Gotowa bibliografia na temat „RF/mmW reliability”
Utwórz poprawne odniesienie w stylach APA, MLA, Chicago, Harvard i wielu innych
Zobacz listy aktualnych artykułów, książek, rozpraw, streszczeń i innych źródeł naukowych na temat „RF/mmW reliability”.
Przycisk „Dodaj do bibliografii” jest dostępny obok każdej pracy w bibliografii. Użyj go – a my automatycznie utworzymy odniesienie bibliograficzne do wybranej pracy w stylu cytowania, którego potrzebujesz: APA, MLA, Harvard, Chicago, Vancouver itp.
Możesz również pobrać pełny tekst publikacji naukowej w formacie „.pdf” i przeczytać adnotację do pracy online, jeśli odpowiednie parametry są dostępne w metadanych.
Artykuły w czasopismach na temat "RF/mmW reliability"
EL BOUAYADI, Ossama, Yann LAMY, Laurent DUSSOPT, and Brigitte SOULIER. "A New Approach for Reliable and Compact 3D Integration of mmW Transceivers on Silicon Using High-Impedance Surface Antennas." International Symposium on Microelectronics 2014, no. 1 (2014): 000810–15. http://dx.doi.org/10.4071/isom-thp21.
Pełny tekst źródłaBunel, Catherine, and Laurent Lengignon. "Silicon Capacitors with extremely high stability and reliability ideal for high temperature applications." Additional Conferences (Device Packaging, HiTEC, HiTEN, and CICMT) 2012, HITEC (2012): 000273–77. http://dx.doi.org/10.4071/hitec-2012-wp25.
Pełny tekst źródłaBunel, Catherine, and Laurent Lengignon. "Silicon Capacitors with extremely high stability and reliability ideal for high temperature applications." Additional Conferences (Device Packaging, HiTEC, HiTEN, and CICMT) 2013, HITEN (2013): 000008–12. http://dx.doi.org/10.4071/hiten-ma12.
Pełny tekst źródłaHu, Jian-Guo, Wen-Zhuo Mei, Jin Wu, Jia-Wei Li, and De-Ming Wang. "A Fully Integrated RFID Reader SoC." Micromachines 14, no. 9 (2023): 1691. http://dx.doi.org/10.3390/mi14091691.
Pełny tekst źródłaBanno, Hiroki, Takaaki Hanai, Toru Asaka, Koji Kimoto, Hiromi Nakano, and Koichiro Fukuda. "Electron-density distribution and disordered crystal structure of 12H-SiAlON, SiAl5O2N5." Powder Diffraction 29, no. 4 (2014): 318–24. http://dx.doi.org/10.1017/s0885715614000396.
Pełny tekst źródłaNelson, Julia Louise, Connor Cobb, Joshua L. Keller, Miranda K. Traylor, David Arthur Nelson, and Christopher Michael Francis. "Millimeter wave radiation to measure blood flow in healthy human subjects." Physiological Measurement, September 10, 2024. http://dx.doi.org/10.1088/1361-6579/ad7931.
Pełny tekst źródłaLakhera, Nishant, Burt Carpenter, Teck Beng Lau, and Andrew J. Mawer. "Automotive Grade WLCSP for Radar Applications." IMAPSource Proceedings 2023, Symposium (2024). http://dx.doi.org/10.4071/001c.94510.
Pełny tekst źródłaDas, Puja, and Anirban Karmakar. "A reconfigurable wideband MIMO antenna combines RF energy harvesting." International Journal of Communication Systems, December 10, 2023. http://dx.doi.org/10.1002/dac.5683.
Pełny tekst źródłaTrybulski, Robert, Adrian Kużdżał, Michał Wilk, Jakub Więckowski, Krzysztof Fostiak, and Jarosław Muracki. "Reliability of MyotonPro in measuring the biomechanical properties of the quadriceps femoris muscle in people with different levels and types of motor preparation." Frontiers in Sports and Active Living 6 (August 29, 2024). http://dx.doi.org/10.3389/fspor.2024.1453730.
Pełny tekst źródłaTafciu, E., G. Granata, F. Ancona, et al. "1183 Three-dimensional echocardiographic paramenters for mitral valve quantification: a feasibility and validation study." European Heart Journal - Cardiovascular Imaging 21, Supplement_1 (2020). http://dx.doi.org/10.1093/ehjci/jez319.682.
Pełny tekst źródłaRozprawy doktorskie na temat "RF/mmW reliability"
Hai, Joycelyn. "fiabilité rf en technologie soi cmos : modélisation et application à un amplificateur de puissance." Electronic Thesis or Diss., Université Grenoble Alpes, 2024. http://www.theses.fr/2024GRALT033.
Pełny tekst źródłaIghilahriz, Salim. "Caractérisation et modélisation de la fiabilité des transistors et circuits millimétriques conçus en technologies BiCMOS et CMOS." Phd thesis, Université de Grenoble, 2014. http://tel.archives-ouvertes.fr/tel-01060162.
Pełny tekst źródłaLahbib, Insaf. "Contribution à l'analyse des effets de vieillissement de composants actifs et de circuits intégrés sous contraintes DC et RF en vue d'une approche prédictive." Thesis, Normandie, 2017. http://www.theses.fr/2017NORMC256.
Pełny tekst źródłaStreszczenia konferencji na temat "RF/mmW reliability"
Ighilahriz, S., F. Cacho, V. Huard, L. Moquillon, P. Benech, and J. M. Fournier. "HBT reliability modeling strategy for BICMOS RF and mmW applications." In 2012 IEEE International Integrated Reliability Workshop (IIRW). IEEE, 2012. http://dx.doi.org/10.1109/iirw.2012.6468931.
Pełny tekst źródłaCressler, John D. "New Developments in SiGe HBT Reliability for RF Through mmW Circuits." In 2021 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS). IEEE, 2021. http://dx.doi.org/10.1109/irps46558.2021.9405171.
Pełny tekst źródłaGanguly, Satyaki, Kyle M. Bothe, Alexandre Niyonzima, et al. "DC and RF Reliability Assessment of 5G-MMW capable GaN HEMT Process (Invited)." In 2022 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS). IEEE, 2022. http://dx.doi.org/10.1109/irps48227.2022.9764539.
Pełny tekst źródłaDivay, A., C. Dehos, I. Charlet, et al. "A Methodology to Address RF Aging of 40nm CMOS PA Cells Under 5G mmW Modulation Profiles." In 2024 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS). IEEE, 2024. http://dx.doi.org/10.1109/irps48228.2024.10529462.
Pełny tekst źródła