Relevant bibliographies by topics / Diffraction des rayons X (X-ray diffraction)

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  6. Reports

Academic literature on the topic 'Diffraction des rayons X (X-ray diffraction)'

Author: Grafiati
Published: 4 June 2021
Last updated: 18 February 2022

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Journal articles on the topic "Diffraction des rayons X (X-ray diffraction)"

1

Ravy, Sylvain. "La diffraction cohérente des rayons X." Reflets de la physique, no. 34-35 (June 2013): 60–64. http://dx.doi.org/10.1051/refdp/201334060.

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2

Bach, M., N. Broll, A. Cornet, and L. Gaide. "Diffraction X en traitements thermiques : dosage de l'austénite résiduelle par diffraction des rayons X." Le Journal de Physique IV 06, no. C4 (1996): C4–887—C4–895. http://dx.doi.org/10.1051/jp4:1996485.

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3

Popescu, M., F. Sava, A. Lörinczi, I. N. Mihailescu, I. Cojocaru, and G. Mihailova. "Diffraction de rayons X sur le silicium poreux." Le Journal de Physique IV 08, PR5 (1998): Pr5–31—Pr5–37. http://dx.doi.org/10.1051/jp4:1998505.

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4

Bourret, A. "Étude des interfaces enterrées par diffraction de rayons X." Le Journal de Physique IV 07, no. C6 (1997): C6–19—C6–29. http://dx.doi.org/10.1051/jp4:1997602.

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5

Abbas, S., A. Raho, and M. Kadi-Hanifi. "Caractérisation de solutions solides par diffraction des rayons X." Le Journal de Physique IV 10, PR10 (2000): Pr10–49—Pr10–54. http://dx.doi.org/10.1051/jp4:20001006.

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6

Kadi-Hanifi, M., H. Yousfi, and A. Raho. "Caractérisation de solutions solides par diffraction des rayons X." Revue de Métallurgie 90, no. 9 (1993): 1116. http://dx.doi.org/10.1051/metal/199390091116.

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7

Reventós, M. M., J. V. Clausell, V. Esteve, et al. "Caracterización mineralógica de materias primas cerámicas por métodos cuantitativos de difracción de rayos x." Boletín de la Sociedad Española de Cerámica y Vidrio 41, no. 6 (2002): 509–12. http://dx.doi.org/10.3989/cyv.2002.v41.i6.654.

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8

Louër, D. "Microstructure et profil des raies de diffraction des rayons X." Journal de Physique IV (Proceedings) 103 (February 2003): 321–37. http://dx.doi.org/10.1051/jp4:200300013.

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9

Bulteel, D., E. Garcia-Diaz, J. Durr, L. Khouchaf, C. Vernet, and J. M. Siwak. "Étude d'un granulat alcali-réactif par diffraction des rayons X." Le Journal de Physique IV 10, PR10 (2000): Pr10–513—Pr10–520. http://dx.doi.org/10.1051/jp4:20001055.

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10

Kahloun, C., K. F. Badawi, and A. Diou. "Incertitude sur l'analyse des contraintes par diffraction des rayons X." Revue de Physique Appliquée 25, no. 12 (1990): 1225–38. http://dx.doi.org/10.1051/rphysap:0199000250120122500.

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Dissertations / Theses on the topic "Diffraction des rayons X (X-ray diffraction)"

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He, Baoping. "X-ray diffraction from point-like imperfection." Diss., This resource online, 1992. http://scholar.lib.vt.edu/theses/available/etd-09232008-144700/.

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2

Escudero, Adán Eduardo Carmelo. "High resolution X-ray single crystal diffraction." Doctoral thesis, Universitat Rovira i Virgili, 2018. http://hdl.handle.net/10803/586278.

