Gotowa bibliografia na temat „Scanning”
Utwórz poprawne odniesienie w stylach APA, MLA, Chicago, Harvard i wielu innych
Zobacz listy aktualnych artykułów, książek, rozpraw, streszczeń i innych źródeł naukowych na temat „Scanning”.
Przycisk „Dodaj do bibliografii” jest dostępny obok każdej pracy w bibliografii. Użyj go – a my automatycznie utworzymy odniesienie bibliograficzne do wybranej pracy w stylu cytowania, którego potrzebujesz: APA, MLA, Harvard, Chicago, Vancouver itp.
Możesz również pobrać pełny tekst publikacji naukowej w formacie „.pdf” i przeczytać adnotację do pracy online, jeśli odpowiednie parametry są dostępne w metadanych.
Artykuły w czasopismach na temat "Scanning"
Liu, Jie, Haiyan Ou, Hua Wang, Lin Peng, and Wei Shao. "Autofocus by Lissajous scanning in time reversal optical scanning holography." Chinese Optics Letters 22, no. 8 (2024): 080501. http://dx.doi.org/10.3788/col202422.080501.
Pełny tekst źródłaBin Yu, Bin Yu, Wei Jia Wei Jia, Changhe Zhou Changhe Zhou, Hongchao Cao Hongchao Cao, and Wenting Sun Wenting Sun. "Grating imaging scanning lithography." Chinese Optics Letters 11, no. 8 (2013): 080501–80503. http://dx.doi.org/10.3788/col201311.080501.
Pełny tekst źródłaArkhipov, V. V. "Scanning systems of rapid-scanning Fourier spectrometers." Journal of Optical Technology 77, no. 7 (2010): 435. http://dx.doi.org/10.1364/jot.77.000435.
Pełny tekst źródłaALVARADO, S. F. "SCANNING TUNNELING MICROSCOPY AND SCANNING FORCE MICROSCOPY." Surface Review and Letters 02, no. 05 (1995): 607–17. http://dx.doi.org/10.1142/s0218625x95000571.
Pełny tekst źródłaBulgaru, Marius, Vlad Bocăneț, and Mircea Muntean. "Research regarding tactile scanning versus optical scanning." MATEC Web of Conferences 299 (2019): 04013. http://dx.doi.org/10.1051/matecconf/201929904013.
Pełny tekst źródłaHamilton, D. K., and T. Wilson. "Scanning optical microscopy by objective lens scanning." Journal of Physics E: Scientific Instruments 19, no. 1 (1986): 52–54. http://dx.doi.org/10.1088/0022-3735/19/1/009.
Pełny tekst źródłaMody, Cyrus C. M. "STARS: Scanning Probe Microscopy [Scanning Our Past]." Proceedings of the IEEE 102, no. 7 (2014): 1107–12. http://dx.doi.org/10.1109/jproc.2014.2326811.
Pełny tekst źródłaGareau, Daniel S., James G. Krueger, Jason E. Hawkes, et al. "Line scanning, stage scanning confocal microscope (LSSSCM)." Biomedical Optics Express 8, no. 8 (2017): 3807. http://dx.doi.org/10.1364/boe.8.003807.
Pełny tekst źródłaHsiao, Gregor, and Jezz Leckenby. "Correcting Scanning Errors in Scanning Probe Microscopes." Microscopy Today 7, no. 7 (1999): 10–13. http://dx.doi.org/10.1017/s1551929500064737.
Pełny tekst źródłaFu, J., R. D. Young, and T. V. Vorburger. "Long‐range scanning for scanning tunneling microscopy." Review of Scientific Instruments 63, no. 4 (1992): 2200–2205. http://dx.doi.org/10.1063/1.1143139.
Pełny tekst źródłaRozprawy doktorskie na temat "Scanning"
Svahn, Stefan. "3D-scanning : Volymberäkning vid scanning av bergvägg." Thesis, Karlstads universitet, Institutionen för geografi, medier och kommunikation, 2014. http://urn.kb.se/resolve?urn=urn:nbn:se:kau:diva-33349.
