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Journal articles on the topic 'Caractérisation des films adhésifs'

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Halioui, M., A. Bonnard, and H. P. Lieurade. "Caractérisation des adhésifs structuraux." Matériaux & Techniques 79, no. 11 (1991): 29–38. http://dx.doi.org/10.1051/mattech/199179110029.

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Lurton, Y., F. Lesourd, and C. Gay. "Résistance à la rupture des films adhésifs." Revue Francophone de Cicatrisation 1, no. 1 (2017): 143. http://dx.doi.org/10.1016/s2468-9114(17)30333-x.

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3

Angélélis, Céline, and Eric Felder. "Caractérisation mécanique des films minces." Matériaux & Techniques 84, no. 9-10 (1996): 33–37. http://dx.doi.org/10.1051/mattech/199684090033.

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4

Angélélis, Céline, and Eric Felder. "Caractérisation mécanique des films minces." Matériaux & Techniques 84, no. 11-12 (1996): 23–28. http://dx.doi.org/10.1051/mattech/199684110023.

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5

Mbaye, K., M. Pham Tu, N. T. Viet, L. Wartski, and J. C. Villegier. "Elaboration et caractérisation en hyperfréquences de films minces de NbN." Revue de Physique Appliquée 20, no. 7 (1985): 457–63. http://dx.doi.org/10.1051/rphysap:01985002007045700.

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6

Meneau, C., Ph Goudeau, P. Andreazza, C. Andreazza-Vignolle, and J. C. Pommier. "Caractérisation structurale et contraintes résiduelles de films d'AIN par diffraction des rayons X." Le Journal de Physique IV 08, PR5 (1998): Pr5–153—Pr5–161. http://dx.doi.org/10.1051/jp4:1998520.

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7

Petitjean, C., M. Grafouté, C. Rousselot, J. F. Pierson, O. Banakh, and A. Cavaleiro. "Caractérisation de films colorés de Fe-O-N élaborés par pulvérisation magnétron réactive." Matériaux & Techniques 94, no. 1 (2006): 23–29. http://dx.doi.org/10.1051/mattech:2006021.

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8

Eve, Sophie, Florent Moisy, Rosine Coq Germanicus, Clara Grygiel, Eric Hug, and Isabelle Monnet. "Caractérisation par nanoindentation du GaN irradié par des ions uranium de grande énergie." Matériaux & Techniques 105, no. 1 (2017): 108. http://dx.doi.org/10.1051/mattech/2017008.

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Abstract:
Le comportement mécanique de films minces de nitrure de gallium GaN irradiés par des ions uranium accélérés a été étudié par nanoindentation. Les résultats montrent une décroissance des propriétés mécaniques du matériau par irradiation, corrélée à l’augmentation de la fluence des ions U utilisés. La perturbation croissante du réseau cristallin du GaN par irradiation conduit à une modification des mécanismes de déformation du matériau, les zones fortement désordonnées gênant le mouvement des dislocations et résultant en leur accumulation au niveau de l’interface, et à une augmentation de la dur
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9

Mimault, J., K. Bouslikhane, T. Girardeau, and M. Jaouen. "Caractérisation structurale EXAFS et propriétés tribologiques de films minces nanocristallins à base Ni-Ti." Revue de Métallurgie 90, no. 9 (1993): 1193. http://dx.doi.org/10.1051/metal/199390091193.

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10

Fischer, H., S. Andrieu, A. Barbara, A. Traverse, and M. Piécuch. "Spectroscopie d’absorption X pour la caractérisation structurale de films minces et de superréseaux métalliques." Revue de Métallurgie 96, no. 9 (1999): 1057–66. http://dx.doi.org/10.1051/metal/199996091057.

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11

Azzoug, Asma. "Elaboration et caractérisation des couches minces d'oxyde de cuivre : Application à la photo-dégradation de Méthyle Orange." Journal of Physical & Chemical Research 1, no. 1 (2022): 57–71. http://dx.doi.org/10.58452/jpcr.v1i1.32.

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Abstract:
Dans ce travail nous avons étudié l’effet du temps de déposition sur lesdifférentes propriétés des couches minces d’oxyde de cuivre. En premierlieu nous avons élaboré des films minces de Cu 2O par électrodéposition surun substrat ITO dans un milieu sulfate à température fixé de T=60° et unpotentiel imposé de - 0.5V/ECS. En second lieu les couches minces del’oxyde de cuivre (Cu 2O/ITO) ont subi un traitement thermique àtempérature de 500 °C pendant 1h pour obtenir des films mince nomméCuO/ITO. Les couches minces déposées ont été caractérisées par ladiffraction du rayon X (DRX), la microscopie à
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Bendaoud, Abdelber, Amar Tilmatine, Karim Medles, Marius Blajan, Mustapha Rahli, and Lucian Dascalescu. "Caractérisation expérimentale des électrodes couronne de type «dual»." Journal of Electrostatics 64, no. 7-9 (2006): 431–36. http://dx.doi.org/10.1016/j.elstat.2005.10.024.

