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Dissertations / Theses on the topic 'Interferometrisches'

Author: Grafiati
Published: 4 June 2021
Last updated: 8 February 2022

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1

Grießhammer, Markus [Verfasser], and Alexander [Akademischer Betreuer] Rohrbach. "Interferometrisches Tracking und Manipulation von Nanorods mit optischen Pinzetten." Freiburg : Universität, 2013. http://d-nb.info/1123477639/34.

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2

Joost, Holger [Verfasser], and Klaus [Akademischer Betreuer] Hinsch. "Tomographisch-interferometrisches Verfahren zur Vermessung und Optimierung der Schallfelder von Vielwandlersystemen für die akustisch optische Hohlstellenerkennung an historischen Wandmalereien / Holger Joost. Betreuer: Klaus Hinsch." Oldenburg : IBIT - Universitätsbibliothek, 2012. http://d-nb.info/1029141843/34.

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3

Liesener, Jan. "Zum Einsatz räumlicher Lichtmodulatoren in der interferometrischen Wellenfrontmesstechnik /." Stuttgart : ITO, 2007. http://bvbr.bib-bvb.de:8991/F?func=service&doc_library=BVB01&doc_number=015739621&line_number=0001&func_code=DB_RECORDS&service_type=MEDIA.

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4

Miesner, Jürgen. "Beitrag zur kontinuierlichen interferometrischen Untersuchung der Eigenschwingungsformen rotierender Bauteile." [S.l. : s.n.], 2004. http://deposit.ddb.de/cgi-bin/dokserv?idn=97418893X.

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5

Zawischa, Ivo. "Injektionsgekoppelte diodengepumpte Nd:YAG- und Nd:YVO4-Laser für terrestrische interferometrische Gravitationswellendetektoren." [S.l. : s.n.], 2003. http://deposit.ddb.de/cgi-bin/dokserv?idn=970650302.

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6

Bartl, Guido [Verfasser], and A. [Akademischer Betreuer] Hangleiter. "Interferometrische Bestimmung von absoluten Kugelradiustopografien / Guido Bartl ; Betreuer: A. Hangleiter." Braunschweig : Technische Universität Braunschweig, 2010. http://d-nb.info/117582898X/34.

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7

Teschke, Marcel. "Das interferometrische Phasenkontrastverfahren und seine Anwendung zur Herstellung diffraktiver optischer Elemente." Ilmenau Univ.-Verl, 2010. http://d-nb.info/1003270255/04.

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8

Kuschmierz, Robert [Verfasser]. "Interferometrische Lasersensoren zur dreidimensionalen, in-situ-Formvermessung rotierender Körper / Robert Kuschmierz." Aachen : Shaker, 2018. http://d-nb.info/1161299971/34.

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9

Dörner, Dirk. "Entwicklung einer interferometrischen Messmethode zur Bestimmung des Passfehlers optischer Funktionsflächen in Fertigungsmaschinen /." Aachen : Shaker, 2006. http://bvbr.bib-bvb.de:8991/F?func=service&doc_library=BVB01&doc_number=014942088&line_number=0001&func_code=DB_RECORDS&service_type=MEDIA.

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10

Landenberger, Benjamin [Verfasser], and Alexander [Akademischer Betreuer] Rohrbach. "Sortieren und Manipulieren von biologischen Objekten mit optischen Fallen und interferometrischem Tracking." Freiburg : Universität, 2015. http://d-nb.info/1115861743/34.

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11

Rothau, Sergej [Verfasser], and Norbert [Gutachter] Lindlein. "Herstellung und interferometrische Charakterisierung von nanostrukturierten Polarisationselementen / Sergej Rothau. Gutachter: Norbert Lindlein." Erlangen : Friedrich-Alexander-Universität Erlangen-Nürnberg (FAU), 2016. http://d-nb.info/1105761258/34.

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12

Schulz, Markus [Verfasser]. "Interferometrisch messender faseroptischer Sensor mit mechanisch oszillierender Sonde / Markus Schulz." Kassel : Universitätsbibliothek Kassel, 2015. http://d-nb.info/1074027191/34.

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13

Knell, Holger Werner [Verfasser]. "Interferometrische Sensoren mit Modulation der optischen Weglänge für die Fertigungsmesstechnik / Holger Werner Knell." Kassel : Universitätsbibliothek Kassel, 2016. http://d-nb.info/109386821X/34.

