Articoli di riviste sul tema "Caractérisation des films adhésifs"
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Halioui, M., A. Bonnard, and H. P. Lieurade. "Caractérisation des adhésifs structuraux." Matériaux & Techniques 79, no. 11 (1991): 29–38. http://dx.doi.org/10.1051/mattech/199179110029.
Testo completoLurton, Y., F. Lesourd, and C. Gay. "Résistance à la rupture des films adhésifs." Revue Francophone de Cicatrisation 1, no. 1 (2017): 143. http://dx.doi.org/10.1016/s2468-9114(17)30333-x.
Testo completoAngélélis, Céline, and Eric Felder. "Caractérisation mécanique des films minces." Matériaux & Techniques 84, no. 9-10 (1996): 33–37. http://dx.doi.org/10.1051/mattech/199684090033.
Testo completoAngélélis, Céline, and Eric Felder. "Caractérisation mécanique des films minces." Matériaux & Techniques 84, no. 11-12 (1996): 23–28. http://dx.doi.org/10.1051/mattech/199684110023.
Testo completoMbaye, K., M. Pham Tu, N. T. Viet, L. Wartski, and J. C. Villegier. "Elaboration et caractérisation en hyperfréquences de films minces de NbN." Revue de Physique Appliquée 20, no. 7 (1985): 457–63. http://dx.doi.org/10.1051/rphysap:01985002007045700.
Testo completoMeneau, C., Ph Goudeau, P. Andreazza, C. Andreazza-Vignolle, and J. C. Pommier. "Caractérisation structurale et contraintes résiduelles de films d'AIN par diffraction des rayons X." Le Journal de Physique IV 08, PR5 (1998): Pr5–153—Pr5–161. http://dx.doi.org/10.1051/jp4:1998520.
Testo completoPetitjean, C., M. Grafouté, C. Rousselot, J. F. Pierson, O. Banakh, and A. Cavaleiro. "Caractérisation de films colorés de Fe-O-N élaborés par pulvérisation magnétron réactive." Matériaux & Techniques 94, no. 1 (2006): 23–29. http://dx.doi.org/10.1051/mattech:2006021.
Testo completoEve, Sophie, Florent Moisy, Rosine Coq Germanicus, Clara Grygiel, Eric Hug, and Isabelle Monnet. "Caractérisation par nanoindentation du GaN irradié par des ions uranium de grande énergie." Matériaux & Techniques 105, no. 1 (2017): 108. http://dx.doi.org/10.1051/mattech/2017008.
Testo completoMimault, J., K. Bouslikhane, T. Girardeau, and M. Jaouen. "Caractérisation structurale EXAFS et propriétés tribologiques de films minces nanocristallins à base Ni-Ti." Revue de Métallurgie 90, no. 9 (1993): 1193. http://dx.doi.org/10.1051/metal/199390091193.
Testo completoFischer, H., S. Andrieu, A. Barbara, A. Traverse, and M. Piécuch. "Spectroscopie d’absorption X pour la caractérisation structurale de films minces et de superréseaux métalliques." Revue de Métallurgie 96, no. 9 (1999): 1057–66. http://dx.doi.org/10.1051/metal/199996091057.
Testo completoAzzoug, Asma. "Elaboration et caractérisation des couches minces d'oxyde de cuivre : Application à la photo-dégradation de Méthyle Orange." Journal of Physical & Chemical Research 1, no. 1 (2022): 57–71. http://dx.doi.org/10.58452/jpcr.v1i1.32.
Testo completoBendaoud, Abdelber, Amar Tilmatine, Karim Medles, Marius Blajan, Mustapha Rahli, and Lucian Dascalescu. "Caractérisation expérimentale des électrodes couronne de type «dual»." Journal of Electrostatics 64, no. 7-9 (2006): 431–36. http://dx.doi.org/10.1016/j.elstat.2005.10.024.
Testo completoZimmer, A., N. Stein, C. Boulanger, and L. Johann. "Caractérisation par ellipsométrie spectroscopique de films minces de tellurure de bismuth obtenus par voie électrochimique." Journal de Physique IV (Proceedings) 122 (December 2004): 87–92. http://dx.doi.org/10.1051/jp4:2004122013.
Testo completoBaborowski, J., M. Charbonnier, and M. Romand. "Caractérisation par émission X de films d'oxyde et d'oxynitrure de chrome déposés par pulvérisation magnétron réactive." Le Journal de Physique IV 06, no. C4 (1996): C4–429—C4–439. http://dx.doi.org/10.1051/jp4:1996439.
Testo completoBaborowski, J., M. Charbonnier, and M. Romand. "Caractérisation par émission X de films de carbone et de nitrure de carbone déposés par PVD." Le Journal de Physique IV 08, PR5 (1998): Pr5–279—Pr5–286. http://dx.doi.org/10.1051/jp4:1998535.
Testo completoSteinbrunn, A., and M. Bordignon. "Caractérisation de films minces de molybdène métallique déposé sur une face (100) de monoxyde de cobalt CoO." Thin Solid Films 168, no. 1 (1989): 61–69. http://dx.doi.org/10.1016/0040-6090(89)90689-5.
Testo completoNewton, Pascal, Frédéric Houzé, Sophie Noël, Lionel Boyer, Pascal Viel, and Gérard Lécayon. "Élaboration et caractérisation chimique, topographique, tribologique et électrique de films de polyacrylonitrile post-traités en vue d'applications en connectique." Journal de Physique III 5, no. 6 (1995): 661–75. http://dx.doi.org/10.1051/jp3:1995153.
