Littérature scientifique sur le sujet « Semiconductor light sources »
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Articles de revues sur le sujet "Semiconductor light sources"
Shields, Andrew J. « Semiconductor quantum light sources ». Nature Photonics 1, no 4 (avril 2007) : 215–23. http://dx.doi.org/10.1038/nphoton.2007.46.
Texte intégralChen, Disheng, et Weibo Gao. « Quantum light sources from semiconductor ». Journal of Semiconductors 40, no 7 (juillet 2019) : 070301. http://dx.doi.org/10.1088/1674-4926/40/7/070301.
Texte intégralSokolovskii, G. S., V. V. Dudelev, S. N. Losev, K. K. Soboleva, A. G. Deryagin, K. A. Fedorova, V. I. Kuchinskii, W. Sibbett et E. U. Rafailov. « Bessel beams from semiconductor light sources ». Progress in Quantum Electronics 38, no 4 (juillet 2014) : 157–88. http://dx.doi.org/10.1016/j.pquantelec.2014.07.001.
Texte intégralNagai, Haruo. « Semiconductor light sources for photonic sensing ». Optics & ; Laser Technology 29, no 2 (mars 1997) : xv. http://dx.doi.org/10.1016/s0030-3992(97)88450-2.
Texte intégralKhramtsov, Igor A., et Dmitry Yu Fedyanin. « Superinjection of Holes in Homojunction Diodes Based on Wide-Bandgap Semiconductors ». Materials 12, no 12 (19 juin 2019) : 1972. http://dx.doi.org/10.3390/ma12121972.
Texte intégralGaisler, V. A., I. A. Derebezov, A. V. Gaisler, D. V. Dmitriev, A. I. Toropov, M. M. Kachanova, Yu A. Zhivodkov, A. S. Kozhuhov, D. V. Scheglov et A. V. Latyshev. « Subminiature Light Sources Based on Semiconductor Nanostructures ». Optoelectronics, Instrumentation and Data Processing 56, no 5 (septembre 2020) : 518–26. http://dx.doi.org/10.3103/s8756699020050052.
Texte intégralJIANG, Zi-qi, Xiao-mei LIU, Hua LIU et Peng PENG. « Design of semiconductor laser white light sources ». Chinese Journal of Liquid Crystal and Displays 36, no 3 (2021) : 371–78. http://dx.doi.org/10.37188/cjlcd.2020-0225.
Texte intégralRyzhikov, I. V., N. N. Rudenko et T. T. Silakova. « Semiconductor light sources—the revolution in optoelectronics ». Radioelectronics and Communications Systems 51, no 4 (avril 2008) : 224–31. http://dx.doi.org/10.3103/s0735272708040079.
Texte intégralChou, H., et S. Ezekiel. « Wavelength stabilization of broadband semiconductor light sources ». Optics Letters 10, no 12 (1 décembre 1985) : 612. http://dx.doi.org/10.1364/ol.10.000612.
Texte intégralSokolovskii, G. S., V. V. Dudelev, S. N. Losev, S. A. Zolotovskaya, A. G. Deryagin, V. I. Kuchinskii, E. U. Rafailov et W. Sibbett. « Generation of propagation-invariant light beams from semiconductor light sources ». Technical Physics Letters 34, no 12 (décembre 2008) : 1075–78. http://dx.doi.org/10.1134/s1063785008120262.
Texte intégralThèses sur le sujet "Semiconductor light sources"
McRobbie, Andrew Douglas. « Novel semiconductor based light sources ». Thesis, University of St Andrews, 2009. http://hdl.handle.net/10023/565.
Texte intégralMcRobbie, Andrew Douglas. « Novel semiconductor based light sources / ». St Andrews, 2008. http://hdl.handle.net/10023/565.
Texte intégralNutz, Thomas. « Semiconductor quantum light sources for quantum computing ». Thesis, Imperial College London, 2018. http://hdl.handle.net/10044/1/63931.
