Relevant bibliographies by topics / Metrologie

Contents

  1. Journal articles
  2. Dissertations / Theses
  3. Books
  4. Book chapters
  5. Conference papers
  6. Reports

Academic literature on the topic 'Metrologie'

Author: Grafiati
Published: 4 June 2021
Last updated: 29 March 2025

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Journal articles on the topic "Metrologie"

1

Basson, N. "Metrologie – essensieel vir gehalte." Suid-Afrikaanse Tydskrif vir Natuurwetenskap en Tegnologie 5, no. 4 (March 18, 1986): 206–20. http://dx.doi.org/10.4102/satnt.v5i4.1005.

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2

Velazquez Iturbide, Alfredo, and Robert H. Schmitt. "OCT-basierte Metrologie kleiner Glaslinsen/OCT-based metrology of small glas lenses." wt Werkstattstechnik online 114, no. 11-12 (2024): 717–27. https://doi.org/10.37544/1436-4980-2024-11-12-13.

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Abstract:
Die genaue Charakterisierung von miniaturisierten Glaslinsen ist aufgrund der Verbindung zwischen Leistung und geometrischen Eigenschaften unerlässlich. Dieser Beitrag befasst sich mit der Verwendung der optischen Kohärenztomografie (OCT) für die Charakterisierung von miniaturisierten Glaslinsen. OCT liefert hochauflösende tomografische Bilder, die eine umfassende geometrische Charakterisierung ermöglichen, welche für Erkenntnisse über die Leistung der Linsen und die Qualitätskontrolle entscheidend ist.
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3

Eichstädt, Sascha, and Björn Ludwig. "Metrologie für heterogene Sensornetzwerke und Industrie 4.0." tm - Technisches Messen 86, no. 11 (November 26, 2019): 623–29. http://dx.doi.org/10.1515/teme-2019-0073.

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Abstract:
ZusammenfassungNetzwerke von Sensoren für verschiedene Messgrößen stellen zunehmend das Rückgrat für eine Vielzahl von Anwendungsgebieten in beispielsweise Industrie, Maschinenbau und Umweltüberwachung dar. Dabei spielt das Zusammenführen der Daten (Sensorfusion) eine zentrale Rolle in der Anwendung und ist im Allgemeinen ein gut untersuchtes Forschungsgebiet. Die Berücksichtigung metrologischer Grundprinzipien wie Kalibrierung, Messunsicherheiten und damit Rückführung auf das SI-Einheitensystem für vergleichbare und reproduzierbare Messergebnisse ist jedoch vergleichsweise wenig untersucht. Dieser Beitrag diskutiert Grundsatzfragen, stellt Lösungsansätze aus dem aktuell laufenden EMPIR-Projekt “Metrology for the Factory of the Future” (Met4FoF) vor und gibt einen Ausblick auf zukünftige Forschungsfelder. Dabei fokussiert sich der Artikel auf das Anwendungsfeld der sog. „Industrie 4.0“ als „Fabrik der Zukunft“.
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4

Witthöft, Harald. "Ökonomie, Währung und Zahl – Wirtschaftsgeschichte und historische Metrologie." Vierteljahrschrift für Sozial- und Wirtschaftsgeschichte 95, no. 1 (2008): 25–40. http://dx.doi.org/10.25162/vswg-2008-0002.

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5

Jescheck, M., and W. Neubert. "Metrologie: Die Internationale Temperaturskala von 1990 (ITS-90)." Physik Journal 46, no. 9 (September 1990): 360–62. http://dx.doi.org/10.1002/phbl.19900460908.

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6

Mester, Christian, Jean-Pierre Braun, and Charles Ané. "Einführung in die rückführbare Messung von Power Quality." tm - Technisches Messen 85, no. 12 (December 19, 2018): 738–45. http://dx.doi.org/10.1515/teme-2018-0021.

