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  1. Journal articles
  2. Dissertations / Theses
  3. Books
  4. Book chapters
  5. Conference papers
  6. Reports

Academic literature on the topic 'Rayons X – Diffraction'

Author: Grafiati
Published: 4 June 2021
Last updated: 1 March 2025

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Journal articles on the topic "Rayons X – Diffraction"

1

Ravy, Sylvain. "La diffraction cohérente des rayons X." Reflets de la physique, no. 34-35 (June 2013): 60–64. http://dx.doi.org/10.1051/refdp/201334060.

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2

Popescu, M., F. Sava, A. Lörinczi, I. N. Mihailescu, I. Cojocaru, and G. Mihailova. "Diffraction de rayons X sur le silicium poreux." Le Journal de Physique IV 08, PR5 (October 1998): Pr5–31—Pr5–37. http://dx.doi.org/10.1051/jp4:1998505.

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3

Bonod, Nicolas. "Physicien célèbre : Max von Laue." Photoniques, no. 98 (September 2019): 18–19. http://dx.doi.org/10.1051/photon/20199818.

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Abstract:
Max von Laue est un physicien théoricien allemand spécialiste de la diffraction des ondes, de la relativité et de la superconductivité. Il propose en 1912 de sonder l’arrangement périodique de la matière avec des faisceaux de courtes longueurs d’onde, les rayons X ; et sera récompensé par le prix Nobel de Physique en 1914. La découverte de la diffraction des rayons X par des cristaux sera à l’origine d’avancées majeures dans les 100 ans qui suivirent, de la découverte de la structure de l’ADN à celle des quasi-cristaux.
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4

Bach, M., N. Broll, A. Cornet, and L. Gaide. "Diffraction X en traitements thermiques : dosage de l'austénite résiduelle par diffraction des rayons X." Le Journal de Physique IV 06, no. C4 (July 1996): C4–887—C4–895. http://dx.doi.org/10.1051/jp4:1996485.

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5

Bourret, A. "Étude des interfaces enterrées par diffraction de rayons X." Le Journal de Physique IV 07, no. C6 (December 1997): C6–19—C6–29. http://dx.doi.org/10.1051/jp4:1997602.

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6

Abbas, S., A. Raho, and M. Kadi-Hanifi. "Caractérisation de solutions solides par diffraction des rayons X." Le Journal de Physique IV 10, PR10 (September 2000): Pr10–49—Pr10–54. http://dx.doi.org/10.1051/jp4:20001006.

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7

Kadi-Hanifi, M., H. Yousfi, and A. Raho. "Caractérisation de solutions solides par diffraction des rayons X." Revue de Métallurgie 90, no. 9 (September 1993): 1116. http://dx.doi.org/10.1051/metal/199390091116.

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8

Brunel, M., and F. de Bergevin. "Diffraction d'un faisceau de rayons X en incidence très rasante." Acta Crystallographica Section A Foundations of Crystallography 42, no. 5 (September 1, 1986): 299–303. http://dx.doi.org/10.1107/s010876738609921x.

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9

Kahloun, C., K. F. Badawi, and A. Diou. "Incertitude sur l'analyse des contraintes par diffraction des rayons X." Revue de Physique Appliquée 25, no. 12 (1990): 1225–38. http://dx.doi.org/10.1051/rphysap:0199000250120122500.

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10

Bulteel, D., E. Garcia-Diaz, J. Durr, L. Khouchaf, C. Vernet, and J. M. Siwak. "Étude d'un granulat alcali-réactif par diffraction des rayons X." Le Journal de Physique IV 10, PR10 (September 2000): Pr10–513—Pr10–520. http://dx.doi.org/10.1051/jp4:20001055.

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Dissertations / Theses on the topic "Rayons X – Diffraction"

1

Elzo, Aizarna Marta Ainhoa. "Diffraction résonnante des rayons X dans des systèmes multiferroïques." Phd thesis, Université de Grenoble, 2012. http://tel.archives-ouvertes.fr/tel-00870407.