Pełny tekst źródłaRaspin, P. "Scanning business environments : an investigation into managerial scanning behaviour." Thesis, Cranfield University, 2003. http://ethos.bl.uk/OrderDetails.do?uin=uk.bl.ethos.401662.
Pełny tekst źródłaNiblock, Trevor. "Micro scanning probes." Thesis, University of Southampton, 2001. http://ethos.bl.uk/OrderDetails.do?uin=uk.bl.ethos.395357.
Pełny tekst źródłaLeane, Robert B. "Scanning tunnelling microscopy." Thesis, University of Cambridge, 1990. http://ethos.bl.uk/OrderDetails.do?uin=uk.bl.ethos.291716.
Pełny tekst źródłaHyde, Neville. "Environmental scanning : the need for and overview of environmental scanning system." Thesis, Stellenbosch : University of Stellenbosch, 2000. http://hdl.handle.net/10019.1/4595.
Pełny tekst źródłaHyde, Neville, and Johan Burger. "Environmental scanning : the need for and overview of environmental scanning systems." Thesis, Stellenbosch : University of Stellenbosch, 2000. http://hdl.handle.net/10019.1/4656.
Pełny tekst źródłaWeise, Thibaut. "Real-time 3D scanning." Konstanz Hartung-Gorre, 2009. http://d-nb.info/1000182894/04.
Pełny tekst źródłaAlmqvist, Nils. "Scanning probe microscopy : Applications." Licentiate thesis, Luleå tekniska universitet, Materialvetenskap, 1994. http://urn.kb.se/resolve?urn=urn:nbn:se:ltu:diva-17980.
Pełny tekst źródłaDonnermeyer, Achim. "Scanning ion-conductance microscopy." [S.l.] : [s.n.], 2007. http://nbn-resolving.de/urn/resolver.pl?urn=urn:nbn:de:hbz:361-11593.
Pełny tekst źródłaDavies, D. G. "Scanning electron acoustic microscopy." Thesis, University of Cambridge, 1985. http://ethos.bl.uk/OrderDetails.do?uin=uk.bl.ethos.304042.
Pełny tekst źródłaKsiążki na temat "Scanning"
Kassing, Rainer, ed. Scanning Microscopy. Springer Berlin Heidelberg, 1992. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-84810-0.
Pełny tekst źródłaInternational, Scanning Microscopy. Scanning microscopy. Scanning Microscopy International, 1987.
Znajdź pełny tekst źródłaTally, Taz. Avoiding the scanning blues: A desktop scanning primer. Prentice Hall PTR, 2001.
Znajdź pełny tekst źródłaMarshall, Gerald, ed. Laser Beam Scanning. CRC Press, 2017. http://dx.doi.org/10.4324/9780203749142.
Pełny tekst źródłaMeyer, Ernst, Roland Bennewitz, and Hans J. Hug. Scanning Probe Microscopy. Springer International Publishing, 2021. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-030-37089-3.
Pełny tekst źródłaReimer, Ludwig. Scanning Electron Microscopy. Springer Berlin Heidelberg, 1985. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-662-13562-4.
Pełny tekst źródłaNeddermeyer, H., ed. Scanning Tunneling Microscopy. Springer Netherlands, 1993. http://dx.doi.org/10.1007/978-94-011-1812-5.
Pełny tekst źródłaCzęści książek na temat "Scanning"
Rey, Enno, Michael Thumann, and Dominick Baier. "Scanning." In Mehr IT-Sicherheit durch Pen-Tests. Vieweg+Teubner Verlag, 2005. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-322-80257-6_5.
Pełny tekst źródłaBishop, Peter C., and Andy Hines. "Scanning." In Teaching about the Future. Palgrave Macmillan UK, 2012. http://dx.doi.org/10.1057/9781137020703_7.
Pełny tekst źródłaWeik, Martin H. "scanning." In Computer Science and Communications Dictionary. Springer US, 2000. http://dx.doi.org/10.1007/1-4020-0613-6_16636.