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Zimmer, A., N. Stein, C. Boulanger, and L. Johann. "Caractérisation par ellipsométrie spectroscopique de films minces de tellurure de bismuth obtenus par voie électrochimique." Journal de Physique IV (Proceedings) 122 (December 2004): 87–92. http://dx.doi.org/10.1051/jp4:2004122013.

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Baborowski, J., M. Charbonnier, and M. Romand. "Caractérisation par émission X de films d'oxyde et d'oxynitrure de chrome déposés par pulvérisation magnétron réactive." Le Journal de Physique IV 06, no. C4 (1996): C4–429—C4–439. http://dx.doi.org/10.1051/jp4:1996439.

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Baborowski, J., M. Charbonnier, and M. Romand. "Caractérisation par émission X de films de carbone et de nitrure de carbone déposés par PVD." Le Journal de Physique IV 08, PR5 (1998): Pr5–279—Pr5–286. http://dx.doi.org/10.1051/jp4:1998535.

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Steinbrunn, A., and M. Bordignon. "Caractérisation de films minces de molybdène métallique déposé sur une face (100) de monoxyde de cobalt CoO." Thin Solid Films 168, no. 1 (1989): 61–69. http://dx.doi.org/10.1016/0040-6090(89)90689-5.

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Newton, Pascal, Frédéric Houzé, Sophie Noël, Lionel Boyer, Pascal Viel, and Gérard Lécayon. "Élaboration et caractérisation chimique, topographique, tribologique et électrique de films de polyacrylonitrile post-traités en vue d'applications en connectique." Journal de Physique III 5, no. 6 (1995): 661–75. http://dx.doi.org/10.1051/jp3:1995153.

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Hidalgo, M., J. Guillot, MF Llauro-Darricades, H. Waton та R. Pétiaud. "Caractérisation par la mesure des T1ρ(H) de films obtenus à partir de latex préparés par polymérisation en émulsion". Journal de Chimie Physique 89 (1992): 505–11. http://dx.doi.org/10.1051/jcp/1992890505.

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Tsikounas, Myriam, and Sébastien Lepajolec. "La jeunesse irrégulière sur grand écran : un demi-siècle d’images." Revue d’histoire de l’enfance « irrégulière » N° 4, no. 1 (2002): 87–110. http://dx.doi.org/10.3917/rhei.004.0087.

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Abstract:
Ce texte étudie la représentation de la délinquance juvénile à partir de vingt-deux longs métrages français, réalisés entre 1955 et 1997. Le corpus est analysé dans une double perspective. Une étude synchronique révèle tout d'abord que, par certains aspects, nous sommes en présence d'un genre cinématographique avec ses lois propres : une technique de description du milieu familial des délinquants, un mode privilégié d'organisation du récit, une inscription spécifique des jeunes dans l'espace, une caractérisation psychologique récurrente des adolescents. De ce point de vue, le cinéma nous propo
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Hosseini-Sadrabadi, Hamid, Sebastien Volcy, Bruno Chareyre, Christophe Dano, Luc Sibille, and Pierre Riegel. "Un pénétromètre à pointe contrôlé en force ou en déplacement pour une caractérisation étendue des sols." Revue Française de Géotechnique, no. 178 (2024): 1. http://dx.doi.org/10.1051/geotech/2024004.

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Abstract:
Cette étude présente une méthode pénétrométrique novatrice utilisant un pénétromètre statique (CPT) équipé d’une pointe mécanique. L’objectif est d’évaluer les propriétés du sol, la sensibilité à la liquéfaction, en donnant la possibilité de réaliser les essais dans des conditions difficiles d’accès. Contrairement aux pénétromètres statiques traditionnels, cette méthode se concentre sur la résistance de pointe et utilise un chargement contrôlé en force ou en déplacement depuis la surface. Les essais expérimentaux ont été effectués avec un pénétromètre spécialement développé par le Groupe Equat
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Basile, Françoise, Jean Bergner, Claude Bombart, Pascale Nallet, Elisabeth Chassaing, and Gérard Lorang. "Quantification de l'analyse en profondeur par spectrométrie d'électrons Auger et pulvérisation ionique : caractérisation des interfaces des films multicouches Cu–Co." Microscopy Microanalysis Microstructures 8, no. 4-5 (1997): 301–14. http://dx.doi.org/10.1051/mmm:1997123.

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Dezert, Théo, Sérgio Palma-Lopes, Jean-Robert Courivaud, Yannick Fargier, and Christophe Vergniault. "Fusion de données géophysiques (TRE et MASW) et géotechniques (granulométrie) pour la caractérisation de digues en terre." Revue Française de Géotechnique, no. 178 (2024): 4. http://dx.doi.org/10.1051/geotech/2024007.

