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  2. Dissertations / Theses
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  4. Book chapters

Academic literature on the topic 'Analytische Elektronenmikroskopie'

Author: Grafiati
Published: 4 June 2021
Last updated: 5 March 2023

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Journal articles on the topic "Analytische Elektronenmikroskopie"

1

Gjønnes, Jon, and Arne Olsen. "Analytical Electron Microscopy / Analytische Elektronenmikroskopie." Practical Metallography 24, no. 2 (February 1, 1987): 76–91. http://dx.doi.org/10.1515/pm-1987-240204.

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2

König, Reiner. "Nachweisgrenze und Bestimmungsgrenze von mikroskopischen Methoden in der Asbestanalytik/Limit of detection and limit of determination of microscopic methods for asbestos analysis." Gefahrstoffe 81, no. 11-12 (2021): 435–42. http://dx.doi.org/10.37544/0949-8036-2021-11-12-37.

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Abstract:
Die Messung der Asbestfaserkonzentration in der Luft oder in Materialien erfolgt meist unter Verwendung mikroskopischer Methoden (Licht- oder Elektronenmikroskopie). Grundlage ist die Zählung von Partikeln und deren Charakterisierung, die sowohl morphologische Elemente (Länge, Durchmesser, Volumen) als auch analytische Elemente enthält. Von den zu untersuchenden Proben werden in der Regel relativ kleine Stichproben untersucht. Statistische Kenngrößen stehen daher bei der Definition von Nachweisgrenzen und Messunsicherheit im Vordergrund. Die Interpretation des Begriffs „Nachweisgrenze“ wird hier ebenso behandelt wie weitergehende Überlegungen zur Messunsicherheit. Dargestellt wird die Veränderung der Nachweisgrenze durch Hintergrundkonzentrationen (z. B. durch Kontamination), wie sie im Standard ASTM D9920-19 berechnet ist. Die Randbedingungen für die Analyse von Luft- und Materialproben unterscheiden sich wesentlich. Während in der Luftanalytik das Ergebnis als Faseranzahl pro m3 angegeben wird, erfolgt die Angabe des Messwertes bei der Materialanalyse als Masse-%. Der Einfluss der Masseverteilung auf Nachweisgrenze und Messunsicherheit sowie der Einfluss der Probenpräparation in der Materialanalytik werden hier dargestellt. Es wird angegeben, unter welchen Randbedingungen die Bestimmungsgrenze nach DIN 32645 erreicht ist, und an einem Beispiel erläutert, unter welchen Voraussetzungen die Einhaltung eines Grenzwertes (0,1 Masse-%) mit vorgegebener Aussagesicherheit geprüft werden kann.
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3

Braue, W. "Vergleichende Gefügeuntersuchungen an SiC-Werkstoffen mittels analytischer Elektronenmikroskopie." Materialwissenschaft und Werkstofftechnik 21, no. 3 (March 1990): 141. http://dx.doi.org/10.1002/mawe.19900210316.

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4

Braue, W. "Konvergente Elektronenbeugung in der analytischen Elektronenmikroskopie keramischer Werkstoffe - eine Anleitung für die Praxis." Materialwissenschaft und Werkstofftechnik 21, no. 2 (February 1990): 72–84. http://dx.doi.org/10.1002/mawe.19900210208.

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5

Bando, Yoshio, Yoshio Matsui, Yoshizo Kitami, and Yoshizo Inomata. "An Application of the JEM-4000EX High Resolution Analytical Electron Microscope / Anwendung des hochauflösenden analytischen Elektronenmikroskops JEM-4000EX." Practical Metallography 23, no. 12 (December 1, 1986): 563–73. http://dx.doi.org/10.1515/pm-1986-231202.

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Dissertations / Theses on the topic "Analytische Elektronenmikroskopie"

1

Kraschewski, Simon Martin [Verfasser], Erdmann [Akademischer Betreuer] Spiecker, and Erdmann [Gutachter] Spiecker. "Analytische und in situ Elektronenmikroskopie zur metallinduzierten Kristallisation von Silizium / Simon Martin Kraschewski ; Gutachter: Erdmann Spiecker ; Betreuer: Erdmann Spiecker." Erlangen : Friedrich-Alexander-Universität Erlangen-Nürnberg (FAU), 2018. http://d-nb.info/1161184309/34.

