Relevant bibliographies by topics / Transmissionselektronenmikroskopie

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Academic literature on the topic 'Transmissionselektronenmikroskopie'

Author: Grafiati
Published: 4 June 2021
Last updated: 1 February 2022

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Journal articles on the topic "Transmissionselektronenmikroskopie"

1

Wustrow, Th P. U., Ingeborg Schinko, and H. P. Zenner. "Transmissionselektronenmikroskopie von in-vitro kultivierten Plattenepithelkarzinomzellinien*." Laryngo-Rhino-Otologie 67, no. 09 (September 1988): 469–74. http://dx.doi.org/10.1055/s-2007-998543.

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2

Schmid, Günter, Andreas Lehnert, Jan-Olle Malm, and Jan-Olov Bovin. "Charakterisierung ligandstabilisierter Bimetall-Kolloide durch hochauflösende Transmissionselektronenmikroskopie und energiedispersive Röntgenmikroanalyse." Angewandte Chemie 103, no. 7 (July 1991): 852–54. http://dx.doi.org/10.1002/ange.19911030720.

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3

Alfredsson, Viveka, Tetsu Ohsuna, Osamu Terasaki, and Jan-Olov Bovin. "Untersuchung der Oberflächenstruktur der Zeolithe FAU und EMT mit hochauflösender Transmissionselektronenmikroskopie." Angewandte Chemie 105, no. 8 (August 1993): 1262–64. http://dx.doi.org/10.1002/ange.19931050841.

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4

Tarnev, Tsvetan, Steffen Cychy, Corina Andronescu, Martin Muhler, Wolfgang Schuhmann, and Yen‐Ting Chen. "Eine universelle, auf Nanokapillaren basierende Methode zur Katalysatorimmobilisierung für die Flüssigzell‐Transmissionselektronenmikroskopie." Angewandte Chemie 132, no. 14 (March 2, 2020): 5634–38. http://dx.doi.org/10.1002/ange.201916419.

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5

Nitschke, Uwe. "Kleinwinkel-lonendünnung für die Transmissionselektronenmikroskopie (TEM) / Low Angle Ion Milling for Transmission Electron Microscopy (TEM)." Practical Metallography 31, no. 8 (August 1, 1994): 422–25. http://dx.doi.org/10.1515/pm-1994-310806.

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6

Wetzig, Klaus, and Jürgen Thomas. "Nanoanalytical investigations of Functional Materials by Transmission Electron Microscopy / Nanoanalytische Untersuchungen von Funktionswerkstoffen durch Transmissionselektronenmikroskopie." Practical Metallography 38, no. 11 (November 1, 2001): 627–36. http://dx.doi.org/10.1515/pm-2001-381105.

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7

Brinkmann, F. "Primäre ziliäre Dyskinesie." Kinder- und Jugendmedizin 15, no. 03 (2015): 178–83. http://dx.doi.org/10.1055/s-0038-1629270.

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Abstract:
ZusammenfassungDie primäre ziliäre Dyskinesie (PCD) ist eine seltene angeborene Erkrankung, die sich durch eine Funktionsstörung respiratorischer Zilien mit dadurch bedingter eingeschränkter mukoziliärer Clearance und konsekutiver Sekretretention im Bereich der oberen und unteren Atemwege auszeichnet. Dadurch werden oft chronische bakterielle Infektionen begünstigt, die unbehandelt zu bleibenden Schäden führen können und mit einer erheblichen Morbidität verbunden sind. Die Patienten fallen oft schon postpartal durch ein unklares Atemnotsyndrom, eine persistierende Rhinitis sowie chronischen feuchten Husten auf. Bei ca. 50 % liegt ein Situs inversus vor. Zur Vermeidung irreversibler Schädigungen ist eine frühe Diagnosestel-lung essenziell. Die Diagnostik umfasst neben der detaillierten Anamneseerhebung und körperlichen Untersuchung, einem Screening durch Messung des nasalen Stickstoffmonoxids eine Analyse des Zilienschlages und der Schlagfrequenz sowie die Begutachtung des ultrastrukturellen Zilienaufbaus mittels Transmissionselektronenmikroskopie und ggf. Genetik sowie Immunfluoreszenzuntersuchungen.Therapeutisch stehen eine Verbesserung der mukoziliären Clearance und eine agressive Behandlung von bakteriellen Infektionen im Vordergrund. Unterstützend können Inhalationen mit hypertoner Kochsalzlösung und Nasenspülungen eingesetzt werden. Die Indikation zu chirurgischen Interventionen im HNO-Bereich sollte zurückhaltend gestellt werden.
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8

