Увійти

Готові списки джерел за темами / Reflection spectroscopy

Зміст

Статті в журналах
Дисертації
Книги
Частини книг
Тези доповідей конференцій
Звіти організацій

Добірка наукової літератури з теми "Reflection spectroscopy"

Автор: Grafiati

Опубліковано: 28 травня 2022

Оновлено: 31 липня 2025

Оформте джерело за APA, MLA, Chicago, Harvard та іншими стилями

Оберіть тип джерела:

Ознайомтеся зі списками актуальних статей, книг, дисертацій, тез та інших наукових джерел на тему "Reflection spectroscopy".

Біля кожної праці в переліку літератури доступна кнопка «Додати до бібліографії». Скористайтеся нею – і ми автоматично оформимо бібліографічне посилання на обрану працю в потрібному вам стилі цитування: APA, MLA, «Гарвард», «Чикаго», «Ванкувер» тощо.

Також ви можете завантажити повний текст наукової публікації у форматі «.pdf» та прочитати онлайн анотацію до роботи, якщо відповідні параметри наявні в метаданих.

Статті в журналах з теми "Reflection spectroscopy"

1

Mirabella, F. M. "Internal Reflection Spectroscopy." Applied Spectroscopy Reviews 21, no. 1-2 (1985): 45–178. http://dx.doi.org/10.1080/05704928508060428.

Повний текст джерела

Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.

2

Weightman, P., D. S. Martin, R. J. Cole, and T. Farrell. "Reflection anisotropy spectroscopy." Reports on Progress in Physics 68, no. 6 (2005): 1251–341. http://dx.doi.org/10.1088/0034-4885/68/6/r01.

Повний текст джерела

Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.

3

ATWATER, HARRY A., C. C. AHN, S. S. WONG, G. HE, H. YOSHINO, and S. NIKZAD. "ENERGY-FILTERED RHEED AND REELS FOR IN SITU REAL TIME ANALYSIS DURING FILM GROWTH." Surface Review and Letters 04, no. 03 (1997): 525–34. http://dx.doi.org/10.1142/s0218625x9700050x.

Повний текст джерела

Анотація:

Energy-filtered reflection high energy electron diffraction and reflection electron energy loss spectroscopy expand the usefulness of reflection high energy electron diffraction for quantitative structure determination and surface spectroscopy during film growth. Several implementations of energy-filtered reflection high energy electron diffraction are discussed, along with the progress and prospects for structure determination. New developments in parallel detection reflection electron energy loss spectroscopy (PREELS) enable the use of this method to obtain surface-spectroscopic information

Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.

4

OSAWA, Masatoshi. "Total reflection Raman spectroscopy." Journal of the Spectroscopical Society of Japan 37, no. 3 (1988): 207–8. http://dx.doi.org/10.5111/bunkou.37.207.

Повний текст джерела

Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.

5

Brodsky, Anatol M., Lloyd W. Burgess, and Sean A. Smith. "Grating Light Reflection Spectroscopy." Applied Spectroscopy 52, no. 9 (1998): 332A—343A. http://dx.doi.org/10.1366/0003702981944995.

Повний текст джерела

Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.

6

ITO, Masatoki. "Infrared Reflection Absorption Spectroscopy." Hyomen Kagaku 13, no. 2 (1992): 88–95. http://dx.doi.org/10.1380/jsssj.13.88.

Повний текст джерела

Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.

7

Egawa, T., Y. Okimoto, R. Fukaya, et al. "Femtosecond Reflection Spectroscopy in La1.5Sr0.5CoO4." Acta Physica Polonica A 121, no. 2 (2012): 307–9. http://dx.doi.org/10.12693/aphyspola.121.307.

Повний текст джерела

Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.

8

Lilledahl, Magnus B., Olav A. Haugen, Marianne Barkost, and Lars O. Svaasand. "Reflection spectroscopy of atherosclerotic plaque." Journal of Biomedical Optics 11, no. 2 (2006): 021005. http://dx.doi.org/10.1117/1.2186332.

Повний текст джерела

Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.

9

Macdonald, B. F., J. S. Law, and R. J. Cole. "Azimuth-dependent reflection anisotropy spectroscopy." Journal of Applied Physics 93, no. 6 (2003): 3320–27. http://dx.doi.org/10.1063/1.1544645.

