Książki na temat „Metal oxide semiconductors”
Utwórz poprawne odniesienie w stylach APA, MLA, Chicago, Harvard i wielu innych
Sprawdź 50 najlepszych książek naukowych na temat „Metal oxide semiconductors”.
Przycisk „Dodaj do bibliografii” jest dostępny obok każdej pracy w bibliografii. Użyj go – a my automatycznie utworzymy odniesienie bibliograficzne do wybranej pracy w stylu cytowania, którego potrzebujesz: APA, MLA, Harvard, Chicago, Vancouver itp.
Możesz również pobrać pełny tekst publikacji naukowej w formacie „.pdf” i przeczytać adnotację do pracy online, jeśli odpowiednie parametry są dostępne w metadanych.
Przeglądaj książki z różnych dziedzin i twórz odpowiednie bibliografie.
Nicollian, E. H. MOS (metal oxide semiconductor) physics and technology. Hoboken, N.J: Wiley-Interscience, 2003.
Znajdź pełny tekst źródłaJ, Dumin D., red. Oxide reliability: A summary of silicon oxide wearout, breakdown, and reliability. [River Edge, NJ]: World Scientific, 2002.
Znajdź pełny tekst źródłaSato, Norio. Electrochemistry at metal and semiconductor electrodes. Amsterdam: Elsevier, 1998.
Znajdź pełny tekst źródłaZhao, Yi. Wafer level reliability of advanced CMOS devices and processes. New York: Nova Science Publishers, 2008.
Znajdź pełny tekst źródłaLancaster, Don. CMOS cookbook. Wyd. 2. Indianapolis, Ind: H.W. Sams, 1988.
Znajdź pełny tekst źródłaPfaffli, Paul. Characterisation of degradation and failure phenomena in MOS devices. Konstanz [Germany]: Hartung-Gorre, 1999.
Znajdź pełny tekst źródłaT, Andre Noah, i Simon Lucas M, red. MOSFETS: Properties, preparations to performance. New York: Nova Science Publishers, 2008.
Znajdź pełny tekst źródłaKorec, Jacek. Low voltage power MOSFETs: Design, performance and applications. New York: Springer, 2011.
Znajdź pełny tekst źródłaPaul, Reinhold. MOS-Feldeffekttransistoren. Berlin: Springer-Verlag, 1994.
Znajdź pełny tekst źródłaShoji, Masakazu. CMOS digital circuit technology. Englewood Cliffs, N.J: Prentice Hall, 1988.
Znajdź pełny tekst źródłaHelms, Harry L. High-speed (HC/HCT) CMOS guide. Englewood Cliffs, N.J: Prentice Hall, 1989.
Znajdź pełny tekst źródłaKwon, Min-jun. CMOS technology. Hauppauge, N.Y: Nova Science Publishers, 2010.
Znajdź pełny tekst źródłaSaijets, Jan. MOSFET RF characterization using bulk and SOI CMOS technologies. [Espoo, Finland]: VTT Technical Research Centre of Finland, 2007.
Znajdź pełny tekst źródła1951-, Walsh M. J., red. Choosing and using CMOS. London: Collins, 1985.
Znajdź pełny tekst źródła(Firm), Signetics. High-speed CMOS data manual. Sunnyvale, Calif: Signetics Corp., 1988.
Znajdź pełny tekst źródła(Firm), Signetics. High-speed CMOS data manual. Sunnyvale, Calif: Signetics Corp., 1988.
Znajdź pełny tekst źródłaPeluso, Vincenzo. Design of low-voltage low-power CMOS Delta-Sigma A/D converters. Boston: Kluwer Academic Publishers, 1999.
Znajdź pełny tekst źródłaInternational, Symposium on Advanced Gate Stack Source/Drain and Channel Engineering for Si-based CMOS (2nd 2006 Cancún Mexico). Advanced gate stack, source/drain, and channel engineering for Si-based CMOS 2: New materials, processes and equipment. Pennington, NJ: Electrochemical Society, 2006.
Znajdź pełny tekst źródłaMinoru, Fujishima, red. Design and modeling of millimeter-wave CMOS circuits for wireless transceivers: Era of sub-100nm technology. Dordrecht: Springer Science+Business Media, 2008.
Znajdź pełny tekst źródłaBehzad, Razavi, red. High-speed CMOS circuits for optical receivers. Boston: Kluwer Academic Publishers, 2001.
Znajdź pełny tekst źródłaBallan, Hussein. High voltage devices and circuits in standard CMOS technologies. Boston: Kluwer Academic, 1999.
Znajdź pełny tekst źródłaShoji, Masakazu. CMOS digital circuit technology. New Jersey: Prentice-Hall International, 1988.
Znajdź pełny tekst źródłaPaul, Vande Voorde, i Hewlett-Packard Laboratories, red. Extension of bandgap broadening model for quantum mechanical correction in sub-quarter micron MOS devices to accumulation layer. Palo Alto, CA: Hewlett-Packard Laboratories, Technical Publications Department, 1996.