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Abstract:
Zusammenfassung Das Eidgenössische Institut für Metrologie METAS verfügt über ein Kalibriersystem für Power Quality Analyser, das auf das Internationale Einheitensystem SI zurückgeführt ist. Es wird für die Kalibrierung, Prüfung und unabhängige Zertifizierung von Power Quality Analysern verwendet. In diesem Artikel wird zunächst das Themenfeld Versorgungsqualität betrachtet, wobei die normierten Kenngrößen kurz erklärt werden. Anschließend wird das Kalibriersystem des METAS erklärt und eine Messunsicherheitsberechnung am Beispiel der Kenngröße Flicker durchgeführt.
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7

Guggino, S., F. Lieutier, M. Ott, A. Verot, G. Pauli, and F. De Blay. "Metrologie des particules aeriennes portant les endotoxines dans l'environnement domestique." Revue Française d'Allergologie et d'Immunologie Clinique 41, no. 1 (January 2001): 130. http://dx.doi.org/10.1016/s0335-7457(01)80070-8.

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8

Kniel, Karin, Jens Flügge, and Harald Bosse. "Neue Wege der metrologischen Rückführbarkeit in der Längen- und Koordinatenmesstechnik." tm - Technisches Messen 86, no. 9 (September 5, 2019): 487–501. http://dx.doi.org/10.1515/teme-2019-0092.

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Abstract:
ZusammenfassungDie metrologische Rückführbarkeit und der damit verbundene Bezug auf eine allgemein akzeptierte Referenz für Messergebnisse sind unverzichtbare Grundlagen für die heute existierende global vernetzte Fertigung. Seit Einführung des industriellen Austauschbaus Ende des 18. Jahrhunderts haben Fortschritte in der Metrologie eine fortschrittliche industrielle Fertigung ermöglicht. In diesem Beitrag wird ein Überblick über Wege zur Sicherstellung der metrologischen Rückführbarkeit in der Längen- und Koordinatenmesstechnik gegeben. Anhand von jüngsten Beispielen aus den Bereichen der 1D-Längenkalibrierung und der 3D-Koordinatenmesstechnik werden aktuelle Trends und ihre Hintergründe aufgezeigt.
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9

Lösler, Michael, and Cornelia Eschelbach. "Orthogonale Regression – Realität oder Isotropie?" tm - Technisches Messen 87, no. 10 (October 25, 2020): 637–46. http://dx.doi.org/10.1515/teme-2020-0063.

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Abstract:
ZusammenfassungNicht nur in der Metrologie wird für die Analyse von Daten auf eine orthogonale Regression zurückgegriffen. Bei der orthogonalen Regression stehen die zu minimierenden Verbesserungen senkrecht auf der Funktion, weshalb dem Verfahren häufig ein hoher Anschauungsgrad beigemessen wird. In diesem Beitrag werden einige Eigenschaften der orthogonalen Regression untersucht und geprüft, ob diese exklusiv diesem Verfahren zuzuordnen sind oder ob es sich lediglich um übertragene Eigenschaften eines allgemeinen Optimierungsproblems handelt. Ergänzend zu den Ausführungen von Kolaczia [9] soll die Frage nach der Eignung dieses Verfahrens für die Messtechnik beantwortet werden.
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10

Morgner, Uwe, Richard Ell, Franz X. Kärtner, and Wolfgang Drexler. "Erzeugung und Anwendung ultrakurzer Lichtpulse: Medizin und Metrologie profitieren von Femtosekunden-Laserpulsen." Physik Journal 57, no. 3 (March 2001): 53–56. http://dx.doi.org/10.1002/phbl.20010570312.

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Dissertations / Theses on the topic "Metrologie"

1

YOUSFI, NADIR. "Metrologie des systemes a objets." Nantes, 1995. http://www.theses.fr/1995NANT2024.