Повний текст джерела

Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.

10

Harrick, N. J. "Nanosampling via Internal Reflection Spectroscopy." Applied Spectroscopy 41, no. 1 (1987): 1–2. http://dx.doi.org/10.1366/0003702874868052.

Повний текст джерела

Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.

Більше джерел

Дисертації з теми "Reflection spectroscopy"

1

Anderson, Brian Benjamin. "Grating light reflection spectroscopy /." Thesis, Connect to this title online; UW restricted, 1996. http://hdl.handle.net/1773/8600.

Повний текст джерела

Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.

2

Maslin, Keith Alan. "Far infrared reflection spectroscopy of solids." Thesis, Royal Holloway, University of London, 1986. http://repository.royalholloway.ac.uk/items/9e8b5aa1-f65f-49de-b10b-18bded0da226/1/.

Повний текст джерела

Анотація:

The optical properties of a selection of crystalline solids have been studied in the far infrared by dispersive Fourier transform spectroscopy. This technique allows both the amplitude and phase to be determined without any approximation. The measurements were performed on a modified Michelson interferometer, in which one of the mirrors is replaced with the sample to obtain the dispersive interferogram. The instrument was improved by replacing the stepper motor drive with a hydraulic piston and a high precision linear bearing. Sampling control was obtained by monitoring the cosine fringes from

Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.

3

Miyoshi, Yasuyuki. "Development of point-contact Andreev reflection spectroscopy." Thesis, Imperial College London, 2006. http://ethos.bl.uk/OrderDetails.do?uin=uk.bl.ethos.441970.

Повний текст джерела

Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.

4

El-Gohary, Ahmed Ramadan. "Far infrared reflection spectroscopy of layered semiconductors." Thesis, Royal Holloway, University of London, 1989. http://repository.royalholloway.ac.uk/items/f2362bc6-d941-472f-bf1e-2249df3ca6e7/1/.

Повний текст джерела

Анотація:

The optical properties of a selection of layered semiconductor samples have been studied in the far-infrared by reflection dispersive Fourier transform spectroscopy (DFTS) and attenuated total reflection (ATR) spectroscopy in DFTS the reference mirror in a two-beam Michelson interferometer is replaced with the sample to obtain a dispersive interferogram. This technique allows both the amplitude and phase to be measured directly. The amplitude and phase reflectivities of a variety of epitaxial layers (including a GaAs/AlAs superlattice)on GaAs substrates are presented. The measurements on the e

Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.

5

Wang, Yang. "CdS Reflection Coefficient Determination via Photocurrent Spectroscopy." Bowling Green State University / OhioLINK, 2008. http://rave.ohiolink.edu/etdc/view?acc_num=bgsu1219593815.

Повний текст джерела

Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.

6

Tarof, Lawrence E. (Lawrence Edward) Carleton University Dissertation Engineering Electrical. "Epitaxial layer thickness measurements using reflection spectroscopy." Ottawa, 1989.

Знайти повний текст джерела

Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.

7

Lane, Paul David. "Nanoscale surface modification studied by reflection anisotropy spectroscopy." Thesis, University of Edinburgh, 2009. http://hdl.handle.net/1842/5660.

Повний текст джерела

Анотація:

The development and control of nanoscale properties is a major goal in science and technology; for the development of such technologies it is important that there are experimental techniques which allow the monitoring of development processes in real time and in a range of environments. With this in mind much effort has been invested in the development of surface sensitive optical probes. One such technique, reflection anisotropy spectroscopy (RAS), has been applied successfully to a number of different problems since its development in the mid 1980’s. RAS as a surface specific technique is ve

Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.

8

Sieberhagen, Rheinhardt Hendrik. "Optical characterization of semiconductors using photo reflection spectroscopy." Diss., Pretoria : [s.n.], 2002. http://upetd.up.ac.za/thesis/available/etd-11242005-142711/.

Повний текст джерела

Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.

9

Tojo, Satoshi. "Attenuated total reflection spectroscopy on alkali-metal atoms." 京都大学 (Kyoto University), 2003. http://hdl.handle.net/2433/148543.

Повний текст джерела

Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.