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Abstract:
Le but de cette thèse est d'explorer la faisabilité d'expériences de diffraction résonante sur des systèmes multiferroïques et en particulier avec un champ/courrant électrique appliqué. Un formalisme de matrices de propagation a été développé pour simuler la réflectivité résonante, en utilisant un ensemble d'ondes propres comme base arithmétique pour le calcul. Des expériences de diffraction résonante ont été menées sur trois oxides de métaux de transition. Cette technique combinant la selectivité chimique et la sensibité à l'espace réciproque, elle a été utilisée sur des films très minces de PbTiO3 pour étudier la structure atomique d'un agencement périodique de domaines ferroélectriques. La signatures spectroscopiques observées par nos expériences de diffraction X durs sont reproduites par des simulations ab-initio FDMNES de super-cellules complexes. Dans le domaine X mous, nous avons étudié la structure antiferromagnétique cycloïdale du multiferroïque BiFeO3, et plus spécialement l'empreinte de la cycloïde sur une couche mince de Co déposée sur le matériau multiferroïque. Nous présentons également une expérience dans laquelle nous avons tenté d'explorer l'effet d'un courant électrique appliqué sur un film mince du composé à ordre de charge Pr(1-x)Ca(x)MnO3. La dernière partie est consacrée à l'instrumentation. Nous passons en revue les lignes synchrotron européennes et les diffractomètres qui permettent de faire des expériences de diffraction résonante de rayons X. Pour finir, nous détaillons un nouveau porte-échantillon que nous avons développé et testé sur le diffractomètre RESOXS, et qui permet d'appliquer un champ/courant électrique.
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2

Mastropietro, Francesca. "Imagerie de nanofils uniques par diffraction cohérente des rayons X." Phd thesis, Université de Grenoble, 2011. http://tel.archives-ouvertes.fr/tel-00716410.

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Abstract:
L'imagerie par diffraction des rayons X cohérents (CDI) en condition de Bragg est utilise pour étudier la déformation de nano-objets uniques. Ceci est possible grâce au développement d'optique focalisante, comme les lentilles de Fresnel (FZP), produisant un faisceau sub-micronique coherent. Les nanostructure étudiées sont reconstruite avec des algorithmes d'inversion à partir de données de diffraction, sous la forme d'un objet complexe, ou l'amplitude correspond à la densité électronique 3D et la phase correspond a la projection de la déformation de l'objet (par rapport a un réseau cristallin parfait) dans la direction du vecteur de diffraction. Dans ce travail, nous avons étudié la déformation dans des nanofils hétérogènes (nanofil de GaAs avec une mono-couche de boîtes quantiques de InAs) et homogènes (silicium fortement contraint sur isolant (sSOI)). Lorsqu'un faisceau focalise de rayons X est utilise, 'a la fois l'amplitude et la phase de l'onde incidente doivent être connu pour une étude quantitative. Le faisceau focalise utilise pendant les expériences a été reconstruit avec la technique CDI, et les effets de cette fonction d'illumination sur l'imagerie de nanofils contraints ont été étudiés. Mots-clés: Imagerie par diffraction x cohérente, contrainte, nanofils, algorithms d'inversion.
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3

Commeinhes, Frédéric. "Structure tridimentionnelle de la carboxypeptidase A par diffraction des rayons X." Paris 5, 1994. http://www.theses.fr/1994PA05P019.

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4

Renaud, Alain. "Etude de la structure tridimensionnelle de la gammachymotrypsine par diffraction aux rayons X." Paris 5, 1994. http://www.theses.fr/1994PA05P121.

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5

Kharchi, Djoudi. "Mise au point d'un dispositif permettant l'utilisation de la diffraction des rayons x pour la mesure de contraintes à haute température." Perpignan, 1996. http://www.theses.fr/1996PERP0246.

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Abstract:
Un dispositif de mesure des contraintes mettant en uvre la diffraction des rayons x (methode des sinus carre psi) a ete mis au point et experimente sur divers materiaux. Il est constitue d'une chambre de diffraction permettant l'examen des echantillons in-situ a haute temperature. Le chauffage est assure directement par conduction electrique a travers l'echantillon ou son support. Un verin permet de soumettre les echantillons a des contraintes de traction pendant l'acquisition des diagrammes de diffraction. L'acquisition de donnees comprend un detecteur lineaire, un analyseur multicanaux et un ordinateur. Les modifications de l'angle psi pris par l'echantillon au cours des mesures sont pilotes automatiquement. Sur un alliage fecral (kanthal) on a mesure l'evolution des contraintes residuelles contenues au voisinage de la surface, entre 20 et 400c. Les constantes elastiques necessaires a cette mesure ont ete mesurees dans le meme intervalle de temperature au moyen d'une methode de calibration mettant en jeu la reponse du systeme a l'application de contraintes connues. Sur des echantillons de zircone partiellement stabilise a l'oxyde d'yttrium obtenus par projection plasma sur support de kanthal, on a mis en evidence l'endommagement occasionne par l'application de contraintes de traction dans l'intervalle de temperature 20 - 350c. Les contraintes de surface liees a l'oxydation de depots cvd de aln ont ete mesurees apres une etude preliminaire de la cinetique d'oxydation. Les mesures ont ete effectuees en atmosphere d'air a 1200c. L'alumine formee se trouve en compression pendant l'oxydation et en tension apres retour a la temperature ambiante. Le substrat d'aln est en tension a froid et en compression en debut d'oxydation
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6

Dupraz, Maxime. "Diffraction des rayons X cohérents appliquée à la physique du métal." Thesis, Université Grenoble Alpes (ComUE), 2015. http://www.theses.fr/2015GREAI103/document.