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Abstract:
La technologie objet s'impose de plus en plus dans la production du logiciel. L'utilisation des outils de mesure permet d'evaluer et de controler la qualite des produits issus d'un tel processus. L'approche objet est basee sur la modelisation d'un probleme donne du monde reel en termes de ses entites. Elle differe totalement de l'approche fonctionnelle traditionnelle qui separe les donnees et les procedures. Il n'est donc pas surprenant de voir que les mesures developpees avec les methodes traditionnelles ne sont pas adaptees aux notions de classes, d'heritage, d'encapsulation et d'envoi des messages. Cette inaptitude s'accentue quand il s'agit d'evaluer la qualite interne des produits logiciels. Le travail de these realise aborde les points suivants: les entites et les relations mesurables dans un cycle de vie, les attributs et les mesures associees aux differents composant du cycle de vie. Un modele de gestion de la qualite est elabore. La reutilisabilite, la facilite d'utilisation et la testabilite en sont les criteres preponderants, les techniques qui permettent de reduire certaines complexites inherentes a la programmation par objet. Nous decrivons quelques techniques de restructuration du code. Ces techniques peuvent etre mises en uvre de maniere automatique. Plus d'une centaine de mesures sont proposees et testees dans l'environnement smalltalk-80. Nous developpons un outil integre qui permet d'appliquer le modele de gestion de la qualite aux applications a objets. L'aspect general de ces mesures permet de les utiliser dans d'autres environnements de developpement tels que c++ et eiffel
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2

Horká, Zdeňka. "Legislativní zabezpečení metrologie strojírenského provozu." Master's thesis, Vysoké učení technické v Brně. Fakulta strojního inženýrství, 2008. http://www.nusl.cz/ntk/nusl-228235.

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Abstract:
This thesis deals with legislative security scheme of metrology in engineering operation. The introduction includes description of state administration in the area of metrology and the summary of laws and regulations as well as the rights and obligations which result from the documents mentioned above. Practical part is focused on proposal of company regulations for engineering operation.
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3

RIOUFREYT, PHILIPPE. "Developpement d'un systeme de metrologie optique tridimensionnelle sans contact." Paris 11, 1990. http://www.theses.fr/1990PA112308.

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Abstract:
Cette etude a ete motivee par la necessite d'obtenir une description exhaustive et precise du relief d'un objet et ce sans contact avec le capteur. Une typologie des procedes de mesure optique dimensionnelle a revele l'interet d'une methode basee sur l'analyse des deformations d'un reseau de franges. Elle se distingue par sa capacite a enregistrer simultanement un grand nombre de points. Dans ce memoire sont presentes les principes d'acquisition triangulation et lecture quasi heterodyne des deformations d'un reseau et leurs limitations bruits sur les mesures, forme et etat de surface des objets. Une procedure d'etalonnage originale et des fonctions metrologiques specifiques sont egalement decrites. Le systeme developpe permet l'acquisition des coordonnees x, y, z des points de la surface d'un objet en moins d'une seconde et avec une precision de 10 microns. Le pilotage et l'algorithmie de restitution sont implantes sur un pc 386 et integres a un logiciel de traitement de l'image. Des caracterisations de cordons de soudure, de petits defauts et de pieces de geometries complexes sont presentees
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4

DORIGNY, ABEL. "Metrologie des grandeurs caracteristiques des transferts thermiques dans les sols." Paris, CNAM, 1993. http://www.theses.fr/1993CNAM0177.

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Abstract:
L'analyse de procedes de mesure des grandeurs thermophysiques caracteristiques est realisee a partir de l'etude experimentale sur echantillons de trois unites typologiques de sol, caracteristiques du sud du bassin de paris. Une methode adaptee d'identification des objets sols en vue de l'etude de leurs proprietes thermiques est presentee. La capacite thermique massique des materiaux des sols est mesuree avec le microcalorimetre de calvet. Une analyse approfondie du systeme physique de mesurage conduit a la correction des principales erreurs systematiques. L'incertitude globale sur une mesure ne depasse pas trois pour cent. Le mesurage de la conductivite thermique apparente des sols est realise avec la methode de la sonde a choc. Une etude numerique de l'effet des grandeurs d'influence est realisee et une methode de choix de la periode utile du thermogramme est presentee. L'incertitude globale relative sur une mesure atteint sept pour cent. La reponse impulsionnelle experimentale des horizons pedologiques superieurs est determinee aux etats secs et humides, et sa modelisation conduit a assimiler le sol a un systeme lineaire du quatrieme ordre. La methode de duhamel permet le suivi de l'evolution temporelle du profil thermique. L'ensemble des methodes presentees constitue un premier essai de synthese pour les technologies d'etude des relations sol-energie thermique. La qualite des resultats obtenus est evaluee par la donnee de l'incertitude globale de mesure
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5

Summ, Patrick. "Techniques d'obturation rapide en imagerie 2d et en metrologie picoseconde." Université Louis Pasteur (Strasbourg) (1971-2008), 1994. http://www.theses.fr/1994STR13092.