Shephard, Douglas S., Wuzong Zhou, Thomas Maschmeyer, Justin M. Matters, Caroline L. Roper, Simon Parsons, Brian F. G. Johnson, and Melinda J. Duer. "Ortsspezifische Derivatisierung von MCM-41: molekulare Erkennung und Lokalisierung funktioneller Gruppen in mesoporösen Materialien durch hochauflösende Transmissionselektronenmikroskopie." Angewandte Chemie 110, no. 19 (October 2, 1998): 2847–51. http://dx.doi.org/10.1002/(sici)1521-3757(19981002)110:19<2847::aid-ange2847>3.0.co;2-d.

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9

Dehm, Gerhard, Frank Ernst, Joachim Mayer, Günter Möbus, Harald Müllejans, Fritz Phillipp, Christina Scheu, and Manfred Rühle. "Transmission Electron Microscopy at the Max-Planck-Institut für Metallforschung / Transmissionselektronenmikroskopie am Max-Planck- Institut für Metallforschung." International Journal of Materials Research 87, no. 11 (November 1, 1996): 898–910. http://dx.doi.org/10.1515/ijmr-1996-871112.

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10

Licka, T., K. D. Budras, and B. Patan. "Mehrfach rezidivierendes isoliertes Keratom am Huf einer Traberstute." Tierärztliche Praxis Ausgabe G: Großtiere / Nutztiere 33, no. 05 (2005): 339–47. http://dx.doi.org/10.1055/s-0038-1624081.

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Abstract:
Zusammenfassung Gegenstand und Ziel: Diskussion klinischer und histologischer Befunde eines isolierten Keratoms, das sich nach einem Trauma im Kronsaumbereich entwickelte. Material und Methoden: 14-jährige Traberstute mit einem mehrfach rezidivierenden Keratom im Bereich der lateralen Trachtenwand des rechten Vorderhufes: klinische und röntgenologische Untersuchungen, Magnetresonanztomographie, Lichtund Transmissionselektronenmikroskopie. Ergebnisse: Bei der Erstvorstellung des Pferdes konnten zunächst nur eine Deformierung der Hufkapsel im Bereich der Neubildung sowie eine progressive Lahmheit der betroffenen Gliedmaße beobachtet werden. Typische röntgenologische Veränderungen in Form einer ovalen Aufhellung im Bereich des lateralen Hufbeinastes traten erst sechs Wochen später in Erscheinung. Trotz mehrmaliger chirurgischer Intervention mit radikaler Entfernung des Gewebes in der Peripherie des Keratoms kam es immer wieder zur Neubildung von zahlreichen unterschiedlich großen Horngebilden. Langfristig konnten jedoch auch die Rezidive erfolgreich entfernt und eine Lahmheitsfreiheit des Pferdes erreicht werden. Histologisch ließ sich das Keratom auf versprengte Epidermiszellen des Kronsegmentes zurückführen. Schlussfolgerung: Nach Verletzungen im Bereich des Kronsaums kann es durch eine Dislokation von Zellen der Hufepidermis zur Ausbildung von isolierten Keratomen kommen, die eine hohe Rezidivneigung besitzen. Klinische Relevanz: Bei progressiven Lahmheiten, die nach bereits abgeheilten Kronsaumverletzungen auftreten, sollte differenzialdiagnostisch das Vorliegen eines isolierten Keratoms in Betracht gezogen werden. Die vollständige Resektion derartiger Zubildungen kann schwierig sein, da sich die versprengten Epidermiszellen makroskopisch nicht eindeutig differenzieren lassen. Beim Vorliegen eines isolierten Keratoms ist daher mit Rezidiven und einer langwierigen Therapie zu rechnen.
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Dissertations / Theses on the topic "Transmissionselektronenmikroskopie"

