Academic literature on the topic 'Circuits électroniques – Fiabilité – Simulation par ordinateur'

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Dissertations / Theses on the topic "Circuits électroniques – Fiabilité – Simulation par ordinateur"

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Alexandrescu, Marian-Dan. "Outils pour la simulation des fautes transitoires." Grenoble INPG, 2007. http://www.theses.fr/2007INPG0084.

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Abstract:
Les événements singuliers proviennent de l'interaction d'une particule énergétique avec un circuit microélectronique. Ces perturbations peuvent modifier d'une manière imprévue le fonctionnement du circuit et introduire des fautes. La sensibilité des circuits augmentant à chaque nouvelle génération technologique, il devient nécessaire de disposer d'outils spécifiques pour la conception des circuits durcis face aux événements singuliers. Les travaux de cette thèse visent à étendre la compréhension de ces phénomènes et à proposer des outils CAO pour faciliter l'analyse de ces problèmes dans les c
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Belhenini, Soufyane. "Etude de structures de composants micro-électroniques innovants (3D) : caractérisation, modélisation et fiabilité des démonstrateurs 3D sous sollicitations mécaniques et thermomécaniques." Thesis, Tours, 2013. http://www.theses.fr/2013TOUR4029/document.

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Abstract:
Cette étude constitue une contribution dans un grand projet européen dénommé : 3DICE (3D Integration of Chips using Embedding technologies). La fiabilité mécanique et thermomécanique des composants 3D a été étudiée par des essais normalisés et des simulations numériques. L’essai de chute et le cyclage thermique ont été sélectionnés pour la présente étude. Des analyses de défaillance sont menées pour compléter les approches expérimentales. Les propriétés mécaniques des éléments constituant les composants ont fait l’objet d’une compagne de caractérisation complétée par des recherches bibliograph
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Ayoub, Kamel. "Représentation analytique des briques de base, miroirs et différentiels en technologie duale unipolaire et bipolaire." Toulouse, INPT, 2000. http://www.theses.fr/2000INPT033H.

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Abstract:
La conception actuelle des circuits intégrés exige une modélisation donnant une bonne représentation fonctionnelle des composants dans leur environnement. Vu la taille et la complexité croissante des circuits, il faut pallier les temps de simulation devenus de plus en plus longs (PSpice, SABER) tout en évitant les problèmes de convergence. Il est donc nécessaire d'établir des modèles comportementaux représentatifs et rapides. Pour cela, on choisit d'élaborer une bibliothèque de macromodèles analogiques généraux (paramétrables) pour chacune des briques de base (miroirs de courant et différentie
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Perez, Renaud. "Contribution à la définition des spécifications d'un outil d'aide à la conception automatique de systèmes électroniques intégrés robustes." Montpellier 2, 2004. http://www.theses.fr/2004MON20215.

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Raiff, Bertrand. "Définition et conception d'un simulateur de circuits analogiques non linéaires à modèles par zones et ordres variables." Toulouse, INPT, 1992. http://www.theses.fr/1992INPT076H.

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Abstract:
Ce travail presente une technique de modelisation des composants electroniques, destinee a optimiser la simulation des circuits electriques utilisant les methodes dites conventionnelles. Cette optimisation consiste en une meilleure adequation de la fonction de simulation aux besoins de l'utilisateur et a l'etat de ses connaissances quant aux composants mis en jeu (parametres physiques et electriques) et un gain de temps par le bais d'un allegement des structures descriptives du circuit et des calculs de resolution. Elle est realisee par l'introduction de modeles d'ordres variables, c'est-a-dir
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Garci, Maroua. "Simulation multi-physiques de circuits intégrés pour la fiabilité." Thesis, Strasbourg, 2016. http://www.theses.fr/2016STRAD020/document.

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Abstract:
Cette thèse porte sur le thème général de la fiabilité des circuits microélectroniques. Le but de notre travail fut de développer un outil de simulation multi-physiques pour la conception des circuits intégrés fiables qui possède les caractéristiques innovatrices suivantes : • (i) L’intégration dans un environnement de conception microélectronique standard, tel que l’environnement Cadence® ; • (ii) La possibilité de simulation, sur de longues durées, du comportement des circuits CMOS analogiques en tenant compte du phénomène de vieillissement ; • (iii) La simulation de plusieurs physiques (éle
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Egot, Stéphane. "Intégration des équipements électroniques dans la modélisation de l'architecture électrique des véhicules automobiles : application à la prédiction de compatibilité électromagnétique dans les phases amont de la conception." Lille 1, 2005. http://www.theses.fr/2005LIL10151.

