Journal articles on the topic 'Transmissionselektronenmikroskopie'
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Wustrow, Th P. U., Ingeborg Schinko, and H. P. Zenner. "Transmissionselektronenmikroskopie von in-vitro kultivierten Plattenepithelkarzinomzellinien*." Laryngo-Rhino-Otologie 67, no. 09 (September 1988): 469–74. http://dx.doi.org/10.1055/s-2007-998543.
Full textSchmid, Günter, Andreas Lehnert, Jan-Olle Malm, and Jan-Olov Bovin. "Charakterisierung ligandstabilisierter Bimetall-Kolloide durch hochauflösende Transmissionselektronenmikroskopie und energiedispersive Röntgenmikroanalyse." Angewandte Chemie 103, no. 7 (July 1991): 852–54. http://dx.doi.org/10.1002/ange.19911030720.
Full textAlfredsson, Viveka, Tetsu Ohsuna, Osamu Terasaki, and Jan-Olov Bovin. "Untersuchung der Oberflächenstruktur der Zeolithe FAU und EMT mit hochauflösender Transmissionselektronenmikroskopie." Angewandte Chemie 105, no. 8 (August 1993): 1262–64. http://dx.doi.org/10.1002/ange.19931050841.
Full textTarnev, Tsvetan, Steffen Cychy, Corina Andronescu, Martin Muhler, Wolfgang Schuhmann, and Yen‐Ting Chen. "Eine universelle, auf Nanokapillaren basierende Methode zur Katalysatorimmobilisierung für die Flüssigzell‐Transmissionselektronenmikroskopie." Angewandte Chemie 132, no. 14 (March 2, 2020): 5634–38. http://dx.doi.org/10.1002/ange.201916419.
Full textNitschke, Uwe. "Kleinwinkel-lonendünnung für die Transmissionselektronenmikroskopie (TEM) / Low Angle Ion Milling for Transmission Electron Microscopy (TEM)." Practical Metallography 31, no. 8 (August 1, 1994): 422–25. http://dx.doi.org/10.1515/pm-1994-310806.
Full textWetzig, Klaus, and Jürgen Thomas. "Nanoanalytical investigations of Functional Materials by Transmission Electron Microscopy / Nanoanalytische Untersuchungen von Funktionswerkstoffen durch Transmissionselektronenmikroskopie." Practical Metallography 38, no. 11 (November 1, 2001): 627–36. http://dx.doi.org/10.1515/pm-2001-381105.
Full textBrinkmann, F. "Primäre ziliäre Dyskinesie." Kinder- und Jugendmedizin 15, no. 03 (2015): 178–83. http://dx.doi.org/10.1055/s-0038-1629270.
Full textShephard, Douglas S., Wuzong Zhou, Thomas Maschmeyer, Justin M. Matters, Caroline L. Roper, Simon Parsons, Brian F. G. Johnson, and Melinda J. Duer. "Ortsspezifische Derivatisierung von MCM-41: molekulare Erkennung und Lokalisierung funktioneller Gruppen in mesoporösen Materialien durch hochauflösende Transmissionselektronenmikroskopie." Angewandte Chemie 110, no. 19 (October 2, 1998): 2847–51. http://dx.doi.org/10.1002/(sici)1521-3757(19981002)110:19<2847::aid-ange2847>3.0.co;2-d.
Full textDehm, Gerhard, Frank Ernst, Joachim Mayer, Günter Möbus, Harald Müllejans, Fritz Phillipp, Christina Scheu, and Manfred Rühle. "Transmission Electron Microscopy at the Max-Planck-Institut für Metallforschung / Transmissionselektronenmikroskopie am Max-Planck- Institut für Metallforschung." International Journal of Materials Research 87, no. 11 (November 1, 1996): 898–910. http://dx.doi.org/10.1515/ijmr-1996-871112.
Full textLicka, T., K. D. Budras, and B. Patan. "Mehrfach rezidivierendes isoliertes Keratom am Huf einer Traberstute." Tierärztliche Praxis Ausgabe G: Großtiere / Nutztiere 33, no. 05 (2005): 339–47. http://dx.doi.org/10.1055/s-0038-1624081.
Full textZschech, E., E. Langer, and H. J. Engelmann. "Anwendung der Rasterelektronenmikroskopie und der Transmissionselektronenmikroskopie in der Halbleiterindustrie / Application of Scanning Electron Microscopy and Transmission Electron Microscopy in Semiconductor Industry." Practical Metallography 39, no. 12 (December 1, 2002): 634–43. http://dx.doi.org/10.1515/pm-2002-391203.
Full textHeydenreich, J. "Hans-Dietrich Bauer. Analytische Transmissionselektronenmikroskopie. Beiträge zur Forschungstechnologie, Heft 13. Akademie-Verlag Berlin 1986, 58 Seiten, 36 Abbildungen, 7 Tabellen, Preis 12.— M." Crystal Research and Technology 21, no. 10 (October 1986): 1372. http://dx.doi.org/10.1002/crat.2170211028.
Full textStrecker, A., U. Salzberger, and J. Mayer. "Probenpräparation für die Transmissionselektronenmikroskopie: Verläßliche Methode für Querschnitte und brüchige Materialien/ Specimen Preparation for Transmission Electron Microscopy: Reliable Method for Cross-Sections and Brittle Materials." Practical Metallography 30, no. 10 (October 1, 1993): 482–95. http://dx.doi.org/10.1515/pm-1993-301002.
Full textOppolzer, H. "Röntgenmikroanalyse im Transmissionselektronenmikroskop." Materialwissenschaft und Werkstofftechnik 21, no. 3 (March 1990): 140. http://dx.doi.org/10.1002/mawe.19900210313.