1

Mühle, Uwe. "Spezielle Anwendungen der Transmissionselektronenmikroskopie in der Siliziumhalbleiterindustrie." Doctoral thesis, Technische Universitaet Bergakademie Freiberg Universitaetsbibliothek "Georgius Agricola", 2015. http://nbn-resolving.de/urn:nbn:de:bsz:105-qucosa-160699.

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Abstract:
Die außerordentlichen Steigerungen der Funktionalität und Produktivität in der Halbleiterindustrie sind zum wesentlichen Teil auf eine Verkleinerung der Strukturdetails auf einer logarithmischen Skala über die letzten Jahrzehnte zurückzuführen. Sowohl zur Kontrolle des Fertigungsergebnisses als auch zur Klärung von Fehlerursachen ist die Nutzung transmissionselektronenmikroskopischer Methoden unabdingbar. Für die Zielpräparation von Halbleiterstrukturen sind Techniken unter Nutzung der Focused Ion Beam Geräte etabliert, die je nach der konkreten Aufgabenstellung variiert werden. Die Abbildung von Strukturdetails mit Abmessungen von wenigen Nanometern erfordert die Anwendung unterschiedlicher Kontrastmechanismen. Die Ergänzung der Abbildung durch die analytischen Techniken der energiedispersiven Röntgenmikroanalyse und der Elektronenenergieverlustanalyse ist ein wertvolles Werkzeug bei der Klärung von Fehlerursachen oder bei prozesstechnischen Fragestellungen. Die Nutzung der Rastertransmissionselektronenmikroskopie erlaubt die unmittelbare Kombination von Abbildung und Elementanalyse. Die lokale Verteilung von Dotierstoffen als wesentliche Grundlage für die Funktion von Bauelementen in der Halbleiterindustrie ist nur über ihre Auswirkung auf die Phase der transmittierten Elektronenwelle nachweisbar. Mittels Elektronenholographie kann dieser Einfluss gemessen werden und das Prozessergebnis von Implantationen dargestellt werden. Für die Charakterisierung von Details, die kleiner als die Probendicken sind, die im TEM genutzt werden, ist die Anwendung der Elektronentomographie ein geeignetes Werkzeug. Dazu sind spezielle Präparations- und Abbildungsstrategien erforderlich
The strong improvements in functionality and productivity in the semiconductor industry are mostly a result of the decrease of structural details on a logarithmic scale during the last decades. The monitoring of the production process, as well as failure analyses, utilize methods of transmission electron microscopy. For targeted preparations of semiconductor structures, techniques based on focused ion beams are established, with adaptions to the current task. The imaging of structural details with dimensions of a few nanometers requires the application of different contrast techniques, depending on the detailed request. Different opportunities of elemental analysis, such as energy dispersive X-ray analysis or electron energy loss analysis, deliver additional information about the chemical composition and binding states on a nanoscale. The use of scanning transmission electron microscopy enables a direct combination of imaging and elemental analysis. The local distribution of dopants, as one of the major basics for the function of semiconductor devices, can be observed via the phase shift of the transmitted electron wave only. This influence requires the application of electron holography, a technique which enables the visualization of the process result of implantations or diffusion processes. The characterization of details which are smaller than the thickness of a TEM-sample is enabled through the use of electron tomography. This technique requires special strategies for preparation and imaging and delivers a 3D-dataset, describing the structure
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2

Wahl, Claudia. "Charakterisierung innerer Grenzflächen in mikrokristallinem SiO2 mit Transmissionselektronenmikroskopie." [S.l.] : [s.n.], 2002. http://elib.tu-darmstadt.de/diss/000197.

