Добірка наукової літератури з теми "Length metrology"
Оформте джерело за APA, MLA, Chicago, Harvard та іншими стилями
Ознайомтеся зі списками актуальних статей, книг, дисертацій, тез та інших наукових джерел на тему "Length metrology".
Біля кожної праці в переліку літератури доступна кнопка «Додати до бібліографії». Скористайтеся нею – і ми автоматично оформимо бібліографічне посилання на обрану працю в потрібному вам стилі цитування: APA, MLA, «Гарвард», «Чикаго», «Ванкувер» тощо.
Також ви можете завантажити повний текст наукової публікації у форматі «.pdf» та прочитати онлайн анотацію до роботи, якщо відповідні параметри наявні в метаданих.
Статті в журналах з теми "Length metrology"
Lee, Dong-Yeon, Dong-Min Kim, and Dae-Gab Gweon. "Atomic Force Microscope for Standard Length Metrology." Transactions of the Korean Society of Mechanical Engineers A 30, no. 12 (2006): 1611–17. http://dx.doi.org/10.3795/ksme-a.2006.30.12.1611.
Повний текст джерелаStone, Jack A. "Uncalibrated Helium-Neon Lasers in Length Metrology." NCSLI Measure 4, no. 3 (2009): 52–58. http://dx.doi.org/10.1080/19315775.2009.11721483.
Повний текст джерелаMatsumoto, Hirokazu. "In-Situ Interferometric Metrology with Optical Comb." Journal of Electrical Electronics Engineering 4, no. 1 (2025): 01–10. https://doi.org/10.33140/jeee.04.01.02.
Повний текст джерелаGarcía-Asenjo, Luis, Sergio Baselga, Chris Atkins, and Pascual Garrigues. "Development of a Submillimetric GNSS-Based Distance Meter for Length Metrology." Sensors 21, no. 4 (2021): 1145. http://dx.doi.org/10.3390/s21041145.
Повний текст джерелаZHANG Yujie, 张玉杰, 雷李华 LEI Lihua, 管钰晴 GUAN Yuqing та ін. "纳米长度溯源链融合计量研究". Infrared and Laser Engineering 54, № 5 (2025): 20250074. https://doi.org/10.3788/irla20250074.
Повний текст джерелаBuchta, Zdeněk, Martin Šarbort, Martin Čížek, et al. "System for automatic gauge block length measurement optimized for secondary length metrology." Precision Engineering 49 (July 2017): 322–31. http://dx.doi.org/10.1016/j.precisioneng.2017.03.002.
Повний текст джерелаWieczorowski, Michał, Paweł Pawlus, and Bartosz Gapiński. "Perspectives of modern metrology." Mechanik 92, no. 12 (2019): 767–73. http://dx.doi.org/10.17814/mechanik.2019.12.106.
Повний текст джерелаTANAKA, Shinichi. "Non-Contact 3D Metrology by Multi Wave-Length Interferometer." Journal of the Japan Society for Precision Engineering 85, no. 8 (2019): 695–98. http://dx.doi.org/10.2493/jjspe.85.695.
Повний текст джерелаBlumröder, Ulrike, Ronald Füßl, Thomas Fröhlich, Eberhard Manske, and Rostyslav Mastylo. "FREQUENCY COMB-COUPLED METROLOGY LASERS FOR NANOPOSITIONING AND NANO MEASURING MACHINES." Measuring Equipment and Metrology 82, no. 4 (2021): 36–42. http://dx.doi.org/10.23939/istcmtm2021.04.036.
Повний текст джерелаJing, Ren, and Xin Chang. "A determinate method of metrology attribute benchmark of commercial banks’ management efficiency." PLOS ONE 17, no. 8 (2022): e0272286. http://dx.doi.org/10.1371/journal.pone.0272286.
Повний текст джерелаДисертації з теми "Length metrology"
Barwood, Geoffrey P. "Frequency stabilised laser diodes and their use in length metrology." Thesis, University of Kent, 1992. http://ethos.bl.uk/OrderDetails.do?uin=uk.bl.ethos.314498.
Повний текст джерелаSANTAGATA, ROSA. "Sub-nanometer length metrology for ultra-stable ring laser gyroscopes." Doctoral thesis, Rosa Santagata, 2015. http://hdl.handle.net/11365/1004514.
Повний текст джерелаGedela, Naga Venkata Praveen babu. "MEASUREMENT AND ITS HISTORICAL CONTEXT." Kent State University / OhioLINK, 2008. http://rave.ohiolink.edu/etdc/view?acc_num=kent1226037175.