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Abstract:
Les propriétés mécaniques des petits objets diffèrent fortement de celles du matériau massif à partir du moment où leurs dimensions deviennent comparables ou inférieures à celles du libre parcours moyen des dislocations (typiquement quelques microns). Par exemple, leur limite élastique augmente quand leur taille diminue. D'autre part les nanostructures sont exposées à de fortes contraintes, telles que celles imposées par les relations épitaxiales avec le substrat.Il existe donc un besoin clair (supporté par des intérêts industriels) d'une meilleure compréhension des phénomènes physiques qui gouvernent les propriétés des matériaux aux échelles nanométriques.Le laboratoire SIMAP est engagé dans ce domaine de recherche et s'y attelle en combinant croissance d'échantillons, méthodes de caractérisation en laboratoire, méthodes numériques et techniques synchrotron.Une des expériences clés développées par notre équipe est la caractérisation in situ des mécanismes de déformation induits par une pointe d'AFM sur une nanostructure par la diffraction des rayons X cohérents. La diffraction des rayons-X cohérents est une technique émergente de synchrotron; qui permet la mesure détaillée de la structure du cristal, y compris le champ de déformation 3D et les défauts potentiels dans des objets micro ou nano structurés. En principe, une image 3D de la structure de l'échantillon peut-être obtenue à partir des données de diffraction cohérente. En pratique, reconstruire une image de l'échantillon peut s'avérer délicat en présence d'un champ de déformation inhomogène et de nombreux défauts cristallins. Le profil du front d'onde qui est généralement assez éloigné d'une onde plane, peut encore ajouter une complication supplémentaire au problème. Dans ces travaux de thèse, il est démontré qu'une image 3D de l'objet peut être reconstruite dans le cas de systèmes modérément complexes
The mechanical properties of small objects deviate strongly from the bulk behaviour, as soon as their size becomes comparable or smaller to the dislocation mean free path (typically a few microns). For instance, their elastic limit increase when their size is reduced. On a another hand, nanostructures are exposed to strong constraints, such as that imposed by epitaxial relations with a substrate. Altogether, there is a clear need (supported by industrial interests) for a better understanding of the fundamental phenomena that govern the mechanical properties of materials at the nanometre scale. The lab SIMaP is engaged in this research and tackles the topic by combining sample growth, laboratory characterisation methods, numerical models, and synchrotron techniques.One key experiment developed by our team is the in situ characterisation of the deformation mechanism induced by an AFM tip on a nanostructure using Coherent X-ray Diffraction (CXD). CXD is an emerging synchrotron technique that allows the detailed measurement of the crystal structure,including strain field and defects, of micro/nano-objects. In principle, a 3D image of the structure of the sample can be obtained from the CXD data. However, it remains difficult in realistic cases, when the strain is very inhomogeneous and crystal defects numerous. The problem is further complicated by the wavefront of the beam, which is usually far from a plane wave, particularly when the AFM tip shadows part of the incoming beam. In this PHD work, it is demonstrated that a 3D image of the object can be reconstructed in case of moderately complex systems
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7

Rieutord, François. "Réflectivité et diffraction des rayons X appliquées aux films minces organiques." Paris 11, 1987. http://www.theses.fr/1987PA112384.

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Abstract:
Différentes études par rayon X de films de molécules amphiphiles (monocouche et multicouches de Langmuir-Blodgett) sont ici présentées. On décrit d'abord une méthode d'analyse structurale utilisant trois techniques conjuguées de rayons X: diffraction en transmission et en réflexion, et étude de la réflexion critique. On montre ensuite que l'examen complet d'une courbe de réflectivité aux rayons X permet d'obtenir des informations détaillées non seulement sur la structure mais aussi sur les interfaces de ces films multicouches. Ces données sont complétées par des observations directes des défauts de la surface au moyen de la microscopie électronique sur des répliques. Enfin on étudie la réflectivité d'une monocouche directement à la surface de l'eau, ce qui fournit d'une part son profil suivant la normale et d'autre part la rugosité de l'interface due aux ondes capillaires excitées thermiquement.
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Rieutord, François. "Réflectivité et diffraction des rayons X appliquées aux films minces organiques." Grenoble 2 : ANRT, 1987. http://catalogue.bnf.fr/ark:/12148/cb376093669.

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Valot, Carole. "Diffraction des rayons x et microstructure en domaines ferroélectriques : cas de BaTiO3." Dijon, 1996. http://www.theses.fr/1996DIJOS052.