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14

Buerakov, Wassili [Verfasser]. "Interferometrische Bauteilprüfung, Schadenserkennung und Ermittlung der modalen Parameter mittels dynamischer Belastung / Wassili Buerakov." Aachen : Shaker, 2017. http://d-nb.info/1138176877/34.

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15

Siegel, Matthias [Verfasser]. "Speckle-interferometrische Bestimmung des WAK von Kompositen : eine in vitro-Studie / Matthias Siegel." Berlin : Medizinische Fakultät Charité - Universitätsmedizin Berlin, 2015. http://d-nb.info/1070819476/34.

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16

König, Jörg [Verfasser]. "Untersuchung interferometrischer Messtechniken zur mehrdimensionalen Geschwindigkeitsmessung kleinskaliger konvektiver Transportprozesse in der Elektrochemie / Jörg König." Aachen : Shaker, 2014. http://d-nb.info/1066196389/34.

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17

Heinert, Daniel [Verfasser], Paul [Akademischer Betreuer] Seidel, Gerhard [Akademischer Betreuer] Schäfer, and Stephan [Akademischer Betreuer] Schiller. "Thermisches Rauschen in interferometrischen Gravitationswellendetektoren / Daniel Heinert. Gutachter: Paul Seidel ; Gerhard Schäfer ; Stephan Schiller." Jena : Thüringer Universitäts- und Landesbibliothek Jena, 2012. http://d-nb.info/1024079937/34.

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18

Dörner, Dirk [Verfasser]. "Entwicklung einer interferometrischen Messmethode zur Bestimmung des Passfehlers optischer Funktionsflächen in Fertigungsmaschinen / Dirk Dörner." Aachen : Shaker, 2006. http://d-nb.info/1170536654/34.

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19

Teschke, Marcel [Verfasser]. "Das interferometrische Phasenkontrastverfahren und seine Anwendung zur Herstellung diffraktiver optischer Elemente / von Marcel Teschke." Ilmenau : Univ.-Verl, 2010. http://d-nb.info/1008744182/34.

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20

Juchem, Thorsten. "Systemintegration des biologischen Photochroms Bakteriorhodopsin Entwicklung und Charakterisierung eines holographischen Kamerasystems für die interferometrische Analyse /." [S.l. : s.n.], 2001. http://archiv.ub.uni-marburg.de/diss/z2002/0069/.

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21

Buerakov, Wassili [Verfasser], and Martin [Akademischer Betreuer] Spies. "Interferometrische Bauteilprüfung, Schadenserkennung und Ermittlung der modalen Parameter mittels dynamischer Belastung / Wassili Buerakov ; Betreuer: Martin Spies." Saarbrücken : Saarländische Universitäts- und Landesbibliothek, 2017. http://d-nb.info/1137509511/34.

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22

Geist, Eduard [Verfasser], and Norbert [Akademischer Betreuer] Lindlein. "Kalibrierverfahren für die interferometrische Prüfung von asphärischen Flächen mittels computergenerierter Hologramme / Eduard Geist. Gutachter: Norbert Lindlein." Erlangen : Friedrich-Alexander-Universität Erlangen-Nürnberg (FAU), 2015. http://d-nb.info/1092193723/34.

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23

Schepp, Oliver [Verfasser], and Markus [Akademischer Betreuer] Drescher. "Untersuchungen zur Reaktionsdynamik kleiner Moleküle mittels interferometrischer VUV-VUV Anrege-Abfrage Spektroskopie / Oliver Schepp ; Betreuer: Markus Drescher." Hamburg : Staats- und Universitätsbibliothek Hamburg, 2018. http://d-nb.info/1172880506/34.

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24

Schilling, Jörg. "Entwicklung einer schnellen digitalen Bildverarbeitungstechnik und einer interferometrischen 2l-Mikroskopietechnik [2-Lambda-Mikroskopietechnik] Anwendung in der Zell-Biophysik /." [S.l. : s.n.], 2003. http://deposit.ddb.de/cgi-bin/dokserv?idn=96988057X.

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25

Müller, Dennis Verfasser], Rainer G. [Akademischer Betreuer] Ulbrich, and Tim [Akademischer Betreuer] [Salditt. "Differentielle interferometrische Partikelverfolgung mit Subnanometer- und Submillisekundenauflösung / Dennis Müller. Gutachter: Rainer G. Ulbrich ; Tim Salditt. Betreuer: Rainer G. Ulbrich." Göttingen : Niedersächsische Staats- und Universitätsbibliothek Göttingen, 2013. http://d-nb.info/1044768010/34.

