Добірка наукової літератури з теми "(Sem) Scanning"
Оформте джерело за APA, MLA, Chicago, Harvard та іншими стилями
Ознайомтеся зі списками актуальних статей, книг, дисертацій, тез та інших наукових джерел на тему "(Sem) Scanning".
Біля кожної праці в переліку літератури доступна кнопка «Додати до бібліографії». Скористайтеся нею – і ми автоматично оформимо бібліографічне посилання на обрану працю в потрібному вам стилі цитування: APA, MLA, «Гарвард», «Чикаго», «Ванкувер» тощо.
Також ви можете завантажити повний текст наукової публікації у форматі «.pdf» та прочитати онлайн анотацію до роботи, якщо відповідні параметри наявні в метаданих.
Статті в журналах з теми "(Sem) Scanning"
Ichinokawa, Takeo. "Scanning Low-Energy Electron Diffraction Microscopy Combined with Scanning Tunnling Microscopy." Proceedings, annual meeting, Electron Microscopy Society of America 48, no. 1 (1990): 302–3. http://dx.doi.org/10.1017/s0424820100180264.
Повний текст джерелаSweet, Walter C. "Scanning electron microscopy and photomicrography." Paleontological Society Special Publications 4 (1989): 351–55. http://dx.doi.org/10.1017/s2475262200005347.
Повний текст джерелаCollins, George J. "A Scanning Probe Microscope in My Scanning Electron Microscope?" Microscopy Today 3, no. 2 (1995): 22–23. http://dx.doi.org/10.1017/s1551929500063112.
Повний текст джерелаBalk, Ludwig Josef. "Thermal- and acoustic-wave techniques in scanning electron microscopy." Canadian Journal of Physics 64, no. 9 (1986): 1238–46. http://dx.doi.org/10.1139/p86-216.
Повний текст джерелаMüllerová, Ilona, Kenji Matsuda, Petr Hrnčiřík, and Luděk Frank. "Enhancement of SEM to scanning LEEM." Surface Science 601, no. 20 (2007): 4768–73. http://dx.doi.org/10.1016/j.susc.2007.05.042.
Повний текст джерелаLI, Y. L., Z. R. HUANG, Q. D. ZHONG, C. CHEN, and Y. X. XU. "SECM APPLIED FOR RESEARCHING THE MICROSCOPIC MORPHOLOGY AND CORROSION BEHAVIOR OF ENAMEL COATING ON MILD STEEL IN AQUEOUS CHLORIDE SOLUTIONS." Surface Review and Letters 25, no. 05 (2018): 1850094. http://dx.doi.org/10.1142/s0218625x18500944.
Повний текст джерелаHolm, Jason. "A Brief Overview of Scanning Transmission Electron Microscopy in a Scanning Electron Microscope." EDFA Technical Articles 23, no. 4 (2021): 18–26. http://dx.doi.org/10.31399/asm.edfa.2021-4.p018.
Повний текст джерелаWyler, A., and G. Golan. "Scanning acoustic microscopy investigation of melted collagen in thermoplastic leather." Journal of Materials Research 14, no. 6 (1999): 2446–48. http://dx.doi.org/10.1557/jmr.1999.0328.
Повний текст джерелаSawyer, Linda C. "SEM of polymer materials." Proceedings, annual meeting, Electron Microscopy Society of America 45 (August 1987): 426–29. http://dx.doi.org/10.1017/s0424820100126913.
Повний текст джерелаWang, Zhi Gang, Lei Shi, Yong Xu, and Qi Lei Sun. "Scanning Electron Microscope in Metallurgical Experiment." Applied Mechanics and Materials 556-562 (May 2014): 275–77. http://dx.doi.org/10.4028/www.scientific.net/amm.556-562.275.
Повний текст джерелаДисертації з теми "(Sem) Scanning"
McKeown, Karen. "Using scanning electron microscopy (SEM) and transmission electron nncroscopy." Thesis, Queen's University Belfast, 2008. http://ethos.bl.uk/OrderDetails.do?uin=uk.bl.ethos.492019.
Повний текст джерелаLiu, Yangmingyue. "Scanning Electron Microscopy To Probe Working Nanowire Gas Sensors." OpenSIUC, 2013. https://opensiuc.lib.siu.edu/theses/1256.
Повний текст джерелаÊ¿AzÌ£iÌ„m, MuhÌ£ammad. "Ultra high vacuum-scanning electron microscope studies of Cs/Si(100)-2x1." Thesis, University of Sussex, 1994. http://ethos.bl.uk/OrderDetails.do?uin=uk.bl.ethos.385984.