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Abstract:
Aquesta tesi doctoral descriu l'ús de dades d'alta resolució de difracció de raigs X de monocristall per a la obtenció de mapes experimentals detallats de distribució de densitat de càrrega. Aquests mapes serveixen per evidenciar experimentalment l'existència d'interaccions intra- i inter-moleculars febles dins de l'estructura del vidre. Els mapes de densitat de càrrega s'obtenen mitjançant un refinament multipolar de l'estructura cristal·lina. En concret, aquest treball se centra en evidenciar experimentalment les interaccions atractives no covalent recentment descrites teòricament i que donen lloc a la formació d'enllaços de tipus "sigma i pi hole". Els termes enllaços de Triel, tetrel, pnictogen i chalcogen van ser recentment introduïts per referir-se a aquestes interaccions en funció del grup (14, 15 i 16) al qual pertany l'àtom implicat com a centre electrofílic. el fet que aquestes interaccions siguin molt febles fa necessari l'obtenció de mapes de densitat electrònica molt precisos. També s'han utilitzat aquests mapes de densitat electrònica per determinar experimental el moment quadrupolar i el potencial electrostàtic molecular d'una sèrie d'anells de fenil amb diferents substituents. Les dades experimentals obtingudes d'aquesta manera han servit per validar els resultats de càlculs teòrics.<br>Esta tesis doctoral describe el uso de datos de alta resolución de difracción de rayos X de monocristal para la obtención de mapas experimentales detallados de distribución de densidad de carga. Estos mapas sirven para evidenciar experimentalmente la existencia de interacciones intra- e inter-moleculares débiles dentro de la estructura del cristal. Los mapas de densidad de carga se obtienen mediante un refinamiento multipolar de la estructura cristalina. En concreto, este trabajo se centra en evidenciar experimentalmente las interacciones atractivas no covalente recientemente descritas teóricamente y que dan lugar a la formación de enlaces de tipo "sigma y pi hole". Los términos enlaces de Triel, tetrel, pnictogen y chalcogen fueron recientemente introducidos para referirse a estas interacciones en función del grupo (14, 15 y 16) al que pertenece el átomo implicado como centro electrofílico. El hecho de que estas interacciones sean muy débiles hace necesario la obtención de mapas de densidad electrónica muy precisos. También se han utilizado estos mapas de densidad electrónica para determinar experimental el momento cuadrupolar y el potencial electrostático molecular de una serie de anillos de fenilo con diferentes sustituyentes. Los datos experimentales obtenidos de esta forma han servido para validar los resultados de cálculos teóricos.<br>radiación de molibdeno para asignar la configuración absoluta de una serie de moléculas orgánicas. Las moléculas medidas fueron seleccionadas teniendo en cuenta que el elemento más pesado de su composición química fuera el oxígeno. Es bien conocido que la dispersión anómala de este tipo de compuestos es muy débil y dificulta la asignación de configuración absoluta mediante esta técnica. El resultados de este trabajo demuestran que la metodología empleada es muy efectivo para poder asignar inequívocamente la configuración absoluta correcta en este tipo de moléculas. This thesis uses high resolution single crystal X-ray diffraction data in order to obtain experimental detailed charge density distribution maps that can exhibit intra and intermolecular interactions. The charge density maps are obtained through the multipolar refinement. Particularly, this work focuses in lasts classified non-covalent attractive interactions due to sigma and pi holes, triel, tetrel, pnictogen and chalcogen bonds. The weakness of these interactions make necessary very accurate and precise maps. In the same manner, in this works they have been determined the quadrupolar moment and the molecular electrostatic potential of a series of phenyl rings substituted with different chemical groups. The experimental data obtained in this way have been used to validate theoretical predictions. Eventually in this work, high resolution single crystal X-ray diffraction data using molybdenum radiation has been employed to assign the absolute configuration of a series of organic molecules. The measured molecules were selected containing oxygen as heaviest atom since the anomalous dispersion of these kind of compounds is very weak. The use of high resolution data has been proved to be effective in order to unequivocally assign the correct absolute configuration in this kind of molecules.
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3

Dupraz, Maxime. "Diffraction des rayons X cohérents appliquée à la physique du métal." Thesis, Université Grenoble Alpes (ComUE), 2015. http://www.theses.fr/2015GREAI103/document.

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Abstract:
Les propriétés mécaniques des petits objets diffèrent fortement de celles du matériau massif à partir du moment où leurs dimensions deviennent comparables ou inférieures à celles du libre parcours moyen des dislocations (typiquement quelques microns). Par exemple, leur limite élastique augmente quand leur taille diminue. D'autre part les nanostructures sont exposées à de fortes contraintes, telles que celles imposées par les relations épitaxiales avec le substrat.Il existe donc un besoin clair (supporté par des intérêts industriels) d'une meilleure compréhension des phénomènes physiques qui gouvernent les propriétés des matériaux aux échelles nanométriques.Le laboratoire SIMAP est engagé dans ce domaine de recherche et s'y attelle en combinant croissance d'échantillons, méthodes de caractérisation en laboratoire, méthodes numériques et techniques synchrotron.Une des expériences clés développées par notre équipe est la caractérisation in situ des mécanismes de déformation induits par une pointe d'AFM sur une nanostructure par la diffraction des rayons X cohérents. La diffraction des rayons-X cohérents est une technique émergente de synchrotron; qui permet la mesure détaillée de la structure du cristal, y compris le champ de déformation 3D et les défauts potentiels dans des objets micro ou nano structurés. En principe, une image 3D de la structure de l'échantillon peut-être obtenue à partir des données de diffraction cohérente. En pratique, reconstruire une image de l'échantillon peut s'avérer délicat en présence d'un champ de déformation inhomogène et de nombreux défauts cristallins. Le profil du front d'onde qui est généralement assez éloigné d'une onde plane, peut encore ajouter une complication supplémentaire au problème. Dans ces travaux de thèse, il est démontré qu'une image 3D de l'objet peut être reconstruite dans le cas de systèmes modérément complexes<br>The mechanical properties of small objects deviate strongly from the bulk behaviour, as soon as their size becomes comparable or smaller to the dislocation mean free path (typically a few microns). For instance, their elastic limit increase when their size is reduced. On a another hand, nanostructures are exposed to strong constraints, such as that imposed by epitaxial relations with a substrate. Altogether, there is a clear need (supported by industrial interests) for a better understanding of the fundamental phenomena that govern the mechanical properties of materials at the nanometre scale. The lab SIMaP is engaged in this research and tackles the topic by combining sample growth, laboratory characterisation methods, numerical models, and synchrotron techniques.One key experiment developed by our team is the in situ characterisation of the deformation mechanism induced by an AFM tip on a nanostructure using Coherent X-ray Diffraction (CXD). CXD is an emerging synchrotron technique that allows the detailed measurement of the crystal structure,including strain field and defects, of micro/nano-objects. In principle, a 3D image of the structure of the sample can be obtained from the CXD data. However, it remains difficult in realistic cases, when the strain is very inhomogeneous and crystal defects numerous. The problem is further complicated by the wavefront of the beam, which is usually far from a plane wave, particularly when the AFM tip shadows part of the incoming beam. In this PHD work, it is demonstrated that a 3D image of the object can be reconstructed in case of moderately complex systems
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Elzo, Aizarna Marta Ainhoa. "Diffraction résonnante des rayons X dans des systèmes multiferroïques." Phd thesis, Université de Grenoble, 2012. http://tel.archives-ouvertes.fr/tel-00870407.