Full textRichter, Janusz, and Jan Cwajna. "Determination of Dispersed Phase Area Fraction with Joined Method Employing Light, Scanning and Transmission Electron Microscopy / Bestimmung des Flächenanteils einer feinstverteilten Phase durch Einsatz einer Kombinationsmethode von Licht-, Rasterund Transmissionselektronenmikroskopie." Practical Metallography 34, no. 1 (January 1, 1997): 23–31. http://dx.doi.org/10.1515/pm-1997-340103.
Full textRoss, R., B. Kratzheller, and R. Gruehn. "Beitr�ge zur Untersuchung anorganischer nichtst�chiometrischer Verbindungen. XLI. Neue Oxidhalogenide in den Systemen Cu/Nb/O/X (X ? Cl, Br, I). Pr�paration, thermisches Verhalten sowie Strukturuntersuchungen mit der hochaufl�senden Transmissionselektronenmikroskopie." Zeitschrift f�r anorganische und allgemeine Chemie 579, no. 1 (1989): 240. http://dx.doi.org/10.1002/zaac.19895790128.
Full textRoss, R., B. Kratzheller, and R. Gruehn. "Beitr�ge zur Untersuchung anorganischer nichtst�chiometrischer Verbindungen. XLI. Neue Oxidhalogenide in den Systemen Cu/Nb/O/X (X = Cl, Br, I) Pr�paration, thermisches Verhalten sowie Strukturuntersuchungen mit der hochaufl�senden Transmissionselektronenmikroskopie." Zeitschrift f�r anorganische und allgemeine Chemie 587, no. 1 (August 1990): 47–60. http://dx.doi.org/10.1002/zaac.19905870107.
Full textWunderlich, Wilfried, and Hans Klaar. "Ferromagnetische Präparate im Transmissionselektronenmikroskop The Examination of Ferromagnetic Specimens in the Transmission Electron Microscope." Practical Metallography 31, no. 11 (November 1, 1994): 556–70. http://dx.doi.org/10.1515/pm-1994-311103.
Full textMartin, Ulrich, Uwe Mühle, and Heinrich Oettel. "Erfahrungen mit der quantitativen Bestimmung der Versetzungsdichte im Transmissionselektronenmikroskop / The Quantitative Measurement of Dislocation Density in the Transmission Electron Microscope." Practical Metallography 32, no. 9 (September 1, 1995): 467–77. http://dx.doi.org/10.1515/pm-1995-320903.
Full textKlemm, Volker, Ulrich Martin, Uwe Mühle, and Heinrich Oettel. "Zur Ermittlung der chemischen Zusammensetzung von Ausscheidungen im analytischen Transmissionselektronenmikroskop (TEM) / Determining the Chemical Composition of Precipitates in the Analytical Transmission Electron Microscope." Practical Metallography 32, no. 8 (August 1, 1995): 404–13. http://dx.doi.org/10.1515/pm-1995-320804.
Full textSiemers, Carsten, Debashis Mukherji, Christa Grusewski, Martin Bäker, and Joachim Rösler. "Querschnittpräparation von Spänen aus Ti6Al4V für die Analyse im Transmissionselektronenmikroskop - Verfahren und erste Ergebnisse / Cross-Sectional TEM Sample Preparation for the Analysis of Chips of Ti6Al4V - Preparation Method and a Few Results." Practical Metallography 38, no. 10 (October 1, 2001): 591–603. http://dx.doi.org/10.1515/pm-2001-381005.
Full textKlaar, Hans-Joachim, and Ching-An Huang. "Querschnittspräparation für die Untersuchung von dünnen Schichten, Grenzflächen, Pulvern und Fasern im Transmissionselektronenmikroskop / The Preparation of Cross Sections for the Examination of Thin Layers, Interfaces, Powders and Fibres in the Transmission Electron Microscope." Practical Metallography 31, no. 6 (June 1, 1994): 290–306. http://dx.doi.org/10.1515/pm-1994-310605.
Full textHsu, Fu-Yung, and Hans-Joachim Klaar. "Querschnittspräparation für die Untersuchung von dünnen Schichten, Grenzflächen, Pulvern und Fasern im Transmissionselektronenmikroskop (Teil II) / The Preparation of Cross Sections of Thin Layers, Interfaces, Powders and Fibres for Investigation in the Transmission Electron Microscope (Part II)." Practical Metallography 32, no. 12 (December 1, 1995): 603–15. http://dx.doi.org/10.1515/pm-1995-321202.
Full text"Definitions-Katalog Transmissionselektronenmikroskopie." Practical Metallography 34, no. 7 (July 1, 1997): 349. http://dx.doi.org/10.1515/pm-1997-340707.
Full text"Transmissionselektronenmikroskopie von Strukturwerkstoffen aus intermetallischen Phasen Transmission Electron Microscopy of Structural Materials Made of Intermetallic Phases." Practical Metallography 31, no. 3 (March 1, 1994): 120–34. http://dx.doi.org/10.1515/pm-1994-310303.
Full text"Auswirkungen Konservierungsmittel-freier Fluorchinolon-Augenlösungen auf menschliche Hornhaut-Epithelzellen in vitro." Kompass Ophthalmologie 1, no. 1 (2015): 26–27. http://dx.doi.org/10.1159/000370021.
Full text"Hochtemperatur-Supraleitung: Höchstauflösende Kristallstruktur-Abbildung im Transmissionselektronenmikroskop." Physik Journal 45, no. 4 (April 1989): 120. http://dx.doi.org/10.1002/phbl.19890450404.
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