Testo completoHidalgo, M., J. Guillot, MF Llauro-Darricades, H. Waton та R. Pétiaud. "Caractérisation par la mesure des T1ρ(H) de films obtenus à partir de latex préparés par polymérisation en émulsion". Journal de Chimie Physique 89 (1992): 505–11. http://dx.doi.org/10.1051/jcp/1992890505.
Testo completoTsikounas, Myriam, and Sébastien Lepajolec. "La jeunesse irrégulière sur grand écran : un demi-siècle d’images." Revue d’histoire de l’enfance « irrégulière » N° 4, no. 1 (2002): 87–110. http://dx.doi.org/10.3917/rhei.004.0087.
Testo completoHosseini-Sadrabadi, Hamid, Sebastien Volcy, Bruno Chareyre, Christophe Dano, Luc Sibille, and Pierre Riegel. "Un pénétromètre à pointe contrôlé en force ou en déplacement pour une caractérisation étendue des sols." Revue Française de Géotechnique, no. 178 (2024): 1. http://dx.doi.org/10.1051/geotech/2024004.
Testo completoBasile, Françoise, Jean Bergner, Claude Bombart, Pascale Nallet, Elisabeth Chassaing, and Gérard Lorang. "Quantification de l'analyse en profondeur par spectrométrie d'électrons Auger et pulvérisation ionique : caractérisation des interfaces des films multicouches Cu–Co." Microscopy Microanalysis Microstructures 8, no. 4-5 (1997): 301–14. http://dx.doi.org/10.1051/mmm:1997123.
Testo completoDezert, Théo, Sérgio Palma-Lopes, Jean-Robert Courivaud, Yannick Fargier, and Christophe Vergniault. "Fusion de données géophysiques (TRE et MASW) et géotechniques (granulométrie) pour la caractérisation de digues en terre." Revue Française de Géotechnique, no. 178 (2024): 4. http://dx.doi.org/10.1051/geotech/2024007.
Testo completoAkani, M., C. E. Benouis, and M. Benzohra. "Caractérisation électrique des interfaces P+-Si-poly/N-c-Si réalisées par dépôt LPCVD de films fortement dopés $in~situ$ au bore." Journal de Physique III 3, no. 8 (1993): 1675–87. http://dx.doi.org/10.1051/jp3:1993228.
Testo completoAkani, M., C. E. Benouis, and M. Benzohra. "Caractérisation électrique des interfaces P+ - Si - poly/N-c-Si réalisées par dépôt LPCVD de films fortement dopés in situ au bore." Journal de Physique III 3, no. 11 (1993): 2163. http://dx.doi.org/10.1051/jp3:1993278.
Testo completoRossi, Jérôme. "Essai de caractérisation de l’évolution des musiques super-héroïques de Batman (1989) à The Dark Knight Rises (2012)." Revue musicale OICRM 5, no. 2 (2018): 15–47. http://dx.doi.org/10.7202/1054146ar.
Testo completoKoch, Delphine, and Philippe Molinié. "Une application de la cartographie de potentiel à la caractérisation des matériaux. Étalement de charge et effets anormaux sur des films de polyéthylène téréphtalate." Revue internationale de génie électrique 9, no. 4-5 (2006): 449–63. http://dx.doi.org/10.3166/rige.9.449-463.
Testo completoBonnotte, E., P. Delobelle, L. Bornier, B. Trolard, and G. Tribillon. "Mise en œuvre de deux méthodes interférométriques pour la caractérisation mécanique des films minces par l'essai de gonflement. Applications au cas du silicium monocristallin." Journal de Physique III 5, no. 7 (1995): 953–83. http://dx.doi.org/10.1051/jp3:1995169.
Testo completoCharbonnier, M., D. Leonard, Y. Goepfert, and M. Romand. "Caractérisation par spectrométrie photoélectronique (XPS) et spectrométrie d'émission X (XRFS et LEEIXS) de films minces de Ni ou Cu electroless déposés sur substrats polymères." Journal de Physique IV (Proceedings) 118 (November 2004): 193–202. http://dx.doi.org/10.1051/jp4:2004118023.
Testo completoGupta, Mridula, V. K. Sharma, A. Kapoor, and K. N. Tripathi. "Fabrication and characterization of polycarbonate thin film optical waveguides." Journal of Optics 28, no. 1 (1997): 37–40. http://dx.doi.org/10.1088/0150-536x/28/1/007.
Testo completoCourivaud, Jean-Robert, Laurent del Gatto, Kamal El Kadi Abderrezzak, Christophe Picault, Mark Morris, and Stéphane Bonelli. "Le projet Overcome : comprendre et modéliser les processus d’érosion par surverse des digues et barrages en remblai constitués de matériaux grossiers à granulométries étalées." Revue Française de Géotechnique, no. 178 (2024): 6. http://dx.doi.org/10.1051/geotech/2024009.
Testo completoDARQUE-CERETTI, Evelyne, Eric FELDER, and Bernard MONASSE. "Caractérisation physico-chimique de revêtements et films minces à applications tribologiques." Frottement, usure et lubrification, March 2012. http://dx.doi.org/10.51257/a-v1-tri5110.
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