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  1. Dissertations / Theses

Academic literature on the topic 'Aléas~logiques (SEU)'

Author: Grafiati
Published: 25 May 2024
Last updated: 31 July 2025

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Dissertations / Theses on the topic "Aléas~logiques (SEU)"

1

Assoum, Ammar. "Etude de la tolérance aux aléas logiques des réseaux de neurones artificiels." Phd thesis, Grenoble INPG, 1997. http://tel.archives-ouvertes.fr/tel-00004913.

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Abstract:
Avec l'accroissement de la complexité des traitements effectués à bord des véhicules spatiaux et l'utilisation de circuits de plus en plus intégrés, le phénomène d'upset devient de plus en plus critique. En effet, ce phénomène se traduit par le basculement intempestif du contenu d'un point mémoire suite à l'impact d'une particule lourde dans des zones sensibles du circuit. Ses conséquences sont parfois fatales et peuvent conduire à la perte voire à la destruction de l'engin sur lequel il a eu lieu. Les réseaux de neurones artificiels constituent une nouvelle approche de traitement de l'informa
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2

Malherbe, Victor. "Multi-scale modeling of radiation effects for emerging space electronics : from transistors to chips in orbit." Thesis, Aix-Marseille, 2018. http://www.theses.fr/2018AIXM0753/document.

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Abstract:
En raison de leur impact sur la fiabilité des systèmes, les effets du rayonnement cosmique sur l’électronique ont été étudiés dès le début de l’exploration spatiale. Néanmoins, de récentes évolutions industrielles bouleversent les pratiques dans le domaine, les technologies standard devenant de plus en plus attrayantes pour réaliser des circuits durcis aux radiations. Du fait de leurs fréquences élevées, des nouvelles architectures de transistor et des temps de durcissement réduits, les puces fabriquées suivant les derniers procédés CMOS posent de nombreux défis. Ce travail s’attelle donc à la
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3

Malherbe, Victor. "Multi-scale modeling of radiation effects for emerging space electronics : from transistors to chips in orbit." Electronic Thesis or Diss., Aix-Marseille, 2018. http://www.theses.fr/2018AIXM0753.

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Abstract:
En raison de leur impact sur la fiabilité des systèmes, les effets du rayonnement cosmique sur l’électronique ont été étudiés dès le début de l’exploration spatiale. Néanmoins, de récentes évolutions industrielles bouleversent les pratiques dans le domaine, les technologies standard devenant de plus en plus attrayantes pour réaliser des circuits durcis aux radiations. Du fait de leurs fréquences élevées, des nouvelles architectures de transistor et des temps de durcissement réduits, les puces fabriquées suivant les derniers procédés CMOS posent de nombreux défis. Ce travail s’attelle donc à la
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4

Uznanski, Slawosz. "Monte-Carlo simulation and contribution to understanding of Single-Event-Upset (SEU) mechanisms in CMOS technologies down to 20nm technological node." Thesis, Aix-Marseille 1, 2011. http://www.theses.fr/2011AIX10222/document.

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Abstract:
L’augmentation de la densité et la réduction de la tension d’alimentation des circuits intégrés rend la contribution des effets singuliers induits par les radiations majoritaire dans la diminution de la fiabilité des composants électroniques aussi bien dans l’environnement radiatif spatial que terrestre. Cette étude porte sur la modélisation des mécanismes physiques qui conduisent à ces aléas logiques (en anglais "Soft Errors"). Ces modèles sont utilisés dans une plateforme de simulation,appelée TIARA (Tool suIte for rAdiation Reliability Assessment), qui a été développée dans le cadre de cett
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5

Lecat-Mathieu, de Boissac Capucine. "Developing radiation-hardening solutions for high-performance and low-power systems." Electronic Thesis or Diss., Aix-Marseille, 2021. http://www.theses.fr/2021AIXM0413.

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Abstract:
De nouveaux acteurs industriels déploient de larges constellations de satellites, tandis que d'autres domaines comme l'industrie automobile développent des systèmes robustes. Ces systèmes s'appuient sur des technologies avancées, telles que le UTBB FD-SOI, afin d'atteindre les performances nécessaires. La complexité et la vitesse croissantes des systèmes nécessitent une caractérisation précise de ces technologies, ainsi qu'une adaptation des techniques traditionnelles de durcissement. L'objectif est l'étude des effets des radiations dans les technologies FD-SOI et bulk, ainsi que la recherche
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