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Abstract:
Le but de cette thèse est d'explorer la faisabilité d'expériences de diffraction résonante sur des systèmes multiferroïques et en particulier avec un champ/courrant électrique appliqué. Un formalisme de matrices de propagation a été développé pour simuler la réflectivité résonante, en utilisant un ensemble d'ondes propres comme base arithmétique pour le calcul. Des expériences de diffraction résonante ont été menées sur trois oxides de métaux de transition. Cette technique combinant la selectivité chimique et la sensibité à l'espace réciproque, elle a été utilisée sur des films très minces de PbTiO3 pour étudier la structure atomique d'un agencement périodique de domaines ferroélectriques. La signatures spectroscopiques observées par nos expériences de diffraction X durs sont reproduites par des simulations ab-initio FDMNES de super-cellules complexes. Dans le domaine X mous, nous avons étudié la structure antiferromagnétique cycloïdale du multiferroïque BiFeO3, et plus spécialement l'empreinte de la cycloïde sur une couche mince de Co déposée sur le matériau multiferroïque. Nous présentons également une expérience dans laquelle nous avons tenté d'explorer l'effet d'un courant électrique appliqué sur un film mince du composé à ordre de charge Pr(1-x)Ca(x)MnO3. La dernière partie est consacrée à l'instrumentation. Nous passons en revue les lignes synchrotron européennes et les diffractomètres qui permettent de faire des expériences de diffraction résonante de rayons X. Pour finir, nous détaillons un nouveau porte-échantillon que nous avons développé et testé sur le diffractomètre RESOXS, et qui permet d'appliquer un champ/courant électrique.
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Favarim, Higor. "Síntese, caracterizaçãi elétrica e estructural de cerâicas ferroelétricas de composição Ba0,90R0,10Ti1-xZrxO3 (R=Ca, Sr)." Phd thesis, Université Paris-Est, 2010. http://tel.archives-ouvertes.fr/tel-00596848.

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Abstract:
Ce travail de thèse vise à étudier les propriétés structurales et diélectriques des échantillons céramiques appartenant au système Ba1-xRxTi1-yZryO3 (R = Ca, Sr). Les échantillons sous forme de poudre, micro ou nano structurées, ont été respectivement obtenus par la méthode des mélanges d'oxydes et la méthode du précurseur polymèrique. À partir des échantillons sous forme de poudre micro ou nano-structurés, les échantillons céramiques ont été obtenus grâce à un procédé de frittage à haute température. Les échantillons sous forme de céramiques en poudres micrométriques ont été obtenus par la méthode traditionnelle de frittage à haute température alors que céramiques constituées de particules de taille nanométrique ont été obtenus en utilisant la technique de Spark Plasma (ou Spark Plasma Sintering, SPS). Les propriétés structurales et électriques de ces deux séries d'échantillons ont été caractérisées par diffraction des rayons X à haute résolution (XRD), spectroscopie d'impédance complexe, spectroscopie d'absorption des rayons X et la spectroscopie Raman. Grâce aux données de diffraction des rayons X il a été possible de suivre le processus de transition de phase dû à la substitution des atomes de titane par du zirconium. Les mesures électriques montrent que lorsque la quantité de Zr augmente, l'échantillon passe d'u n état ferroelectrique normal à un état ferroélectrique relaxeur. Les mesures du spectre d'absorption et le spectre Raman ont été utilisées pour établir une relation entre la structure locale et des propriétés électriques de ces matériaux. Enfin, l'analyse des résultats obtenus avec des céramiques nanostructurés montrent que la réduction de la taille des particules entraîne une diminution de la température maximale et un petit élargissement de la courbe de la permittivité diélectrique. Toutefois, il n'y avait aucun changement de l'état ferroélectrique, normal ou relaxeur, de ces échantillons
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Bellec, Ewen. "Study of charge density wave materials under current by X-ray diffraction." Thesis, Université Paris-Saclay (ComUE), 2019. http://www.theses.fr/2019SACLS437/document.