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26

John, Kerstin [Verfasser], René [Akademischer Betreuer] Theska, Eberhard [Gutachter] Manske, and Svjatoslav M. [Gutachter] Latyev. "Untersuchung von Umlenkelementen zur Anwendung in der interferometrischen Längenmesstechnik / Kerstin John ; Gutachter: Eberhard Manske, Svjatoslav M. Latyev ; Betreuer: René Theska." Ilmenau : TU Ilmenau, 2019. http://d-nb.info/1184797218/34.

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27

Kobus, Julia [Verfasser], Sebastian [Akademischer Betreuer] Wolf, and Robert [Gutachter] Wimmer-Schweingruber. "Optimierung der Vorbereitung und Auswertung von interferometrischen Infrarot-Beobachtungen zirkumstellarer Scheiben / Julia Kobus ; Gutachter: Robert Wimmer-Schweingruber ; Betreuer: Sebastian Wolf." Kiel : Universitätsbibliothek Kiel, 2021. http://d-nb.info/1232726346/34.

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28

Bernert, Constantin. "Untersuchung photorefraktiver Materialien mittels optischer Ptychographie." Master's thesis, Saechsische Landesbibliothek- Staats- und Universitaetsbibliothek Dresden, 2017. http://nbn-resolving.de/urn:nbn:de:bsz:14-qucosa-216063.

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Abstract:
In der vorliegenden Arbeit wird die neuartige Mikroskopiemethode der Ptychographie für die Untersuchung photorefraktiver Materialien genutzt. Photorefraktive Materialien zeichnen sich durch die Generation lichtinduzierter Brechungsindexänderungen aus. Die Ptychographie bietet die Möglichkeit, neben der generierten Brechungsindexänderung im photorefraktiven Material auch die für die Generation genutzte Intensitätsverteilung des Laserstrahls zu bestimmen. Es wird sowohl die Abhängigkeit der Brechungsindexänderung von der Zeit der Generation als auch die Abhängigkeit von der Polarisation des Lasers gemessen. Durch den Vergleich der gewonnenen Werte mit einer numerischen Simulation des photorefraktiven Effekts werden mikroskopische Parameter der lichtinduzierten Ladungswanderung ermittelt. Zudem wird aus der polarisationsabhängigen ptychographischen Messung das Raumladungsfeld und die korrespondierende Ladungsdichte im Material berechnet. Die Ptychographie liefert damit einen neuen Zugang zum quantitativen Verständnis der Photorefraktivität<br>In the present thesis the novel microscopy technique of ptychography is applied to the investigation of photorefractive materials. Photorefractive materials exhibit a change of the refractive index due to the exposure to light. The method of ptychography determines the refractive index change of the material together with the intensity distribution of the laser beam that was used for its generation. In one part of the experiment the time dependence of the refractive index change versus the generation time is investigated, in the other part of the experiment the dependence of the refractive index change to the polarisation of the laser beam is examined. Microscopic parameters of the photorefractive charge migration are determined with the utilisation of a numerical simulation of the photorefractive effect and its comparison with the measurement. Finally, the whole space charge field with the corresponding space charge density is calculated from a set of ptychographic measurements of one refractive index change with different polarisation directions of the laser. The presented experiments and their evaluation show, that the method of ptychography opens a new possibility for a quantitative understanding of the photorefractive effect
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29

Eilers, Jan [Verfasser], Helmut [Gutachter] Süß, and Roger [Gutachter] Förstner. "Planungsverfahren für Satellitensysteme zur Erzeugung interferometrischer SAR-Produkte / Jan Eilers ; Gutachter: Helmut Süß, Roger Förstner ; Universität der Bundeswehr München, Fakultät für Luft- und Raumfahrttechnik." Neubiberg : Universitätsbibliothek der Universität der Bundeswehr München, 2016. http://d-nb.info/1136596038/34.

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Eilers, Jan Verfasser], Helmut [Gutachter] Süß, and Roger [Gutachter] [Förstner. "Planungsverfahren für Satellitensysteme zur Erzeugung interferometrischer SAR-Produkte / Jan Eilers ; Gutachter: Helmut Süß, Roger Förstner ; Universität der Bundeswehr München, Fakultät für Luft- und Raumfahrttechnik." Neubiberg : Universitätsbibliothek der Universität der Bundeswehr München, 2016. http://d-nb.info/1136596038/34.