Texte intégralCao, Yameng. « Semiconductor light sources for photonic quantum computing ». Thesis, Imperial College London, 2015. http://hdl.handle.net/10044/1/56619.
Texte intégralFedorova, Ksenia Alexandrovna. « Novel semiconductor based broadly tunable light sources ». Thesis, University of Dundee, 2011. https://discovery.dundee.ac.uk/en/studentTheses/ce12469e-3473-4a97-9f4d-45ade4c0acfb.
Texte intégralAßmann, Marc [Verfasser]. « Photon Statistics of Semiconductor Light Sources / Marc Aßmann ». Dortmund : Universitätsbibliothek Technische Universität Dortmund, 2011. http://d-nb.info/1011568535/34.
Texte intégralYang, Ying. « Organic semiconductor lasers : compact hybrid light sources and development of applications ». Thesis, University of St Andrews, 2010. http://hdl.handle.net/10023/2569.
Texte intégralKonthasinghe, Kumarasiri. « Resonant Light Scattering from Semiconductor Quantum Dots ». Scholar Commons, 2016. http://scholarcommons.usf.edu/etd/6527.
Texte intégralHalpaap, Donatus. « Experimental study of speckle generated by semiconductor light sources : application in double pass imaging ». Doctoral thesis, Universitat Politècnica de Catalunya, 2019. http://hdl.handle.net/10803/668261.
Texte intégralEstudio experimental del speckle generado por fuentes de luz semiconductoras: aplicación en imágenes de doble paso Con la técnica de doble paso (DP) es posible cuantificar la calidad óptica del ojo de un paciente midiendo la función de dispersión de punto. Debido a la baja reflectividad de la retina, se requiere una fuente de luz puntual de alta intensidad. Una fuente de luz ampliamente utilizada en sistemas de DP son los diodos láser (LD). Los diodos láser son fuentes de luz coherentes que producen patrones de interferencia cuando se ilumina una superficie rugosa. Este fenómeno de interferencia, denominado speckle, deteriora la calidad de la imagen y puede hacer que las imágenes de DP sean difíciles o imposibles de interpretar. Una solución eficaz y de bajo coste para reducir el speckle en las imágenes de DP es incluir un espejo vibratorio en el camino óptico del sistema para promediar sobre las diferentes realizaciones de patrones de speckle. Sin embargo, las partes mecánicas vibratorias no son una solución óptima puesto que limitan la longevidad y fiabilidad de equipos médicos. El objetivo de esta tesis es encontrar una solución no mecánica de bajo coste para la reducción de speckle en imágenes de DP basada en fuentes de luz semiconductoras de baja coherencia. Comparamos un LD, un diodo emisor de luz (LED) y un diodo superluminiscente (SLED) en términos de formación de speckle, coste y usabilidad en sistemas de DP. Encontramos que el SLED es una buena alternativa a la iluminación con LD, ya que la cantidad de speckle en la imagen es prácticamente la misma que la obtenida con un LD y un espejo vibratorio. Sin embargo, el SLED no es una solución de bajo coste. Con el fin de identificar una solución totalmente óptica y económicamente rentable, analizamos los patrones de speckle generados por un LD en función de su corriente de bombeo. Nuestros experimentos sugieren que trabajar con corrientes por debajo del umbral del láser puede ser una solución económicamente viable para la reducción de speckle. En muchas aplicaciones de imaging se intenta evitar el speckle. De todas formas, el patrón de speckle puede contener información útil que se utiliza, por ejemplo, en el análisis del flujo sanguíneo o para la reconstrucción de objetos. Hemos observado que ajustar la corriente de bombeo de un LD (es decir, adaptar la coherencia de la luz utilizada para la toma de imágenes) puede ser una manera simple y efectiva de aumentar o reducir la cantidad de speckle. Para obtener imágenes con la misma intensidad hay que adaptar el tiempo de exposición del sistema de adquisición de imágenes. En particular, identificamos condiciones que permiten adquirir imágenes con una intensidad mediana similar, pero con valores de contraste de speckle que varían entre 0,16 y 0,99.