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Abstract:
Ce manuscrit a pour sujet principal la diffraction par rayons X des matériaux ondes de densité de charges (ODC). Nous avons étudié le cristal quasi-1D NbSe3 ainsi que le quasi-2D TbTe3. Plusieurs grands instruments ont été utilisés pour cette étude, le synchrotron ESRF de Grenoble sur la ligne ID01 ainsi que le laser à électron libre LCLS à Stanford. Premièrement, grâce à la cohérence du faisceau X à LCLS, nous avons pu observer une perte de cohérence transverse dans NbSe3 lors de l’application d’un courant électrique au-dessus d’un certain seuil ainsi qu’une compression longitudinale de l’ODC. Ensuite, à l’ESRF, nous avons utilisé un faisceau X focalisé au micromètre par une Fresnel zone plate pour scanner l’ODC localement par diffraction sur NbSe3 puis ensuite sur TbTe3. Lorsqu’un courant est appliqué sur l’échantillon, nous avons observé une déformation transverse indiquant que l’ODC est bloquée au niveau de la surface de l’échantillon dans NbSe3. Dans le cas de TbTe3, l’ODC tourne sous courant présentant un cycle d’hystérésis lorsque le courant passe continument de positif à négatif. Nous avons aussi pu constater dans plusieurs régions, toujours pour TbTe3, la création de défauts d’irradiation localisés induisant une compression-dilatation de l’ODC. Dans une dernière partie théorique, nous montrons comment la théorie du transport électrique de l’ODC par un train de solitons portants chacun une charge ainsi que la prise en compte du blocage de l’ODC sur la surface de l’échantillon que nous avons vu expérimentalement permet de comprendre plusieurs mesures de résistivité en fonction des dimensions de l’échantillon trouvées dans la littérature. Nous présentons ensuite plusieurs idées pour expliquer du blocage de l’ODC sur les surfaces au niveau microscopique et proposons l’hypothèse d’une ODC commensurable en surface (et incommensurable dans le volume)<br>The main subject of this manuscript is the X-ray diffraction of charge density wave (CDW) materials. We studied the quasi-1D NbSe3 crystal and the quasi-2D TbTe3. Several large instruments facilities were used for this study, the ESRF synchrotron in Grenoble on the ID01 line and the LCLS free electron laser in Stanford. First, thanks to the coherence of the X-beam at LCLS, we were able to observe a loss of transverse coherence in NbSe3 when applying an electrical current above a certain threshold as well as a longitudinal compression of the CDW. Then, at the ESRF, we used an X-ray beam focused on the micrometer scale by a Fresnel zone plate to scan the CDW locally by diffraction on NbSe3 and on TbTe3. When a current is applied to the sample, we observed a transverse deformation indicating that the CDW is pinned on the sample surface in NbSe3. In the case of TbTe3, the CDW rotates under current showing a hysteresis cycle when one is continuously changing from positive to negative current. We have also observed in several regions, in TbTe3, the creation of localized irradiation defects inducing a compression-dilation of the CDW. In a last theoretical part, we show how the theory of electric transport in the CDW state by a train of charged solitons, as well as taking into account the CDW pinning on the surface of the sample that we have seen experimentally, allows us to understand several resistivity measurements, found in the literature, made on samples with different dimensions. Finally, we present several ideas for an explanation of the CDW pinning at the surfaces on a microscopic level and propose the hypothesis of a commensurate CDW on the surface (and incommensurate in volume)
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Rosa, Nunes Danilo. "Synthesis of organogels and characterization by X-ray techniques." Thesis, université Paris-Saclay, 2020. http://www.theses.fr/2020UPASS006.

