): 419–33. http://dx.doi.org/10.1109/tmtt.2009.2038453.
Texte intégralGomes de Mattos de Albuquerque, Marcos Antônio, and Veleda Christina Lucena de Albuquerque. "RUA BARÃO RODRIGUES MENDES, RECIFE, PE: MEMÓRIAS DE SEU TRAJETO DO SÉCULO XVII AO XXI." Revista Noctua 1, no. 8 (2023): 3–26. http://dx.doi.org/10.26892/noctua.v1i8p3-26.
Texte intégralGomes de Mattos de Albuquerque, Marcos Antônio, and Veleda Christina Lucena de Albuquerque. "RUA BARÃO RODRIGUES MENDES, RECIFE, PE: MEMÓRIAS DE SEU TRAJETO DO SÉCULO XVII AO XXI." Revista Noctua 1, no. 8 (2023): 3–26. http://dx.doi.org/10.26892/noctua.v2i7p3-26.
Texte intégralLi, Yin, and Lei Zhu. "A Short–Open Calibration Method for Accurate De-Embedding of 3-D Nonplanar Microstrip Line Structures in Finite-Element Method." IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques 66, no. 3 (2018): 1172–80. http://dx.doi.org/10.1109/tmtt.2017.2778111.
Texte intégralLi, Yin, Sheng Sun, and Lei Zhu. "Numerical Modeling and De-Embedding of Non-Planar Periodic Guided-Wave Structures via Short-Open Calibration in 3-D FEM Algorithm." IEEE Access 6 (2018): 67329–37. http://dx.doi.org/10.1109/access.2018.2879377.
Texte intégralBian, Yue, Yifan Gu, Xu Ding, Zhiyu Wang, Jiongjiong Mo, and Faxin Yu. "MMIC on-Wafer Test Method Based on Hybrid Balanced and Unbalanced RF Pad Structures." Electronics 7, no. 9 (2018): 208. http://dx.doi.org/10.3390/electronics7090208.
Texte intégralActes de conférences sur le sujet "Open de-embedding structure"
Veenstra, H., M. G. M. Notten, D. van Goor, and J. B. Mills. "Distributed de-embedding technique for accurate on-chip passive measurements based on Open-Short structures." In 2009 IEEE Bipolar/BiCMOS Circuits and Technology Meeting - BCTM. IEEE, 2009. http://dx.doi.org/10.1109/bipol.2009.5314136.
Texte intégralLauritano, Mario, and Peter Baumgartner. "Optimal Test Structures for the Characterization of Integrated Transformers at mm-wave frequencies using the Open/Thru De-embedding Technique." In 2022 IEEE 34th International Conference on Microelectronic Test Structures (ICMTS). IEEE, 2022. http://dx.doi.org/10.1109/icmts50340.2022.9898235.
Texte intégralZhu, Lei, Sheng Sun, and Jing Gao. "Numerical short-open calibration (SOC) technique for de-embedding of periodic planar transmission line structures: Effective propagation constant and characteristic impedance." In 2015 Asia-Pacific Microwave Conference (APMC). IEEE, 2015. http://dx.doi.org/10.1109/apmc.2015.7413190.
Texte intégral