Увійти

Готові списки джерел за темами / AFM nanomanipulation

Зміст

Статті в журналах

Добірка наукової літератури з теми "AFM nanomanipulation"

Автор: Grafiati

Опубліковано: 4 червня 2021

Оновлено: 1 лютого 2022

Оформте джерело за APA, MLA, Chicago, Harvard та іншими стилями

Оберіть тип джерела:

Ознайомтеся зі списками актуальних статей, книг, дисертацій, тез та інших наукових джерел на тему "AFM nanomanipulation".

Біля кожної праці в переліку літератури доступна кнопка «Додати до бібліографії». Скористайтеся нею – і ми автоматично оформимо бібліографічне посилання на обрану працю в потрібному вам стилі цитування: APA, MLA, «Гарвард», «Чикаго», «Ванкувер» тощо.

Також ви можете завантажити повний текст наукової публікації у форматі «.pdf» та прочитати онлайн анотацію до роботи, якщо відповідні параметри наявні в метаданих.

Статті в журналах з теми "AFM nanomanipulation"

1

TIAN, Xiaojun. "Review of AFM Based Robotic Nanomanipulation." Journal of Mechanical Engineering 45, no. 06 (2009): 14. http://dx.doi.org/10.3901/jme.2009.06.014.

Повний текст джерела

Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.

2

Lal, R., and S. A. John. "Biological applications of atomic force microscopy." American Journal of Physiology-Cell Physiology 266, no. 1 (1994): C1—C21. http://dx.doi.org/10.1152/ajpcell.1994.266.1.c1.

Повний текст джерела

Анотація:

The newly developed atomic force microscope (AFM) provides a unique window to the microworld of cells, subcellular structures, and biomolecules. The AFM can image the three-dimensional structure of biological specimens in a physiological environment. This enables real-time biochemical and physiological processes to be monitored at a resolution similar to that obtained for the electron microscope. The process of image acquisition is such that the AFM can also measure forces at the molecular level. In addition, the AFM can interact with the sample, thereby manipulating the molecules in a defined

Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.

3

Shahmoradi Zavareh, Seyed Abbas, Hamid Akbari Moayyer, and Mohammad Amin Ahouei. "Experimental Manipulation of Gold Nano-Particles by Atomic Force Microscope and Investigating Effect of Various Working Parameters." Advanced Materials Research 829 (November 2013): 831–35. http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/amr.829.831.

Повний текст джерела

Анотація:

Due to involvement of various fields of engineering and bio researchers in nanoprojects and their need in achieving certain layout of nanoparticles (NPs) in many research studies, considerable attention is paid to nanomanipulation nowadays. The present experimental study employs Atomic Force Microscope (AFM) in order to push gold nanoparticles on a highly flat mica surface. A silicon probe in contact mode is used to both image and manipulate nanoparticles and Topo and L-R images have been obtained to show the successes of manipulation when proper conditions are fulfilled. The effect of AFM par

Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.

4

Chang, Ming, C. H. Lin, and Juti Rani Deka. "Characterization and Manipulation of Boron Nanowire inside SEM." Key Engineering Materials 381-382 (June 2008): 31–34. http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/kem.381-382.31.

Повний текст джерела

Анотація:

Nanostructures materials have stimulated broad attention in the past decade because of their potential fundamental characteristics and its promising applications in nano electronic devices. In the present investigation, crystalline boron nanowires (BNWs) were synthesized by vapor liquid solid (VLS) technique and its mechanical properties were studied using a nanomanipulator inside a scanning electron microscope (SEM). Electron beam induced deposition (EBID) method was used to clamp boron nanowire to the AFM tips. The Young’s modulus of the NWs were determined from the buckling instability of N

Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.

5

Yuan, Shuai, Zhidong Wang, Ning Xi, Yuechao Wang, and Lianqing Liu. "AFM Tip Position Control in situ for Effective Nanomanipulation." IEEE/ASME Transactions on Mechatronics 23, no. 6 (2018): 2825–36. http://dx.doi.org/10.1109/tmech.2018.2868983.

Повний текст джерела

Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.

6

Tian, Xiaojun, Yuechao Wang, Ning Xi, Lianqing Liu, Niandong Jiao, and Zaili Dong. "AFM Based MWCNT Nanomanipulation with Force and Visual Feedback." Journal of Nanoscience and Nanotechnology 9, no. 2 (2009): 1647–50. http://dx.doi.org/10.1166/jnn.2009.c223.

Повний текст джерела

Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.

7

Mokaberi, B., and A. A. G. Requicha. "Compensation of Scanner Creep and Hysteresis for AFM Nanomanipulation." IEEE Transactions on Automation Science and Engineering 5, no. 2 (2008): 197–206. http://dx.doi.org/10.1109/tase.2007.895008.

Повний текст джерела

Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.

8

Li, G., N. Xi, M. Yu, and W. K. Fung. "Development of Augmented Reality System for AFM-Based Nanomanipulation." IEEE/ASME Transactions on Mechatronics 9, no. 2 (2004): 358–65. http://dx.doi.org/10.1109/tmech.2004.828651.

Повний текст джерела

Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.

9

Ishisaki, Itsuhachi, Yuya Ohashi, Tatsuo Ushiki, and Futoshi Iwata. "Nanomanipulator Based on a High-Speed Atomic Force Microscopy." Key Engineering Materials 516 (June 2012): 396–401. http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/kem.516.396.

Повний текст джерела

Анотація:

We developed a real-time nanomanipulation system based on high-speed atomic force microscopy (HS-AFM). During manipulation, the operation of the manipulation is momentarily interrupted for a very short time for high-speed imaging; thus, the topographical image of the fabricated surface is periodically updated during the manipulation. By using a high-speed imaging technique, the interrupting time could be much reduced during the manipulation; as a result, the operator almost does not notice the blink time of the interruption for imaging during the manipulation. As for the high-speed imaging tec

Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.

10

YUAN, Shuai. "Implementation of Virtual Clap Based AFM Nanomanipulation Through Tip Positioning." Journal of Mechanical Engineering 50, no. 13 (2014): 142. http://dx.doi.org/10.3901/jme.2014.13.142.

Повний текст джерела

Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.

Більше джерел

Ми пропонуємо знижки на всі преміум-плани для авторів, чиї праці увійшли до тематичних добірок літератури. Зв'яжіться з нами, щоб отримати унікальний промокод!