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Taudt, Ch, T. Baselt, B. Nelsen, et al. "Measurement of surface topographies in the nm-range for power chip technologies by a modified low-coherence interferometer." SPIE, 2016. https://tud.qucosa.de/id/qucosa%3A35098.

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Abstract:
This work introduces a modified low-coherence interferometry approach for nanometer surface-profilometry. The key component of the interferometer is an element with known dispersion which defines the measurement range as well as the resolution. This dispersive element delivers a controlled phase variation which can be detected in the spectral domain and used to reconstruct height differences on a sample. In the chosen setup, both axial resolution and measurement range are tunable by the choice of the dispersive element. The basic working principle was demonstrated by a laboratory setup equipped with a supercontinuum light source (Δλ = 400 ̶ 1700 nm). Initial experiments were carried out to characterize steps of 101 nm on a silicon height standard. The results showed that the system delivers an accuracy of about 11.8 nm. These measurements also served as a calibration for the second set of measurements. The second experiment consisted of the measurement of the bevel of a silicon wafer. The modified low-coherence interferometer could be utilized to reproduce the slope on the edge within the previously estimated accuracy. The main advantage of the proposed measurement approach is the possibility to collect data without the need for mechanically moving parts.
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Taudt, Ch, T. Baselt, B. Nelsen, et al. "Two-dimensional low-coherence interferometry for the characterization of nanometer wafer topographies." SPIE, 2016. https://tud.qucosa.de/id/qucosa%3A35105.

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Abstract:
Within this work a scan-free, low-coherence interferometry approach for surface profilometry with nm-precision is presented. The basic setup consist of a Michelson-type interferometer which is powered by a supercontinuum light-source (Δλ = 400 - 1700 nm). The introduction of an element with known dispersion delivers a controlled phase variation which can be detected in the spectral domain and used to reconstruct height differences on a sample. In order to enable scan-free measurements, the interference signal is spectrally decomposed with a grating and imaged onto a two-dimensional detector. One dimension of this detector records spectral, and therefore height information, while the other dimension stores the spatial position of the corresponding height values. In experiments on a height standard, it could be shown that the setup is capable of recording multiple height steps of 101 nm over a range of 500 µm with an accuracy of about 11.5 nm. Further experiments on conductive paths of a micro-electro-mechanical systems (MEMS) pressure sensor demonstrated that the approach is also suitable to precisely characterize nanometer-sized structures on production-relevant components. The main advantage of the proposed measurement approach is the possibility to collect precise height information over a line on a surface without the need for scanning. This feature makes it interesting for a production-accompanying metrology.
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Taudt, Ch, T. Baselt, B. Nelsen, et al. "Evaluation of the thermal stability of a low-coherence interferometer for precision surface profilometry." SPIE, 2017. https://tud.qucosa.de/id/qucosa%3A34883.

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Abstract:
Manufacturing of precise structures in MEMS, semiconductors, optics and other fields requires high standards in manufacturing and quality control. Appropriate surface topography measurement technologies should therefore deliver nm accuracy in the axial dimension under typical industrial conditions. This work shows the characterization of a dispersion-encoded low-coherence interferometer for the purpose of fast and robust surface topography measurements. The key component of the interferometer is an element with known dispersion. This dispersive element delivers a controlled phase variation in relation to the surface height variation which can be detected in the spectral domain. A laboratory setup equipped with a broadband light source (200 - 1100 nm) was established. Experiments have been carried out on a silicon-based standard with height steps of 100 nm under different thermal conditions such as 293.15 K and 303.15 K. Additionally, the stability of the setup was studied over periods of 5 hours (with constant temperature) and 15 hours (with linear increasing temperature). The analyzed data showed that a height measurement of 97.99 ± 4:9nm for 293.15 K and of 101.43 ± 3:3nm for 303.15 K was possible. The time-resolved measurements revealed that the developed setup is highly stable against small thermal uctuations and shows a linear behaviour under increasing thermal load. Calibration data for the mathmatical corrections under different thermal conditions was obtained.
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34

Schröder, Tim. "Integrated photonic systems for single photon generation and quantum applications." Doctoral thesis, Humboldt-Universität zu Berlin, Mathematisch-Naturwissenschaftliche Fakultät I, 2013. http://dx.doi.org/10.18452/16723.