Pełny tekst źródłaMartin, Yves. "Performance and selection criteria of critical components of STM and AFM." In Scanning Microscopy. Springer Berlin Heidelberg, 1992. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-84810-0_1.
Pełny tekst źródłaBriggs, G. A. D., R. Gundle, C. W. Lawrence, A. Rodriguez-Rey, and C. B. Scruby. "Acoustic Microscopy: Pictures to Ponder." In Scanning Microscopy. Springer Berlin Heidelberg, 1992. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-84810-0_10.
Pełny tekst źródłaSure, T. "Real-Time Confocal Scanning Microscope — An Optical Instrument with a Better Depth Resolution." In Scanning Microscopy. Springer Berlin Heidelberg, 1992. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-84810-0_11.
Pełny tekst źródłaPohl, D. W. "On the Search for Last Frontiers Scanning Tunneling Microscopy and Related Techniques (Abstract)." In Scanning Microscopy. Springer Berlin Heidelberg, 1992. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-84810-0_12.
Pełny tekst źródłaWickramasinghe, H. K. "STM and AFM extensions (Abstract)." In Scanning Microscopy. Springer Berlin Heidelberg, 1992. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-84810-0_13.
Pełny tekst źródłaKassing, Rainer. "Investigations on the SFM." In Scanning Microscopy. Springer Berlin Heidelberg, 1992. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-84810-0_2.
Pełny tekst źródłaMöller, R. "New Scanning Microscopy Techniques: Scanning Noise Microscopy Scanning Tunneling Microscopy Assisted by Surface Plasmons." In Scanning Microscopy. Springer Berlin Heidelberg, 1992. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-84810-0_3.
Pełny tekst źródłaStreszczenia konferencji na temat "Scanning"
Chiu, Ming-Hung, Chin-Fa Lai, Chen-Tai Tan, and Yi-Zhi Lin. "Transmission-type angle deviation microscope with NA=0.65 for 3D measurement." In Scanning Microscopy 2010, edited by Michael T. Postek, Dale E. Newbury, S. Frank Platek, and David C. Joy. SPIE, 2010. http://dx.doi.org/10.1117/12.850984.
Pełny tekst źródłaSPIE, Proceedings of. "Front Matter: Volume 7378." In SPIE Scanning Microscopy, edited by Michael T. Postek, Dale E. Newbury, S. Frank Platek, and David C. Joy. SPIE, 2009. http://dx.doi.org/10.1117/12.835753.
Pełny tekst źródłaSchwoeble, A. J., Brian R. Strohmeier, and John D. Piasecki. "The influence of surface chemistry on GSR particles: using XPS to complement SEM/EDS analytical techniques." In Scanning Microscopy 2010, edited by Michael T. Postek, Dale E. Newbury, S. Frank Platek, and David C. Joy. SPIE, 2010. http://dx.doi.org/10.1117/12.863906.
Pełny tekst źródłaLeroy, E., S. Mamedov, E. Teboul, A. Whitley, D. Meyer, and L. Casson. "Complementing and adding to SEM performance with the addition of XRF, Raman, CL and PL spectroscopy and imaging." In Scanning Microscopy 2010, edited by Michael T. Postek, Dale E. Newbury, S. Frank Platek, and David C. Joy. SPIE, 2010. http://dx.doi.org/10.1117/12.864236.
Pełny tekst źródłaCampo, E. M., A. Meléndez, K. Morales, J. Poplawsky, J. J. Santiago-Avilés, and I. Ramos. "Electron microscopy and cathodoluminescence in electrospun nanodimensional structures: challenges and opportunities." In Scanning Microscopy 2010, edited by Michael T. Postek, Dale E. Newbury, S. Frank Platek, and David C. Joy. SPIE, 2010. http://dx.doi.org/10.1117/12.866761.