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Abstract:
Cette thèse traite de l'élaboration et de l'évaluation d'une méthodologie d'intégration des équipements électroniques dans la modélisation CEM de l'architecture électrique en amont dans la conception des véhicules. L'approche proposée a pour principe de dissocier la modélisation d'un équipement en deux parties complémentaires mettant en jeu constructeur automobile et équipementier. La faisabilité de cette modélisation a préalablement nécessité de caractériser l'interaction entre l'équipement et la caisse du véhicule. En outre, les différents facteurs influant sur la validité du modèle ont été
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Karray, Mohamed. "Contribution à la modélisation hiérarchique de systèmes opto-électroniques à base de VHD-AMS." Paris, ENST, 2004. http://www.theses.fr/2004ENST0044.

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Abstract:
Dans un contexte technologique où le degré d'intégration des circuits en micro et optoélectronique est de plus en plus fort, il apparaît nécessaire aux concepteurs de ces circuits de disposer d'outils de simulation complets permettant non seulement d'étudier le fonctionnement des différents éléments constitutifs des sous-systèmes qu'ils réalisent, mais également d'évaluer les performances globales de l'ensemble. Ce travail de thèse porte sur l'élaboration de modèles de composants optoélectroniques en utilisant le langage VHDL-AMS, langage particulièrement bien adapté à la modélisation de systè
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Marcon, Didier. "Étude de faisabilité d'un processeur matériel spécialisé pour la simulation concurrente de fautes." Montpellier 2, 1986. http://www.theses.fr/1986MON20174.

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Abstract:
Une architecture multiprocesseurs, une organisation pipeline dans chaque processeur, et enfin la realisation physique avec des circuits specialises constituent les trois solutions qui ont ete utilisees dans cette etude pour obtenir de bonnes performances quant a la duree de la simulation
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Zhu, Feiyi. "Etude de la fiabilité des composants soumis à des stress électriques conduits." Rouen, 2015. http://www.theses.fr/2015ROUES065.

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Abstract:
Pour répondre aux besoins des industriels concepteurs et fabricants des composants et systèmes électroniques, des techniques de test sont nécessaires pour l’amélioration de fiabilité. Actuellement, l’influence de certains phénomènes comme l’OVS (« Over-current et Over-voltage ») et l’EOS («Electrical Overstress ») restent méconnus pour les ingénieurs électroniciens. Jusqu’à présent, ces phénomènes n’ont pas encore été classifiés dans les standards de test de fiabilité des composants électroniques. Ce constat nécessite une mise en place de technique de qualification pour l’évaluation de la fiab
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More sources

Books on the topic "Circuits électroniques – Fiabilité – Simulation par ordinateur"

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Circuit simulation methods and algorithms. CRC Press, 1994.

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Ogrodzki, Jan. Circuit Simulation Methods and Algorithms. Taylor & Francis Group, 2018.

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Ogrodzki, Jan. Circuit Simulation Methods and Algorithms. Taylor & Francis Group, 2018.

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Ogrodzki, Jan. Circuit Simulation Methods and Algorithms. Taylor & Francis Group, 2018.

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Ogrodzki, Jan. Circuit Simulation Methods and Algorithms. Taylor & Francis Group, 2018.

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Krenz, Jerrold H. Electronic Concepts: An Introduction. Cambridge University Press, 2000.

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Mohindru, Pooja, and Pankaj Mohindru. Electronic Circuit Analysis Using LTSpice XVII Simulator: A Practical Guide for Beginners. Taylor & Francis Group, 2021.

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8

Electronic Circuit Analysis Using Ltspice XVII Simulator. Taylor & Francis Group, 2021.

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Mohindru, Pooja, and Pankaj Mohindru. Electronic Circuit Analysis Using LTSpice XVII Simulator: A Practical Guide for Beginners. Taylor & Francis Group, 2021.

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Mohindru, Pooja, and Pankaj Mohindru. Electronic Circuit Analysis Using LTSpice XVII Simulator: A Practical Guide for Beginners. Taylor & Francis Group, 2021.

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