Bücher zum Thema „Transmission electron microscopy (TEM)“
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United States. National Aeronautics and Space Administration., Hrsg. Soot precursor material: Visualization via simultaneous LIF-LII and characterization via TEM. [Washington, D.C: National Aeronautics and Space Administration, 1996.
Den vollen Inhalt der Quelle findenReimer, Ludwig. Transmission Electron Microscopy. Berlin, Heidelberg: Springer Berlin Heidelberg, 1997. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-662-14824-2.
Der volle Inhalt der QuelleReimer, Ludwig. Transmission Electron Microscopy. Berlin, Heidelberg: Springer Berlin Heidelberg, 1993. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-662-21556-2.
Der volle Inhalt der QuelleReimer, Ludwig. Transmission Electron Microscopy. Berlin, Heidelberg: Springer Berlin Heidelberg, 1989. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-662-21579-1.
Der volle Inhalt der QuelleWilliams, David B., und C. Barry Carter. Transmission Electron Microscopy. Boston, MA: Springer US, 2009. http://dx.doi.org/10.1007/978-0-387-76501-3.
Der volle Inhalt der QuelleCarter, C. Barry, und David B. Williams, Hrsg. Transmission Electron Microscopy. Cham: Springer International Publishing, 2016. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-319-26651-0.
Der volle Inhalt der QuelleWilliams, David B., und C. Barry Carter. Transmission Electron Microscopy. Boston, MA: Springer US, 1996. http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4757-2519-3.
Der volle Inhalt der QuelleZuo, Jian Min, und John C. H. Spence. Advanced Transmission Electron Microscopy. New York, NY: Springer New York, 2017. http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4939-6607-3.
Der volle Inhalt der QuellePennycook, Stephen J., und Peter D. Nellist, Hrsg. Scanning Transmission Electron Microscopy. New York, NY: Springer New York, 2011. http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4419-7200-2.
Der volle Inhalt der QuelleDeepak, Francis Leonard, Alvaro Mayoral und Raul Arenal, Hrsg. Advanced Transmission Electron Microscopy. Cham: Springer International Publishing, 2015. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-319-15177-9.
Der volle Inhalt der QuelleThomas, Jürgen, und Thomas Gemming. Analytical Transmission Electron Microscopy. Dordrecht: Springer Netherlands, 2014. http://dx.doi.org/10.1007/978-94-017-8601-0.
Der volle Inhalt der QuelleReimer, Ludwig, Hrsg. Energy-Filtering Transmission Electron Microscopy. Berlin, Heidelberg: Springer Berlin Heidelberg, 1995. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-540-48995-5.
Der volle Inhalt der QuelleHansen, Thomas Willum, und Jakob Birkedal Wagner, Hrsg. Controlled Atmosphere Transmission Electron Microscopy. Cham: Springer International Publishing, 2016. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-319-22988-1.
Der volle Inhalt der QuelleSun, Litao, Tao Xu und Ze Zhang, Hrsg. In-Situ Transmission Electron Microscopy. Singapore: Springer Nature Singapore, 2023. http://dx.doi.org/10.1007/978-981-19-6845-7.
Der volle Inhalt der Quelle1963-, Zhang Xiao-Feng, und Zhang Ze 1953-, Hrsg. Progress in transmission electron microscopy. Berlin: Springer, 2001.
Den vollen Inhalt der Quelle findenHayat, M. A. Basic techniques for transmission electron microscopy. Orlando: Academic Press, 1985.
Den vollen Inhalt der Quelle findenBasic techniques for transmission electron microscopy. Orlando: Academic Press, 1986.
Den vollen Inhalt der Quelle findenJ, Keyse Robert, und Royal Microscopial Society, Hrsg. Introduction to scanning transmission electron microscopy. Singapore: Bio scientific/Springer, 1998.
Den vollen Inhalt der Quelle findenKumar, Challa S. S. R., Hrsg. Transmission Electron Microscopy Characterization of Nanomaterials. Berlin, Heidelberg: Springer Berlin Heidelberg, 2014. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-38934-4.
Der volle Inhalt der QuelleZhang, Xiao-Feng, und Ze Zhang, Hrsg. Progress in Transmission Electron Microscopy 1. Berlin, Heidelberg: Springer Berlin Heidelberg, 2001. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-662-09518-8.
Der volle Inhalt der QuelleClaverie, Alain, und Mireille Mouis, Hrsg. Transmission Electron Microscopy in Micro-Nanoelectronics. Hoboken, NJ USA: John Wiley & Sons, Inc., 2012. http://dx.doi.org/10.1002/9781118579022.
Der volle Inhalt der QuelleBrydson, Rik, Hrsg. Aberration-Corrected Analytical Transmission Electron Microscopy. Chichester, UK: John Wiley & Sons, Ltd, 2011. http://dx.doi.org/10.1002/9781119978848.
Der volle Inhalt der QuelleBrydson, Rik. Aberration-corrected analytical transmission electron microscopy. Hoboken, N.J: Wiley, 2011.