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Abstract:
Im Rahmen der vorliegenden Dissertation wurden neuartige integrierte Einzelphotonenquellen (EPQ) und ihre Anwendung für die Quanteninformationsverarbeitung entwickelt und untersucht. Die Erzeugung von Einzelphotonen basiert auf einzelnen Defektzentren in nanometergroßen Diamantkristallen mit einzigartigen optischen Eigenschaften: Stabilität bei Zimmertemperatur ohne optisches Blinken. Diamantkristalle mit Größen bis unter 20nm wurden mit neuartigen „pick-and-place“ Techniken (z.B. mit einem Atomkraftmikroskop) in komplexe photonische Strukturen integriert. Zwei unterschiedliche Ansätze für die Realisierung der neuartigen EPQ wurden verfolgt. Beim ersten werden fluoreszierende Diamantkristalle in nano- und mikrometergroße Faser-basierte oder resonante Strukturen in einem „bottom-up“ Ansatz integriert, dadurch werden zusätzliche optische Komponenten überflüssig und das Gesamtsystem ultra-stabil und wartungsfrei. Der zweite Ansatz beruht auf einem Festkörperimmersionsmikroskop (FIM). Seine Festkörperimmersionslinse wirkt wie eine dielektrische Antenne für die Emission der Defektzentren. Es ermöglicht die höchsten bisher erreichten Photonenzählraten von Stickstoff-Fehlstellen von bis zu 2.4Mcts/s und Einsammeleffizienzen von bis zu 4.2%. Durch Anwendung des FIM bei cryogenen Temperaturen wurden neuartige Anwendungen und fundamentale Untersuchungen möglich, weil Photonenraten signifikant erhöht wurden. Die Bestimmung der spektralen Diffusionszeit eines einzelnen Defektzentrums (2.2µs) gab neue Erkenntnisse über die Ursachen von spektraler Diffusion. Spektrale Diffusion ist eine limitierende Eigenschaft für die Realisierung von Quanteninformationsanwendungen. Das Tisch-basierte FIM wurde außerdem als kompakte mobile EPQ mit Ausmaßen von nur 7x19x23cm^3 realisiert. Es wurde für ein Quantenkryptographie-Experiment implementiert, zum ersten Mal mit Siliziumdefektzentren. Des Weiteren wurde ein neues Konzept für die Erzeugung von infraroten EPQ entwickelt und realisiert.<br>The presented thesis covers the development and investigation of novel integrated single photon (SP) sources and their application for quantum information schemes. SP generation was based on single defect centers in diamond nanocrystals. Such defect centers offer unique optical properties as they are room temperature stable, non-blinking, and do not photo-bleach over time. The fluorescent nanocrystals are mechanically stable, their size down to 20nm enabled the development of novel nano-manipulation pick-and-place techniques, e.g., with an atomic force microscope, for integration into photonic structures. Two different approaches were pursued to realize novel SP sources. First, fluorescent diamond nanocrystals were integrated into nano- and micrometer scaled fiber devices and resonators, making them ultra-stable and maintenance free. Secondly, a solid immersion microscope (SIM) was developed. Its solid immersion lens acts as a dielectric antenna for the emission of defect centers, enabling the highest photon rates of up to 2.4Mcts/s and collection efficiencies of up to 4.2% from nitrogen vacancy defect centers achieved to date. Implementation of the SIM at cryogenic temperatures enabled novel applications and fundamental investigations due to increased photon rates. The determination of the spectral diffusion time of a single nitrogen vacancy defect center (2.2µs) gave new insights about the mechanisms causing spectral diffusion. Spectral diffusion is a limiting property for quantum information applications. The table-top SIM was integrated into a compact mobile SP system with dimension of only 7x19x23cm^3 while still maintaining record-high stable SP rates. This makes it interesting for various SP applications. First, a quantum key distribution scheme based on the BB84 protocol was implemented, for the first time also with silicon vacancy defect centers. Secondly, a conceptually novel scheme for the generation of infrared SPs was introduced and realized.
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35

Müller, Dennis. "Differentielle interferometrische Partikelverfolgung mit Subnanometer- und Submillisekundenauflösung." Doctoral thesis, 2013. http://hdl.handle.net/11858/00-1735-0000-0001-BB5D-6.

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Franck, Jana Manske Eberhard. "Einfluss von Luftfluktuationen auf die interferometrische Messung /." 2007. http://www.gbv.de/dms/ilmenau/abs/545695996franc.txt.