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2

Niermann, Tore. "Mikrostrukturelle Untersuchungen an Mangan-dotiertem Galliumnitrid mittels fortgeschrittener Methoden der hochauflösenden und analytischen Transmissionselektronenmikroskopie." Doctoral thesis, 2006. http://hdl.handle.net/11858/00-1735-0000-0006-B447-8.

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Books on the topic "Analytische Elektronenmikroskopie"

1

Thomas, Gemming, ed. Analytische Transmissionselektronenmikroskopie: Eine Einführung für den Praktiker. Wien [u.a.]: Springer, 2013.

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2

Deutsche Gesellschaft für Elektronenmikroskopie. Tagung. 27. Tagung der Deutschen Gesellschaft für Elektronenmikroskopie e.V. (DGE): Mit den DGE-Arbeitsreisen Elektronenmikroskopische Direktabbildung und Analyse von Oberflächen (28. Colloquium) Kryo-Elektronenmikroskopie, Analytische Elektronenmikroskopie in Biologie und Medizin vom 10. bis 15. September in Leipzig : abstracts. Stuttgart: Wissenschaftliche Verlagsgesellschaft, 1995.

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3

Emons, Hans-Heinz, ed. Analytische Elektronenmikroskopie in der Werkstofforschung. De Gruyter, 1989. http://dx.doi.org/10.1515/9783112548486.

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4

Analytische Elektronenmikroskopie in der Werkstofforschung. de Gruyter GmbH, Walter, 1990.

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5

Heydenreich, Johannes, and Hans-Heinz Emons. Analytische Elektronenmikroskopie in der Werkstofforschung. de Gruyter GmbH, Walter, 2022.

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6

Analytische Transmissionselektronenmikroskopie: Eine Praxisbezogene Einführung. Springer Berlin / Heidelberg, 2023.

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Book chapters on the topic "Analytische Elektronenmikroskopie"

1

Alexander, Helmut. "Analytische Elektronenmikroskopie (AEM)." In Physikalische Grundlagen der Elektronenmikroskopie, 261–84. Wiesbaden: Vieweg+Teubner Verlag, 1997. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-663-12296-8_4.

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2

Thomas, Jürgen, and Thomas Gemming. "Was wir über Elektronenoptik und den Aufbau eines Elektronenmikroskops wissen sollten." In Analytische Transmissionselektronenmikroskopie, 19–48. Vienna: Springer Vienna, 2013. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-7091-1440-7_2.

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3

"Literatur." In Analytische Elektronenmikroskopie in der Werkstofforschung, 33–35. De Gruyter, 1989. http://dx.doi.org/10.1515/9783112548486-007.

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4

"4. Morphologische und strukturelle Charakterisierung durch hochauflösende Abbildung." In Analytische Elektronenmikroskopie in der Werkstofforschung, 28–32. De Gruyter, 1989. http://dx.doi.org/10.1515/9783112548486-005.

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5

"1. Einführung." In Analytische Elektronenmikroskopie in der Werkstofforschung, 3–8. De Gruyter, 1989. http://dx.doi.org/10.1515/9783112548486-001.

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6

"5. Zusammenfassung." In Analytische Elektronenmikroskopie in der Werkstofforschung, 32. De Gruyter, 1989. http://dx.doi.org/10.1515/9783112548486-006.

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7

"Frontmatter." In Analytische Elektronenmikroskopie in der Werkstofforschung, I—IV. De Gruyter, 1989. http://dx.doi.org/10.1515/9783112548486-fm.

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8

"Backmatter." In Analytische Elektronenmikroskopie in der Werkstofforschung, 36–38. De Gruyter, 1989. http://dx.doi.org/10.1515/9783112548486-008.

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9

"2a. Elementanalyse in Nanometerbereichen: EDS." In Analytische Elektronenmikroskopie in der Werkstofforschung, 8–13. De Gruyter, 1989. http://dx.doi.org/10.1515/9783112548486-002.

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10

"2b. Elementanalyse in Nanometerhereichen: EELS." In Analytische Elektronenmikroskopie in der Werkstofforschung, 13–20. De Gruyter, 1989. http://dx.doi.org/10.1515/9783112548486-003.

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