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Dissertations / Theses on the topic 'Circuits électroniques – Fiabilité – Simulation par ordinateur'

Author: Grafiati
Published: 23 September 2022
Last updated: 31 July 2025

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1

Alexandrescu, Marian-Dan. "Outils pour la simulation des fautes transitoires." Grenoble INPG, 2007. http://www.theses.fr/2007INPG0084.

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Abstract:
Les événements singuliers proviennent de l'interaction d'une particule énergétique avec un circuit microélectronique. Ces perturbations peuvent modifier d'une manière imprévue le fonctionnement du circuit et introduire des fautes. La sensibilité des circuits augmentant à chaque nouvelle génération technologique, il devient nécessaire de disposer d'outils spécifiques pour la conception des circuits durcis face aux événements singuliers. Les travaux de cette thèse visent à étendre la compréhension de ces phénomènes et à proposer des outils CAO pour faciliter l'analyse de ces problèmes dans les c
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Belhenini, Soufyane. "Etude de structures de composants micro-électroniques innovants (3D) : caractérisation, modélisation et fiabilité des démonstrateurs 3D sous sollicitations mécaniques et thermomécaniques." Thesis, Tours, 2013. http://www.theses.fr/2013TOUR4029/document.

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Abstract:
Cette étude constitue une contribution dans un grand projet européen dénommé : 3DICE (3D Integration of Chips using Embedding technologies). La fiabilité mécanique et thermomécanique des composants 3D a été étudiée par des essais normalisés et des simulations numériques. L’essai de chute et le cyclage thermique ont été sélectionnés pour la présente étude. Des analyses de défaillance sont menées pour compléter les approches expérimentales. Les propriétés mécaniques des éléments constituant les composants ont fait l’objet d’une compagne de caractérisation complétée par des recherches bibliograph
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3

Ayoub, Kamel. "Représentation analytique des briques de base, miroirs et différentiels en technologie duale unipolaire et bipolaire." Toulouse, INPT, 2000. http://www.theses.fr/2000INPT033H.

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Abstract:
La conception actuelle des circuits intégrés exige une modélisation donnant une bonne représentation fonctionnelle des composants dans leur environnement. Vu la taille et la complexité croissante des circuits, il faut pallier les temps de simulation devenus de plus en plus longs (PSpice, SABER) tout en évitant les problèmes de convergence. Il est donc nécessaire d'établir des modèles comportementaux représentatifs et rapides. Pour cela, on choisit d'élaborer une bibliothèque de macromodèles analogiques généraux (paramétrables) pour chacune des briques de base (miroirs de courant et différentie
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4

Perez, Renaud. "Contribution à la définition des spécifications d'un outil d'aide à la conception automatique de systèmes électroniques intégrés robustes." Montpellier 2, 2004. http://www.theses.fr/2004MON20215.

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5

Raiff, Bertrand. "Définition et conception d'un simulateur de circuits analogiques non linéaires à modèles par zones et ordres variables." Toulouse, INPT, 1992. http://www.theses.fr/1992INPT076H.

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Abstract:
Ce travail presente une technique de modelisation des composants electroniques, destinee a optimiser la simulation des circuits electriques utilisant les methodes dites conventionnelles. Cette optimisation consiste en une meilleure adequation de la fonction de simulation aux besoins de l'utilisateur et a l'etat de ses connaissances quant aux composants mis en jeu (parametres physiques et electriques) et un gain de temps par le bais d'un allegement des structures descriptives du circuit et des calculs de resolution. Elle est realisee par l'introduction de modeles d'ordres variables, c'est-a-dir
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Garci, Maroua. "Simulation multi-physiques de circuits intégrés pour la fiabilité." Thesis, Strasbourg, 2016. http://www.theses.fr/2016STRAD020/document.

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Abstract:
Cette thèse porte sur le thème général de la fiabilité des circuits microélectroniques. Le but de notre travail fut de développer un outil de simulation multi-physiques pour la conception des circuits intégrés fiables qui possède les caractéristiques innovatrices suivantes : • (i) L’intégration dans un environnement de conception microélectronique standard, tel que l’environnement Cadence® ; • (ii) La possibilité de simulation, sur de longues durées, du comportement des circuits CMOS analogiques en tenant compte du phénomène de vieillissement ; • (iii) La simulation de plusieurs physiques (éle
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Egot, Stéphane. "Intégration des équipements électroniques dans la modélisation de l'architecture électrique des véhicules automobiles : application à la prédiction de compatibilité électromagnétique dans les phases amont de la conception." Lille 1, 2005. http://www.theses.fr/2005LIL10151.