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Abstract:
La diffraction des rayons X par les matériaux polycristallins, technique d'investigation de la matière déjà extrêmement riche, offre une possibilité nouvelle: l'étude et le suivi de la microstructure en domaines dans les matériaux ferroélectriques. Les grains monocristallins d'un matériau ferroélectrique sont divisés en domaines de polarisation uniforme dont l'arrangement antiparallèle et perpendiculaire minimise la déformation et l'énergie électrostatique. Cet arrangement dépend du conditionnement du matériau (monocristal, poudre, céramique) et est influence par les contraintes physiques externes telles que la température, le champ électrique ou la pression. Des expériences de diffraction des rayons X in situ, dans lesquelles le matériau est sollicité par les contraintes physiques, température ou champ électrique, qui forcent la microstructure à évoluer, ont montré que cette microstructure en domaines ferroélectriques laisse des empreintes dans le diagramme de diffraction du matériau. Ainsi, l'étude de l'évolution des paramètres classiques définissant une raie de diffraction (position, intensité, profil) en fonction de la température et du champ électrique, a permis d'accéder a de nombreuses informations sur le caractère ferroélectrique de BaTiO3 et sa microstructure en domaines. Les empreintes les plus importantes sont: l'évolution des intensités relatives des raies associées avec le champ électrique qui traduit l'état de polarisation du matériau, l'évolution des largeurs des raies avec la température qui montre que les murs de domaines à 90 contribuent à l'élargissement des raies en tant que microdistorsions de réseau particulières. De plus, le diagramme de diffraction de BaTiO3 possède une particularité jusqu'alors mal expliquée: il existe de l'intensité diffractée supplémentaire entre les raies associées d'un doublet. Plusieurs possibilités d'interprétation proposées n'ont cependant pas pu justifier entièrement les profils de diffraction observes. Nous avons montre, d'une part, par les expériences de diffraction in situ, en température et sous champ, que cette intensité diffractée supplémentaire entre les raies d'un doublet est, elle aussi, une empreinte de la microstructure en domaines, d'autre part que cette particularité est cohérente dans tout le diagramme de diffraction et qu'elle se présente sous la forme d'un plateau d'intensité entre les deux raies. Ainsi, nous avons pu proposer une description du mur de domaine à 90, validée par un calcul théorique, qui justifie entièrement cette intensité diffractée supplémentaire entre les raies d'un doublet. Le mur de domaines doit être vu comme une zone de raccordement entre les deux domaines à 90 adjacents et non comme un simple plan de macle. A l'intérieur du mur, une évolution continue du réseau cristallin fait passer du réseau de l'un des domaines à celui de l'autre domaine. L'intensité du plateau traduit à la fois la densité et l'épaisseur des murs de domaines à 90.
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10

Boulle, Alexandre. "Diffraction des rayons X sur couches d'oxydes épitaxiées : Elaboration et analyse microstructurale." Limoges, 2002. http://www.theses.fr/2002LIMO0040.

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Abstract:
Ce travail concerne la mise en oeuvre de la diffraction des rayons X pour l'analyse microstructurale de couches épitaxiées de matériaux oxydes. A cet effet ont été élaborées des méthodes d'acquisition des données spécifiques à ce type de matériau, telle que la cartographie du réseau réciproque, sur un appareil précédemment développé au laboratoire et dédié à l'étude des ma tériaux nanostructurés. Ce montage permet l'enregistrement de cartes du réseau réciproque en haute résolution en quelques dizaines de minutes. La fonction de résolution instrumentale bidimensionnelle a été évaluée en prenant en compte chaque élément optique du montage : source, monochromateur à quatre réflexions, échantillon et détecteur à localisation. Cette étude a montré que la résolution angulaire atteint quelques millièmes de degrés dans la plupart des modes de fonctionnement. Deux systèmes oxydes ont été étudiés. Le premier est le matériau ferroélectrique SrBi2Nb2O9 déposé sur SrTiO3 par voie sol-gel. L' analyse de la largeur, ainsi que l'analyse de Fourier des profils de raie de diffraction X ont montré l'existence de fautes d'empilement le long de l'axe c. L'étude de la microstructure de couches de ZrO2 dopé Y2O3 déposées par voie sol-gel sur Al2O3 a été basée sur la modélisation des profils de diffraction dans plusieurs directions de l'espace réciproque en prenant en compte des paramètres physiques( instrument et microstructure). Les mécanismes d'épitaxie par croissance granulaire et de séparation de phase vide/matière au sein de la couche ont été mis en évidence. L'analyse a de plus montré que les couches sont fortement déformées et que ces déformations sont partiellement relaxées par l'insertion de défauts d'accommodation
This work deals with microstructural analysis in oxide epitaxial layers. Specific acquisition methods have been developed, such as the so-called reciprocal space mapping technique. Experiments have been carried out on a home made diffractometer devoted to the study of nanostructured materials. This set-up allows very fast reciprocal space map acquisitions (e. G. A few tens of minutes) in a high resolution mode. The two-dimensional instrumental profile has been calculated taking into account each optical element in the beam path : the X-ray source, the four-bounce monochromator, the sample and the curved position sensitive detector. This study showed that the instrumental broadening can be as low as a few thousandth of degrees in most of the scanning modes. Two oxide systems have been investigated. The first one is the ferroelectric material SrBi2Nb2O9 deposited onto SrTiO3 by sol-gel coating. Integral breadth as well as Fourier analysis of the diffraction profiles showed that the samples contain stacking faults located along the c-axis. The microstructural analysis of Y2O3 stabilized ZrO2 thin films deposited onto Al2O3 by sol-gel coating has been undertaken by profile modeling into several directions of reciprocal space taking into account physical parameters (the instrument and the microstructure). A peculiar epitaxial growth mechanism and a void/matter phase separation have been evidenced. Additionally it is shown that the layers are highly strained, and strain relaxation probably occurs by the introduction of misfit dislocations
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Books on the topic "Rayons X – Diffraction"

