Livres sur le sujet « Scanning electron microscopy (MEB) »
Créez une référence correcte selon les styles APA, MLA, Chicago, Harvard et plusieurs autres
Consultez les 50 meilleurs livres pour votre recherche sur le sujet « Scanning electron microscopy (MEB) ».
À côté de chaque source dans la liste de références il y a un bouton « Ajouter à la bibliographie ». Cliquez sur ce bouton, et nous générerons automatiquement la référence bibliographique pour la source choisie selon votre style de citation préféré : APA, MLA, Harvard, Vancouver, Chicago, etc.
Vous pouvez aussi télécharger le texte intégral de la publication scolaire au format pdf et consulter son résumé en ligne lorsque ces informations sont inclues dans les métadonnées.
Parcourez les livres sur diverses disciplines et organisez correctement votre bibliographie.
Reimer, Ludwig. Scanning Electron Microscopy. Berlin, Heidelberg : Springer Berlin Heidelberg, 1985. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-662-13562-4.
Texte intégralReimer, Ludwig. Scanning Electron Microscopy. Berlin, Heidelberg : Springer Berlin Heidelberg, 1998. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-540-38967-5.
Texte intégralInternational, Scanning Microscopy. Scanning microscopy. Chicago : Scanning Microscopy International, 1987.
Trouver le texte intégralPennycook, Stephen J., et Peter D. Nellist, dir. Scanning Transmission Electron Microscopy. New York, NY : Springer New York, 2011. http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4419-7200-2.
Texte intégralM, Prutton, et El Gomati Mohamed M, dir. Scanning Auger electron microscopy. Hoboken, NJ : Wiley, 2006.
Trouver le texte intégralBrodusch, Nicolas, Hendrix Demers et Raynald Gauvin. Field Emission Scanning Electron Microscopy. Singapore : Springer Singapore, 2018. http://dx.doi.org/10.1007/978-981-10-4433-5.
Texte intégralL, Olsen Sandra, dir. Scanning electron microscopy in archaeology. Oxford, England : B.A.R., 1988.
Trouver le texte intégralLyman, Charles E., Joseph I. Goldstein, Alton D. Romig, Patrick Echlin, David C. Joy, Dale E. Newbury, David B. Williams et al. Scanning Electron Microscopy, X-Ray Microanalysis, and Analytical Electron Microscopy. Boston, MA : Springer US, 1990. http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4613-0635-1.
Texte intégralKassing, R. Scanning Microscopy : Symposium Proceedings. Berlin, Heidelberg : Springer Berlin Heidelberg, 1992.
Trouver le texte intégralJohari, Om. Scanning electron microscopy/1986 : An international journal of scanning electron microscopy, related techniques, and applications. Sous la direction de Becker Robert P, Levenson L. L, Roomans Godfried M et Scanning Electron Microscopy Inc. [Elk Grove Village, IL] : Scanning Electron Microscopy, 1986.
Trouver le texte intégralRoomans, G. M., R. P. Becker et L. L. Levenson. Scanning electron microscopy / 1986 : An international journal of scanning electron microscopy, related techniques, and applications. Sous la direction de Scanning Electron Microscopy Inc. Chicago, Ill : Scanning Electron Microscopy, 1986.
Trouver le texte intégralRoomans, Godfried M. Scanning electron microscopy, 1985 : An international journal of scanning electron microscopy, related techniques, and applications. [Elk Grove Village, Ill.] : Scanning Electron Microscopy, 1985.
Trouver le texte intégralJohari, Om. Scanning electron microscopy/1985 : An international journal of scanning electron microscopy, related techniques, and applications. Sous la direction de Becker Robert P, Roomans Godfried M, Levenson L. L et Scanning Electron Microscopy Inc. [Elk Grove Village, IL] : Scanning Electron Microscopy, 1985.
Trouver le texte intégralJ, Keyse Robert, et Royal Microscopial Society, dir. Introduction to scanning transmission electron microscopy. Singapore : Bio scientific/Springer, 1998.
Trouver le texte intégralCastejón, Orlando J. Scanning electron microscopy of cerebellar cortex. New York : Kluwer Academic / Plenum Publishers, 2003.
Trouver le texte intégralSchatten, Heide, et James B. Pawley, dir. Biological Low-Voltage Scanning Electron Microscopy. New York, NY : Springer New York, 2008. http://dx.doi.org/10.1007/978-0-387-72972-5.
Texte intégralCastejón, Orlando J. Scanning Electron Microscopy of Cerebellar Cortex. Boston, MA : Springer US, 2003. http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4615-0159-6.
Texte intégralFleck, Roland A., et Bruno M. Humbel. Biological Field Emission Scanning Electron Microscopy. Chichester, UK : John Wiley & Sons, Ltd, 2019. http://dx.doi.org/10.1002/9781118663233.
Texte intégralLothar, Engel, dir. Scanning electron microscopy of plastics failure. Munich : Hanser Publishers, 2010.
Trouver le texte intégralCastejón, Orlando J. Scanning electron microscopy of cerebellar cortex. New York, NY : Kluwer Academic / Plenum Publishers, 2004.