Znajdź pełny tekst źródłaG, Einspruch Norman, i Gildenblat Gennady Sh, red. Advanced MOS device physics. San Diego: Academic Press, 1989.
Znajdź pełny tekst źródła1948-, Gautier Jacques, red. Physics and operation of silicon devices in integrated circuits. London: ISTE, 2009.
Znajdź pełny tekst źródłaMajkusiak, Bogdan. Bardzo cienki tlenek bramkowy w tranzystorze MOS--konsekwencje dla działania i modelowania. Warszawa: Wydawnictwa Politechniki Warszawskiej, 1991.
Znajdź pełny tekst źródła1948-, Gautier Jacques, red. Physics and operation of silicon devices in integrated circuits. London: ISTE, 2009.
Znajdź pełny tekst źródła1948-, Gautier Jacques, red. Physics and operation of silicon devices in integrated circuits. London: ISTE, 2009.
Znajdź pełny tekst źródłaSymposium, MM "Transparent Conducting Oxides and Applications". Transparent conducting oxides and applications: Symposium held November 29-December 3 [2010], Boston, Massachusetts, U.S.A. Warrendale, Pa: Materials Research Society, 2012.
Znajdź pełny tekst źródłaRumak, N. V. Sistema kremniĭ--dvuokisʹ kremnii͡a︡ v MOP-strukturakh. Minsk: "Nauka i tekhnika", 1986.
Znajdź pełny tekst źródłaKursun, Volkan. Multiple supply and threshold voltage CMOS circuits. Chichester, England: John Wiley, 2006.
Znajdź pełny tekst źródłaL, Helms Harry, red. CMOS devices: 1987 source book. Englewood Cliffs, N.J: Technipubs, 1987.
Znajdź pełny tekst źródłaKlar, Heinrich. Integrierte digitale Schaltungen MOS/BICMOS. Wyd. 2. Berlin: Springer, 1996.
Znajdź pełny tekst źródłaTsividis, Yannis. Operation and modeling of the MOS transistor. Wyd. 3. New York: Oxford University Press, 2010.
Znajdź pełny tekst źródłaJürgen, Mattausch Hans, i Ezaki Tatsuya, red. The physics and modeling of MOSFETS: Surface-potential model HiSIM. Singapore: World Scientific, 2008.
Znajdź pełny tekst źródłaTsividis, Yannis. Operation and modeling of the MOS transistor. Wyd. 3. New York: Oxford University Press, 2010.
Znajdź pełny tekst źródłaTsividis, Yannis. Operation and modeling of the MOS transistor. Wyd. 3. New York: Oxford University Press, 2011.
Znajdź pełny tekst źródłaJosʹe M. de la Rosa. Systematic design of CMOS switched-current bandpass sigma-delta modulators for digital communication chips. Boston: Kluwer Academic, 2002.
Znajdź pełny tekst źródłaSialm, Gion. VCSEL modeling and CMOS transmitters up to 40 Gb/s for high-density optical links. Konstanz: Hartung-Gorre, 2007.
Znajdź pełny tekst źródłaPearton, Stephen J., Chennupati Jagadish i Bengt G. Svensson. Oxide Semiconductors. Elsevier Science & Technology Books, 2013.
Znajdź pełny tekst źródłaPearton, Stephen, Chennupati Jagadish i Bengt G. Svensson. Oxide Semiconductors. Elsevier Science & Technology Books, 2013.
Znajdź pełny tekst źródłaOxide Reliability: A Summary of Silicon Oxide Wearout, Breakdown, and Reliability. World Scientific Publishing Co Pte Ltd, 2002.
Znajdź pełny tekst źródłaZhuiykov, Serge. Nanostructured Semiconductors. Elsevier Science & Technology, 2018.
Znajdź pełny tekst źródłaZang, Z. Metal Oxide Semiconductors - Synthesis, Properties, and Devices. Wiley & Sons, Limited, John, 2023.
Znajdź pełny tekst źródłaZang, Zhigang, i Wensi Cai. Metal Oxide Semiconductors: Synthesis, Properties, and Devices. Wiley & Sons, Incorporated, John, 2024.
Znajdź pełny tekst źródłaZang, Zhigang, i Wensi Cai. Metal Oxide Semiconductors: Synthesis, Properties, and Devices. Wiley & Sons, Incorporated, John, 2023.
Znajdź pełny tekst źródłaZang, Zhigang, i Wensi Cai. Metal Oxide Semiconductors: Synthesis, Properties, and Devices. Wiley & Sons, Incorporated, John, 2023.
Znajdź pełny tekst źródłaSato, Norio. Electrochemistry at Metal and Semiconductor Electrodes. Elsevier Science & Technology Books, 1998.
Znajdź pełny tekst źródła