Повний текст джерелаDonaldson, Claire Louise. "Spine characteristics in sheep : metrology, relationship to meat yield and their genetic parameters." Thesis, University of Edinburgh, 2016. http://hdl.handle.net/1842/20381.
Повний текст джерелаAPRILE, GIULIA. "Directed self-assembly of Di-Block copolymers for a new idea of length standards at the nanoscale." Doctoral thesis, Università del Piemonte Orientale, 2017. http://hdl.handle.net/11579/86901.
Повний текст джерелаHolá, Miroslava. "Pokročilé interferometrické metody pro souřadnicové odměřování." Doctoral thesis, Vysoké učení technické v Brně. Fakulta strojního inženýrství, 2018. http://www.nusl.cz/ntk/nusl-364822.
Повний текст джерелаHopper, David J. "Investigation of laser frequency stabilisation using modulation transfer spectroscopy." Thesis, Queensland University of Technology, 2008. https://eprints.qut.edu.au/16667/1/David_John_Hopper_Thesis.pdf.
Повний текст джерелаHopper, David J. "Investigation of laser frequency stabilisation using modulation transfer spectroscopy." Queensland University of Technology, 2008. http://eprints.qut.edu.au/16667/.
Повний текст джерелаRoyo, Royo Santiago. "Topographic measurements of non-rotationally symmetrical concave surfaces using Ronchi deflectometry." Doctoral thesis, Universitat Politècnica de Catalunya, 1999. http://hdl.handle.net/10803/6745.
Повний текст джерелаКниги з теми "Length metrology"
Fornaro, Arcangelo. Problemi di metrologia nell'opera di Polibio. Edipuglia, 2005.
Знайти повний текст джерелаShevcov, Vyacheslav. Auxiliary historical disciplines: historical Metrology of Russia. INFRA-M Academic Publishing LLC., 2020. http://dx.doi.org/10.12737/1048877.
Повний текст джерелаMalagola, Gianfranco. La metrologia dimensionale per l'industria meccanica: Aspetti teorici e pratici nelle misure di lunghezza per la determinazione delle specifiche geometroche dei prodotti. Augusta-Mortarino, 2004.
Знайти повний текст джерелаSchodel, Rene. Modern Interferometry for Length Metrology: Exploring Limits and Novel Techniques. Iop Publishing Ltd, 2019.
Знайти повний текст джерелаSchödel, Professor René, Dr Florian Pollinger, and Dr Arnold Nicolaus. Modern Interferometry for Length Metrology: Exploring limits and novel techniques. Institute of Physics Publishing, 2018.
Знайти повний текст джерелаOlesko, Kathryn M. Physics and Metrology. Edited by Jed Z. Buchwald and Robert Fox. Oxford University Press, 2017. http://dx.doi.org/10.1093/oxfordhb/9780199696253.013.24.
Повний текст джерелаЧастини книг з теми "Length metrology"
Flügge, Jens, Stefanie Kroker, and Harald Schnatz. "Fundamental Length Metrology." In Handbook of Laser Technology and Applications, 2nd ed. CRC Press, 2021. http://dx.doi.org/10.1201/9781003130123-2.
Повний текст джерелаHebra, Alexius J. "The measurement of length." In The Physics of Metrology. Springer Vienna, 2010. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-211-78381-8_1.
Повний текст джерелаNawrocki, Waldemar. "Standards and Measurements of Length." In Introduction to Quantum Metrology. Springer International Publishing, 2019. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-030-19677-6_10.
Повний текст джерелаNawrocki, Waldemar. "Standards and Measurements of Length." In Introduction to Quantum Metrology. Springer International Publishing, 2015. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-319-15669-9_10.
Повний текст джерелаJiang, Y., Y. Huang, and K. Gao. "Optical Atomic Clock and Laser Applications to Length and Time Metrology." In Handbook of Laser Technology and Applications, 2nd ed. CRC Press, 2021. http://dx.doi.org/10.1201/9781003130123-10.
Повний текст джерелаSoftić, Almira, Hazim Bašić, Samir Lemeš, and Nermina Zaimović-Uzunović. "Research of Traceability of Unit of Length in Metrology System of Bosnia and Herzegovina." In Lecture Notes in Mechanical Engineering. Springer International Publishing, 2019. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-030-18177-2_9.