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Abstract:
Cette thèse traite de l'élaboration et de l'évaluation d'une méthodologie d'intégration des équipements électroniques dans la modélisation CEM de l'architecture électrique en amont dans la conception des véhicules. L'approche proposée a pour principe de dissocier la modélisation d'un équipement en deux parties complémentaires mettant en jeu constructeur automobile et équipementier. La faisabilité de cette modélisation a préalablement nécessité de caractériser l'interaction entre l'équipement et la caisse du véhicule. En outre, les différents facteurs influant sur la validité du modèle ont été
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8

Karray, Mohamed. "Contribution à la modélisation hiérarchique de systèmes opto-électroniques à base de VHD-AMS." Paris, ENST, 2004. http://www.theses.fr/2004ENST0044.

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Abstract:
Dans un contexte technologique où le degré d'intégration des circuits en micro et optoélectronique est de plus en plus fort, il apparaît nécessaire aux concepteurs de ces circuits de disposer d'outils de simulation complets permettant non seulement d'étudier le fonctionnement des différents éléments constitutifs des sous-systèmes qu'ils réalisent, mais également d'évaluer les performances globales de l'ensemble. Ce travail de thèse porte sur l'élaboration de modèles de composants optoélectroniques en utilisant le langage VHDL-AMS, langage particulièrement bien adapté à la modélisation de systè
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9

Marcon, Didier. "Étude de faisabilité d'un processeur matériel spécialisé pour la simulation concurrente de fautes." Montpellier 2, 1986. http://www.theses.fr/1986MON20174.

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Abstract:
Une architecture multiprocesseurs, une organisation pipeline dans chaque processeur, et enfin la realisation physique avec des circuits specialises constituent les trois solutions qui ont ete utilisees dans cette etude pour obtenir de bonnes performances quant a la duree de la simulation
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Zhu, Feiyi. "Etude de la fiabilité des composants soumis à des stress électriques conduits." Rouen, 2015. http://www.theses.fr/2015ROUES065.

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Abstract:
Pour répondre aux besoins des industriels concepteurs et fabricants des composants et systèmes électroniques, des techniques de test sont nécessaires pour l’amélioration de fiabilité. Actuellement, l’influence de certains phénomènes comme l’OVS (« Over-current et Over-voltage ») et l’EOS («Electrical Overstress ») restent méconnus pour les ingénieurs électroniciens. Jusqu’à présent, ces phénomènes n’ont pas encore été classifiés dans les standards de test de fiabilité des composants électroniques. Ce constat nécessite une mise en place de technique de qualification pour l’évaluation de la fiab
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Bareille, Michel. "Contribution à l'analyse des problèmes de compatibilité électromagnétique dans les circuits de l'électronique de puissance : la cellule de commutation IGBT + diode et son environnement." Toulouse, INSA, 2001. http://www.theses.fr/2001ISAT0027.

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Abstract:
La mise en œuvre de nouvelles réglementations européennes en 1996 a révélé un besoin important en méthodes de conception de circuits prenant en compte les phénomènes de pollution électromagnétique. Dans le domaine de l'Electronique de Puissance, ce constat s'accompagne de la nécessité de disposer de modèles spécifiques d'interrupteurs capables de décrire les phénomènes observés lors des commutations. Les travaux présentés dans ce mémoire concernent la mise en œuvre et l'implantation dans le logiciel SABER de modèles physiques distribués de composants de puissance (I. G. B. T. , diode) en vue d
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Fremont, Hélène. "Test de circuit intégrés par faisceau d'électrons : étude de la mesure de potentiel à travers les couches isolantes." Bordeaux 1, 1988. http://www.theses.fr/1988BOR10579.