1

L, Bish David, and Post Jeffrey Edward, eds. Modern powder diffraction. Washington, D.C: Mineralogical Society of America, 1989.

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2

RX, 2003 (2003 Strasbourg France). Rayons X et matière: RX 2003 : Strasbourg, France, 9-11 décembre 2003. Les Ulis codex A, France: EDP Sciences, 2004.

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3

W, Wyckoff Harold, Hirs, C. H. W. 1923-, and Timasheff Serge N. 1926-, eds. Diffraction methods for biological macromolecules. Orlando, Fla: Academic Press, 1985.

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4

Maharaj, H. P. Appareils d'analyse aux rayons X - exigences et recommandations en matière de sécurité. Ottawa, Ont: Direction de l'hygiène du milieu, 1994.

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5

André, Authier, Lagomarsino Stefano, Tanner B. K, North Atlantic Treaty Organization. Scientific Affairs Division., and NATO Advanced Study Institute on X-ray and Neutron Dynamical Diffraction (1996 : Erice, Italy), eds. X-ray and neutron dynamical diffraction: Theory and applications. New York: Plenum Press, 1996.

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6

K, Tanner B., ed. High resolution X-ray diffractometry and topography. London: Taylor & Francis, 1998.

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7

N, Broll, Cornet A, and Denier P, eds. Rayons X et matière: RX 99, ENSAIS, École National Supérieure des Arts et Industries, Strasbourg, France, 7-10 décembre 1999. Les Ulis, France: EDP Sciences, 2000.

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8

RX, 2001 (2001 Strasbourg France). Rayons X et matière: RX 2001 : colloque dédié à la mémoire d'André Guinier : ENSAIS, École nationale supérieure des arts et industries, Strasbourg, France, 4-7 décembre 2001. Les Ulis codex A, France: EDP Sciences, 2002.

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9

Zevin, Lev S. Quantitative X-ray diffractometry. New York: Springer, 1995.

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10

K, Tanner B., ed. X-ray metrology in semiconductor manufacturing. Boca Raton, FL: Taylor & Francis, 2006.

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Book chapters on the topic "Rayons X – Diffraction"

1

Puaud, Simon, and Matthieu Lebon. "Les matières colorantes rouges et noires et les matières minérales dures de couleur verte." In Klimonas, 393–97. Paris: CNRS Éditions, 2024. http://dx.doi.org/10.4000/129kt.

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Abstract:
Le site de Klimonas a livré des matériaux en roches vertes et des matières colorantes rouges, jaunes et noires. Ils ont fait l’objet d’un examen préliminaire et une sélection d’entre eux (N = 30) a été caractérisée par diffraction des rayons X (DRX) et élémentaires par spectrométrie de fluorescence des rayons X (XRF) afin d’en préciser la nature. Les analyses ont montré une composition homogène des matières colorantes, et quatre grands types de roches vertes. L’examen macroscopique de l’ensemble du corpus archéologique des matières colorantes (N = 143), a permis de distinguer sept groupes résultant de l’exploitation de différents types de matériaux. Quatre blocs portent des traces d’abrasion et 30 % des blocs ont des arêtes vives suggérant une préparation par concassage puis broyage, activité attestée par le colorant porté par une partie de l’outillage macrolithique. Les prospections géologiques réalisées ont permis d’identifier des gites de roches vertes et notamment un gîte primaire de picrolite. Des sources de matières colorantes rouges et jaunes ont été identifiées, mais elles diffèrent des matériaux de Klimonas.
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2

Michette, Alan G. "Diffractive Optics I Diffraction Gratings." In Optical Systems for Soft X Rays, 127–45. Boston, MA: Springer US, 1986. http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4613-2223-8_6.