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Abstract:
La bonne caractérisation des ensembles lithologiques des digues en terre constitue un enjeu majeur dans un contexte de prévention de rupture d’ouvrage. En effet, les conséquences d’un tel événement peuvent s’avérer potentiellement catastrophiques (pertes humaines, graves impacts environnementaux et économiques). Les méthodologies reconnues pour caractériser les digues en terre comprennent classiquement des méthodes de reconnaissance géophysiques et géotechniques de natures complémentaires. Ce travail de recherche présente une méthodologie de fusion permettant la combinaison de données issues d
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Akani, M., C. E. Benouis, and M. Benzohra. "Caractérisation électrique des interfaces P+-Si-poly/N-c-Si réalisées par dépôt LPCVD de films fortement dopés $in~situ$ au bore." Journal de Physique III 3, no. 8 (1993): 1675–87. http://dx.doi.org/10.1051/jp3:1993228.

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Akani, M., C. E. Benouis, and M. Benzohra. "Caractérisation électrique des interfaces P+ - Si - poly/N-c-Si réalisées par dépôt LPCVD de films fortement dopés in situ au bore." Journal de Physique III 3, no. 11 (1993): 2163. http://dx.doi.org/10.1051/jp3:1993278.

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Rossi, Jérôme. "Essai de caractérisation de l’évolution des musiques super-héroïques de Batman (1989) à The Dark Knight Rises (2012)." Revue musicale OICRM 5, no. 2 (2018): 15–47. http://dx.doi.org/10.7202/1054146ar.

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Abstract:
Vingt-trois années séparent les musiques des filmsBatman(Tim Burton, 1989) etThe Dark Knight Rises(Christopher Nolan, 2012) avec les compositions respectives de Danny Elfman et Hans Zimmer. Si les compositeurs restent tous deux fidèles à une conception signalétique des thèmes, Zimmer propose toutefois un nombre plus élevé de matériaux thématiques, avec la présence d’un « ostinato identifiant » pour chacun des trois personnages principaux, en plus de leurs thèmes propres.Élaborée par une véritable équipe, la « narration sonore » constitue également un enjeu majeur de l’esthétique de Nolan et Zi
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Koch, Delphine, and Philippe Molinié. "Une application de la cartographie de potentiel à la caractérisation des matériaux. Étalement de charge et effets anormaux sur des films de polyéthylène téréphtalate." Revue internationale de génie électrique 9, no. 4-5 (2006): 449–63. http://dx.doi.org/10.3166/rige.9.449-463.

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Bonnotte, E., P. Delobelle, L. Bornier, B. Trolard, and G. Tribillon. "Mise en œuvre de deux méthodes interférométriques pour la caractérisation mécanique des films minces par l'essai de gonflement. Applications au cas du silicium monocristallin." Journal de Physique III 5, no. 7 (1995): 953–83. http://dx.doi.org/10.1051/jp3:1995169.

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Charbonnier, M., D. Leonard, Y. Goepfert, and M. Romand. "Caractérisation par spectrométrie photoélectronique (XPS) et spectrométrie d'émission X (XRFS et LEEIXS) de films minces de Ni ou Cu electroless déposés sur substrats polymères." Journal de Physique IV (Proceedings) 118 (November 2004): 193–202. http://dx.doi.org/10.1051/jp4:2004118023.

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Gupta, Mridula, V. K. Sharma, A. Kapoor, and K. N. Tripathi. "Fabrication and characterization of polycarbonate thin film optical waveguides." Journal of Optics 28, no. 1 (1997): 37–40. http://dx.doi.org/10.1088/0150-536x/28/1/007.

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Courivaud, Jean-Robert, Laurent del Gatto, Kamal El Kadi Abderrezzak, Christophe Picault, Mark Morris, and Stéphane Bonelli. "Le projet Overcome : comprendre et modéliser les processus d’érosion par surverse des digues et barrages en remblai constitués de matériaux grossiers à granulométries étalées." Revue Française de Géotechnique, no. 178 (2024): 6. http://dx.doi.org/10.1051/geotech/2024009.

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Abstract:
La prédiction de l’érosion par surverse des digues de protection contre les crues et des barrages en remblai constitue l’une des difficultés majeures dans l’analyse de la sûreté de ces ouvrages. Bien qu’identifié comme étant le mécanisme de rupture dominant de près de la moitié des ruptures de digues fluviales, les méthodes et outils dont disposent les ingénieurs pour le caractériser, de manière déterministe, restent encore très limités. Notamment, la caractérisation du processus d’érosion, en termes géométriques et temporels, prenant en compte le comportement des matériaux constitutifs du rem
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DARQUE-CERETTI, Evelyne, Eric FELDER, and Bernard MONASSE. "Caractérisation physico-chimique de revêtements et films minces à applications tribologiques." Frottement, usure et lubrification, March 2012. http://dx.doi.org/10.51257/a-v1-tri5110.

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