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Gramm, Fabian. "Kombination von Transmissionselektronenmikroskopie und Pulverbeugungsdaten zur Lösung von komplexen Zeolithstrukturen." kostenfrei, 2007. http://e-collection.ethbib.ethz.ch/view/eth:29878.

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4

Kobler, Aaron. "Untersuchung der Deformationsmechanismen in nanostrukturierten Metallen und Legierungen mit Transmissionselektronenmikroskopie." Phd thesis, TUPrints, 2015. http://tuprints.ulb.tu-darmstadt.de/4432/1/phd_thesis_ak.pdf.

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Abstract:
Der Hall-Petch Beziehung folgend, nimmt die max. Festigkeit mit abnehmender Korngröße zu. Dies gilt bis in den Bereich der nanokristallinen Metalle und Legierungen mit Korngrößen von <100 nm. Jedoch setzt sich der Trend nicht beliebig fort, sondern kehrt sich ab einer bestimmten Korngröße um. Die Festigkeit nimmt dann zu kleineren Korngrößen ab. Die diesem Verhalten zu Grunde liegenden Deforma- tionsmechanismen sind Gegenstand aktueller Forschung. Allgemein bekannt ist, dass bei Abnahme der Korngröße konventionelle versetzungsbasierte Plastizität zu Gunsten von korngrenzbasierten Prozessen abnimmt. Hingegen ist weiterhin offen, wie und unter welchen Bedingungen die verschiedenen Prozesse ineinandergreifen. Herausforderungen bei der Betrachtung der Deformationsmechanismen sind Einfluss- größen wie Reinheit, Korngröße, Korngrenzcharakter, Versetzungs- und Zwillingsdichte gepaart mit den zur Verfügung stehenden Untersuchungsmethoden, die nicht alle Größen gleichzeitig erfassen können. Schwerpunkt dieser Arbeit war die Untersuchung von nanokristallinen Metallen auf einer lokalen Ba- sis (einige hundert Nanometer) mit einer vergleichsweise guten Statistik (bezogen auf die Anzahl der gemessenen Körner). Dazu wurde die Methode der „automatischen Erstellung von Kristallorientierungs- karten“ mit der Transmissions-Elektronenmikroskopie (ACOM-TEM) eingesetzt. Sie schließt die Lücke zwischen der lokalen hochauflösenden TEM (HRTEM) und einerseits der Beugung von Rückstreuelektro- nen (EBSD) und andererseits der Röntgenbeugung (XRD). HRTEM bietet atomare Auflösung und damit die beste aller genannter Methoden. Bezogen auf die Anzahl detektierbarer Körner sind ACOM-TEM und EBSD in der Statistik vergleichbar. Allerdings hat EBSD eine Auflösung von 30-50 nm Strukturgröße, ACOM-TEM hingegen von 2-5 nm. XRD auf der anderen Seite hat ihre Stärke vor allem in der Kornsta- tistik, weniger in der räumlichen Auflösung. Um die Vorteile von ACOM-TEM voll auszunutzen, wurde sie in Kombination mit in-situ Zugversuchen an nanostrukturierten Metallen eingesetzt. Zur Verfügung stehende