Повний текст джерелаFarley, A. N. "An environmental control stage for the scanning electron microscope." Thesis, University of Bristol, 1987. http://ethos.bl.uk/OrderDetails.do?uin=uk.bl.ethos.379674.
Повний текст джерелаJenei, István Zoltán. "Scanning electron microscopy (SEM) analysis of tribofilms enhanced by fullerene-like nanoparticles." Licentiate thesis, Stockholms universitet, Fysikum, 2012. http://urn.kb.se/resolve?urn=urn:nbn:se:su:diva-82153.
Повний текст джерелаMacDonald, Kinsey Elizabeth. "Analysis of Frozen Desserts Using Low-Temperature Scanning Electron Microscopy (LT-SEM)." Thesis, Clemson University, 2019. http://pqdtopen.proquest.com/#viewpdf?dispub=10982077.
Повний текст джерелаHrubanová, Kamila. "Scanning Electron Microscopy and its Applications for Sensitive Samples." Doctoral thesis, Vysoké učení technické v Brně. Fakulta strojního inženýrství, 2019. http://www.nusl.cz/ntk/nusl-409082.
Повний текст джерелаKothari, Anuja. "SEM Assessment of the Enamel Surface After Debonding of Ceramic Brackets." Thesis, NSUWorks, 2015. https://nsuworks.nova.edu/hpd_cdm_stuetd/72.
Повний текст джерелаSkoupý, Radim. "Quantitative Imaging in Scanning Electron Microscope." Doctoral thesis, Vysoké učení technické v Brně. Fakulta strojního inženýrství, 2020. http://www.nusl.cz/ntk/nusl-432610.
Повний текст джерелаKawano, Kayoko. "Application of the ultra high resolution, low voltage scanning electron microscopy in the materials science." Thesis, University of Manchester, 2012. https://www.research.manchester.ac.uk/portal/en/theses/application-of-the-ultra-high-resolution-low-voltage-scanning-electron-microscopy-in-the-materials-science(341c7955-1da7-49be-9dd3-a3f3248bae05).html.
Повний текст джерелаКниги з теми "(Sem) Scanning"
Christensen, Knud Ib. SEM-studies of epidermal patterns of petals in the angiosperms. Council for Nordic Publications in Botany, 1998.
Знайти повний текст джерелаAmerom, H. W. J. van. and Lagaaij Robert 1924-, eds. Sem atlas of type and figured material from Robert Lagaaij's "The pliocene bryozoa of the Low Countries", (1952). s.n.], 1989.
Знайти повний текст джерелаCentre, Bhabha Atomic Research, ed. Sem measurement of stretched zone width (szw) for determination of initiation fracture toughness in ductile materials. Bhabha Atomic Research Centre, 2005.
Знайти повний текст джерелаDeGroot, Rodney C. Sem X-ray microanalysis of tracheid cell walls in southern yellow pine sapwood treated with water-dispersible pentachlorophenol. USDA, Forest Service, Forest Products Laboratory, 1986.
Знайти повний текст джерелаDeGroot, Rodney C. Sem X-ray microanalysis of tracheid cell walls in southern yellow pine sapwood treated with water-dispersible pentachlorophenol. USDA, Forest Service, Forest Products Laboratory, 1986.
Знайти повний текст джерелаDeGroot, Rodney C. Sem X-ray microanalysis of tracheid cell walls in southern yellow pine sapwood treated with water-dispersible pentachlorophenol. USDA, Forest Service, Forest Products Laboratory, 1986.
Знайти повний текст джерелаDeGroot, Rodney C. Sem X-ray microanalysis of tracheid cell walls in southern yellow pine sapwood treated with water-dispersible pentachlorophenol. USDA, Forest Service, Forest Products Laboratory, 1986.
Знайти повний текст джерелаDeGroot, Rodney C. Sem X-ray microanalysis of tracheid cell walls in southern yellow pine sapwood treated with water-dispersible pentachlorophenol. USDA, Forest Service, Forest Products Laboratory, 1986.
Знайти повний текст джерелаDeGroot, Rodney C. Sem X-ray microanalysis of tracheid cell walls in southern yellow pine sapwood treated with water-dispersible pentachlorophenol. USDA, Forest Service, Forest Products Laboratory, 1986.
Знайти повний текст джерелаEgon, Marx, and National Institute of Standards and Technology (U.S.), eds. User's manual for the program MONSEL-1: Monte Carlo simulation of SEM signals for linewidth metrology. U.S. Dept. of Commerce, Technology Administration, National Institute of Standards and Technology, 1994.