Estudi experimental de l’speckle generat per fonts de llum semiconductores: aplicació en imatges de doble pas Amb la tècnica de doble pas (DP) és possible quantificar la qualitat òptica de l’ull d’un pacient mesurant la funció de dispersió de punt. A causa de la baixa reflectivitat de la retina, es requereix una font de llum puntual d’alta intensitat. Una font de llum ampliament utilitzada en sistemes de DP són els díodes làser (LD). Els díodes làser són fonts de llum coherents que produeixen patrons d’interferència quan s’il·lumina una superficie rugosa. Aquest fenomen d’interferència, anomenat speckle, deteriora la qualitat de la imatge i pot fer que les imatges de DP siguin difícils o impossibles d’interpretar. Una solució eficaç i de baix cost per a reduir l’speckle en les imatges de DP és incloure un mirall vibratori en el camí òptic del sistema per tal de fer la mitjana sobre les diferents realitzacions de patrons d’speckle. No obstant, les parts mecàniques vibratòries no són una solució òptima ja que limiten la longevitat i fiabilitat d’equips mèdics. L’objectiu d’aquesta tesi és trobar una solució no mecànica de baix cost per a la reducció d’speckle en imatges de DP basada en fonts de llum semiconductores de baixa coherència. Comparem un LD, un díode emissor de llum (LED) i un díode superluminiscent (SLED) en termes de formació d’speckle, cost i usabilitat en sistemes de DP. Trobem que l’SLED és una bona alternativa a la il·luminació amb LD, ja que la reducció de la quantitat d’speckle en la imatge és pràcticament la mateixa que l’obtinguda amb un LD i un mirall vibratori. Tanmateix, l’SLED no és una solució de baix cost. Amb la finalitat d’identificar una solució totalment òptica i econòmicament rendible, analitzem els patrons d’speckle generats per un LD en funció del seu corrent de bombeig. Els nostres experiments suggereixen que treballar amb corrents per sota del llindar d’encesa del làser pot ser una solució econòmicament viable per a la reducció d’speckle. En moltes aplicacions d’imaging s’intenta evitar l’speckle. Tot i així, el patró d’speckle pot contenir informació útil que s’utilitza, per exemple, en l’anàlisi del flux sanguini o per a la reconstrucció d’objectes. Hem observat que ajustar el corrent de bombeig d’un LD (és a dir, adaptar la coherència de la llum utilitzada per a la presa d’imatges) pot ser una manera simple i efectiva d’augmentar o reduir la quantitat d’speckle. Per tal d’obtenir imatges amb la mateixa intensitat cal adaptar el temps d’exposició del sistema d’adquisició d’imatges. En particular, identifiquem condicions que permeten adquirir imatges amb una intensitat mitjana similar, però amb valors de contrast d’speckle que varien entre 0,16 i 0,99.
De, Simoni Giorgio. « From anti-bunching to lasing : planar junctions in semiconductor heterostructures ». Doctoral thesis, Scuola Normale Superiore, 2013. http://hdl.handle.net/11384/85866.
Texte intégralLivres sur le sujet "Semiconductor light sources"
Khanh, Tran Quoc, Peter Bodrogi et Trinh Quang Vinh. Color Quality of Semiconductor and Conventional Light Sources. Weinheim, Germany : Wiley-VCH Verlag GmbH & Co. KGaA, 2017. http://dx.doi.org/10.1002/9783527803453.
Texte intégralManfred, Helm, dir. Long wavelength infrared emitters based on quantum wells and superlattices. Amsterdam, Netherlands : Gordon & Breach, 2000.
Trouver le texte intégralKhanh, Tran Quoc, Trinh Quang Vinh et Péter Bodrogi. Color Quality of Semiconductor and Conventional Light Sources. Wiley & Sons, Incorporated, John, 2016.
Trouver le texte intégralKhanh, Tran Quoc, Trinh Quang Vinh et Péter Bodrogi. Color Quality of Semiconductor and Conventional Light Sources. Wiley & Sons, Incorporated, John, 2016.