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Abstract:
Les organogels sont un type particulier de gels formés dans des liquides organiques par un réseau de polymères supramoléculaires. Ces matériaux diffèrent principalement des autres classes de gels en raison de la nature de leur réseau. Les gélifiants de faible poids moléculaire (LMWG) ont tendance à s'auto-agréger dans une direction préférentielle. Cela conduit à la formation de structures allongées, principalement des fibres, qui, par une évolution continue du processus d'assemblage, forment un réseau fibrillaire auto-assemblé enchevêtré (SAFIN). Ce mécanisme d'auto-assemblage est dirigé par des interactions non covalentes telles que la liaison hydrogène, l'empilement π – π, les interactions donneur – accepteur, la coordination des métaux et les interactions de van der Waals. La formation d'un réseau basé uniquement sur des interactions faibles affecte considérablement l'intégrité structurelle, rendant les organogels métastables et thermoréversibles.Il existe une grande variété structurelle d'organogélifiants, ce qui en fait un type de matériau intéressant, permettant une large gamme de propriétés et d'applications. Le principal défi des organogels est de prédire quel gélifiant est capable de gélifier quel liquide. Par conséquent, la découverte de nouveaux organogélateurs se fait encore principalement fortuitement, et leurs capacités de gélification sont généralement vérifiées par des processus exhaustifs d'essais et erreurs. Ainsi, il devient nécessaire de développer une méthodologie capable de réduire le temps et les dépenses nécessaires à la recherche de nouveaux organogélateurs ou du réglage de leurs propriétés.Cette thèse contient deux approches expérimentales principales. La première porte sur la détermination de l’empilement moléculaire d'organogélateurs dans les fibres par des techniques de diffusion de rayons X. La deuxième approche consiste à optimiser une méthodologie basée sur les paramètres de solubilité de Hansen, qui peut être utilisée pour rationaliser la formation d'organogel. La combinaison de ces deux outils a permis d’étudier l’effet qu’une altération structurelle du gélifiant a sur l’organogélation. Cinq familles d'organogélateurs ont été synthétisées avec des chaînes alkyles linéaires de différentes longueurs. À partir de ces cinq familles, nous avons pu déterminer l’assemblage cristallin de trois d’entre elles. Ces familles montrent une évolution régulière de la sphère de gélification qui est cohérente avec l’empilement cristallin. Ainsi, pour cette famille, la prédiction des sphères de gélification est possible. Les deux familles restantes d'organogélateurs ont présenté une évolution irrégulière de la gélification et il n'a pas été possible de déterminer avec précision l’empilement cristallin. Ce comportement est probablement dû à de petites différences du mode de cristallisation des membres de la famille<br>Organogels are a particular type of gels formed in organic liquids by a supramolecular polymer network. These materials mainly differ from other classes of gels due to the nature of their network. Low molecular weight gelators (LMWG) tend to self-aggregate in a preferential direction. This leads to the formation of elongated structures, mainly fibers, that by continuous evolution of the assembly process form an entangled Self-Assembled Fibrillar Network (SAFIN). This mechanism of self-assembly is led by non-covalent interactions like hydrogen-bonding, π–π stacking, donor–acceptor interactions, metal coordination and van der Waals interactions. Forming a network only based on weak interactions highly affects the structural integrity, making organogels metastable and thermoreversible.There is a wide structural variety of organogelators that makes them such an interesting type of materials, allowing a wide range of properties and applications. The main challenge with organogels is predicting which gelator is capable of gelating which liquid. Therefore, the discovery of new organogelators is still mainly the result of serendipity and their gelation abilities are usually probed by exhaustive trial and error processes. Thus, arises a need to develop a methodology capable to decrease time and expenses when researching new organogelators or tuning their proprieties.This thesis contains two main experimental approaches. The first focuses on the determination of the molecular packing of organogelators within the fibers by scattering techniques. The second approach consists in the optimization of a methodology based on Hansen solubility parameters, that can be used to rationalize organogel formation. The combination of these two tools has allowed to study the effect that a structural alteration of the gelator has on organogelation. Five families of organogelators were synthesized with linear alkyl chains at different lengths. From these five families we could determine the crystal packing for three of them. These families show a regular evolution of the gelation sphere that is coherent with the crystal packing. Thus, for these families the prediction of the gelation spheres is possible. The remaining two families of organogelators presented and erratic evolution of gelation and it was not possible to accurately determinate the crystal packing. This behavior is probably due to small differences in the crystal habit between all members of the family
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Trzop, Elzbieta. "Structural changes of chemical and physical photoinduced processes studied by X-ray diffraction." Rennes 1, 2009. http://www.theses.fr/2009REN1S037.

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Abstract:
The main purpose of this Ph. D. Thesis is the structural study of photochemical and photophysical transformations in crystals by X-ray diffraction. We studied selected organic compounds undergoing intramolecular photochemical reactions in a solid state. Previously to these studies, there was a lack of reports on structural monitoring such processes. Moreover, we focused on molecular phototransformations in selected iron complexes, which allowed the observation of wavelength selectivity of the photosteady states. We also monitored out-of-equilibrium dynamics of the ultra-fast photoinduced transformation by time-resolved X-ray diffraction, evidencing three stages: (i) the picosecond change of the molecular state; (ii) the unit-cell volume expansion in several tens of nanoseconds; (iii) the macroscopic thermal effect on the microsecond time scale<br>L’objet principal de cette thèse est l’étude par diffraction des rayons X de cristaux présentant des changements structuraux au cours de transformations photochimiques et photophysiques. D’une part, nous avons étudié des composés organiques présentant des réactions photochimiques intramoléculaires à l’état solide. Jusqu'à cette étude, peu de résultats avaient été publiés sur le suivi des changements structuraux lors de tels processus. D’autre part, nous nous sommes intéressés à la photo-commutation moléculaire dans des complexes du fer, mettant ainsi en évidence la sélectivité, par la longueur d’onde, entre états photo-stationnaires. Nous avons aussi pu suivre la dynamique hors équilibre d’une transformation photoinduite ultrarapide par diffraction résolue en temps révélant ainsi 3 étapes: (i) un changement d’état moléculaire dès la picoseconde; (ii) une dilatation de la maille vers quelques 10 nanosecondes; (iii) une commutation thermique macroscopique à l’échelle de la microseconde
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Wu, Chang-Hong. "X-ray diffraction study of aged copper beryllium alloys." Diss., This resource online, 1993. http://scholar.lib.vt.edu/theses/available/etd-10022008-063043/.