10

Kniffin, Gabriel Paul. "Model-Based Material Parameter Estimation for Terahertz Reflection Spectroscopy." PDXScholar, 2010. https://pdxscholar.library.pdx.edu/open_access_etds/241.

Повний текст джерела

Анотація:

Many materials such as drugs and explosives have characteristic spectral signatures in the terahertz (THz) band. These unique signatures imply great promise for spectral detection and classification using THz radiation. While such spectral features are most easily observed in transmission, real-life imaging systems will need to identify materials of interest from reflection measurements, often in non-ideal geometries. One important, yet commonly overlooked source of signal corruption is the etalon effect - interference phenomena caused by multiple reflections from dielectric layers of packagin

Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.

Більше джерел

Книги з теми "Reflection spectroscopy"

1

Milosevic, Milan. Internal reflection and ATR spectroscopy. Wiley, 2012.

Знайти повний текст джерела

Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.

2

Milosevic, Milan. Internal reflection and ATR spectroscopy. Wiley, 2012.

Знайти повний текст джерела

Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.

3

Mirabella, Francis M. Internal reflection spectroscopy: Review and supplement. Edited by Harrick N. J. Harrick Scientific Corporation, 1985.

Знайти повний текст джерела

Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.

4

Milosevic, Milan. Internal Reflection and ATR Spectroscopy. John Wiley & Sons, Inc., 2012. http://dx.doi.org/10.1002/9781118309742.

Повний текст джерела

Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.

5

Klockenkämper, R. Total-reflection X-ray fluorescence analysis. Wiley, 1997.

Знайти повний текст джерела

Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.

6

Räty, Jukka, Kai-Erik Peiponen, and Toshimitsu Asakura. UV-Visible Reflection Spectroscopy of Liquids. Springer Berlin Heidelberg, 2004. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-540-45093-1.

Повний текст джерела

Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.

7

Räty, Jukka. UV-Visible Reflection Spectroscopy of Liquids. Springer Berlin Heidelberg, 2004.

Знайти повний текст джерела

Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.

8

M, Mirabella Francis, ed. Internal reflection spectroscopy: Theory and applications. Marcel Dekker, 1993.

Знайти повний текст джерела

Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.

9

Klockenkämper, Reinhold. Total-reflection X-ray fluorescence analysis and related methods. John Wiley and Sons, 2014.

Знайти повний текст джерела

Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.

10

Wang, Zhong Lin. Reflection electron microscopy and spectroscopy for surface analysis. Cambridge University Press, 1996.

Знайти повний текст джерела

Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.

Більше джерел

Частини книг з теми "Reflection spectroscopy"

1

de Fornel, Frédärique. "Internal-Reflection Spectroscopy." In Springer Series in Optical Sciences. Springer Berlin Heidelberg, 2001. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-540-48913-9_7.

Повний текст джерела

Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.

2

Suëtaka, W., and John T. Yates. "Internal Reflection Spectroscopy." In Surface Infrared and Raman Spectroscopy. Springer US, 1995. http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4899-0942-8_3.

Повний текст джерела

Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.

3

Gooch, Jan W. "Reflection–Absorption Spectroscopy." In Encyclopedic Dictionary of Polymers. Springer New York, 2011. http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4419-6247-8_9860.

Повний текст джерела

Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.

4

Gooch, Jan W. "Internal Reflection Spectroscopy." In Encyclopedic Dictionary of Polymers. Springer New York, 2011. http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4419-6247-8_6417.

Повний текст джерела

Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.

5

Robles-Kelly, Antonio, and Cong Phuoc Huynh. "Reflection Geometry." In Imaging Spectroscopy for Scene Analysis. Springer London, 2013. http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4471-4652-0_9.

Повний текст джерела

Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.

6

Hayden, Brian E. "Reflection Absorption Infrared Spectroscopy." In Vibrational Spectroscopy of Molecules on Surfaces. Springer US, 1987. http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4684-8759-6_7.

Повний текст джерела

Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.

7

Suëtaka, W., and John T. Yates. "Infrared External Reflection Spectroscopy." In Surface Infrared and Raman Spectroscopy. Springer US, 1995. http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4899-0942-8_2.

Повний текст джерела

Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.