Trouver le texte intégralKhanh, Tran Quoc, Trinh Quang Vinh et Péter Bodrogi. Color Quality of Semiconductor and Conventional Light Sources. Wiley & Sons, Limited, John, 2017.
Trouver le texte intégralKhanh, Tran Quoc, Trinh Quang Vinh et Péter Bodrogi. Color Quality of Semiconductor and Conventional Light Sources. Wiley & Sons, Incorporated, John, 2016.
Trouver le texte intégralColor Quality of Semiconductor and Conventional Light Sources. Wiley & Sons, Limited, John, 2017.
Trouver le texte intégralAndersen, Peter E., et Paul Michael Petersen, dir. Semiconductor Lasers and Diode-based Light Sources for Biophotonics. Institution of Engineering and Technology, 2018. http://dx.doi.org/10.1049/pbhe007e.
Texte intégralPetersen, Paul Michael, et Peter E. Andersen. Semiconductor Lasers and Diode-Based Light Sources for Biophotonics. Institution of Engineering & Technology, 2018.
Trouver le texte intégralPetersen, Paul Michael, et Peter E. Andersen. Semiconductor Lasers and Diode-Based Light Sources for Biophotonics. Institution of Engineering & Technology, 2018.
Trouver le texte intégralChapitres de livres sur le sujet "Semiconductor light sources"
Amann, M. C. « Semiconductor Light Sources ». Dans Optical Properties of Semiconductors, 291–320. Dordrecht : Springer Netherlands, 1993. http://dx.doi.org/10.1007/978-94-015-8075-5_10.
Texte intégralNezhad, Maziar P., Aleksandar Simic, Amit Mizrahi, Jin-Hyoung Lee, Michael Kats, Olesya Bondarenko, Qing Gu, Vitaliy Lomakin, Boris Slutsky et Yeshaiahu Fainman. « Nanoscale Metallo-Dielectric Coherent Light Sources ». Dans Compact Semiconductor Lasers, 1–32. Weinheim, Germany : Wiley-VCH Verlag GmbH & Co. KGaA, 2014. http://dx.doi.org/10.1002/9783527655342.ch1.
Texte intégralSpäth, Werner. « Microoptical Structures for Semiconductor Light Sources ». Dans Microoptics, 253–59. New York, NY : Springer New York, 2004. http://dx.doi.org/10.1007/978-0-387-34725-7_14.
Texte intégralScholz, M., T. Aichele et O. Benson. « Quantum information with quantum dot light sources ». Dans Single Semiconductor Quantum Dots, 367–84. Berlin, Heidelberg : Springer Berlin Heidelberg, 2009. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-540-87446-1_11.
Texte intégralGies, Christopher, Matthias Florian, Alexander Steinhoff et Frank Jahnke. « Theory of Quantum Light Sources and Cavity-QED Emitters Based on Semiconductor Quantum Dots ». Dans Quantum Dots for Quantum Information Technologies, 3–40. Cham : Springer International Publishing, 2017. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-319-56378-7_1.
Texte intégralValeev, Rishat G., Alexander V. Vakhrushev, Aleksey Yu Fedotov et Dmitrii I. Petukhov. « Brief Overview of the Literature on Nanostructural Electroluminescent Light Sources ». Dans Nanostructured Semiconductors in Porous Alumina Matrices, 1–17. Includes bibliographical references and index. : Apple Academic Press, 2019. http://dx.doi.org/10.1201/9780429398148-1.
Texte intégralLandgraf, Stephan. « Semiconductor Lights Sources in Modulation Fluorometry Using Digital Storage Oscilloscopes ». Dans Reviews in Fluorescence 2004, 341–63. Boston, MA : Springer US, 2004. http://dx.doi.org/10.1007/978-0-306-48672-2_15.
Texte intégralSHIELDS, ANDREW J. « Semiconductor quantum light sources ». Dans Nanoscience and Technology, 221–29. Co-Published with Macmillan Publishers Ltd, UK, 2009. http://dx.doi.org/10.1142/9789814287005_0023.