Den vollen Inhalt der Quelle findenJ, Keyse Robert, und Royal Microscopical Society (Great Britain), Hrsg. Introduction to scanning transmission electron microscopy. Oxford: BIOS Scientific Publishers, 1998.
Den vollen Inhalt der Quelle findenPhysical principles of electron microscopy: An introduction to TEM, SEM, and AEM. New York: Springer Science+Business Media, 2005.
Den vollen Inhalt der Quelle findenWilliam, Heckman John, und Klomparens Karen L, Hrsg. Scanning and transmission electron microscopy: An introduction. New York: Oxford University Press, 1995.
Den vollen Inhalt der Quelle findenWilliam, Heckman John, und Klomparens Karen L, Hrsg. Scanning and transmission electron microscopy: An introduction. New York: W.H. Freeman, 1993.
Den vollen Inhalt der Quelle findenBarry, Carter C., Hrsg. Transmission electron microscopy: A textbook for materials science : Imaging. 2. Aufl. New York [u.a.]: Plenum Press, 2009.
Den vollen Inhalt der Quelle findenInc, ebrary, Hrsg. High-resolution electron microscopy. New York: Oxford University Press, 2009.
Den vollen Inhalt der Quelle findenAyache, Jeanne, Luc Beaunier, Jacqueline Boumendil, Gabrielle Ehret und Danièle Laub. Sample Preparation Handbook for Transmission Electron Microscopy. New York, NY: Springer New York, 2010. http://dx.doi.org/10.1007/978-0-387-98182-6.
Der volle Inhalt der QuelleFultz, Brent, und James Howe. Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials. Berlin, Heidelberg: Springer Berlin Heidelberg, 2013. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-29761-8.
Der volle Inhalt der QuelleFultz, Brent, und James M. Howe. Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials. Berlin, Heidelberg: Springer Berlin Heidelberg, 2001. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-662-04516-9.
Der volle Inhalt der QuelleAyache, Jeanne, Luc Beaunier, Jacqueline Boumendil, Gabrielle Ehret und Danièle Laub. Sample Preparation Handbook for Transmission Electron Microscopy. New York, NY: Springer New York, 2010. http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4419-5975-1.
Der volle Inhalt der QuelleFultz, Brent, und James M. Howe. Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials. Berlin, Heidelberg: Springer Berlin Heidelberg, 2002. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-662-04901-3.
Der volle Inhalt der QuelleMcLaren, Alex C. Transmission electron microscopy of minerals and rocks. Cambridge: Cambridge University Press, 1991.
Den vollen Inhalt der Quelle findenHugo, Richard Charles. In-situ TEM observations of gallium penetration into aluminum grain boundaries. 1993.
Den vollen Inhalt der Quelle findenTransmission Electron Microscopy. New York, NY: Springer New York, 2008. http://dx.doi.org/10.1007/978-0-387-40093-8.
Der volle Inhalt der QuelleBruma, Alina. Scanning Transmission Electron Microscopy. Taylor & Francis Group, 2020.
Den vollen Inhalt der Quelle findenKleebe, Hans-Joachim, Leopoldo Molina-Luna und Ute Kolb. Applied Transmission Electron Microscopy. de Gruyter GmbH, Walter, 2099.
Den vollen Inhalt der Quelle findenEnergy-filtering transmission electron microscopy. Berlin: Springer, 1995.
Den vollen Inhalt der Quelle findenThomas, Gareth, und M. J. Goringe. Transmission Electron Microscopy of Materials. John Wiley & Sons Inc, 1987.
Den vollen Inhalt der Quelle findenEnergy-Filtering Transmission Electron Microscopy. Berlin, Heidelberg: Springer Berlin Heidelberg, 1995.
Den vollen Inhalt der Quelle findenTransmission Electron Microscopy of Materials. Techbooks, 1990.
Den vollen Inhalt der Quelle findenZhang, Xiao-Feng. Progress in Transmission Electron Microscopy. Wuhan Univ Pr, 2001.
Den vollen Inhalt der Quelle findenTransmission Electron Microscopy In Micronanoelectronics. Wiley-Iste, 2012.
Den vollen Inhalt der Quelle findenHawkes, P. W., R. F. Egerton, Ludwig Reimer und C. Deininger. Energy-Filtering Transmission Electron Microscopy. Springer Berlin / Heidelberg, 2013.
Den vollen Inhalt der Quelle findenSun, Litao, Tao Xu und Ze Zhang. In-Situ Transmission Electron Microscopy. Springer, 2023.
Den vollen Inhalt der Quelle findenClaverie, Alain. Transmission Electron Microscopy in Micro-Nanoelectronics. Wiley & Sons, Incorporated, John, 2012.
Den vollen Inhalt der Quelle findenClaverie, Alain. Transmission Electron Microscopy in Micro-Nanoelectronics. Wiley & Sons, Incorporated, John, 2013.
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