Rozprawy doktorskie na temat „Film roughness”
Utwórz poprawne odniesienie w stylach APA, MLA, Chicago, Harvard i wielu innych
Sprawdź 50 najlepszych rozpraw doktorskich naukowych na temat „Film roughness”.
Przycisk „Dodaj do bibliografii” jest dostępny obok każdej pracy w bibliografii. Użyj go – a my automatycznie utworzymy odniesienie bibliograficzne do wybranej pracy w stylu cytowania, którego potrzebujesz: APA, MLA, Harvard, Chicago, Vancouver itp.
Możesz również pobrać pełny tekst publikacji naukowej w formacie „.pdf” i przeczytać adnotację do pracy online, jeśli odpowiednie parametry są dostępne w metadanych.
Przeglądaj rozprawy doktorskie z różnych dziedzin i twórz odpowiednie bibliografie.
Lee, Hyunjin. "Radiative properties of silicon wafers with microroughness and thin-film coatings." Diss., Available online, Georgia Institute of Technology, 2006, 2006. http://etd.gatech.edu/theses/available/etd-07092006-181152/.
Pełny tekst źródłaGuegan, Johan. "Experimental investigation into the influence of roughness on friction and film thickness in EHD contacts." Thesis, Imperial College London, 2015. http://hdl.handle.net/10044/1/53388.
Pełny tekst źródłaCardwell, Nicholas Don. "Effects of Realistic First-Stage Turbine Endwall Features." Thesis, Virginia Tech, 2005. http://hdl.handle.net/10919/36121.
Pełny tekst źródłaShioya, Nobutaka. "Development of Analytical Technique of Molecular Orientation in a Thin Film and Its Application to Low-Crystallinity Organic Thin Films Having a Surface Roughness." Kyoto University, 2018. http://hdl.handle.net/2433/232268.
Pełny tekst źródłaAghasi, Paul P. "Dependence of Film Cooling Effectiveness on 3D Printed Cooling Holes." University of Cincinnati / OhioLINK, 2016. http://rave.ohiolink.edu/etdc/view?acc_num=ucin1458893416.
Pełny tekst źródłaWebb, Joshua J. "The Effect of Particle Size and Film Cooling on Nozzle Guide Vane Deposition." The Ohio State University, 2011. http://rave.ohiolink.edu/etdc/view?acc_num=osu1313528110.
Pełny tekst źródłaPavlík, František. "Studium vlivu parametru elipticity na rozložení tloušťky mazacího filmu." Master's thesis, Vysoké učení technické v Brně. Fakulta strojního inženýrství, 2011. http://www.nusl.cz/ntk/nusl-229941.
Pełny tekst źródłaFratini, Christopher M. "Study of the Morphology and Optical Properties of Propylene/Ethylene Copolymer Films." Diss., Virginia Tech, 2006. http://hdl.handle.net/10919/27211.
Pełny tekst źródłaSugar, Joshua D. "Mechanisms of microstructure development at metallic-interlayer/ceramic interfaces during liquid-film-assisted bonding." Berkeley, Calif. : Oak Ridge, Tenn. : Lawrence Berkeley National Laboratory ; distributed by the Office of Scientific and Technical Information, U.S. Dept. of Energy, 2003. http://www.osti.gov/servlets/purl/825347-j6A0Su/native/.
Pełny tekst źródłaSimon, Darren, and s3027589@student rmit edu au. "Chemistry and Morphology of Polymer Thin Films for Electro-Optical Application." RMIT University. Applied Sciences, 2006. http://adt.lib.rmit.edu.au/adt/public/adt-VIT20070123.122707.
Pełny tekst źródłaBock, Bradley D. "Surface influences on falling film boiling and pool boiling of saturated refrigerants : influences of nanostructures, roughness and material on heat transfer, dryout and critical heat flux of tubes." Thesis, University of Pretoria, 2020. http://hdl.handle.net/2263/78711.
Pełny tekst źródłaMoraru, Laurentiu Eugen. "Numerical Predictions and Measurements in the Lubrication of Aeronautical Engine and Transmission Components." University of Toledo / OhioLINK, 2005. http://rave.ohiolink.edu/etdc/view?acc_num=toledo1125769629.
Pełny tekst źródłaŠperka, Petr. "In-situ studium změny topografie třecích povrchů v elastohydrodynamickém kontaktu." Doctoral thesis, Vysoké učení technické v Brně. Fakulta strojního inženýrství, 2011. http://www.nusl.cz/ntk/nusl-233978.
Pełny tekst źródłaDahal, Lila R. "Spectroscopic Ellipsometry Studies of Thin Film a-Si:H Solar Cell Fabrication by Multichamber Deposition in the n-i-p Substrate Configuration." University of Toledo / OhioLINK, 2013. http://rave.ohiolink.edu/etdc/view?acc_num=toledo1365202814.
Pełny tekst źródłaFabricius, John. "Homogenization of some problems in hydrodynamic lubrication involving rough boundaries." Doctoral thesis, Luleå tekniska universitet, Matematiska vetenskaper, 2011. http://urn.kb.se/resolve?urn=urn:nbn:se:ltu:diva-25734.