Знайти повний текст джерелаЧастини книг з теми "(Sem) Scanning"
Brodusch, Nicolas, Hendrix Demers, and Raynald Gauvin. "Low Voltage SEM." In Field Emission Scanning Electron Microscopy. Springer Singapore, 2017. http://dx.doi.org/10.1007/978-981-10-4433-5_4.
Повний текст джерелаFrahm, Ellery. "Scanning Electron Microscopy (SEM)." In Encyclopedia of Geoarchaeology. Springer Netherlands, 2016. http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4020-4409-0_25.
Повний текст джерелаCimmino, S., E. Martuscelli, and C. Silvestre. "Scanning Electron Microscopy (SEM)." In Test Procedures for the Blood Compatibility of Biomaterials. Springer Netherlands, 1993. http://dx.doi.org/10.1007/978-94-011-1640-4_24.
Повний текст джерелаNi, Chaoying. "Scanning Electron Microscopy (SEM)." In Encyclopedia of Tribology. Springer US, 2013. http://dx.doi.org/10.1007/978-0-387-92897-5_1217.
Повний текст джерелаDatye, Abhaya, and Andrew DeLaRiva. "Scanning Electron Microscopy (SEM)." In Springer Handbook of Advanced Catalyst Characterization. Springer International Publishing, 2023. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-031-07125-6_18.
Повний текст джерелаSateesh Kumar, Ch, M. Muralidhar Singh, and Ram Krishna. "Scanning Electron Microscope (SEM)." In Advanced Materials Characterization. CRC Press, 2023. http://dx.doi.org/10.1201/9781003340546-6.
Повний текст джерелаGooch, Jan W. "Scanning Electron Microscope (SEM)." In Encyclopedic Dictionary of Polymers. Springer New York, 2011. http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4419-6247-8_14743.
Повний текст джерелаUl-Hamid, Anwar. "Specialized SEM Techniques." In A Beginners' Guide to Scanning Electron Microscopy. Springer International Publishing, 2018. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-319-98482-7_5.
Повний текст джерелаGoldstein, Joseph I., Dale E. Newbury, Joseph R. Michael, Nicholas W. M. Ritchie, John Henry J. Scott, and David C. Joy. "SEM Imaging Checklist." In Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis. Springer New York, 2017. http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4939-6676-9_14.
Повний текст джерелаGoldstein, Joseph I., Dale E. Newbury, Joseph R. Michael, Nicholas W. M. Ritchie, John Henry J. Scott, and David C. Joy. "SEM Case Studies." In Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis. Springer New York, 2017. http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4939-6676-9_15.
Повний текст джерелаТези доповідей конференцій з теми "(Sem) Scanning"
Bialas, Marcin. "Portable Scanning and Acquisition System for Miniature SEM." In 2024 37th International Vacuum Nanoelectronics Conference (IVNC). IEEE, 2024. http://dx.doi.org/10.1109/ivnc63480.2024.10652447.
Повний текст джерелаHowell, Andrew G. "Application of Scanning Electron Microscopy in Conducting Boiler Tube Failure Investigations." In CORROSION 1990. NACE International, 1990. https://doi.org/10.5006/c1990-90188.
Повний текст джерелаStegmann, Heiko, and Flavio Cognigni. "Few-Shot AI Segmentation of Semiconductor Device FIB-SEM Tomography Data." In ISTFA 2024. ASM International, 2024. http://dx.doi.org/10.31399/asm.cp.istfa2024p0013.
Повний текст джерелаGostin, Irina Neta. "USING SCANNING ELECTRON MICROSCOPY TECHNIQUES IN THE ANALYSIS OF STRUCTURAL DIVERSITY OF VARIOUS PLANTS ORGANS." In 24th SGEM International Multidisciplinary Scientific GeoConference 2024. STEF92 Technology, 2024. https://doi.org/10.5593/sgem2024v/4.2/s19.51.
Повний текст джерелаHoracek, Gary. "Biocorrosion in the Oilfield I. Experimental Methods Development; Scanning Electron Microscopy Technique." In CORROSION 1988. NACE International, 1988. https://doi.org/10.5006/c1988-88086.
Повний текст джерелаVan Leer, Brandon, Cedric Bouchet-Marquis, and Huikai Cheng. "Three-dimensional characterization of Gd nanoparticles using STEM-in-SEM tomography in a dual-beam FIB-SEM." In SPIE Scanning Microscopies, edited by Michael T. Postek, Dale E. Newbury, S. Frank Platek, and Tim K. Maugel. SPIE, 2015. http://dx.doi.org/10.1117/12.2195530.