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Eloh, Komlavi Sényo. "FFT-based modelling of X-Ray Diffraction peaks : application to dislocation loops." Electronic Thesis or Diss., Université de Lorraine, 2020. http://www.theses.fr/2020LORR0097.

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Abstract:
Dans ce travail, nous proposons et testons une méthode numérique originale de simulation de diagrammes de diffraction des Rayons X par des monocristaux. Cette méthode repose sur l'utilisation d'algorithmes numériques de type Transformée de Fourier rapide (fast Fourier transform (FFT) en anglais) pour le calcul des champs mécaniques provenant de chargement extérieurs et/ou des défauts linéaires comme des boucles de dislocations. Ces défauts sont modélisés par des champs de déformation libres de contraintes (eigenstrains) dans une microstructure périodique soumise à des chargements thermomécaniques. Dans la première partie, nous présentons une approche améliorée du calcul des champs mécaniques par les algorithmes de types FFT qui permet d'obtenir les champs mécaniques locaux de manière précise et sans oscillation numérique aux discontinuités. Cette amélioration est due à l'utilisation d'un opérateur de Green discret consistent et périodique. Celui-ci est obtenu en résolvant l'équation de Lippmann-Schwinger dans l'espace de Fourier et en faisant une discrétisation spatiale appropriée. L'opérateur de Green modifié de degré quatre permet de calculer pour tous les voxels les valeurs du champ de déformations et de contraintes. Nous proposons aussi un opérateur de Green périodique d'ordre trois qui permet de calculer le champ de déplacement. Le champ de déplacement calculé est ensuite corrigé par une méthode de sous voxélisation qui supprime les artefacts apparaissant dans le cas des boucles de dislocations inclinées vis-à-vis de la grille de référence. Des exemples numériques sur des cas de références montrent l'effet des opérateurs de Green pour le calcul des champs mécaniques locaux sans oscillation et l'efficacité de la méthode de sous voxélisation. Le champ de déplacements final obtenu est la donnée d'entrée de la simulation de diagrammes de diffraction aux rayons X. La méthode de simulation des diagrammes de diffraction des Rayons X de monocristaux CFC est ensuite présentée. Le matériau diffractant est modélisé par un volume représentatif contenant des boucles de dislocations qui glissent dans des plans de types (111). Nous calculons l'amplitude puis l'intensité du faisceau diffracté au voisinage d'un nœud du réseau réciproque. La distribution 3D de l'intensité diffractée est ensuite traitée pour obtenir des diagrammes 2D et 1D qui seront analysés. Les premières simulations démontrent tout d'abord la suppression des artefacts sur les diagrammes de diffraction qui sont dus aux oscillations des champs mécaniques non corrigés. Les pics de diffraction sont analysés par différentes méthodes statistiques (transformée de Fourier de l'intensité, méthode des moments statistiques d'ordres supérieurs) qui permettent d'évaluer les paramètres de la distribution des dislocations (densité, facteur de polarisation, etc.) et de les comparer avec les valeurs théoriques<br>In this work, we propose and test an original numerical method of simulation of X-ray diffraction peaks by single crystals. This method is based on the use of Fast Fourier Transform (FFT) algorithms for the calculation of mechanical fields resulting from external loading and / or linear defects such as dislocation loops. These defects are modeled by stress-free strain fields (eigenstrains) in a periodic microstructure subjected to thermomechanical loadings. In the first part, we present an improved approach by FFT-type algorithms which allows to accurately obtain the local mechanical fields without numerical oscillation at material's discontinuities. This improvement is due to the use of a discrete and periodic Green operator. This is obtained by solving the Lippmann-Schwinger equation in the Fourier space and using an appropriate spatial discretization. The fourth order modified Green operator allows to calculate the values of the strain and stress fields at all voxels. We also propose a third order periodic green operator to compute the displacement field. The computed displacement field is then corrected by a sub-voxelization method which removes the artifacts appearing in the case of dislocation loops inclined with respect to the reference grid. Numerical examples on reference cases show the effect of the Green operators for the calculation of local mechanical fields without oscillation and the efficiency of the sub-voxellization method. The final displacement field obtained is the input data of the simulation of X-ray diffraction patterns. The method of simulation of X-ray diffraction peaks of FCC (Face-Centered Cubic) single crystals is then presented. The diffracting material is modelled by a representative volume containing dislocation loops in (111) slip planes. We calculate the amplitude then the intensity of the diffracted beam near a node of the reciprocal lattice. This 3D distribution of the diffracted intensity is processed to obtain 1D diagrams that will be analyzed. The simulations demonstrate foremost the elimination of the artifacts on the diffraction diagrams which are due to the oscillations of the uncorrected mechanical fields. The diffraction peaks are analyzed by different statistical methods (Fourier transform of intensity, method of moments, etc.) which allow to evaluate the distribution parameters of dislocations (density, polarization factor, etc.) and compare them with their theoretical values
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Books on the topic "Diffraction des rayons X (X-ray diffraction)"

1

X-ray diffraction. Dover Publications, 1990.

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2

Erko, A. I. Diffraction X-ray optics. Institute of Physics Pub., 1996.