8

Hasegawa, Takeshi. "Infrared External-Reflection Spectroscopy." In Compendium of Surface and Interface Analysis. Springer Singapore, 2018. http://dx.doi.org/10.1007/978-981-10-6156-1_47.

Повний текст джерела

Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.

9

Yoshinobu, Jun. "Infrared Reflection–Absorption Spectroscopy." In Compendium of Surface and Interface Analysis. Springer Singapore, 2018. http://dx.doi.org/10.1007/978-981-10-6156-1_48.

Повний текст джерела

Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.

10

Bambi, Cosimo. "X-Ray Reflection Spectroscopy." In Black Holes: A Laboratory for Testing Strong Gravity. Springer Singapore, 2017. http://dx.doi.org/10.1007/978-981-10-4524-0_8.

Повний текст джерела

Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.

Тези доповідей конференцій з теми "Reflection spectroscopy"

1

Smeesters, Lien. "Towards a non-destructive and sensitive food quality inspection using broadband diffuse reflection spectroscopy and machine learning." In Applied Industrial Spectroscopy. Optica Publishing Group, 2024. https://doi.org/10.1364/ais.2024.aw3a.3.

Повний текст джерела

Анотація:

Diffuse reflection spectroscopy (400nm–1700nm) offers a non-destructive and accurate food quality and safety evaluation. Optimal results are achieved after co-optimization of the spectroscopic measurement procedure and machine learning analysis, showing classification performances exceeding 92%.

Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.

2

Tricanji, Claudia, Steven van den Berg, and Lien Smeesters. "Characterization of different dietary fibers with Near-Infrared spectroscopy and wavelength ratio analysis." In Applied Industrial Spectroscopy. Optica Publishing Group, 2024. https://doi.org/10.1364/ais.2024.atu1g.4.

Повний текст джерела

Анотація:

We demonstrate that near-infrared (NIR) reflection spectroscopy combined with a wavelength ratio analysis allows for consistent distinguishing different types of dietary fibers. This non-destructive dietary fiber analysis is promising for improved nutritional labeling.

Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.

3

Amarasinghe, Yasith, Vincent Goumarre, Martin Lahn Henriksen, Mogens Hinge, and Pernille Klarskov. "THz Reflection Spectroscopy for Linear Scanning of Plastics." In 2024 49th International Conference on Infrared, Millimeter, and Terahertz Waves (IRMMW-THz). IEEE, 2024. http://dx.doi.org/10.1109/irmmw-thz60956.2024.10697907.

Повний текст джерела

Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.

4

Haddad, Dhia, Najoua Essoukri Ben Amara, and Olfa Kanoun. "Generalization of Reflection Modeling in Complex Cable Structure with Impedance Mismatches." In 2024 International Workshop on Impedance Spectroscopy (IWIS). IEEE, 2024. https://doi.org/10.1109/iwis63047.2024.10847249.

Повний текст джерела

Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.

5

Lowry, Seth N., Brad D. Price, Ian D. Hartley, Mark R. A. Shegelski, and Matt Reid. "Terahertz Reflection Imaging of Concealed Interfaces." In Applied Industrial Spectroscopy. OSA, 2021. http://dx.doi.org/10.1364/ais.2021.aw5g.3.

Повний текст джерела

Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.

6

Laun, T., M. Muenzer, U. Wenzel, S. Princz, and M. Hessling. "Cartilage Analysis by Reflection Spectroscopy." In European Conference on Biomedical Optics. OSA, 2015. http://dx.doi.org/10.1364/ecbo.2015.95372b.

Повний текст джерела

Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.

7

Laun, T., M. Muenzer, U. Wenzel, S. Princz, and M. Hessling. "Cartilage analysis by reflection spectroscopy." In European Conferences on Biomedical Optics, edited by J. Quincy Brown and Volker Deckert. SPIE, 2015. http://dx.doi.org/10.1117/12.2196660.

Повний текст джерела

Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.

8

Tobin, Mark J., Keith R. Bambery, Danielle E. Martin, et al. "Attenuated Total Reflection FTIR Microspectroscopy at the Australian Synchrotron." In Fourier Transform Spectroscopy. OSA, 2016. http://dx.doi.org/10.1364/fts.2016.ftu2e.5.

Повний текст джерела

Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.