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Abstract:
L'objet de ce travail a consiste a mettre en uvre des techniques d'obturation optique nanoseconde pour realiser un intensificateur de lumiere commandable et a mettre au point une camera a balayage de fente disposant d'un obturateur a ouverture variable. Pour les deux systemes electro-optiques les differents modes d'obturation sont etudies. Une investigation essentielle est consacree a l'analyse detaillee des caracteristiques de l'intensificateur de lumiere en vue de son utilisation en mode d'obturation rapide. La meilleure methode d'obturation est obtenue en appliquant une tension pulsee de 200 v sur la photocathode. La camera a balayage de fente est utilisee en mode synchroscan pour observer des phenomenes lumineux recurrents. Un circuit electronique a ete developpe pour synchroniser la camera avec des impulsions lumineuses a une frequence de repetition de 82 mhz et avec une resolution temporelle de 1,6 ps. Pour la camera a balayage de fente utilisee, le mode d'obturation le plus approprie consiste a pulser la tension de la galette a microcanaux incorporee dans le tube a fente. Deux circuits electroniques ont ete developpes afin de generer des impulsions electriques elevees (1000 v) avec une duree ajustable. L'intensificateur de lumiere couple a une camera ccd numerique est obture avec un temps ouverture, minimale d'environ 3 ns. L'obturation de la camera a balayage de fente permet une duree d'ouverture inferieure a 12 ns. Les systemes sont utilises en imagerie de fluorescence appliquee aux plantes et pour la caracterisation des fluctuations de phase de systemes laser
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6

Samsel, Marcel. "Metrologie photonique et photonique de puissance : applications biomedicales et industrielles." Université Louis Pasteur (Strasbourg) (1971-2008), 1987. http://www.theses.fr/1987STR13122.

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Abstract:
Contribution a la thermographie et a la thermometrie biomedicales par cristaux liquides cholesteriques; a l'emissivimetrie infrarouge et a la rugosimetrie par analyse de speckle; a la keratoplastie par laser co::(2)
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7

BECKER, AXEL. "Metrologie tridimensionnelle et controle de conformite par le moire inverse." Université Louis Pasteur (Strasbourg) (1971-2008), 1999. http://www.theses.fr/1999STR13214.

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Abstract:
Les techniques du moire fonctionnent par projection d'un reseau sur la surface de l'objet. En observant cette surface a travers un reseau de reference, on obtient des franges de type moire en fonction de la forme de l'objet. Pour deduire l'information sur la forme de l'objet, on doit d'abord extraire la structure geometrique de la figure de moire. Dans le cas des objets de forme arbitraire, les franges de moire sont irregulieres et entrainent un traitement des donnees lourd. Cependant, on dispose souvent d'un objet etalon ou de donnees cao de la piece dans le cas d'une production serie. Le principe du moire inverse consiste a calculer un reseau specifique a partir de cette base de donnees de sorte que la projection de ce reseau sur l'objet donne une figure de moire simple lorsque la piece est conforme aux donnees. Tout defaut dans la forme de l'objet sera visualise par une courbure des franges. Grace a la simplicite des figures de moire dans le cas inverse, le traitement des images peut etre considerablement simplifie. Ainsi, l'approche proposee est tout a fait adaptee aux cas ou l'objet doit etre controle rapidement. Dans cette these le modele mathematique du moire inverse est presente. Un algorithme de reconstruction differentielle est introduit et les differentes etapes du traitement d'image sont expliquees. Un prototype qui permet de remplacer le reseau de projection par une matrice a cristaux liquides fonctionnant en tant que reseau de projection programmable est construit. Un circuit electronique de faible cout et tres rapide est developpe pour transferer les signaux du capteur ccd directement dans la memoire de l'ordinateur afin de les traiter rapidement. Des simulations sont montre qui permettent de verifier et caracteriser le processus de traitement de l'image et la reconstruction de la forme. Des mesures sur des objets reels montrent que la technique de moire inverse peut etre adapte a une analyse de forme en temps reel pour le controle de qualite.
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8

Schanz, Victor [Verfasser], Markus [Akademischer Betreuer] Roth, and Vincent [Akademischer Betreuer] Bagnoud. "Zeitlicher Laserpulskontrast - Metrologie und Optimierung / Victor Schanz ; Markus Roth, Vincent Bagnoud." Darmstadt : Universitäts- und Landesbibliothek Darmstadt, 2019. http://d-nb.info/1187919861/34.