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3

Two-dimensional X-ray diffraction. Wiley, 2009.

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4

Turley, June W. X-ray diffraction patterns of polymers. International Centre for Diffraction Data (12 Campus Blvd., Newtown Square, 19073-3273), 1994.

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5

RX, 2003 (2003 Strasbourg France). Rayons X et matière: RX 2003 : Strasbourg, France, 9-11 décembre 2003. EDP Sciences, 2004.

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6

European Symposium on Topography and High Resolution Diffraction (2nd 1994 Germany). X-ray topography and high resolution diffraction. Edited by Köhler R and Klapper H. Institute of Physics Pub., 1995.

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7

European Symposium on Topography and High Resolution Diffraction (2nd 1994 Germany). X-ray topography and high resolution diffraction. Edited by Köhler R and Klapper H. Institute of Physics Pub., 1995.

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8

K, Tanner B., ed. High resolution X-ray diffractometry and topography. Taylor & Francis, 1998.

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9

Grant, Norton M., ed. X-Ray diffraction: A practical approach. Plenum Press, 1998.

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10

Krivoglaz, M. A. X-ray and neutron diffraction in nonideal crystals. Springer, 1996.

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Book chapters on the topic "Diffraction des rayons X (X-ray diffraction)"

1

Suryanarayana, C., and M. Grant Norton. "X-Rays and Diffraction." In X-Ray Diffraction. Springer US, 1998. http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4899-0148-4_1.

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2

Ladd, Mark, and Rex Palmer. "X-Rays and X-Ray Diffraction." In Structure Determination by X-ray Crystallography. Springer US, 2012. http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4614-3954-7_3.

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3

Waseda, Yoshio, Eiichiro Matsubara, and Kozo Shinoda. "Fundamental Properties of X-rays." In X-Ray Diffraction Crystallography. Springer Berlin Heidelberg, 2011. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-16635-8_1.

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4

Sayre, David. "Diffraction-Imaging Possibilities with Soft X-rays." In X-ray Microscopy. Springer Berlin Heidelberg, 1987. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-72881-5_14.

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5

Marchesini, Stefano, and David Shapiro. "Coherent X-Ray Diffraction Microscopy." In X-Rays in Nanoscience. Wiley-VCH Verlag GmbH & Co. KGaA, 2010. http://dx.doi.org/10.1002/9783527632282.ch5.

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6

Ladd, Mark, and Rex Palmer. "I X-rays, X-ray Diffraction, and Structure Factors." In Structure Determination by X-ray Crystallography. Springer US, 2003. http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4615-0101-5_3.

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7

Spalla, Olivier. "Nanoparticle Characterization Using Central X-Ray Diffraction." In X-Rays and Materials. John Wiley & Sons, Inc., 2013. http://dx.doi.org/10.1002/9781118562888.ch2.

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8

Ehlert, Ralph C. "The Diffraction of X-Rays by Multilayer Stearate Soap Films." In Advances in X-Ray Analysis. Springer US, 1990. http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4684-8673-5_30.

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9

Michette, Alan G. "The Design and Manufacture of X-Ray Diffraction Gratings." In Optical Systems for Soft X Rays. Springer US, 1986. http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4613-2223-8_7.

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10

Cambedouzou, Julien, and Pascale Launois. "X-Ray Diffraction for Structural Studies of Carbon Nanotubes and their Insertion Compounds." In X-Rays and Materials. John Wiley & Sons, Inc., 2013. http://dx.doi.org/10.1002/9781118562888.ch3.

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Conference papers on the topic "Diffraction des rayons X (X-ray diffraction)"

1

F., Fan S., Yun W. B., Rosser R. J., et al. "Soft X-Ray Diffraction Of Striated Muscle." In Soft X-Rays Optics and Technology, edited by E. Koch and Guenther A. Schmahl. SPIE, 1986. http://dx.doi.org/10.1117/12.964943.

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2

Newman, Richard. "Applications of x rays in art authentication: radiography, x-ray diffraction, and x-ray fluorescence." In Photonics West '98 Electronic Imaging, edited by Walter McCrone, Duane R. Chartier, and Richard J. Weiss. SPIE, 1998. http://dx.doi.org/10.1117/12.308590.

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3

Greenberg, Joel A., Chris MacGibbon, Brian Keohane, Scott Wolter, and Dean Hazineh. "The role of texturing in x-ray diffraction tomography." In Anomaly Detection and Imaging with X-Rays (ADIX) III, edited by Amit Ashok, Mark A. Neifeld, Michael E. Gehm, and Joel A. Greenberg. SPIE, 2018. http://dx.doi.org/10.1117/12.2303620.

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4

Zhao, Bi, Joel A. Greenberg, and Scott Wolter. "Application of machine learning to x-ray diffraction-based classification." In Anomaly Detection and Imaging with X-Rays (ADIX) III, edited by Amit Ashok, Mark A. Neifeld, Michael E. Gehm, and Joel A. Greenberg. SPIE, 2018. http://dx.doi.org/10.1117/12.2304683.