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3

Suryanarayana, C., and M. Grant Norton. "X-Rays and Diffraction." In X-Ray Diffraction, 3–19. Boston, MA: Springer US, 1998. http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4899-0148-4_1.

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Waseda, Yoshio, Eiichiro Matsubara, and Kozo Shinoda. "Fundamental Properties of X-rays." In X-Ray Diffraction Crystallography, 1–20. Berlin, Heidelberg: Springer Berlin Heidelberg, 2011. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-642-16635-8_1.

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"7. Diffraction des rayons X et vitrocéramiques." In Du verre au cristal, 157–84. EDP Sciences, 2020. http://dx.doi.org/10.1051/978-2-7598-1064-2-013.

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6

"7. Diffraction des rayons X et vitrocéramiques." In Du verre au cristal, 157–84. EDP Sciences, 2020. http://dx.doi.org/10.1051/978-2-7598-1064-2.c013.

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7

"7. Diffraction des rayons X et vitrocéramiques." In Du verre au cristal, 157–84. EDP Sciences, 2020. https://doi.org/10.1051/978-2-7598-0843-4.c013.

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"Chapitre 4. Les rayons X et la diffraction." In Introduction à la cristallographie biologique, 67–78. EDP Sciences, 2021. http://dx.doi.org/10.1051/978-2-7598-2550-9.c010.

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"6. Diffraction des rayons X et méthodes dérivées." In Les fondements de la détermination des structures moléculaires, 137–62. EDP Sciences, 2020. http://dx.doi.org/10.1051/978-2-7598-2152-5-008.

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10

"6. Diffraction des rayons X et méthodes dérivées." In Les fondements de la détermination des structures moléculaires, 137–62. EDP Sciences, 2020. http://dx.doi.org/10.1051/978-2-7598-2152-5.c008.

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Conference papers on the topic "Rayons X – Diffraction"

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Goodrich, Justin C., Ryan Mahon, Joseph Hanrahan, Monika Dziubelski, Raphael A. Abrahao, Sanjit Karmakar, Kazimierz J. Gofron, et al. "New Horizons in SPDC X-ray Imaging." In CLEO: Fundamental Science, FM4B.1. Washington, D.C.: Optica Publishing Group, 2024. http://dx.doi.org/10.1364/cleo_fs.2024.fm4b.1.

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Abstract:
The SPDC of X-rays via nonlinear Bragg diffraction from a diamond crystal is explored at a synchrotron light source. In this report we share, to the best of our knowledge, our record detection of SPDC X-rays along with imaging applications.
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Izzuddin, Izura, Siti Aishah Ahmad Fuzi, and Sapizah Rahim. "Effect of Eu<sup>2+</sup> Activator on the Structural and Optical Properties of BaBrX(X= F, Cl, I) Synthesized via Hydrothermal Method." In International Conference on X-Rays and Related Techniques in Research and Industry 2023, 39–44. Switzerland: Trans Tech Publications Ltd, 2025. https://doi.org/10.4028/p-1qqznw.

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Abstract:
Barium halide activated with Eu is a typical phosphor material used in imaging plates for computed radiography applications. In this study, BaBrX: Eu (X = Cl, I) was synthesized via the hydrothermal technique. The aim of this study is to further explore the feasibility of the hydrothermal method for synthesizing phosphor materials. This was determined by studying the effect of Eu addition on the structural and optical properties of BaBrX (X = Cl, I). X-ray diffraction (XRD) was employed to determine the crystallinity of the prepared samples, while optical properties were observed using photoluminescence (PL) spectroscopy. The sharp, narrow, and high-intensity peaks of XRD diffractogram indicated that all samples exhibited good crystallinity. The addition of the Eu element as an activator resulted in a blue-shift with broad and higher intensity of the main emission peak for several samples. This study demonstrates that the addition of the Eu element to the host materials has altered the structural properties and improved the optical properties of the prepared samples, significantly demonstrating the feasibility of the hydrothermal method for synthesizing phosphor materials.
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Othman, Nabihah, Mohd Idham Mustaffar, Syarifah Aminah Ismail, and Mohd Hakim Ibrahim. "A Study on the Potential of Local Silica Sand for the Production of Coloured Glass." In International Conference on X-Rays and Related Techniques in Research and Industry 2023, 71–77. Switzerland: Trans Tech Publications Ltd, 2025. https://doi.org/10.4028/p-iv4kzi.