Pełny tekst źródłaWang, Guoqing. "Thin water films driven by air through surface roughness." [Ames, Iowa : Iowa State University], 2008.
Znajdź pełny tekst źródłaFong, Tsz Wang. "Surface roughness parameter at synthesis of cubic boron nitride films." access abstract and table of contents access full-text, 2005. http://libweb.cityu.edu.hk/cgi-bin/ezdb/dissert.pl?msc-ap-b21174143a.pdf.
Pełny tekst źródłaPicard, Loïc. "Mise au point d'additifs siliciés pour l'adhérisation d'élastomères silicone sur supports métalliques." Thesis, Lyon, INSA, 2014. http://www.theses.fr/2014ISAL0114.
Pełny tekst źródłaWatson, Shannon M. "Impact of large scale substrate roughness on giant magnetoresistive thin films." W&M ScholarWorks, 2005. https://scholarworks.wm.edu/etd/1539623488.
Pełny tekst źródłaYousaf, Yusra. "Surface roughness characterisation of the polymeric films by atomic force microscopy." Thesis, University of Manchester, 2015. https://www.research.manchester.ac.uk/portal/en/theses/surface-roughness-characterisation-of-the-polymeric-films-by-atomic-force-microscopy(84735afa-6dd4-419a-9821-0646311ab4cd).html.
Pełny tekst źródłaHu, Jin. "Experimental and theoretical investigation of roughness effects on thin laminar fluid films." Thesis, National Library of Canada = Bibliothèque nationale du Canada, 1997. http://www.collectionscanada.ca/obj/s4/f2/dsk2/ftp02/NQ27957.pdf.
Pełny tekst źródłaRahman, Mohammed Magfurar. "MAPPING SURFACE SOIL MOISTURE AND ROUGHNESS BY RADAR REMOTE SENSING IN THE SEMI-ARID ENVIRONMENT." Diss., Tucson, Arizona : University of Arizona, 2005. http://etd.library.arizona.edu/etd/GetFileServlet?file=file:///data1/pdf/etd/azu%5Fetd%5F1193%5F1%5Fm.pdf&type=application/pdf.
Pełny tekst źródłaROGER, JEAN-PAUL. "Contributions a l'etude des surfaces, interfaces et films minces par la methode mirage." Paris 6, 1988. http://www.theses.fr/1988PA066509.
Pełny tekst źródłaTrigoulet, Nicolas. "Probing barrier-type anodic alumina films on nano-patterned substrates." Thesis, University of Manchester, 2010. https://www.research.manchester.ac.uk/portal/en/theses/probing-barriertype-anodic-alumina-films-on-nanopatterned-substrates(7c888ffd-f901-4993-b30d-05fc0a3bf514).html.
Pełny tekst źródłaRayan, Mihir K. "Spray deposition of biomolecular thin films." [Tampa, Fla] : University of South Florida, 2008. http://purl.fcla.edu/usf/dc/et/SFE0002681.
Pełny tekst źródłaLehmann, Daniel, Falko Seidel, and Dietrich R. T. Zahn. "Thin films with high surface roughness: thickness and dielectric function analysis using spectroscopic ellipsometry." Universitätsbibliothek Chemnitz, 2014. http://nbn-resolving.de/urn:nbn:de:bsz:ch1-qucosa-136724.
Pełny tekst źródłaBodart, Vincent. "Controle de la croissance d'empilements ultra-minces carbone tungstene et silicium-tungstene par ellipsometrie cinetique in-situ : application aux miroirs pour x-mous." Paris 7, 1987. http://www.theses.fr/1987PA077094.
Pełny tekst źródłaEspinosa, Jorge D. "De-wetting of cobalt thin films on sapphire." Morgantown, W. Va. : [West Virginia University Libraries], 2007. https://eidr.wvu.edu/etd/documentdata.eTD?documentid=5314.
Pełny tekst źródłaAgra-Kooijman, Deña Mae G. "Liquid Crystal Alignment and Relaxation Dynamics at Surface Modified Thin Polymer Films." Kent State University / OhioLINK, 2008. http://rave.ohiolink.edu/etdc/view?acc_num=kent1228148263.
Pełny tekst źródłaGilliam, David R. "A study of contact between a profile meter stylus and polymer films on roughened substrates." Thesis, Virginia Tech, 1985. http://hdl.handle.net/10919/45727.
Pełny tekst źródłaNemani, Lingeshwar. "Effect of SnO2 Roughness and CdS Thickness on the Performance of CdS/CdTe Solar Cells." Scholar Commons, 2005. https://scholarcommons.usf.edu/etd/790.
Pełny tekst źródłaHerffurth, Tobias [Verfasser], Andreas [Akademischer Betreuer] Tünnermann, Richard [Akademischer Betreuer] Kowarschick, and Miloslav [Akademischer Betreuer] Ohlidal. "Light scattering and roughness analysis of optical surfaces and thin films / Tobias Herffurth. Gutachter: Andreas Tünnermann ; Richard Kowarschick ; Miloslav Ohlidal." Jena : Thüringer Universitäts- und Landesbibliothek Jena, 2015. http://d-nb.info/1072622106/34.