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Jung, Sebastian Linß Gerhard. "Integration eines faserbasierten interferometrischen Sensorsystems in einen Formtester /." 2007. http://www.gbv.de/dms/ilmenau/abs/550835911jung.txt.

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38

Malz, André [Verfasser]. "Interferometrische Bestimmung der Funduspulsation des menschlichen Auges / von André Malz." 2009. http://d-nb.info/1001726197/34.

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39

Bartscherer, Erik [Verfasser]. "Entwicklung eines biochemisch sensitiven Transducers für einen interferometrischen Affinitätssensor / von Erik Bartscherer." 2007. http://d-nb.info/983769761/34.

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40

Miesner, Jürgen [Verfasser]. "Beitrag zur kontinuierlichen interferometrischen Untersuchung der Eigenschwingungsformen rotierender Bauteile / von Jürgen Miesner." 2004. http://d-nb.info/97418893X/34.

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Zawischa, Ivo [Verfasser]. "Injektionsgekoppelte diodengepumpte Nd:YAG- und Nd:YVO4-Laser für terrestrische interferometrische Gravitationswellendetektoren / von Ivo Zawischa." 2003. http://d-nb.info/970650302/34.

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Przygodda, Frank [Verfasser]. "Spektroskopische und interferometrische Untersuchungen an T-Tauri-Sternen im mittleren Infrarotbereich / vorgelegt von Frank Przygodda." 2004. http://d-nb.info/971033811/34.

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Thiel, Christian [Verfasser]. "Extrahierung hydrologisch relevanter Parameter aus hochaufgelösten polarimetrischen L-Band sowie interferometrischen X-Band SAR-Daten / von Christian Thiel." 2004. http://d-nb.info/972076204/34.

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44

Juchem, Thorsten [Verfasser]. "Systemintegration des biologischen Photochroms Bakteriorhodopsin : Entwicklung und Charakterisierung eines holographischen Kamerasystems für die interferometrische Analyse / vorgelegt von Thorsten Juchem." 2001. http://d-nb.info/972712321/34.

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45

Schilling, Jörg [Verfasser]. "Entwicklung einer schnellen digitalen Bildverarbeitungstechnik und einer interferometrischen 2λ-Mikroskopietechnik [2-Lambda-Mikroskopietechnik] : Anwendung in der Zell-Biophysik / Jörg Schilling". 2003. http://d-nb.info/96988057X/34.

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Bernert, Constantin. "Untersuchung photorefraktiver Materialien mittels optischer Ptychographie." Master's thesis, 2016. https://tud.qucosa.de/id/qucosa%3A30065.