Повний текст джерелаNadeau, Jay, Randall Mielke, and Samuel Clarke. "Quantum dot conjugates for SEM of bacterial communities." In SPIE Scanning Microscopy, edited by Michael T. Postek, Dale E. Newbury, S. Frank Platek, and David C. Joy. SPIE, 2009. http://dx.doi.org/10.1117/12.824201.
Повний текст джерелаYoung, Richard, Sander Henstra, Jarda Chmelik, et al. "XHR SEM: enabling extreme high resolution scanning electron microscopy." In SPIE Scanning Microscopy, edited by Michael T. Postek, Dale E. Newbury, S. Frank Platek, and David C. Joy. SPIE, 2009. http://dx.doi.org/10.1117/12.824749.
Повний текст джерелаMilani, Marziale, Claudia Brundu, Grazia Santisi, Claudio Savoia, and Francesco Tatti. "FIB/SEM cell sectioning for intracellular metal granules characterization." In SPIE Scanning Microscopy, edited by Michael T. Postek, Dale E. Newbury, S. Frank Platek, and David C. Joy. SPIE, 2009. http://dx.doi.org/10.1117/12.821796.
Повний текст джерелаGhosh, Nabarun, and Don W. Smith. "Characterization of some biological specimens using TEM and SEM." In SPIE Scanning Microscopy, edited by Michael T. Postek, Dale E. Newbury, S. Frank Platek, and David C. Joy. SPIE, 2009. http://dx.doi.org/10.1117/12.821825.
Повний текст джерелаЗвіти організацій з теми "(Sem) Scanning"
Hadjipansyis, George C. DURIP 00 Scanning Electron Microscope (SEM). Defense Technical Information Center, 2001. http://dx.doi.org/10.21236/ada388472.
Повний текст джерелаSickafus, Kurt. History of Scanning Electron Microscopy (SEM). Office of Scientific and Technical Information (OSTI), 2024. http://dx.doi.org/10.2172/2372668.
Повний текст джерелаZaka, F. Scanning Electron Microscopy (SEM) Procedure for HE Powders on a Zeiss Sigma HD VP SEM. Office of Scientific and Technical Information (OSTI), 2016. http://dx.doi.org/10.2172/1335762.
Повний текст джерелаZaka, Fowzia. Scanning Electron Microscopy (SEM) Procedure for HE Powders on a LEO 438VP System. Office of Scientific and Technical Information (OSTI), 2016. http://dx.doi.org/10.2172/1259748.
Повний текст джерелаZaka, Fowzia. Scanning Electron Microscopy (SEM) Procedure for HE Powders on a LEO 438VP System. Office of Scientific and Technical Information (OSTI), 2016. http://dx.doi.org/10.2172/1259775.
Повний текст джерелаสุขวัฒนาสินิทธิ์, มงคล. การเตรียมและการศึกษาสมบัติของของเกลือของไคโตซานกับสารกำจัดวัชพืชที่เป็นกรด : รายงานฉบับสมบูรณ์. จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย, 2001. https://doi.org/10.58837/chula.res.2001.42.
Повний текст джерелаรุจิรวนิช, รัตนา. การเตรียมแผ่นเส้นใยเซลลูโลสที่สังเคราะห์จากแบคทีเรียโดยมีอนุภาคระดับนาโนเมตรของโลหะเงินและผงแม่เหล็กเพื่อประยุกต์ใช้เป็นวัสดุป้องกันการรบกวนจากคลื่นแม่เหล็กไฟฟ้า : รายงานผลการวิจัย. จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย, 2012. https://doi.org/10.58837/chula.res.2012.72.
Повний текст джерелаWendelberger, James. Pixel Interrogation for Scanning Electron Microscope (SEM) Data of Features Betelgeuse, Acrux, and Others on Samples of the Interior Surface of 3013 Containers. Office of Scientific and Technical Information (OSTI), 2023. http://dx.doi.org/10.2172/1958961.
Повний текст джерелаสิริภัทราวรรณ, อุบลรัตน์, นุชจรินทร์ เหลืองสอาด та หทัยกานต์ มนัสปิยะ. การพัฒนากระดาษเคลือบดินเหนียวนาโนสำหรับยืดอายุผลิตผลทางการเกษตร : รายงานการวิจัย. จุฬาลงกรณ์มหาวิทยาลัย, 2013. https://doi.org/10.58837/chula.res.2013.51.
Повний текст джерелаAbdul Rahim, Nor Azura, Noor Syazril Jafri, and Muna'amirah Mohamad. DEVELOPMENT OF OIL ABSORBENT MAT FROM WASTE NBR GLOVES. Penerbit Universiti Malaysia Perlis, 2023. http://dx.doi.org/10.58915/techrpt2023.003.
Повний текст джерела