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9

MILLIER, PHILIPPE. "Etude des methodes et des moyens pour la metrologie des capteurs d'images." Paris 6, 1995. http://www.theses.fr/1995PA066401.

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Abstract:
Les dispositifs de mesure faisant appel aux techniques d'imagerie connaissent un essor important depuis quelques annees. En general, ces systemes sont concus autour de capteurs matriciels permettant d'enregistrer la geometrie et l'intensite du phenomene physique observe ainsi que son evolution au cours du temps. Apres avoir decrit une chaine de mesure standard d'imagerie (neutron, gamma ou x) developpee et realisee par le commissariat a l'energie atomique (cea) pour des experiences de physique haute energie, nous exposons les caracteristiques a mesurer pour etalonner les differents systemes mis en uvre. Les systemes d'imagerie (cameras a echantillonnage d'image 2-ns, amplificateurs de brillance, endoscopes et une camera de reference de grande dynamique) ont fait l'objet d'une caracterisation approfondie. Plusieurs etudes de metrologie ont ete entreprises de maniere detaillee. Elles ont necessite le developpement de methodes originales et de moyens adaptes pour la caracterisation fine et le reglage precis sur le banc des dispositifs etudies. Ces mesures concernent plus particulierement: la fonction de transfert de modulation 1-d et 2-d, la fonction de transfert d'amplitude (linearite), le bruit de base et le bruit sur signal, le profil d'ouverture spatio-temporel effectif 2-d et les distorsions geometriques. Une description exhaustive et une caracterisation complete du banc de mesure developpe et sans cesse ameliore durant la these sont presentees ainsi que le logiciel associe permettant l'acquisition, la visualisation et le traitement des images necessaires aux etudes de metrologie. De nombreuses etudes concernant la modelisation et la simulation numerique de phenomenes physiques viendront aussi completer les mesures pour une meilleure comprehension du fonctionnement des capteurs d'images et de la precision associee a chaque type de mesure. Des methodes originales de traitement du signal et de traitement d'images seront aussi explicitees pour une meilleure exploitation des mesures et la correction des deformations engendrees par un capteur
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10

MONNIER, BOURDIN DOMINIQUE. "Systeme de synchronisation picoseconde et metrologie associee. Application au laser megajoule (lmj)." Paris 6, 1998. http://www.theses.fr/1998PA066573.

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Abstract:
Ce rapport de these presente l'etude et la realisation d'un systeme de synchronisation innovant par ses performances et son faible cout tout en proposant une forte capacite d'evolution. Le principe et les concepts developpes s'appliquent aux grands instruments de physique tels le laser megajoule (lmj). L'objectif du systeme est de synchroniser l'arrivee de 240 impulsions laser sur une cible dans une fenetre temporelle de 60 ps (60 10 1 2 s). Le systeme doit assurer la coherence du declenchement du laser et des diagnostics. Le nombre de signaux de synchronisation a delivrer pour le lmj est superieur a 8000 sur une surface de 10000 m 2 avec une precision relative de 15 ps rms. Par comparaison, le gps, qui est un des systemes de synchronisation les plus performants, a une precision relative de la nanoseconde. Les etudes de faisabilite menees sur une liaison numerique utilisant des composants standards des telecommunications a 155,52 mb/s, sur la possibilite de compenser les derives en temperature de la fibre optique et sur la realisation de compteurs numeriques utilisant des composants programmables ont permis de definir les principes et les concepts du systeme. La solution proposee repose sur le principe d'une liaison optoelectronique numerique a haut debit et faible gigue assurant le transport des ordres de declenchement et d'une reference temporelle unique dans toutes les zones du batiment. Un generateur de retard aux performances subnanoseconde a du etre developpe pour l'architecture prototype du systeme de synchronisation. Les performances du systeme de synchronisation sont alors les suivantes : une gigue efficace inferieure a 25 ps, une resolution inferieure a 10 ps et une dynamique de retard programmable superieure a 1 s pour une precision de 100 ps.
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Books on the topic "Metrologie"

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Kubáček, Lubomír. Statistika a metrologie. V Olomouci: Univerzita Palackého, 2000.