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Abstract:
Le travail presente comporte une etude theorique et experimentale de la mesure de potentiel sous faisceau d'electrons a travers les couches isolantes, par la technique du couplage capacitif. Une extension du "mode image" (releve qualitatif) au "mode mesure" (releve quantitatif) est presentee. Les phenomenes de charge des isolants et d'etalement de potentiel entre pistes metalliques sont analyses, et leur impact sur les performances est evalue, a la fois par mesure directe et par simulations numeriques en deux dimensions
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Pinède, Pascale. "Conception, réalisation et validation du simulateur concurrent de fautes LOFSCATE." Montpellier 2, 1988. http://www.theses.fr/1988MON20132.

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Allali, Lahcen. "Conception et réalisation du préprocesseur du simulateur concurrent de fautes LOFSCATE." Montpellier 2, 1987. http://www.theses.fr/1987MON20111.

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Ordas, Thomas. "Analyse des émissions électromagnétiques des circuits intégrés." Thesis, Montpellier 2, 2010. http://www.theses.fr/2010MON20001.

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Abstract:
Dans le domaine de la sécurisation des circuits intégrés, tel que les cartes à puce, les concepteurs de circuits sont contraints à innover, inlassablement, afin de trouver de nouvelles parades aux nouvelles attaques, notamment par canaux cachés. En effet, ces attaques, comme l'analyse des émissions électromagnétiques, permettent d'extraire des informations, contenues à l'intérieur des circuits, sensées être secrètes. Partant de ce constat, dans cette thèse, nous nous sommes focalisés sur l'étude et l'analyse électromagnétique et ce afin de quantifier les possibilités de ces attaques. Ce manusc
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Naceur, Djamila. "Etude par simulation de l'anti-éblouissement horizontal et vertical dans les dispositifs à transfert de charge à trame." Montpellier 2, 1990. http://www.theses.fr/1990MON20083.

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Abstract:
Le phenomene d'eblouissement en cas de surcharge optique est l'un des problemes majeurs rencontres dans les capteurs d'image de type dispositifs a transfert de charge (ccd). Cette etude presente deux systemes d'anti-eblouissement dans des dispositifs a trame et leur optimisation technologique, electrique et geometrique. La protection contre l'eblouissement est assuree par un drain sous forme d'une diode implantee au voisinage du puits de potentiel. Cette diode est disposee soit en surface entre deux rangees de cellules (anti-eblouissement horizontal), soit en profondeur sous l'implant d'isolat
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May, Jean-Philippe, and Fy Rakotoarivelo. "Étude des concepts de réalisation et de fonctionnement d'un simulateur de circuit analogique ouvert et structuré." Toulouse, INPT, 1991. http://www.theses.fr/1991INPT047H.

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Abstract:
La simulation depuis les grands développements de l'informatique et de sa démocratisation est devenue un outil indispensable dans la conception de systèmes. Notamment en microelectroelectronique elle peut être actuellement considérée comme une nécessité absolue, les circuits intégrés ne permettant plus de faire un maquettage et n'autorisant aucun ajustement ou droit à l'erreur. Notre travail se situe en phase première de conception et réalisation d'un logiciel de simulation de circuits analogiques ouvert et structuré.
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Bertrand, Géraldine. "Conception et modélisation électrique de structures de protection contre les décharges électrostatiques en technologies BICMOS et CMOS analogique." Toulouse, INSA, 2001. http://www.theses.fr/2001ISAT0037.

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Abstract:
Avec la réduction des dimensions lithographiques et l'introduction de nouveaux procédés technologiques, les circuits intégrés sont devenus plus vulnérables aux décharges électrostatiques (ESD). Ainsi, pour minimiser le nombre d'itérations de masques liées à ce problème, il faut désormais prendre en compte l'ESD très tôt dans le développement de nouveaux produits et, pour cela, pouvoir prédire l'efficacité d'une stratégie de protection. La mise à disposition de bibliothèques d'éléments de protection optimisés, incluant leur dessin technologique ainsi qu'un modèle électrique de type SPICE, répon
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Ferrere, Thomas. "Assertions and measurements for mixed-signal simulation." Thesis, Université Grenoble Alpes (ComUE), 2016. http://www.theses.fr/2016GREAM050.