Texte intégral« Semiconductor Lasers ». Dans Fundamentals of Light Sources and Lasers, 313–25. Hoboken, NJ, USA : John Wiley & Sons, Inc., 2004. http://dx.doi.org/10.1002/0471675210.ch13.
Texte intégralShenoy, M. R. « Semiconductor Light Sources and Detectors ». Dans Guided Wave Optics and Photonic Devices, 167–202. CRC Press, 2017. http://dx.doi.org/10.1201/b14841-8.
Texte intégralActes de conférences sur le sujet "Semiconductor light sources"
Bhattacharya, Pallab, Michael Holub, Jonghyun Shin et Subhananda Chakrabarti. « Spin-polarized semiconductor light sources ». Dans Integrated Optoelectronic Devices 2005, sous la direction de Diana L. Huffaker et Pallab K. Bhattacharya. SPIE, 2005. http://dx.doi.org/10.1117/12.606609.
Texte intégralSunday, Daniel F., Donald Windover et R. Joseph Kline. « Compact X-ray Sources for Metrology Applications in the Semiconductor Industry ». Dans Compact EUV & X-ray Light Sources. Washington, D.C. : OSA, 2016. http://dx.doi.org/10.1364/euvxray.2016.em6a.4.
Texte intégralOmote, Kazuhiko, et Yoshiyasu Ito. « X-Ray CD Metrology for Determining Cross-Sectional Profile of Semiconductor Device Patterns ». Dans Compact EUV & X-ray Light Sources. Washington, D.C. : OSA, 2016. http://dx.doi.org/10.1364/euvxray.2016.em8a.1.
Texte intégralHansson, B. A. M., O. Hemberg, G. Johansson, M. Otendal, T. Tuohimaa et P. Takman. « Liquid-metal-jet X-ray tube technology for characterization and metrology in semiconductor applications ». Dans Compact EUV & X-ray Light Sources. Washington, D.C. : OSA, 2016. http://dx.doi.org/10.1364/euvxray.2016.em4a.1.
Texte intégralNagai, Haruo. « Semiconductor light sources for photonic sensing ». Dans Optical Fiber Sensors. Washington, D.C. : OSA, 1996. http://dx.doi.org/10.1364/ofs.1996.we41.
Texte intégralKim, Je Won. « Nano-sized rod array for semiconductor light sources ». Dans Light-Emitting Devices, Materials, and Applications XXV, sous la direction de Martin Strassburg, Jong Kyu Kim et Michael R. Krames. SPIE, 2021. http://dx.doi.org/10.1117/12.2583380.
Texte intégralBuck, Martin. « Considerations for light sources : For semiconductor light sensor test ». Dans 2015 20th International Mixed-Signal Testing Workshop (IMSTW). IEEE, 2015. http://dx.doi.org/10.1109/ims3tw.2015.7177862.
Texte intégralGregorich, Thomas, et Johannes Ruoff. « The Evolution of Moore’s Law and Opportunities for the Use of X-ray Systems to Analyze Advanced Semiconductor Packages ». Dans Compact EUV & X-ray Light Sources. Washington, D.C. : OSA, 2020. http://dx.doi.org/10.1364/euvxray.2020.ew3a.1.
Texte intégralSenellart, Pascale. « Semiconductor quantum light sources : Progresses and applications ». Dans Photonics for Quantum. SPIE, 2021. http://dx.doi.org/10.1117/12.2603516.
Texte intégralKoch, T. L. « Integrated tunable light sources for telecommunications ». Dans Conference Digest. 2004 IEEE 19th International Semiconductor Laser Conference. IEEE, 2004. http://dx.doi.org/10.1109/islc.2004.4612656.
Texte intégralRapports d'organisations sur le sujet "Semiconductor light sources"
Khitrova, Galina, et Hyatt M. Gibbs. Developing Rare-Earth Doped Semiconductor Light Sources. Fort Belvoir, VA : Defense Technical Information Center, juin 1997. http://dx.doi.org/10.21236/ada329764.
Texte intégral