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2

Heit, Alfred. Bibliographie zur historischen Metrologie. Trier: Auenthal, 1992.

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3

Eichhorn, A. Metrologie in der Arzneimittelkontrolle. Berlin: Akademie-Verlag, 1986.

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4

Buzdugan, Artur. Contribuții în metrologie, certificare, informatizare și inovare. Chișinău: Academia de Științe a Republicii Moldova, 2003.

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5

Organisation Internationale de Métrologie Légale. Metrology training: Synthesis of facilities and bibliography = Formation en metrologie : synthèse sur les possibilitiés et bibliographie. Paris: OIML, 1987.

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6

Witthöft, Harald. Deutsche Bibliographie zur historischen Metrologie: Das deutsche und deutschsprachige Schrifttum, erweitert um ausgewählte Arbeiten zur historischen Metrologie europäischer und aussereuropäischer Staaten. St. Katharinen: Scripta Mercaturae Verlag, 1991.

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7

Kind, Dieter. Herausforderung Metrologie: Die Physikalisch-Technische Bundesanstalt und die Entwicklung seit 1945. Bremerhaven: Wirtschaftsverlag NW, 2002.

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8

Tavernor, Robert. Smoot's ear: The measure of humanity. New Haven: Yale University Press, 2007.

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9

Seminário Rio Metrologia (1st 2002 Rio de Janeiro, Brazil). Seminário Rio Metrologia 2002: 07 a 08 de novembro, Hotel Pestana Rio Atlântica. Rio de Janeiro, RJ: Rede de Tecnologia do Rio de Janeiro, 2002.

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10

Rio-Metrologia. Rio-Metrologia: Rede de Laboratórios do Rio de Janeiro. Rio de Janeiro, RJ: Rio Metrologia, 2000.

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Book chapters on the topic "Metrologie"

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Vidal, C., and W. R. Külpmann. "Metrologie." In Lexikon der Medizinischen Laboratoriumsdiagnostik, 1. Berlin, Heidelberg: Springer Berlin Heidelberg, 2018. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-662-49054-9_2131-1.

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2

Vidal, C., and W. R. Külpmann. "Metrologie." In Springer Reference Medizin, 1646. Berlin, Heidelberg: Springer Berlin Heidelberg, 2019. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-662-48986-4_2131.

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3

Mende, Dietmar, and Günter Simon. "Grundbegriffe der Metrologie." In Physik, 11–25. München: Carl Hanser Verlag GmbH & Co. KG, 2013. http://dx.doi.org/10.3139/9783446438613.001.

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4

Mende, Dietmar, and Günter Simon. "Grundbegriffe der Metrologie." In Physik, 11–25. München: Carl Hanser Verlag GmbH & Co. KG, 2016. http://dx.doi.org/10.3139/9783446449701.001.

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5

Vidal, C., and W. R. Külpmann. "Internationales Wörterbuch der Metrologie." In Lexikon der Medizinischen Laboratoriumsdiagnostik, 1. Berlin, Heidelberg: Springer Berlin Heidelberg, 2018. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-662-49054-9_1607-1.

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6

Vidal, C., and W. R. Külpmann. "Internationales Wörterbuch der Metrologie." In Springer Reference Medizin, 1269. Berlin, Heidelberg: Springer Berlin Heidelberg, 2019. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-662-48986-4_1607.

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7

Taschow, Ulrich. "Die Welt auf dem Reissbrett. Klingende Physik, Metrologie des Geistes und die Erfindung der exakten Naturwissenschaften." In Was zählt, 295–332. Köln: Böhlau Verlag, 2012. http://dx.doi.org/10.7788/boehlau.9783412214876.295.