Trouver le texte intégralJ, Keyse Robert, et Royal Microscopical Society (Great Britain), dir. Introduction to scanning transmission electron microscopy. Oxford : BIOS Scientific Publishers, 1998.
Trouver le texte intégral1941-, Teague E. C., Society of Photo-optical Instrumentation Engineers. et American Society for Precision Engineering., dir. Scanning microscopy technologies and applications. Bellingham, Wash., USA : SPIE, 1988.
Trouver le texte intégralWilliam, Heckman John, et Klomparens Karen L, dir. Scanning and transmission electron microscopy : An introduction. New York : Oxford University Press, 1995.
Trouver le texte intégralWilliam, Heckman John, et Klomparens Karen L, dir. Scanning and transmission electron microscopy : An introduction. New York : W.H. Freeman, 1993.
Trouver le texte intégralJ, Bard Allen, et Mirkin Michael V. 1961-, dir. Scanning electrochemical microscopy. New York : Marcel Dekker, 2001.
Trouver le texte intégralTony, Wilson, et European Physical Society, dir. Scanning imaging : Proceedings. Bellingham, Wash., USA : SPIE, 1989.
Trouver le texte intégralShimizu, Kenichi. New horizons of applied scanning electron microscopy. Heidelberg : Springer-Verlag, 2010.
Trouver le texte intégralElectron microprobe analysis and scanning electron microscopy in geology. Cambridge : Cambridge University Press, 1996.
Trouver le texte intégralElectron microprobe analysis and scanning electron microscopy in geology. 2e éd. Cambridge : Cambridge University Press, 2005.
Trouver le texte intégralGoldstein, Joseph I., Dale E. Newbury, Joseph R. Michael, Nicholas W. M. Ritchie, John Henry J. Scott et David C. Joy. Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis. New York, NY : Springer New York, 2018. http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4939-6676-9.
Texte intégralAharinejad, S. H., et A. Lametschwandtner. Microvascular Corrosion Casting in Scanning Electron Microscopy. Vienna : Springer Vienna, 1992. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-7091-9230-6.
Texte intégralShimizu, Kenichi, et Tomoaki Mitani. New Horizons of Applied Scanning Electron Microscopy. Berlin, Heidelberg : Springer Berlin Heidelberg, 2010. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-03160-1.
Texte intégralGoldstein, Joseph I., Dale E. Newbury, Patrick Echlin, David C. Joy, A. D. Romig, Charles E. Lyman, Charles Fiori et Eric Lifshin. Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis. Boston, MA : Springer US, 1992. http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4613-0491-3.
Texte intégralSchatten, Heide, dir. Scanning Electron Microscopy for the Life Sciences. Cambridge : Cambridge University Press, 2012. http://dx.doi.org/10.1017/cbo9781139018173.
Texte intégralUl-Hamid, Anwar. A Beginners' Guide to Scanning Electron Microscopy. Cham : Springer International Publishing, 2018. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-319-98482-7.
Texte intégralKazmiruk, Viacheslav, dir. Scanning Electron Microscopy. InTech, 2012. http://dx.doi.org/10.5772/1973.
Texte intégralPrutton, Martin, et Mohamed M. El Gomati, dir. Scanning Auger Electron Microscopy. Wiley, 2005. http://dx.doi.org/10.1002/9780470866795.
Texte intégralPrutton, Martin, et Mohamed M. El Gomati. Scanning Auger Electron Microscopy. Wiley & Sons, Incorporated, John, 2006.
Trouver le texte intégralPrutton, Martin, et Mohamed M. El Gomati. Scanning Auger Electron Microscopy. Wiley & Sons, Limited, John, 2007.
Trouver le texte intégralBruma, Alina. Scanning Transmission Electron Microscopy. Taylor & Francis Group, 2020.
Trouver le texte intégralPrutton, Martin, et Mohamed M. El Gomati. Scanning Auger Electron Microscopy. Wiley & Sons, Incorporated, John, 2007.
Trouver le texte intégralPrutton, Martin, et Mohamed M. El Gomati. Scanning Auger Electron Microscopy. Wiley & Sons, Incorporated, John, 2006.
Trouver le texte intégralWilborn, W. H. Scanning Electron Microscopy of Normal. Vch/ Order From Wiley, 1986.
Trouver le texte intégralGilpin, C., et B. Thiel. Low Vacuum Scanning Electron Microscopy. Taylor & Francis Group, 2002.
Trouver le texte intégralMarshall, D. J., L. Balk et G. Remond. Luminescence Vol. 9 : Scanning Microscopy Supplement (Scanning Microscopy Supplement,). Scanning Microscopy International, 1998.
Trouver le texte intégralHawkes, Peter W. Advances in Electronics and Electron Physics (Advances in Imaging and Electron Physics). Academic Press, 1990.
Trouver le texte intégral(Editor), Benjamin Kazan, dir. Advances in Electronics and Electron Physics (Advances in Imaging and Electron Physics). Academic Press, 1993.
Trouver le texte intégralHawkes, Peter W. Advances in Electronics and Electron Physics (Advances in Imaging and Electron Physics). Academic Press, 1988.
Trouver le texte intégral