9

Sudduth, Amanda S. M., Benjamin S. Goldschmidt, Edward B. Samson, Paul J. D. Whiteside, and John A. Viator. "Total internal reflection photoacoustic detection spectroscopy." In SPIE BiOS, edited by Alexander A. Oraevsky and Lihong V. Wang. SPIE, 2011. http://dx.doi.org/10.1117/12.875313.

Повний текст джерела

Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.

10

Fitch, Michael J., Caroline Dodson, Yunqing Chen, Haibo Liu, X. C. Zhang, and Robert Osiander. "Terahertz reflection spectroscopy for explosives detection." In Defense and Security, edited by R. Jennifer Hwu, Dwight L. Woolard, and Mark J. Rosker. SPIE, 2005. http://dx.doi.org/10.1117/12.604763.

Повний текст джерела

Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.

Звіти організацій з теми "Reflection spectroscopy"

1

Thorsos, Eric I. Terahertz Reflection Spectroscopy for Identification of Explosive Devices. Defense Technical Information Center, 2012. http://dx.doi.org/10.21236/ada573590.

Повний текст джерела

Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.

2

Cocks, J. F. C., P. A. Butler, and K. J. Cann. Spectroscopy of reflection-asymmetric nuclei using multinucleon transfer reactions. Office of Scientific and Technical Information (OSTI), 1996. http://dx.doi.org/10.2172/414386.

Повний текст джерела

Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.

3

Kniffin, Gabriel. Model-Based Material Parameter Estimation for Terahertz Reflection Spectroscopy. Portland State University Library, 2000. http://dx.doi.org/10.15760/etd.241.

Повний текст джерела

Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.

4

R Castelli, P Persans, W Strohmayer, and V Parkinson. Optical Reflection Spectroscopy of Thick Corrosion Layers on 304 Stainless Steel. Office of Scientific and Technical Information (OSTI), 2006. http://dx.doi.org/10.2172/881303.

Повний текст джерела

Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.

5

Greenwood, Margaret S., and Salahuddin Ahmed. Investigating Ultrasonic Diffraction Grating Spectroscopy and Reflection Techniques for Characterizing Slurry Properties. Office of Scientific and Technical Information (OSTI), 2006. http://dx.doi.org/10.2172/895839.

Повний текст джерела

Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.

6

Greenwood, Margaret S., Leonard J. Bond, Lloyd Burgess, and Anatol Brodsky. Investigating Ultrasonic Diffraction Grating Spectroscopy and Reflection Techniques for Characterizing Slurry Properties. Office of Scientific and Technical Information (OSTI), 2002. http://dx.doi.org/10.2172/834771.

Повний текст джерела

Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.

7

Greenwood, Margaret S., Leonard J. Bond, Lloyd Burgess, and Anatol Brodsky. Investigating Ultrasonic Diffraction Grating Spectroscopy and Reflection Techniques for Characterizing Slurry Properties. Office of Scientific and Technical Information (OSTI), 2003. http://dx.doi.org/10.2172/834772.

Повний текст джерела

Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.

8

Greenwood, Margaret S., and Lloyd Burgess. Investigating Ultrasonic Diffraction Grating Spectroscopy and Reflection Techniques for Characterizing Slurry Properties. Office of Scientific and Technical Information (OSTI), 2004. http://dx.doi.org/10.2172/839322.

Повний текст джерела

Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.

9

Burgess, L. W., and A. M. Brodsky. Investigating Ultrasonic Diffraction Grating Spectroscopy and Reflection Techniques for Characterizing Slurry Properties. Office of Scientific and Technical Information (OSTI), 2005. http://dx.doi.org/10.2172/861452.

Повний текст джерела

Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.

10

Takaura, Norikatsu. Synchrotron Radiation Total Reflection X-ray Fluorescence Spectroscopy for Microcontamination Analysis on Silicon Wafer Surfaces. Office of Scientific and Technical Information (OSTI), 1997. http://dx.doi.org/10.2172/784854.

Повний текст джерела

Стилі APA, Harvard, Vancouver, ISO та ін.

Ми пропонуємо знижки на всі преміум-плани для авторів, чиї праці увійшли до тематичних добірок літератури. Зв'яжіться з нами, щоб отримати унікальний промокод!