Academic literature on the topic 'Tastschnittgerät'

Die Rauheitsmessung mittels Tastschnittgerät ist in der industriellen Praxis ein verbreitetes Verfahren, um den Zusammenhang zwischen Funktionsverhalten und Bauteiloberfläche zu charakterisieren. Zur Gewährleistung der Messgenauigkeit werden Kalibriernormale mit definierten Rauheitskennwerten verwendet. Bei der taktilen Abtastung kommt es zur mechanischen Interaktion von Tastspitze und Oberfläche des Normals. In einer umfassenden experimentellen Studie wird der Verschleiß von handelsüblichen Kalibriernormalen bei der Verwendung von Kufentastschnittgeräten untersucht.   To characterize the relationship between functional behavior and the surface of a component, roughness is typically measured with stylus instruments in industry. To ensure traceability, calibration standards with defined roughness parameters are used. However, when a tactile sampling is performed, a mechanical interaction between the stylus tip and the surface occurs. A comprehensive experimental study examines the wear of commercial roughness material measures when sampled with a skidded probe.

Zusammenfassung Die Charakterisierung eines Messinstruments zur Topographiemessung erfolgt durch die Messung bekannter Strukturen oder durch den Vergleich mit Referenzgeräten. Exakte Vergleichsmessungen bei unterschiedlicher Aufspannung des Messobjektes gestalten sich in der Praxis jedoch als schwierig, da Umgebungseinflüsse, Winkel zwischen Messobjekt und Messgerät, sowie die Position des Messfeldes nicht immer exakt übereinstimmen. In diesem Beitrag wird ein Multisensor Mess- und Referenzsystem vorgestellt, welches Vergleichsmessungen zwischen verschiedenen Sensoren in einer Aufspannung ermöglicht. Dabei werden drei kommerzielle Sensoren (AFM, Tastschnittgerät und Konfokalmikroskop) als Referenzmessgeräte und zwei in Eigenentwicklung entstandene Interferometer (Mirau-Interferometer und fasergekoppelter High-Speed-Punktsensor) verwendet. Vergleichsmessungen mit den Referenzsensoren erlauben die Charakterisierung und Verbesserung der Interferometer, sowie die Untersuchung auftretender optischer Effekte an kritischen Messoberflächen. Neben dem Gesamtkonzept des Multisensor-Messsystems wird auf die Funktionsweise der eingesetzten Sensoren eingegangen. Darauf basierend werden von den unterschiedlichen Sensoren gemessene Oberflächentopographien präsentiert, welche die Schwierigkeiten einer genauen Wiedergabe der Oberfläche demonstrieren. Hinsichtlich der dargestellten Messergebnisse liegen die Schwerpunkte auf dem Mirau-Interferometer und dem fasergekoppelten High-Speed-Punktsensor.