Auswerteroutinen für Kristallorientierungskarten waren typischerweise für die Auswertung von einzelnen unabhängigen Karten ausgelegt. Serien von Kristallorientierungskarten von ein und demselben Probenbereich aus in-situ Experimenten bieten die Möglichkeit zur erweiterten Aus- wertung. In dieser Arbeit wurde basierend auf dem open-source Projekt Mtex (Werkzeugkiste für Kristal- lorientierungskarten) eine Auswerteroutine entwickelt, die es erlaubt, Kristallorientierungskarten global und lokal miteinander zu vergleichen. Global bezieht sich dabei auf das Ensemble der Körner einer Orientierungskarte, während lokal sich auf die Nachverfolgung ausgewählter Kristallite innerhalb der Zugserie bezieht. In dieser Arbeit entwickelte Filter verbessern die Vergleichbarkeit der Datensätze. Verifiziert wurde die ACOM-TEM-Methode und die neu entwickelten Auswerteroutinen mit klassischen Methoden. XRD und ACOM-TEM zeigen für die Korngröße und Texturanalyse eine gute Übereinstim- mung. Beim Vergleich der ACOM-TEM-Auswertung mit der von Hellfeld-TEM-Daten (BF-TEM) bestä- tigten sich die Trends. Hingegen zeigten sich Unterschiede in den Absolutwerten der Korngröße und Zwillingsdichte. Der Vorteil von ACOM-TEM kam bei der Erkennung von Zwillingsgrenzen klar zum Vor- schein. Während mit BF-TEM nur wenige Zwillingsgrenzen erkannt werden können, werden mit ACOM- TEM nahezu alle innerhalb des zu untersuchenden Bereiches identifiziert. Ausgehend von ex-situ Untersuchungen zur Verifizierung von ACOM-TEM, wurde die Methode auf in-situ Zugversuche von nanokristallinen und nanoverzwillingten Metallen übertragen. Mechanisch induziertes Kornwachstum wurde in allen untersuchten nanokristallinen Metallen (Ni, Pd, Au und AuPd) beobachtet. Eine versetzungsbasierte Textur bildete sich nur bei Dehnungen >∼6% aus. Hingegen zeigte sich ver- setzungsbasierte Plastizität durch Zwillingsaktivität bereits bei kleineren Dehnungen von ungefähr 1%. Es konnte gezeigt werden, dass die Zwillingsaktivität vom Ausgangszustand des Materials abhängig ist. Zusätzlich zur Zwillingsaktivität wurden „CSL-Umklappprozesse“ bei in-situ Zugversuchen beobachtet. Diese Prozesse entsprechen dem vollständigen Durchgang von Zwillingsgrenzen durchs Korn und füh- ren damit zur beobachteten CSL Σ3 und Σ9 Rotation des Kristallgitters. Neben der Großwinkelrotation, wurden auch Kleinwinkelrotationen (< 15◦) nachgewiesen.
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Hettler, Simon Josef [Verfasser], and D. [Akademischer Betreuer] Gerthsen. "Transmissionselektronenmikroskopie mit elektrostatischen Zach-Phasenplatten / Simon Josef Hettler. Betreuer: D. Gerthsen." Karlsruhe : KIT-Bibliothek, 2015. http://d-nb.info/1071894293/34.