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Karaböce, Baki. "Metrology Versus Medical Metrology." In IFMBE Proceedings, 104–11. Cham: Springer Nature Switzerland, 2024. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-031-49068-2_12.

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Yagüe-Fabra, José A. "Metrology." In CIRP Encyclopedia of Production Engineering, 1–4. Berlin, Heidelberg: Springer Berlin Heidelberg, 2016. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-35950-7_6587-4.

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Hinduja, Srichand, and Lin Li. "Metrology." In Proceedings of the 37th International MATADOR Conference, 267–88. London: Springer London, 2012. http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4471-4480-9_7.

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Conference papers on the topic "Metrologie"

1

Jenssen, Ethan, Zachary Dempsey, and Ali Khounsary. "Ultrafast heliostat metrology." In Nonimaging Optics: Efficient Design for Illumination and Concentration XIX, edited by Lun Jiang, Roland Winston, Håkon Jarand Dugstad Johnsen, and Thomas A. Cooper, 34. SPIE, 2024. http://dx.doi.org/10.1117/12.3028891.

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2

Grant, T. A., A. Vetlugin, E. Plum, K. F. MacDonald, and N. I. Zheludev. "The information aspect of optical metrology with topologically structured light." In Frontiers in Optics, FTh3E.3. Washington, D.C.: Optica Publishing Group, 2024. https://doi.org/10.1364/fio.2024.fth3e.3.

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Abstract:
We provide a Fisher information theory analysis of the recently demonstrated picometre precision optical metrology of one-dimensional object with topologically structured light. Moreover, we demonstrate extension of this metrology to elementary imaging of complex objects.
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Falaggis, Konstantinos, and Ana Hiza Ramirez-Andrade. "Vision Ray Metrology for the Metrology of Optical Freeform Surfaces." In Frontiers in Optics, FTu1B.1. Washington, D.C.: Optica Publishing Group, 2024. https://doi.org/10.1364/fio.2024.ftu1b.1.

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Abstract:
Vision Ray Metrology is a novel technique for measuring freeform optics in transmission. This work examines converting geometric wavefronts into height measurements, emphasizing the impact of sample back surface flatness and telecentricity on accuracy.
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Jiang, Ruilin, and Guanhao Wu. "Six DoF Large-scale Dimensional Metrology Using Multilateral Dual-comb Ranging." In CLEO: Science and Innovations, SM1G.4. Washington, D.C.: Optica Publishing Group, 2024. http://dx.doi.org/10.1364/cleo_si.2024.sm1g.4.

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Abstract:
We developed a multilateral metrology system employing dual-comb absolute distance metrology. Using self-calibration method facilitated by the mutual-collimating method, within a 10ms averaging, it achieved micron-level precision for position and ten microradians-level precision for orientation.
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5

David, Vasty. "L’externalisation de la metrologie." In 16th International Congress of Metrology. Les Ulis, France: EDP Sciences, 2013. http://dx.doi.org/10.1051/metrology/201312003.

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6

Leblois, Patrick, and Jonathan Coquelin. "Diagnostic metrologie dans l’industrie agroalimentaire." In 17th International Congress of Metrology, edited by Bernard Larquier. Les Ulis, France: EDP Sciences, 2015. http://dx.doi.org/10.1051/metrology/20150019005.

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7

Rybář, Jan, Michal Bachratý, Andrej Smetánka, Peter Onderčo, Stanislav Ďuriš, and Jiří Tesař. "Trendy ve vzdělávání - Laboratoř medicínské metrologie." In Trendy v biomedicínském inženýrství. Brno: Brno University of Technology, Faculty of Electrical Engineering and Communication, 2023. http://dx.doi.org/10.13164/trendybmi.2023.98.

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8

Servin, M., R. Rodriguez-Vera, and D. Malacara. "Phase unwrapping using a sequentially updated cellular processor." In OSA Annual Meeting. Washington, D.C.: Optica Publishing Group, 1993. http://dx.doi.org/10.1364/oam.1993.the.2.