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Abstract:
There are abundant silica sand resources in Malaysia, however many have not yet been fully discovered. The primary component used in the production of glass is silica sand. The objective of this research was to determine whether local silica sand might be used to make coloured glass. The chemical composition and mineralogy of silica sand were determined using X-ray fluorescence (XRF) and X-ray diffraction (XRD), respectively. The physical properties such as particle size distribution were determined by using a mechanical shaker whereas grain morphology was identified by using a digital microscope. Additional equally significant properties such as moisture content, clay content, pH value and the specific gravity of silica sand were also measured by using standard laboratory testing method. The obtained results were compared to Malaysian Standard MS 701:2017, the standard specification for the production of coloured glass. From XRF analysis, the silica sand contained silicon dioxide at a concentration of 97.84%, alumina at 0.56%, iron oxide at 0.12% as well as several other oxides at around 1.5%. XRD diffractogram also revealed that quartz is a major constituent having the highest peaks at about 26.7° with an intensity of 13,7786. More than 95% of the particle sizes of the silica sand are in the size range from 150 µm to 1000 µm and in the category of fine sand and coarse sand. The grain shape was determined to be angular, and the silica sand had a moisture content of 2.54%, a clay content of 7.80%, a pH value of 5.93, and a specific gravity of 2.63. Based on the chemical and physical properties, it appears that this particular silica sand satisfies the standard requirements for coloured glass production.
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Roslan, Nurliana Binti, Salasiah Endud, Zainab Ramli, and Mohd Bakri Bakar. "Physicochemical Characterizations of Imidazolium-Based Ionic Liquids Functionalized on Mesoporous SBA-15." In International Conference on X-Rays and Related Techniques in Research and Industry 2023, 45–53. Switzerland: Trans Tech Publications Ltd, 2025. https://doi.org/10.4028/p-bgbnm0.

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Abstract:
In this study, we report the functionalization of imidazolium-based ionic liquids (ImIL) onto mesoporous silica SBA-15 nanomaterial with a larger surface area of 737.96 m2/g and an interpore distance of 10.68 nm. Imidazolium-based ionic liquids, 1-(3-triethoxysilylpropyl)-methylimidazolium chloride was functionalized with concentration of 1.0, 2.0, 4.0, 6.0, 8.0 and 10.0 mmol onto SBA-15 via a sol-gel method to obtain xImIL-SBA-15 nanocomposites. Small-angle X-ray scattering (SAXS), N2 adsorption/desorption analysis and field emission scanning electron microscopy (FESEM) were used to characterize the ImIL-SBA-15 nanocomposites. SAXS patterns of ImIL-SBA-15 nanocomposites possessed (1 0 0), (1 1 0) and (2 0 0) diffractions respectively, which indicated that the well-ordered hexagonal mesostructure of SBA-15 support remained intact after functionalization of ImIL. The total surface area, total pore volume and BJH pore size distribution of all ImIL-SBA-15 nanocomposites decreasing with the increasing amount of ImIL from 393.27 to 354.39 m2/g which indicated that the pore channel and/or surface of SBA-15 were occupied by ImIL without significant reduction of the quality. It was found that the grafted amount of ImIL on SBA-15 nanocomposites increased from 0.60 to 0.97 mmol/g when amount of ImIL content in the mixture was increased from 1.0 to 10.0 mmol. FESEM micrographs showed a similar pattern as SBA-15 indicating that the mesoporous hexagonal structure of SBA-15 was still retained. Thus, it can be concluded that xImIL-SBA-15 nanocomposites was successfully synthesized by functionalization of ImIL onto mesoporous silica SBA-15.
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Taviot-Guého, C., F. Leroux, F. Goujon, P. Malfreyt, and R. Mahiou. "Étude du mécanisme d'échange et de la structure des matériaux hydroxydes doubles lamellaires (HDL) par diffraction et diffusion des rayons X." In UVX 2012 - 11e Colloque sur les Sources Cohérentes et Incohérentes UV, VUV et X ; Applications et Développements Récents, edited by E. Constant, P. Martin, and H. Bachau. Les Ulis, France: EDP Sciences, 2013. http://dx.doi.org/10.1051/uvx/201301016.

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F., Fan S., Yun W. B., Rosser R. J., Kirz J., Sayre D., Dewey M. M., and Colflesh D. "Soft X-Ray Diffraction Of Striated Muscle." In Soft X-Rays Optics and Technology, edited by E. Koch and Guenther A. Schmahl. SPIE, 1986. http://dx.doi.org/10.1117/12.964943.

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Berreman, D. W., and A. T. Macrander. "8×8 Matrix dynamical theory for strained oblique Bragg planes." In OSA Annual Meeting. Washington, D.C.: Optica Publishing Group, 1987. http://dx.doi.org/10.1364/oam.1987.tum1.