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6

Gamm, Björn [Verfasser], and D. [Akademischer Betreuer] Gerthsen. "Phasenkontrast in der Transmissionselektronenmikroskopie mit elektrostatischen Phasenplatten / Björn Gamm. Betreuer: D. Gerthsen." Karlsruhe : KIT-Bibliothek, 2013. http://d-nb.info/1032243058/34.

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7

Obermair, Martin [Verfasser], and D. [Akademischer Betreuer] Gerthsen. "Phasenkontrast-Transmissionselektronenmikroskopie mit Dünnfilm- und elektrostatischen Phasenplatten / Martin Obermair ; Betreuer: D. Gerthsen." Karlsruhe : KIT-Bibliothek, 2021. http://d-nb.info/1233359126/34.

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Wild, Johannes [Verfasser], and Josef [Akademischer Betreuer] Zweck. "Lorentz-Transmissionselektronenmikroskopie und Differentielle Phasenkontrastmikroskopie an magnetischen Skyrmionen / Johannes Wild ; Betreuer: Josef Zweck." Regensburg : Universitätsbibliothek Regensburg, 2017. http://d-nb.info/1143948939/34.

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9

Akimkin, Valerij [Verfasser]. "Untersuchungen zum Nachweis enteraler Viren in Putenbeständen mittels Transmissionselektronenmikroskopie und Polymerase-Kettenreaktion / Valerij Akimkin." Berlin : Freie Universität Berlin, 2013. http://d-nb.info/1038694914/34.

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10

Niermann, Tore. "Mikrostrukturelle Untersuchungen an Mangan-dotiertem Galliumnitrid mittels fortgeschrittener Methoden der hochauflösenden und analytischen Transmissionselektronenmikroskopie." [S.l.] : [s.n.], 2006. http://webdoc.sub.gwdg.de/diss/2006/niermann.

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Books on the topic "Transmissionselektronenmikroskopie"

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Bauer, Hans-Dietrich. Analytische Transmissionselektronenmikroskopie. Berlin: Akademie-Verlag, 1986.

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2

Thomas, Jürgen, and Thomas Gemming. Analytische Transmissionselektronenmikroskopie. Vienna: Springer Vienna, 2013. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-7091-1440-7.

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Thomas, Gemming, ed. Analytische Transmissionselektronenmikroskopie: Eine Einführung für den Praktiker. Wien [u.a.]: Springer, 2013.

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Book chapters on the topic "Transmissionselektronenmikroskopie"

1

Bauch, Jürgen, and Rüdiger Rosenkranz. "TEM - Transmissionselektronenmikroskopie." In Physikalische Werkstoffdiagnostik, 8–9. Berlin, Heidelberg: Springer Berlin Heidelberg, 2017. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-662-53952-1_4.

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2

Thomas, Jürgen, and Thomas Gemming. "Wozu dieser Aufwand?" In Analytische Transmissionselektronenmikroskopie, 9–17. Vienna: Springer Vienna, 2013. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-7091-1440-7_1.

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3

Thomas, Jürgen, and Thomas Gemming. "Grundlagen genauer erklärt (etwas mehr Mathematik)." In Analytische Transmissionselektronenmikroskopie, 233–342. Vienna: Springer Vienna, 2013. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-7091-1440-7_10.

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4

Thomas, Jürgen, and Thomas Gemming. "Was wir über Elektronenoptik und den Aufbau eines Elektronenmikroskops wissen sollten." In Analytische Transmissionselektronenmikroskopie, 19–48. Vienna: Springer Vienna, 2013. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-7091-1440-7_2.

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5

Thomas, Jürgen, and Thomas Gemming. "Wir präparieren elektronentransparente Proben." In Analytische Transmissionselektronenmikroskopie, 49–64. Vienna: Springer Vienna, 2013. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-7091-1440-7_3.

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6

Thomas, Jürgen, and Thomas Gemming. "Wir beginnen mit der praktischen Arbeit." In Analytische Transmissionselektronenmikroskopie, 65–82. Vienna: Springer Vienna, 2013. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-7091-1440-7_4.

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7

Thomas, Jürgen, and Thomas Gemming. "Wir schalten um auf Elektronenbeugung." In Analytische Transmissionselektronenmikroskopie, 83–120. Vienna: Springer Vienna, 2013. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-7091-1440-7_5.

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8

Thomas, Jürgen, and Thomas Gemming. "Warum sehen wir Kontraste im Bild?" In Analytische Transmissionselektronenmikroskopie, 121–43. Vienna: Springer Vienna, 2013. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-7091-1440-7_6.

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Thomas, Jürgen, and Thomas Gemming. "Wir erhöhen die Vergrößerung." In Analytische Transmissionselektronenmikroskopie, 145–70. Vienna: Springer Vienna, 2013. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-7091-1440-7_7.

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10

Thomas, Jürgen, and Thomas Gemming. "Wir schalten um auf Rastertransmissionselektronenmikroskopie." In Analytische Transmissionselektronenmikroskopie, 171–82. Vienna: Springer Vienna, 2013. http://dx.doi.org/10.1007/978-3-7091-1440-7_8.

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