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5

Hazineh, Dean, and Joel A. Greenberg. "Coding versus collimation in pencil-beam X-ray diffraction tomography." In Anomaly Detection and Imaging with X-Rays (ADIX) IV, edited by Amit Ashok, Michael E. Gehm, and Joel A. Greenberg. SPIE, 2019. http://dx.doi.org/10.1117/12.2519469.

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6

Jackson, M. J. "Tribological Design of Grinding Wheels Using X-Ray Diffraction Techniques." In ASME 2004 International Mechanical Engineering Congress and Exposition. ASMEDC, 2004. http://dx.doi.org/10.1115/imece2004-60446.

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Abstract:
Grinding wheel wear is a significant problem when the wheel has to be continuously dressed in order to maintain high productivity and high quality ground surfaces, especially during the manufacture of camshafts and crankshafts for automotive applications. This paper describes the use of x-rays to specifically engineer bonding systems for conventional abrasive grinding wheels so the wheel wears less during continuous dressing operations. The paper explains how the use of x-rays can be used to develop the next generation of bonding systems that will allow the grinding wheel to be cleaned and dressed with a laser without damaging the structure of the grinding wheel.
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7

Hornstrup, Allan, Finn E. Christensen, and Herbert W. Schnopper. "Measurements Of Diffraction Properties Of Selected Multilayers Using A Triple-Axis Perfect Crystal X-Ray Diffractometer." In Soft X-Rays Optics and Technology, edited by E. Koch and Guenther A. Schmahl. SPIE, 1986. http://dx.doi.org/10.1117/12.964929.

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8

Zhu, Zheyuan, Sean Pang, and Alexander I. Katsevich. "Interior x-ray diffraction tomography with low-resolution exterior information (Conference Presentation)." In Anomaly Detection and Imaging with X-Rays (ADIX) IV, edited by Amit Ashok, Michael E. Gehm, and Joel A. Greenberg. SPIE, 2019. http://dx.doi.org/10.1117/12.2518575.

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9

Greenberg, Joel A., Joshua H. Carpenter, David Coccarelli, et al. "Design and analysis of a hybrid X-ray transmission and diffraction system." In Anomaly Detection and Imaging with X-Rays (ADIX) VI, edited by Amit Ashok, Michael E. Gehm, and Joel A. Greenberg. SPIE, 2021. http://dx.doi.org/10.1117/12.2585640.

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10

Greenberg, Joel A., Stefan Stryker, Josh H. Carpenter, and Anuj J. Kapadia. "Concealed drug detection via fan beam coded-aperture X-ray diffraction imaging." In Anomaly Detection and Imaging with X-Rays (ADIX) VI, edited by Amit Ashok, Michael E. Gehm, and Joel A. Greenberg. SPIE, 2021. http://dx.doi.org/10.1117/12.2587061.

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Reports on the topic "Diffraction des rayons X (X-ray diffraction)"

1

Thomlinson, W., Z. Zhong, D. Chapman, R. E. Johnston, and D. Sayers. Diffraction enhanced x-ray imaging. Office of Scientific and Technical Information (OSTI), 1997. http://dx.doi.org/10.2172/548746.

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2

Morris, Marlene C., Howard F. McMurdie, Eloise H. Evans, et al. Standard x-ray diffraction powder patterns :. National Bureau of Standards, 1985. http://dx.doi.org/10.6028/nbs.mono.25-21.

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3

Phillips, Ian. Data Report: X-Ray Powder Diffraction. Office of Scientific and Technical Information (OSTI), 2019. http://dx.doi.org/10.2172/1648320.

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4

Schwartz, Daniel S. INFL GUIDELINE ON X-RAY DIFFRACTION (XRD). Office of Scientific and Technical Information (OSTI), 2013. http://dx.doi.org/10.2172/1095199.

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5

Coppens, P. (X-ray diffraction experiments with condenser matter). Office of Scientific and Technical Information (OSTI), 1990. http://dx.doi.org/10.2172/5187190.

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6

Selig, W. S., G. S. Smith, K. K. Harding, and L. J. Summers. X-ray diffraction patterns of metal aurocyanides. Office of Scientific and Technical Information (OSTI), 1989. http://dx.doi.org/10.2172/5777169.

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7

Eggert, J. X-ray diffraction studies of dynamically compressed diamond. Office of Scientific and Technical Information (OSTI), 2010. http://dx.doi.org/10.2172/1117990.

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8

Lyman, Paul F., and Dilano K. Saldin. A Bayesian Approach to Surface X-ray Diffraction. Office of Scientific and Technical Information (OSTI), 2006. http://dx.doi.org/10.2172/895207.

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9

Sullenger, D. B., J. S. Cantrell, T. A. Beiter, and D. W. Tomlin. Quality experimental and calculated powder x-ray diffraction. Office of Scientific and Technical Information (OSTI), 1996. http://dx.doi.org/10.2172/274162.

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10

Levitan, Abraham. Ultrafast X-Ray Diffraction of Heterogeneous Solid Hydrogen. Office of Scientific and Technical Information (OSTI), 2015. http://dx.doi.org/10.2172/1213144.

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