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Abstract:
We have extended the matrix representation of the dynamical theory of x-ray diffraction to include Bragg planes that are oblique with respect to the surface of a flat crystal wafer. In place of the two independent 2×2 matrices of the Abelés method for planes parallel to the surface, we use a single 8 × 8 matrix. With such a matrix, rays may be skew with respect to the oblique Bragg planes and the wafer surface. The new approach brings out the close analogy between the diffraction of visible light by blazed gratings and the diffraction of x rays by edges of oblique Bragg planes near the crystal surface. Matrix methods present no special problem in cases where the layers near the surface do not have the same spacing normal to the surface as those deeper down, resulting in curved oblique planes. Thus epitaxial layers of varying composition, and crystals strained by ion implantation, can be treated as easily as uniform wafers so long as distorted 3-D order remains. An additional set of diffracting Bragg planes parallel to the surfaces can be included with little complication, thus allowing investigation of double-diffraction effects at the intersection of two diffraction cones.
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Spector, S. J., C. J. Jacobsen, and D. M. Tennant. "Fabrication of Fresnel zone plates for x-ray microscopy: diffractive optics for soft x-rays." In Diffractive Optics and Micro-Optics. Washington, D.C.: Optica Publishing Group, 1996. http://dx.doi.org/10.1364/domo.1996.dwd.6.

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Abstract:
Fresnel zone plates are diffractive optical elements which are currently being used for high resolution x-ray microscopy. Several groups fabricate zone plates for use in specific microscopes [1] and we present here a summary on the fabrication of zone plates for use in the Scanning Transmission X-ray Microscope at the National Synchrotron Light Source. X-ray microscopy has demonstrated imaging with resolution five times superior to that which can routinely be achieved by visible light microscopy. In addition, x-rays with wavelengths between the carbon (4.2 nm) and oxygen (2.3 nm) K absorption edges are absorbed nearly an order of magnitude more strongly by organics than by water. This creates a natural absorption contrast mechanism and allows the viewing of many biological specimens wet and intact (without sectioning) and at atmospheric pressure [2]. By taking advantage of the spectroscopic properties of x-rays, x-ray microscopy can be used to map chemical elements and their binding states. Fluorescent chemical labels and gold labels can also be imaged at high resolution. Furthermore, several labs including ours are developing the capability to view radiation-tough frozen hydrated specimens in x-ray microscopes.
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Baruchel, Jose, Peter Cloetens, Jean-Pierre Guigay, and Michel Schlenker. "Fresnel diffraction experiments using coherent x rays." In ICO XVIII 18th Congress of the International Commission for Optics, edited by Alexander J. Glass, Joseph W. Goodman, Milton Chang, Arthur H. Guenther, and Toshimitsu Asakura. SPIE, 1999. http://dx.doi.org/10.1117/12.354844.

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Kukhlevsky, Sergei V., Ida Z. Kozma, Francesco Flora, Alessandro Marinai, Libero Palladino, Armando Reale, Giuseppe Tomassetti, and Antonio Ritucci. "Diffraction of x rays in capillary waveguides." In SPIE's International Symposium on Optical Science, Engineering, and Instrumentation, edited by Richard B. Hoover and Arthur B. C. Walker II. SPIE, 1999. http://dx.doi.org/10.1117/12.363658.

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Reports on the topic "Rayons X – Diffraction"

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Holden, T., J. Root, and R. Hosbons. CWI1988-Andi-12 Neutron Diffraction of Axial Residual Strains in the Vicinity of a Girth Weld. Chantilly, Virginia: Pipeline Research Council International, Inc. (PRCI), April 1988. http://dx.doi.org/10.55274/r0011390.

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Abstract:
Recent research has shown that neutron diffraction is a practical non-destructive method for determining residual strains in the vicinity of a girth weld in line pipe. The basis of the technique is that the distance between planes of atoms is used as a miniature, directional, internal strain gauge, just as for X-ray measurements. However, the penetration of neutrons into metals ls from 1000 to 10,000 times greater than that of X-rays, so that measurements may easily be made throughout the thickness of steel pipe including the region of the weld itself. The purpose of the present measurements was to characterize the axial residual strains remaining in linepipe after two pieces had been joined with a girth weld. This report summarizes the measurements of the axial residual strains in each of two pipes of thickness 11 and 16 mm at the 6:00, 1:30 and 10:00 positions.
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Berkeland, D. J., J. H. Underwood, and R. C. C. Perera. A method for sizing sub-micron particles using small angle diffraction of soft x-rays. Office of Scientific and Technical Information (OSTI), October 1988. http://dx.doi.org/10.2172/6137022.

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