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Abstract:
In der vorliegenden Arbeit wird die neuartige Mikroskopiemethode der Ptychographie für die Untersuchung photorefraktiver Materialien genutzt. Photorefraktive Materialien zeichnen sich durch die Generation lichtinduzierter Brechungsindexänderungen aus. Die Ptychographie bietet die Möglichkeit, neben der generierten Brechungsindexänderung im photorefraktiven Material auch die für die Generation genutzte Intensitätsverteilung des Laserstrahls zu bestimmen. Es wird sowohl die Abhängigkeit der Brechungsindexänderung von der Zeit der Generation als auch die Abhängigkeit von der Polarisation des Lasers gemessen. Durch den Vergleich der gewonnenen Werte mit einer numerischen Simulation des photorefraktiven Effekts werden mikroskopische Parameter der lichtinduzierten Ladungswanderung ermittelt. Zudem wird aus der polarisationsabhängigen ptychographischen Messung das Raumladungsfeld und die korrespondierende Ladungsdichte im Material berechnet. Die Ptychographie liefert damit einen neuen Zugang zum quantitativen Verständnis der Photorefraktivität.:1 Einleitung 2 Theoretische Vorbetrachtungen 2.1 Ptychographie 2.1.1 Messung 2.1.2 Modell und Rekonstruktion 2.1.3 Ortsauflösung 2.2 Photorefraktiver Efekt 2.2.1 Lithiumniobat - Musterbeispiel für die Photorefraktivität 2.2.2 Ein-Zentrum-Modell 2.2.3 Brechungsindexänderung 2.2.4 Hohe Intensitäten 2.3 Raumladungsfeld 2.3.1 Ableitung des Feldes aus den Messgrößen 2.3.2 Raumladungsverteilung 2.3.3 Oberflächendeformation 2.3.4 Dynamik der Ladungen und des Feldes 3 Messungen 3.1 Proben 3.1.1 Ptychographische Teststruktur 3.1.2 LiNbO3:Fe 3.2 Versuchsanordnung 3.2.1 Experimenteller Aufbau 3.2.2 Grenze der Ortsauflösung 3.2.3 Charakterisierung des Laserstrahls 3.2.4 Experimentelle Überprüfung der Näherungen 3.3 Dynamik der Brechungsindexänderung 3.4 Polarisationsabhängigkeit der Brechungsindexänderung 4 Auswertung 4.1 Dynamik des Raumladungsfeldes und der Ladungen 4.1.1 Simulation 4.1.2 Vergleich zwischen Messung und Simulation 4.1.3 Dynamik der Ladungsverteilung 4.1.4 Fazit 4.2 Berechnung des Raumladungsfeldes 4.2.1 Raumladungsfeld und Ladungsverteilung 4.2.2 Simulation 4.2.3 Asymmetrie der Ladungsverteilung 4.2.4 Fazit 5 Zusammenfassung Appendizes A Physikalische Konstanten B Tensoren für LiNbO3 C Ungenäherte Herleitung der Brechungsindexänderung D Implementierung eines iterativen Verfahrens zur Bestimmung der Dynamik des Ein-Zentrum-Modells E Quelltext der Implementierung des iterativen Verfahrens Literaturverzeichnis<br>In the present thesis the novel microscopy technique of ptychography is applied to the investigation of photorefractive materials. Photorefractive materials exhibit a change of the refractive index due to the exposure to light. The method of ptychography determines the refractive index change of the material together with the intensity distribution of the laser beam that was used for its generation. In one part of the experiment the time dependence of the refractive index change versus the generation time is investigated, in the other part of the experiment the dependence of the refractive index change to the polarisation of the laser beam is examined. Microscopic parameters of the photorefractive charge migration are determined with the utilisation of a numerical simulation of the photorefractive effect and its comparison with the measurement. Finally, the whole space charge field with the corresponding space charge density is calculated from a set of ptychographic measurements of one refractive index change with different polarisation directions of the laser. The presented experiments and their evaluation show, that the method of ptychography opens a new possibility for a quantitative understanding of the photorefractive effect.:1 Einleitung 2 Theoretische Vorbetrachtungen 2.1 Ptychographie 2.1.1 Messung 2.1.2 Modell und Rekonstruktion 2.1.3 Ortsauflösung 2.2 Photorefraktiver Efekt 2.2.1 Lithiumniobat - Musterbeispiel für die Photorefraktivität 2.2.2 Ein-Zentrum-Modell 2.2.3 Brechungsindexänderung 2.2.4 Hohe Intensitäten 2.3 Raumladungsfeld 2.3.1 Ableitung des Feldes aus den Messgrößen 2.3.2 Raumladungsverteilung 2.3.3 Oberflächendeformation 2.3.4 Dynamik der Ladungen und des Feldes 3 Messungen 3.1 Proben 3.1.1 Ptychographische Teststruktur 3.1.2 LiNbO3:Fe 3.2 Versuchsanordnung 3.2.1 Experimenteller Aufbau 3.2.2 Grenze der Ortsauflösung 3.2.3 Charakterisierung des Laserstrahls 3.2.4 Experimentelle Überprüfung der Näherungen 3.3 Dynamik der Brechungsindexänderung 3.4 Polarisationsabhängigkeit der Brechungsindexänderung 4 Auswertung 4.1 Dynamik des Raumladungsfeldes und der Ladungen 4.1.1 Simulation 4.1.2 Vergleich zwischen Messung und Simulation 4.1.3 Dynamik der Ladungsverteilung 4.1.4 Fazit 4.2 Berechnung des Raumladungsfeldes 4.2.1 Raumladungsfeld und Ladungsverteilung 4.2.2 Simulation 4.2.3 Asymmetrie der Ladungsverteilung 4.2.4 Fazit 5 Zusammenfassung Appendizes A Physikalische Konstanten B Tensoren für LiNbO3 C Ungenäherte Herleitung der Brechungsindexänderung D Implementierung eines iterativen Verfahrens zur Bestimmung der Dynamik des Ein-Zentrum-Modells E Quelltext der Implementierung des iterativen Verfahrens Literaturverzeichnis
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