Pełny tekst źródłaMallett, Jonathan James. "Electrochemical deposition, characterisation of metal films, and the modification of electrodes by near-field photolithography." Thesis, University of Bristol, 2000. http://ethos.bl.uk/OrderDetails.do?uin=uk.bl.ethos.324298.
Pełny tekst źródłaAvila, Solis Sandra Milagros. "Evaluación in vitro de la microrugosidad superficial de dos resinas tipo Bulk Fill inmersas a dos bebidas rehidratantes con pH de 2,79 y 3,3." Bachelor's thesis, Universidad Peruana de Ciencias Aplicadas (UPC), 2019. http://hdl.handle.net/10757/628127.
Pełny tekst źródłaMammei, Russell Rene. "Thin Films for the Transport of Polarized Ultracold Neutrons for Fundamental Symmetry Study." Diss., Virginia Tech, 2010. http://hdl.handle.net/10919/28714.
Pełny tekst źródłaMelo, Leonidas Lopes de. "Dinâmica de crescimento de filmes de platina e ouro." Universidade de São Paulo, 2004. http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/43/43134/tde-26022014-093131/.
Pełny tekst źródłaDuvivier, Pierre-Yves. "Étude expérimentale et modélisation du contact électrique et mécanique quasi statique entre surfaces rugueuses d'or : application aux micro-relais mems." Phd thesis, Ecole Nationale Supérieure des Mines de Saint-Etienne, 2010. http://tel.archives-ouvertes.fr/tel-00740248.
Pełny tekst źródłaPepenene, Refuoe Donald. "Macroscopic and Microscopic surface features of Hydrogenated silicon thin films." University of the Western Cape, 2018. http://hdl.handle.net/11394/6414.
Pełny tekst źródłaBoukezzata, Messaoud. "Mecanismes d'oxydation des si-lpcvd fortement dopes au bore." Toulouse 3, 1988. http://www.theses.fr/1988TOU30183.
Pełny tekst źródłaSilva, Marcelo de Assumpção Pereira da. "Análise de superfícies de filmes finos de polianilina depositados em diferentes substratos por microscopia de força atômica." Universidade de São Paulo, 2001. http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/88/88131/tde-06062007-191316/.
Pełny tekst źródłaBlažková, Naďa. "Povrchová topografie a-CSi:H vrstev připravených v kontinuálním režimu PECVD." Master's thesis, Vysoké učení technické v Brně. Fakulta chemická, 2018. http://www.nusl.cz/ntk/nusl-376884.
Pełny tekst źródłaAlbuquerque, Diego Aparecido Carvalho. "Deposição e caracterização de filmes ultrafinos de óxido de titânio depositados por Sputtering RF." Universidade Federal de São Carlos, 2012. https://repositorio.ufscar.br/handle/ufscar/1167.
Pełny tekst źródłaAbreu, Caio Palumbo de. "Deposição e caracterizações óptica e morfológica de filmes finos de TIOX depositados por sputtering R.F." Universidade Federal de São Carlos, 2013. https://repositorio.ufscar.br/handle/ufscar/1168.
Pełny tekst źródłaPereira, Anderson de Jesus. "Efeito de uma barreira cinética em modelos de crescimento de interfaces com mobilidade limitada." Universidade Federal de Viçosa, 2012. http://locus.ufv.br/handle/123456789/4264.
Pełny tekst źródłaBrunot-Gohin, Céline. "Optimisation des états de surface du titane et des alliages en nickel-titane par des films multicouches de polyélectrolytes." Phd thesis, Université Claude Bernard - Lyon I, 2009. http://tel.archives-ouvertes.fr/tel-00771411.
Pełny tekst źródłaChagroune, Lakhdar. "Modélisation de l'émissivité d'une surface en utilisant une approche fractale." Vandoeuvre-les-Nancy, INPL, 1995. http://www.theses.fr/1995INPL115N.
Pełny tekst źródłaOrtega, Luc. "Caractérisation par rayons X des isolants amorphes d'oxynitrures de silicium, SiOxNyHz, préparés en couches minces par PECVD." Grenoble 1, 1993. http://www.theses.fr/1993GRE10169.
Pełny tekst źródła劉性義. "In type Ⅱ roughness Superconductor film the Nucleation fieldΗc3". Thesis, 2000. http://ndltd.ncl.edu.tw/handle/55911786058063365720.
Pełny tekst źródłaLiao, Yi-Chiann, and 廖怡茜. "Effect of surface roughness of SnO2 film for light trapping phenomenon." Thesis, 2009. http://ndltd.ncl.edu.tw/handle/35808422006810899802.
Pełny tekst źródłaHwu, Chwan-Jing, and 胡傳菁. "Surface Roughness Effects on the Squeeze Film Characteristics of Partial Journal Bearing." Thesis, 2000. http://ndltd.ncl.edu.tw/handle/18904834786032075178.
Pełny tekst źródła