Pełny tekst źródłaCampo, E. M., H. Campanella, Y. Y. Huang, et al. "Electron microscopy of polymer-carbon nanotubes composites." In Scanning Microscopy 2010, edited by Michael T. Postek, Dale E. Newbury, S. Frank Platek, and David C. Joy. SPIE, 2010. http://dx.doi.org/10.1117/12.867718.
Pełny tekst źródłaPfeiffer, Hans C. "New prospects for electron beams as tools for semiconductor lithography." In SPIE Scanning Microscopy, edited by Michael T. Postek, Dale E. Newbury, S. Frank Platek, and David C. Joy. SPIE, 2009. http://dx.doi.org/10.1117/12.822771.
Pełny tekst źródłaDe, Arijit K., and Debabrata Goswami. "Three-dimensional image formation under single-photon ultra-short pulsed illumination." In SPIE Scanning Microscopy, edited by Michael T. Postek, Dale E. Newbury, S. Frank Platek, and David C. Joy. SPIE, 2009. http://dx.doi.org/10.1117/12.822773.
Pełny tekst źródłaCizmar, Petr, András E. Vladár, and Michael T. Postek. "Optimization of accurate SEM imaging by use of artificial images." In SPIE Scanning Microscopy, edited by Michael T. Postek, Dale E. Newbury, S. Frank Platek, and David C. Joy. SPIE, 2009. http://dx.doi.org/10.1117/12.823415.
Pełny tekst źródłaHaegel, Nancy M., Chun-Hong Low, Lee Baird, and Goon-Hwee Ang. "Transport imaging with near-field scanning optical microscopy." In SPIE Scanning Microscopy, edited by Michael T. Postek, Dale E. Newbury, S. Frank Platek, and David C. Joy. SPIE, 2009. http://dx.doi.org/10.1117/12.824114.
Pełny tekst źródłaRaporty organizacyjne na temat "Scanning"
Dow, John D. Scanning Tunneling Microscopy. Defense Technical Information Center, 1992. http://dx.doi.org/10.21236/ada249262.
Pełny tekst źródłaMarangoni, Alejandro G., and M. Fernanda Peyronel. Differential Scanning Calorimetry. AOCS, 2014. http://dx.doi.org/10.21748/lipidlibrary.40884.
Pełny tekst źródłaMelloch, Michael R. Scanning Probe Microscope. Defense Technical Information Center, 2001. http://dx.doi.org/10.21236/ada388569.
Pełny tekst źródłaSwartzentruber, B. S., A. M. Bouchard, and G. C. Osbourn. Adaptive scanning probe microscopies. Office of Scientific and Technical Information (OSTI), 1997. http://dx.doi.org/10.2172/446386.
Pełny tekst źródłaTaylor, A. J., G. P. Donati, G. Rodriguez, T. R. Gosnell, S. A. Trugman, and D. I. Some. Femtosecond scanning tunneling microscope. Office of Scientific and Technical Information (OSTI), 1998. http://dx.doi.org/10.2172/672306.
Pełny tekst źródłaWebber, Nels W. LANL Robotic Vessel Scanning. Office of Scientific and Technical Information (OSTI), 2015. http://dx.doi.org/10.2172/1227254.
Pełny tekst źródłaLeckey, J. H., and M. D. Boeckmann. Rapid scanning mass spectrometer. Office of Scientific and Technical Information (OSTI), 1996. http://dx.doi.org/10.2172/459358.
Pełny tekst źródłaGharavi, Hamid, K. Venkatesh Prasad, and Petros Ioannou. Scanning advanced automobile technology. National Institute of Standards and Technology, 2007. http://dx.doi.org/10.6028/nist.ir.7421.
Pełny tekst źródłaCrooks, R. M., T. S. Corbitt, C. B. Ross, M. J. Hampden-Smith, and J. K. Schoer. Scanning Probe Surface Modification. Defense Technical Information Center, 1993. http://dx.doi.org/10.21236/ada273178.
Pełny tekst źródłaBotkin, D. A. Ultrafast scanning tunneling microscopy. Office of Scientific and Technical Information (OSTI), 1995. http://dx.doi.org/10.2172/270266.
Pełny tekst źródła