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9

Melo Jr, Wilson, Raphael Machado, Bruno Abreu, Luiz Fernando Rust da Costa Carmo, and Ruy Ramos. "Certificação Digital como Ferramenta de Segurança para Medidores Inteligentes." In IX Simpósio Brasileiro de Engenharia de Sistemas Computacionais. Sociedade Brasileira de Computação - SBC, 2019. http://dx.doi.org/10.5753/sbesc_estendido.2019.8641.

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Abstract:
In this paper, we present a digital certificate-based solution for smart meters. Our propose meets the identification requirements found in several scenarios related to Legal Metrology. Also, it extends previous models of smart meters authentication. This proposal results in a new class of digital certificate called "Metrologic Objects Digital Certificate." The ICP-Brasil Management Committee recently approved the use of these certificates. Fuel dispensers are the first implementation case. The objective is to reduce tampering on these instruments, so increasing their reliability.
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10

Mori, Michitsugu, Kenichi Tezuka, Takeshi Suzuki, Mark Sapia, Edward Schrull, Paul Nichols, and Yasushi Takeda. "Calibration Tests of New Type Flow-Metering System by Ultrasonic Pulse-Doppler Profile-Velocimetry at National Standard Loops." In 14th International Conference on Nuclear Engineering. ASMEDC, 2006. http://dx.doi.org/10.1115/icone14-89730.

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Abstract:
To verify high accuracy of a new type flow-metering system based on the measurements of line velocity profiles, eliminating Profile Factors, calibration tests of “UDF”, the flow-metering system by ultrasonic pulse-Doppler profile-velocimetry, were conducted at national standard loops worldwide, including the National Institute of Standard Technology (NIST) of the U.S. Department of Commerce, the National Metrology Institute of Japan (NMIJ) of the National Institute of Advanced Industrial Science and Technology (AIST) in Japan, the Nederlands Meetinstituut (NMI) in Netherlands, and the Centro National de Metrologia (CENAM) in Mexico. The deviations of UDF to the standard loops in the calibration tests for water were found between −0.23% and +0.26% at NIST, 0.1% and 0.4% at NMIJ, and −0.52% and +0.59% at NMI in terms of the average values of each measurement. Following improvements to the UDF System, the calibration tests at CENAM exhibited the deviations between −0.18% and +0.23% and the expanded uncertainty with ±0.21%.
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Reports on the topic "Metrologie"

1

Shroyer, K. Metrology measurement capabilities. Office of Scientific and Technical Information (OSTI), February 1997. http://dx.doi.org/10.2172/481595.

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2

Dr. Glen E. Gronniger. Metrology Measurement Capabilities. Office of Scientific and Technical Information (OSTI), October 2007. http://dx.doi.org/10.2172/920999.

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3

Barnes, L. M. Metrology measurement capabilities. Office of Scientific and Technical Information (OSTI), June 1997. http://dx.doi.org/10.2172/587991.

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4

Barnes, L. M. Metrology Measurement Capabilities. Office of Scientific and Technical Information (OSTI), November 2003. http://dx.doi.org/10.2172/818330.

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5

Shroyer, K. Metrology measurement capability. Office of Scientific and Technical Information (OSTI), January 1995. http://dx.doi.org/10.2172/10116062.

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6

Barnes, L. M. Metrology Measurement Capabilities. Office of Scientific and Technical Information (OSTI), March 2000. http://dx.doi.org/10.2172/753923.

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7

Gilmore, I. S. Metrology Research Roadmap. National Physical Laboratory, November 2023. http://dx.doi.org/10.47120/npl.9510.

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8

Morris, C. L., J. M. Anaya, and V. Armijo. Neutron metrology for SBSS. Office of Scientific and Technical Information (OSTI), December 1998. http://dx.doi.org/10.2172/348912.

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9

Barsic, Anthony, Rafael Piestun, and Robert R. Boye. Metrology of 3D nanostructures. Office of Scientific and Technical Information (OSTI), October 2012. http://dx.doi.org/10.2172/1144015.

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10

DeWeese, Mary E. Metrology for electromagnetic technology :. Gaithersburg, MD: National Institute of Standards and Technology, 1989. http://dx.doi.org/10.6028/nist.ir.89-3921.

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