Повний текст джерелаPuzio, Krzysztof, Michał Wieczorowski, Alejandro Pereira, and Bartosz Gapinski. "A Concept of a Walking Robot with Potential Use in Length and Angle Metrology." In Lecture Notes in Mechanical Engineering. Springer Nature Switzerland, 2024. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-031-62684-5_2.
Повний текст джерела"Fundamental length metrology." In Handbook of Laser Technology and Applications (Three- Volume Set). CRC Press, 2003. http://dx.doi.org/10.1201/noe0750309608-92.
Повний текст джерела"Length Measurement." In Introduction to OPTICAL METROLOGY. CRC Press, 2017. http://dx.doi.org/10.1201/9781315215228-14.
Повний текст джерела"Length Measurement." In Introduction to OPTICAL METROLOGY. CRC Press, 2017. http://dx.doi.org/10.1201/9781315215228-6.
Повний текст джерелаТези доповідей конференцій з теми "Length metrology"
van Zutphen, Robin, Paul Bloemen, Ton van Leeuwen, and Xavier Attendu. "A simple and cost-effective method for precise length measurements of optical fibers." In Optical Sensing and Precision Metrology, edited by Jacob Scheuer. SPIE, 2025. https://doi.org/10.1117/12.3041239.
Повний текст джерелаMAAROUF, Khalil, Nibras ABO ALZAHAB, and Ghada SAAD. "The Effect of EEG Segment's Length on Mental Workload Detection." In 2024 IEEE International Conference on Metrology for eXtended Reality, Artificial Intelligence and Neural Engineering (MetroXRAINE). IEEE, 2024. https://doi.org/10.1109/metroxraine62247.2024.10795942.
Повний текст джерелаCasella, Monica, Francesca Borghesi, Pietro Cipresso, and Davide Marocco. "Analyzing the Impact of Questionnaire Length on Respondent Burden Through Biosensors." In 2024 IEEE International Conference on Metrology for eXtended Reality, Artificial Intelligence and Neural Engineering (MetroXRAINE). IEEE, 2024. https://doi.org/10.1109/metroxraine62247.2024.10796344.
Повний текст джерелаRavisato, Miriam, Francesca Gaia Bitetto, Tamara Lazic, Michele Gristina, Marco Spoto, and Cataldo Pierri. "Length-Weight Relationships of Two Syngnathid Species from the Mar Piccolo of Taranto, Southern Italian Coast." In 2024 IEEE International Workshop on Metrology for the Sea; Learning to Measure Sea Health Parameters (MetroSea). IEEE, 2024. https://doi.org/10.1109/metrosea62823.2024.10765713.
Повний текст джерелаPotzick, James E. "New certified length scale for microfabrication metrology." In Micromachining and Microfabrication '96, edited by Michael T. Postek, Jr. and Craig R. Friedrich. SPIE, 1996. http://dx.doi.org/10.1117/12.250945.
Повний текст джерелаChapman, G. D. "Optical Metrology In Length And Mechanical Standards." In 1986 Quebec Symposium, edited by Chander P. Grover. SPIE, 1986. http://dx.doi.org/10.1117/12.938620.
Повний текст джерелаPi, Jiajing, Li-Zhuan Zhao, Jian-Guo Du, and Wei-Guo Shen. "High-precision laser interferometer for length metrology." In Measurement Technology and Intelligent Instruments, edited by Li Zhu. SPIE, 1993. http://dx.doi.org/10.1117/12.156509.
Повний текст джерелаZhao, L. P., N. Bai, X. Li, Z. P. Fang, A. A. Hein, and Z. W. Zhong. "Special lenslet array with long focal length range for Shack-Hartmann Wavefront Sensor." In Optical Metrology, edited by Wolfgang Osten, Christophe Gorecki, and Erik L. Novak. SPIE, 2007. http://dx.doi.org/10.1117/12.726043.
Повний текст джерелаGrossman, Erich. "Focus-variation microscopy for measurement of surface roughness and autocorrelation length." In SPIE Optical Metrology, edited by Peter Lehmann, Wolfgang Osten, and Armando Albertazzi Gonçalves. SPIE, 2017. http://dx.doi.org/10.1117/12.2271863.
Повний текст джерелаAbolhassani, Mohammad. "Evaluation of focal length of a lens using the Lau effect." In SPIE Optical Metrology, edited by Peter Lehmann, Wolfgang Osten, and Armando Albertazzi Gonçalves. SPIE, 2015. http://dx.doi.org/10.1117/12.2185088.
Повний текст джерела