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Abstract:
Cette thèse porte sur le monitorage des simulations de circuits en signaux mixtes. Dans le domaine de la vérification de matériel, l'utilisation de formalismes déclaratifs pour la specification, dans le cadre de la validation par simulation, s'est installée dans la pratique courante. Cependant, le manque de fonctionnalités visant à spécifier les comportements asynchrones, ou l'intégration insuffisante des résultats de la vérification, rend les language d'assertions et de mesures inopérants pour la vérification de comportements en signaux mixtes. Nous proposons des outils théoriques et pratique
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Alaeddine, Ali. "Le Transistor Bipolaire à Hétérojonction Si/SiGe sous contraintes électromagnétiques : des dégradations électriques à l'analyse structurale." Rouen, 2011. http://www.theses.fr/2011ROUES001.

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Abstract:
Cette thèse propose une nouvelle méthodologie pour l‟étude de la fiabilité des Transistors Bipolaires à Hétérojonctions (TBHs) en technologie SiGe. L‟originalité de cette étude vient de l‟utilisation d‟une contrainte électromagnétique efficace et ciblée à l‟aide du banc champ proche. Ce type de contrainte a permis de dégrader les performances de ce composant en mettant en évidence certains mécanismes de défaillance. Les caractérisations statiques ont montré la présence des courants de fuite à l‟interface Si/SiO2, non seulement entre la base et l‟émetteur, mais aussi entre la base et le collect
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Batista, Emmanuel. "Nouvelles structures électroniques pour le transport électrique : impacts des nouvelles contraintes d'intégration sur les interférences électromagnétiques et moyens de prévision de la compatibilité électromagnétique." Toulouse 3, 2009. http://thesesups.ups-tlse.fr/747/.

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Abstract:
L'intégration avancée des systèmes de puissance, qui a pour but de compacter au maximum les fonctions essentielles des systèmes embarqués, permet de réduire considérablement leurs poids et volumes. De ce constat, un nouveau paysage électromagnétique (EM) est apparu ces dernières années et implique de nouveaux impacts quant à la Compatibilité EM (CEM). Le travail présenté ici, inclut une étude expérimentale de caractérisation des phénomènes de bruit liés à la commutation de puissance ainsi qu'une étude du rayonnement EM des composants de puissance. La problématique multi-physique au sein des sy
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Pocheron, Mickaël. "Life-time prediction of solder joints used in surface mount assemblies during thermo-mechanical and isothermal aging." Thesis, Bordeaux, 2015. http://www.theses.fr/2015BORD0245.

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Abstract:
Les directives ROHS et WEEE banniront, dans les années qui viennent, le plomb de l’industrie électronique. Seulement, les assemblages électroniques de Schlumberger destinés à des applications hautes températures, tels que les ceux faisant intervenir des composants montés en surface, font intervenir des brasures à forte teneur en plomb. C’est pourquoi, Schlumberger investit énormément afin de trouver de nouvelles brasures sans plomb pour les remplacer. Ce projet, qui s’inscrit dans ce cadre, a pour objectif de prédire la durée de vie d’assemblages utilisant ces nouvelles brasures avec un substr
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Pallegoix, Louis. "High performance microwave photon counter and application to single spin magnetic resonance." Electronic Thesis or Diss., université Paris-Saclay, 2025. http://www.theses.fr/2025UPASP028.

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Abstract:
Depuis plusieurs décennies, la détection de photons uniques dans les longueurs d'ondes optiques est réalisée de manière routinière dans nombre d'expériences. En revanche, le même type de détection dans les micro-ondes est une invention récente. Le schéma de détection est basé sur un mélange à quatre ondes, convertissant le photon à détecter et un photon de pompe en un autre photon plus l'excitation d'un bit quantique supraconducteur. L'excitation du bit quantique permet d'enregistrer l'évènement de conversion de fréquence, et donc d'effectivement détecter un photon micro-onde par lecture de l'
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Ribon, Aurélien. "Amélioration du processus de vérification des architectures générées à l'aide d'outils de synthèse de haut-niveau." Thesis, Bordeaux 1, 2012. http://www.theses.fr/2012BOR14719/document.

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Abstract:
L'augmentation de la capacité d'intégration des circuits a permis le développement des systèmes de plus en plus complexes. De cette complexité sont nés des besoins conséquents quant aux méthodes de conception et de vérification. Les outils de synthèse de haut-niveau (HLS) sont une des réponses à ces besoins. Les travaux présentés dans cette thèse ont pour cadre l'amélioration du processus de vérification des architectures matérielles synthétisées par HLS. En particulier, ils proposent une méthode pour la transformation des assertions booléennes spécifiées dans la description algorithmique d'un
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